JPH0514937A - テストパターン信号発生装置及びこの装置を用いたデイスプレイ装置の製造方法 - Google Patents
テストパターン信号発生装置及びこの装置を用いたデイスプレイ装置の製造方法Info
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- JPH0514937A JPH0514937A JP3185819A JP18581991A JPH0514937A JP H0514937 A JPH0514937 A JP H0514937A JP 3185819 A JP3185819 A JP 3185819A JP 18581991 A JP18581991 A JP 18581991A JP H0514937 A JPH0514937 A JP H0514937A
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- test pattern
- signal
- signal generator
- pattern signal
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- H01J9/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
- H01J9/42—Measurement or testing during manufacture
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- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N17/00—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details
- H04N17/04—Diagnosis, testing or measuring for television systems or their details for receivers
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- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
- Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 小型で取り扱いの容易なテストパターン信号
発生装置を得ると共に、この装置を用いて作業能率を向
上させるディスプレイ装置の製造方法を得る。 【構成】 操作ボックス１１から与えられるテストパタ
ーン選択信号に応じて赤外線発信部１２の赤外線ランプ
１９よりテストパターン選択用赤外線信号１３が出力さ
れる。これをテストパターン信号発生部１５の信号変換
回路２０で受信してパルス信号に変換する。このパルス
信号に応じて制御回路２１を通じてテストパターン信号
源回路２２より所定のテストパターン信号が出力端子２
３に出力される。
発生装置を得ると共に、この装置を用いて作業能率を向
上させるディスプレイ装置の製造方法を得る。 【構成】 操作ボックス１１から与えられるテストパタ
ーン選択信号に応じて赤外線発信部１２の赤外線ランプ
１９よりテストパターン選択用赤外線信号１３が出力さ
れる。これをテストパターン信号発生部１５の信号変換
回路２０で受信してパルス信号に変換する。このパルス
信号に応じて制御回路２１を通じてテストパターン信号
源回路２２より所定のテストパターン信号が出力端子２
３に出力される。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】この発明は、ＣＲＴや液晶等を用
いたディスプレイ装置の製造現場において、ディスプレ
イ装置の検査・調整を行うためのテストパターン信号を
発生するテストパターン信号発生装置及びこの装置を用
いたディスプレイ装置の製造方法に関するものである。
いたディスプレイ装置の製造現場において、ディスプレ
イ装置の検査・調整を行うためのテストパターン信号を
発生するテストパターン信号発生装置及びこの装置を用
いたディスプレイ装置の製造方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】図４は従来のディスプレイ装置の検査・
調製工程における作業の様子を示す構成図であり、図に
おいて、１は検査・調整を行うべきディスプレイ装置、
２はディスプレイ装置１を載置するパレット、３はディ
スプレイ装置１を載置した複数のパレット２を矢印方向
に搬送するコンベア、４はコンベア３に沿って配置され
た複数の作業台、５は各作業台４上に設置されたテスト
パターン信号発生装置、６はテストパターン信号発生装
置５から導出されたケーブル、７はケーブル６の先端に
設けられディスプレイ装置１に接続されるコネクタ、８
は各作業台４に配されて検査・調整作業を行う作業者で
ある。
調製工程における作業の様子を示す構成図であり、図に
おいて、１は検査・調整を行うべきディスプレイ装置、
２はディスプレイ装置１を載置するパレット、３はディ
スプレイ装置１を載置した複数のパレット２を矢印方向
に搬送するコンベア、４はコンベア３に沿って配置され
た複数の作業台、５は各作業台４上に設置されたテスト
パターン信号発生装置、６はテストパターン信号発生装
置５から導出されたケーブル、７はケーブル６の先端に
設けられディスプレイ装置１に接続されるコネクタ、８
は各作業台４に配されて検査・調整作業を行う作業者で
ある。
【０００３】次に動作について説明する。それぞれディ
スプレイ装置１を載置したパレット２がコンベア３で搬
送されて来ると、各作業者８は先ずディスプレイ装置１
にコネクタ７を接続する。次に、テストパターン信号発
生装置５の操作スイッチ（図示せず）を操作して所定の
テストパターン信号を選択発生させ、ケーブル６、コネ
クタ７を通じてディスプレイ装置１に入力させる。テス
トパターン信号は主として同期信号とパターンデータ信
号とから成り、ディスプレイ装置１の画面に所定のテス
トパターンを映し出させる。
スプレイ装置１を載置したパレット２がコンベア３で搬
送されて来ると、各作業者８は先ずディスプレイ装置１
にコネクタ７を接続する。次に、テストパターン信号発
生装置５の操作スイッチ（図示せず）を操作して所定の
テストパターン信号を選択発生させ、ケーブル６、コネ
クタ７を通じてディスプレイ装置１に入力させる。テス
トパターン信号は主として同期信号とパターンデータ信
号とから成り、ディスプレイ装置１の画面に所定のテス
トパターンを映し出させる。
【０００４】図５はテストパターンの例を示すもので、
同図（Ａ）は画面１ａに全面白のラスタ９を映した例を
示し、同図（Ｂ）は画面１ａに格子パターン１０を映し
た例を示す。このような種々のテストパターンを用いて
画面サイズ，輝度，画面位置等の種々の特性の調整が行
われる。
同図（Ａ）は画面１ａに全面白のラスタ９を映した例を
示し、同図（Ｂ）は画面１ａに格子パターン１０を映し
た例を示す。このような種々のテストパターンを用いて
画面サイズ，輝度，画面位置等の種々の特性の調整が行
われる。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来のディスプレイ装
置１の検査・調整は以上のように行われているので、作
業者８は検査・調整作業を行う前に必ずコネクタ７をデ
ィスプレイ装置１に接続しなければならず、また検査・
調整作業が終了すればコネクタ７を取り外さなければな
らない。このため個々の作業者８の作業が煩雑となり、
作業効率が低下すると共に疲労度も増す等の問題があっ
た。
置１の検査・調整は以上のように行われているので、作
業者８は検査・調整作業を行う前に必ずコネクタ７をデ
ィスプレイ装置１に接続しなければならず、また検査・
調整作業が終了すればコネクタ７を取り外さなければな
らない。このため個々の作業者８の作業が煩雑となり、
作業効率が低下すると共に疲労度も増す等の問題があっ
た。
【０００６】また、テストパターン信号発生装置５はテ
ストパターンを選択する操作スイッチ部とテストパター
ン信号源回路部とが一体化された大型のものが各作業者
８に１台づつ割当てられるため、持運びや取り扱いに不
便である等の問題があった。
ストパターンを選択する操作スイッチ部とテストパター
ン信号源回路部とが一体化された大型のものが各作業者
８に１台づつ割当てられるため、持運びや取り扱いに不
便である等の問題があった。
【０００７】この発明は上記のような課題を解決するた
めになされたもので、小型で取り扱いの容易なテストパ
ターン信号発生装置及び検査・調整を行う作業者が直接
コネクタの接続，取り外しを行わないで済む検査・調整
方法を実現することのできるテストパターン信号発生装
置及びこの装置を用いたディスプレイ装置の製造方法を
提供することを目的としている。
めになされたもので、小型で取り扱いの容易なテストパ
ターン信号発生装置及び検査・調整を行う作業者が直接
コネクタの接続，取り外しを行わないで済む検査・調整
方法を実現することのできるテストパターン信号発生装
置及びこの装置を用いたディスプレイ装置の製造方法を
提供することを目的としている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】請求項１の発明に係るテ
ストパターン信号発生装置は、外部から加えられるテス
トパターン選択信号に応じたテストパターン選択用赤外
線信号を発生する赤外線発信部と、上記テストパターン
選択用赤外線信号１３を受信しこの受信信号に対応する
テストパターン信号を出力するテストパターン信号発生
部とを備えたものである。
ストパターン信号発生装置は、外部から加えられるテス
トパターン選択信号に応じたテストパターン選択用赤外
線信号を発生する赤外線発信部と、上記テストパターン
選択用赤外線信号１３を受信しこの受信信号に対応する
テストパターン信号を出力するテストパターン信号発生
部とを備えたものである。
【０００９】また、請求項２の発明に係るテストパター
ン信号発生装置を用いたディスプレイ装置の製造方法
は、検査・調整を行うべきディスプレイ装置と上記テス
トパターン信号発生部とをケーブルを介して予め接続し
た状態で移送すると共に、上記赤外線発信部を所定位置
に設け、上記移送されるディスプレイ装置及びテストパ
ターン信号発生部が所定の作業範囲に入ったとき上記赤
外線発信部に上記テストパターン選択信号を与えるよう
にしたものである。
ン信号発生装置を用いたディスプレイ装置の製造方法
は、検査・調整を行うべきディスプレイ装置と上記テス
トパターン信号発生部とをケーブルを介して予め接続し
た状態で移送すると共に、上記赤外線発信部を所定位置
に設け、上記移送されるディスプレイ装置及びテストパ
ターン信号発生部が所定の作業範囲に入ったとき上記赤
外線発信部に上記テストパターン選択信号を与えるよう
にしたものである。
【００１０】
【作用】請求項１の発明におけるテストパターン信号発
生装置は、赤外線発信部とテストパターン信号発生部と
が分離され、それぞれが小型・軽量化されるので、取り
扱いが便利になる。
生装置は、赤外線発信部とテストパターン信号発生部と
が分離され、それぞれが小型・軽量化されるので、取り
扱いが便利になる。
【００１１】請求項２の発明におけるテストパターン信
号発生装置を用いたディスプレイ装置の製造方法は、検
査・調整作業を行う作業者がケーブルの接続・取り外し
を行わなくてよいので、作業能率が向上する。
号発生装置を用いたディスプレイ装置の製造方法は、検
査・調整作業を行う作業者がケーブルの接続・取り外し
を行わなくてよいので、作業能率が向上する。
【００１２】
【実施例】実施例１．図１は請求項１の発明によるテス
トパターン信号発生装置の実施例を示す。図１におい
て、１１は操作スイッチ１１ａが設けられた操作ボック
ス、１２は操作スイッチ１１ａの操作に応じてテストパ
ターン選択用赤外線信号１３を発生する赤外線発信部、
１４は赤外線発信部１２と操作ボックス１１とを接続す
るケーブル、１５はテストパターン選択用赤外線信号１
３を受けてテストパターン信号を発生するテストパター
ン信号発生部である。
トパターン信号発生装置の実施例を示す。図１におい
て、１１は操作スイッチ１１ａが設けられた操作ボック
ス、１２は操作スイッチ１１ａの操作に応じてテストパ
ターン選択用赤外線信号１３を発生する赤外線発信部、
１４は赤外線発信部１２と操作ボックス１１とを接続す
るケーブル、１５はテストパターン選択用赤外線信号１
３を受けてテストパターン信号を発生するテストパター
ン信号発生部である。
【００１３】赤外線発信部１２において、１６はケーブ
ル１４が接続される入力端子部、１７は操作ボックス１
１から送られて来るテストパターン選択信号に応じて制
御信号を作成する制御回路、１８は制御回路１７からの
制御信号で動作される駆動用トランジスタ、１９はトラ
ンジスタ１８で駆動されることによりテストパターン選
択用赤外線信号１３を発生する赤外線ランプである。
ル１４が接続される入力端子部、１７は操作ボックス１
１から送られて来るテストパターン選択信号に応じて制
御信号を作成する制御回路、１８は制御回路１７からの
制御信号で動作される駆動用トランジスタ、１９はトラ
ンジスタ１８で駆動されることによりテストパターン選
択用赤外線信号１３を発生する赤外線ランプである。
【００１４】テストパターン信号発生部１５において、
２０はテストパターン選択用赤外線信号１３を受信しこ
れをパルス信号に変換する信号変換回路、２１は上記パ
ルス信号に応じて制御信号を出力するマイクロコンピュ
ータ等から成る制御回路、２２は上記制御信号に基づい
て所定のテストパターン信号を発生するテストパターン
信号源回路、２３はテストパターン信号を出力する出力
端子である。
２０はテストパターン選択用赤外線信号１３を受信しこ
れをパルス信号に変換する信号変換回路、２１は上記パ
ルス信号に応じて制御信号を出力するマイクロコンピュ
ータ等から成る制御回路、２２は上記制御信号に基づい
て所定のテストパターン信号を発生するテストパターン
信号源回路、２３はテストパターン信号を出力する出力
端子である。
【００１５】次に動作について説明する。操作ボックス
１１の操作スイッチ１１ａを操作して所望のテストパタ
ーンを選択すると、テストパターン選択信号がケーブル
１４、入力端子１６を通じて赤外線発信部１２の制御回
路１７に加えられる。制御回路１７はテストパターン選
択信号に応じてトランジスタ１８を制御し、これによっ
て赤外線ランプ１９よりテストパターン選択用赤外線信
号１３が発生する。
１１の操作スイッチ１１ａを操作して所望のテストパタ
ーンを選択すると、テストパターン選択信号がケーブル
１４、入力端子１６を通じて赤外線発信部１２の制御回
路１７に加えられる。制御回路１７はテストパターン選
択信号に応じてトランジスタ１８を制御し、これによっ
て赤外線ランプ１９よりテストパターン選択用赤外線信
号１３が発生する。
【００１６】上記テストパターン選択用赤外線信号はテ
ストパターン信号発生部１５の信号変換回路２０で受信
されパルス信号に変換されて制御回路２１に加えられ
る。制御回路２１はテストパターン信号発生用の制御信
号をテストパターン信号源回路２２に加え、この結果、
所定のテストパターン信号が選択されて出力端子２３か
ら出力される。このテストパターン信号は後述するよう
にディスプレイ装置１の検査・調整のために用いられ
る。なお、入力端子部１６には操作ボックス１１以外に
自動調整装置等からテストパターン選択信号を入力させ
るようにしてもよい。
ストパターン信号発生部１５の信号変換回路２０で受信
されパルス信号に変換されて制御回路２１に加えられ
る。制御回路２１はテストパターン信号発生用の制御信
号をテストパターン信号源回路２２に加え、この結果、
所定のテストパターン信号が選択されて出力端子２３か
ら出力される。このテストパターン信号は後述するよう
にディスプレイ装置１の検査・調整のために用いられ
る。なお、入力端子部１６には操作ボックス１１以外に
自動調整装置等からテストパターン選択信号を入力させ
るようにしてもよい。
【００１７】実施例２．図２，図３は上述したテストパ
ターン信号発生装置を用いてディスプレイ装置の検査・
調整を行うようにした請求項２の発明によるディスプレ
イ装置の製造方法の実施例を示す構成図である。なお、
図２，図３においては、図１及び図４と対応する部分に
は同一符号を付して説明を省略する。
ターン信号発生装置を用いてディスプレイ装置の検査・
調整を行うようにした請求項２の発明によるディスプレ
イ装置の製造方法の実施例を示す構成図である。なお、
図２，図３においては、図１及び図４と対応する部分に
は同一符号を付して説明を省略する。
【００１８】図２，図３において、コンベア３で送られ
て来るパレット２上には検査・調整すべきディスプレイ
装置１と上述したテストパターン信号発生部１５とが載
置されている。このテストパターン信号発生部１５とデ
ィスプレイ装置１とはケーブル２４を介して接続されて
いる。このケーブル２４は一端が上記出力端子２３に接
続され、他端がディスプレイ装置１に設けられた映像入
力端子１ｂに接続されている。
て来るパレット２上には検査・調整すべきディスプレイ
装置１と上述したテストパターン信号発生部１５とが載
置されている。このテストパターン信号発生部１５とデ
ィスプレイ装置１とはケーブル２４を介して接続されて
いる。このケーブル２４は一端が上記出力端子２３に接
続され、他端がディスプレイ装置１に設けられた映像入
力端子１ｂに接続されている。
【００１９】また、各作業者８の頭上の所定位置には赤
外線発信部１２が設置されており、そのテストパターン
選択用赤外線信号１３を対応するテストパターン信号発
生部１５に向けて発信するように成されている。さらに
各作業台４には操作ボックス１１が置かれている。
外線発信部１２が設置されており、そのテストパターン
選択用赤外線信号１３を対応するテストパターン信号発
生部１５に向けて発信するように成されている。さらに
各作業台４には操作ボックス１１が置かれている。
【００２０】次に動作について説明する。コンベア３で
搬送される各パレット２上にはディスプレイ装置１とテ
ストパターン信号発生部１５とが、予めケーブル２４で
接続されて載置されている。このディスプレイ装置１と
テストパターン信号発生部１５との接続作業は、例えば
検査・調整ラインの先頭の作業者により行われる。この
ように接続作業を専任の作業者に行わせることにより、
検査・調整を行う各作業者８が個々に接続作業を行う場
合より作業能率を向上させることができる。
搬送される各パレット２上にはディスプレイ装置１とテ
ストパターン信号発生部１５とが、予めケーブル２４で
接続されて載置されている。このディスプレイ装置１と
テストパターン信号発生部１５との接続作業は、例えば
検査・調整ラインの先頭の作業者により行われる。この
ように接続作業を専任の作業者に行わせることにより、
検査・調整を行う各作業者８が個々に接続作業を行う場
合より作業能率を向上させることができる。
【００２１】ディスプレイ装置１とテストパターン信号
発生部１５とがケーブル２４により接続されて載置され
たパレット２が作業者８の作業有効範囲内に送られて来
ると、作業者８は操作ボックス１１の操作スイッチ１１
ａを操作して、テストパターンを選択する。これによっ
て赤外線発信部１２がテストパターン選択用赤外線信号
１３をテストパターン信号発生部１５に送り、所定のテ
ストパターン信号がケーブル２４を通じてディスプレイ
装置１に送られる。
発生部１５とがケーブル２４により接続されて載置され
たパレット２が作業者８の作業有効範囲内に送られて来
ると、作業者８は操作ボックス１１の操作スイッチ１１
ａを操作して、テストパターンを選択する。これによっ
て赤外線発信部１２がテストパターン選択用赤外線信号
１３をテストパターン信号発生部１５に送り、所定のテ
ストパターン信号がケーブル２４を通じてディスプレイ
装置１に送られる。
【００２２】検査・調整作業が終了すると、パレット２
はそのまま後方に送られる。ケーブル２４をディスプレ
イ装置１から取り外す作業は後方の専任の作業者により
行われる。従って、各作業者８は順次に送られて来るデ
ィスプレイ装置１について次々に検査・調整作業のみを
行えばよく、ケーブル２４の接続・取り外しを行わなく
てよいので、全体として作業能率が向上する。
はそのまま後方に送られる。ケーブル２４をディスプレ
イ装置１から取り外す作業は後方の専任の作業者により
行われる。従って、各作業者８は順次に送られて来るデ
ィスプレイ装置１について次々に検査・調整作業のみを
行えばよく、ケーブル２４の接続・取り外しを行わなく
てよいので、全体として作業能率が向上する。
【００２３】また、テストパターン信号発生装置は、赤
外線信号発生部１２とテストパターン信号発生部１５と
に分離されているので、それぞれが小型，軽量化されて
取り扱い易くなり、特にテストパターン信号発生部１５
をパレット２上に載置したり、パレット２上から取り去
る場合に便利である。
外線信号発生部１２とテストパターン信号発生部１５と
に分離されているので、それぞれが小型，軽量化されて
取り扱い易くなり、特にテストパターン信号発生部１５
をパレット２上に載置したり、パレット２上から取り去
る場合に便利である。
【００２４】
【発明の効果】以上のように請求項１の発明によれば、
テストパターン信号発生装置を赤外線発信部とテストパ
ターン信号発生部とに分離して構成したので、それぞれ
を小型・軽量化して取り扱いを容易にできる効果が得ら
れる。
テストパターン信号発生装置を赤外線発信部とテストパ
ターン信号発生部とに分離して構成したので、それぞれ
を小型・軽量化して取り扱いを容易にできる効果が得ら
れる。
【００２５】また、請求項２の発明によれば、上記赤外
線発信部を所定位置に配すと共に、上記テストパターン
信号発生部とディスプレイ装置とを予め接続した作業者
に送るようにしたので、作業者がケーブルの接続・取り
外しを行う必要がなく、検査・調整作業のみを行えばよ
いので、作業能率が向上すると共に、作業者の疲労を軽
減することができる効果が得られる。
線発信部を所定位置に配すと共に、上記テストパターン
信号発生部とディスプレイ装置とを予め接続した作業者
に送るようにしたので、作業者がケーブルの接続・取り
外しを行う必要がなく、検査・調整作業のみを行えばよ
いので、作業能率が向上すると共に、作業者の疲労を軽
減することができる効果が得られる。
【図１】請求項１の発明の一実施例によるテストパター
ン信号発生装置の構成図である。
ン信号発生装置の構成図である。
【図２】請求項２の発明の一実施例によるテストパター
ン信号発生装置を用いたディスプレイ装置の製造方法を
示す構成図である。
ン信号発生装置を用いたディスプレイ装置の製造方法を
示す構成図である。
【図３】請求項２の発明の一実施例によるテストパター
ン信号発生装置を用いたディスプレイ装置の製造方法を
示す構成図である。
ン信号発生装置を用いたディスプレイ装置の製造方法を
示す構成図である。
【図４】従来のディスプレイ装置の検査・調整を行う様
子を示す構成図である。
子を示す構成図である。
【図５】テストパターン信号により形成されるテストパ
ターンの例を示す構成図である。
ターンの例を示す構成図である。
１ ディスプレイ装置
１２ 赤外線発信部
１３ テストパターン選択用赤外線信号
１５ テストパターン信号発生部
２４ ケーブル
Claims (2)
- 【請求項１】 外部から加えられるテストパターン選択
信号に応じたテストパターン選択用赤外線信号を発生す
る赤外線発信部と、上記テストパターン選択用赤外線信
号を受信しこの受信信号に対応するテストパターン信号
を出力するテストパターン信号発生部とを備えたテスト
パターン信号発生装置。 - 【請求項２】 外部から加えられるテストパターン選択
信号に応じたテストパターン選択用赤外線信号を発生す
る赤外線発信部と、上記テストパターン選択用赤外線信
号を受信しこの受信信号に対応するテストパターン信号
を出力するテストパターン信号発生部とを備えたテスト
パターン信号発生部とから成るテストパターン信号発生
装置を用い、検査・調整を行うべきディスプレイ装置と
上記テストパターン信号発生部とをケーブルを介して予
め接続した状態で移送すると共に、上記赤外線発信部を
所定位置に設け、上記移送されるディスプレイ装置及び
テストパターン信号発生部が所定の作業範囲に入ったと
き上記赤外線発信部に上記テストパターン信号発生装置
を用いたディスプレイ装置の製造方法。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3185819A JP2763421B2 (ja) | 1991-07-01 | 1991-07-01 | テストパターン信号発生装置を用いたディスプレイ装置の製造方法 |
| KR1019920003227A KR950001490B1 (ko) | 1991-07-01 | 1992-02-28 | 테스트 패턴 신호발생 장치 및 이 장치를 사용한 디스플레이 장치의 제조방법 |
| US07/863,104 US5281910A (en) | 1991-07-01 | 1992-04-03 | Test pattern signal generator and inspection method of display device using the same |
| DE69204580T DE69204580T2 (de) | 1991-07-01 | 1992-04-10 | Generator für Testsignalmuster und Verfahren zur Untersuchung einer einen solchen Generator enthaltenden Bildwiedergabeanordnung. |
| EP92106264A EP0521249B1 (en) | 1991-07-01 | 1992-04-10 | Test pattern signal generator and inspection method of display device using the same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3185819A JP2763421B2 (ja) | 1991-07-01 | 1991-07-01 | テストパターン信号発生装置を用いたディスプレイ装置の製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0514937A true JPH0514937A (ja) | 1993-01-22 |
| JP2763421B2 JP2763421B2 (ja) | 1998-06-11 |
Family
ID=16177437
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3185819A Expired - Fee Related JP2763421B2 (ja) | 1991-07-01 | 1991-07-01 | テストパターン信号発生装置を用いたディスプレイ装置の製造方法 |
Country Status (5)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US5281910A (ja) |
| EP (1) | EP0521249B1 (ja) |
| JP (1) | JP2763421B2 (ja) |
| KR (1) | KR950001490B1 (ja) |
| DE (1) | DE69204580T2 (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002197426A (ja) * | 2000-12-27 | 2002-07-12 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 製品特性の検査方法 |
| US8072206B2 (en) | 2006-08-24 | 2011-12-06 | Advantest Corporation | Spectrum analyzer system and spectrum analyze method |
Families Citing this family (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP3202439B2 (ja) * | 1993-10-07 | 2001-08-27 | 富士通株式会社 | 出力装置のテスト装置 |
| KR100238054B1 (ko) * | 1997-07-04 | 2000-01-15 | 윤종용 | 영상표시장치의 신호 자동공급 방법 및 장치 |
| US6302883B1 (en) | 1998-10-22 | 2001-10-16 | Depuy Acromed, Inc. | Bone plate-ratcheting compression apparatus |
| TWI299405B (en) * | 2006-03-02 | 2008-08-01 | Macroblock Inc | Method and apparatus for silent current detection |
| KR101540141B1 (ko) * | 2011-10-25 | 2015-07-28 | 삼성전기주식회사 | 근거리 무선통신을 이용한 테스트 시스템 및 그 테스트 방법 |
Citations (1)
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