JPH0520515B2 - - Google Patents

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JPH0520515B2
JPH0520515B2 JP60221188A JP22118885A JPH0520515B2 JP H0520515 B2 JPH0520515 B2 JP H0520515B2 JP 60221188 A JP60221188 A JP 60221188A JP 22118885 A JP22118885 A JP 22118885A JP H0520515 B2 JPH0520515 B2 JP H0520515B2
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JP
Japan
Prior art keywords
resist
substrate
film
dry film
curved
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP60221188A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS6280281A (ja
Inventor
Keiji Fujimagari
Kenichi Kobayashi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Business Innovation Corp
Original Assignee
Fuji Xerox Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Xerox Co Ltd filed Critical Fuji Xerox Co Ltd
Priority to JP22118885A priority Critical patent/JPS6280281A/ja
Publication of JPS6280281A publication Critical patent/JPS6280281A/ja
Publication of JPH0520515B2 publication Critical patent/JPH0520515B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H05—ELECTRIC TECHNIQUES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H05K—PRINTED CIRCUITS; CASINGS OR CONSTRUCTIONAL DETAILS OF ELECTRIC APPARATUS; MANUFACTURE OF ASSEMBLAGES OF ELECTRICAL COMPONENTS
    • H05K3/00—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits
    • H05K3/02—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding
    • H05K3/06—Apparatus or processes for manufacturing printed circuits in which the conductive material is applied to the surface of the insulating support and is thereafter removed from such areas of the surface which are not intended for current conducting or shielding the conductive material being removed chemically or electrolytically, e.g. by photo-etch process
    • H05K3/061—Etching masks
    • H05K3/064—Photoresists
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23F—NON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00—Etching metallic material by chemical means
    • C23F1/02—Local etching

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  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
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  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Electronic Switches (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は曲面型サーマルヘツド等の曲面を有す
る基板に対してもフオトリソエツチングが行なえ
るようにしたフオトリソエツチング加工法に関す
る。
〔従来の技術〕
従来のフオトエツチング加工法として、例え
ば、平面に加工された絶縁基板上に電極を形成す
るための金属膜を加工するに際しては、電極を蒸
着あるいはスパツク法によつて基板上に形成のの
ち、フオトリソエツチング技術によつてパターン
を形成する方法が採られている。この場合の加工
精度は、エツチング時のマスクと基板の平滑度を
向上させることにより上げることができる。
さらに、加工精度を向上させる目的をもち、パ
ターン焼付前に感光性ドライフイルムレジストに
対して帯電防止処理がされている絶縁基板上への
パターン形成方法が、特公昭59−16433号公報に
開示されている。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかし従来のフオトエツチング加工法、および
開示されている絶縁基板上へのパターン形成方法
にあつては、第3図のように曲面を有する基板1
0に従来の加工法を適用しようとする場合、平面
のマスク11を使用すると、基板の曲面部がマス
クより離れるため、該曲面部では精度の良いパタ
ーンを形成することができない不具合がある。
このような不具合を解決するものとして、特公
昭59−230770号に示されるようにフレキシブルマ
スクを用いる技術が提案されている。しかし、フ
レキシブルマスクを固定することが難しく、加工
精度を高めることは容易でない。
〔問題点を解決するための手段および作用〕
本発明は上記事情に鑑みてなされたものであ
り、曲面を有する基板上への導体膜形成を精度良
く行うため、被エツチング物に貼付する前に平滑
なステージ上でドライフイルムレジストに所望の
パターンを露光させた後に、曲面を有する基板上
に所望のパターンのレジストを有するドライフイ
ルムレジストのレジスト面を貼着し、現像したレ
ジストをマスクとしてエツチングするようにした
フオトリソエツチング加工法を提供するものであ
る。
〔実施例〕
以下、本発明によるフオトリソエツチング加工
法を図面を参照して詳細に説明する。
第1図a〜fは本発明のフオトリソエツチング
加工法を示す。
まず、マスクアライナーの平滑なステージ1
に、フイルム2上にレジスト層5を形成したドラ
イフイルムレジスト15を載せ(或いはドライフ
イルムレジスト15を平滑な薄い支持板に貼着
し、これをステージ1に載せ)る(第1図a参
照)。ついで、ドライフイルムレジスト15とホ
トマスク3をアライメントし、光源4によつて露
光し、フイルム2とホトマスク3の間のレジスト
層5を露光する(第1図b参照)。
更に、ホトマスク3をドライフイルムから剥が
す(第1図c参照)。このとき、前記の工程にお
いて支持板を用いた場合には、支持板も剥がす。
つぎに、基板10に予め形成されている導体薄膜
6の表面に、ドライフイルムレジスト15のレジ
スト5面を貼着したのち、フイルム2を剥離する
(第1図d参照)。
この工程の後、現像し(第1図e参照)、レジ
ストベークののちエツチングを行うと第1図fに
示すようにパターンが形成される。
以上のフオトリソエツチング加工法を適用して
サーマルヘツドを作成した実施例を第2図に基づ
いて説明する。
まず、グレーズドセラミツク基板20の曲面部
にTa2N抵抗体21をスパツタし(第2図a参
照)、このスパツタ面に前述したドライフイルム
レジストと同様のドライフイルムレジスト22を
レジスト層を抵抗体21に対向させ、熱ローラに
よつて、15μm厚に圧着する(第2図b参照)。つ
いで、シヤワー現象を行つた(第2図c参照)の
ちベークし、CF4+O2ガスを用いたドライエツチ
ング法によつてTa2Nをエツチングして抵抗体2
3を形成する(第2図d及びe)。更に、抵抗体
23に接続される電極24を基板20の両面に形
成するために、NiCr−Au導体を蒸着し、この上
に上記と同様の手法によつて得たレジスト膜を形
成し、KI+I2+H2Oのエツチング液によつてAu
をエツチングするとともに、Hcl+H2Oのエツチ
ング液によりNi−Crをエツチングして導体パタ
ーンを形成する(第2図f)。ついで、SiO2−
Ta2O5の保護膜25を抵抗体23の表面に着膜す
る(第2図g)ことにより、サーマルヘツドが完
成する。
以上の如くして製作されたサーマルヘツドの抵
抗値のばらつきは±10%程度であり、平面上に発
熱体を形成した場合と同程度であり、充分な加工
精度が得られた。
本発明の加工法を採用することによつて、密着
型イメージセンササーマルヘツド等のハイブリツ
ト素子の小型化を図ることができる。
〔発明の効果〕
以上発明した通り、本発明のフオトリソエツチ
ング加工法によれば、被エツチング物に貼着する
フオトレジストは平滑なステージ上に載置した状
態で露光されているので、マスクパターンが精度
良く再現される。さらに、精度の良いパターンが
形成されたフイルムレジストを基板に貼着した
後、現像、エツチングを施しているので、基板の
極面部分に於ても精度の高いフオトエツチング加
工が行える。
【図面の簡単な説明】
第1図a,b,c,d,e,fは本発明方法の
実施工程を示す説明図、第2図a,b,c,d,
e,f,gは本発明を適用したサーマルヘツドの
製作工程を示す説明図、第3図は曲面を有する基
板に対する従来のフオトエツチング加工法の説明
図。 符号の説明、1……ステージ、2……フイル
ム、3……ホトマスク、4……光源、5……レジ
スト、6……導体薄膜、10……基板、15……
ドライフイルムレジスト。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 フイルム状のフオトレジストを曲面を有する
    基板に貼着してエツチングを行うフオトリソエツ
    チング加工法であつて、 平滑なステージ上に載置したドライフイルムレ
    ジストを露光して、フイルム上に所望のパターン
    のレジストを形成するレジスト露光工程と、 このレジストを有するドライフイルムレジスト
    をステージから移動してレジスト面を貼着対象と
    する曲面を有する基板に貼着する貼着工程と、 レジスト上のフイルムを剥離した後、レジスト
    を現像し、次いでこの現像したレジストをマスク
    としてエツチング処理を施し、曲面部分を含む基
    板に所望のパターンの導体薄膜をエツチングする
    現像、エツチング工程とを有することを特徴とす
    る曲面を有する基板のフオトリソエツチング加工
    法。
JP22118885A 1985-10-04 1985-10-04 フオトリソエツチング加工法 Granted JPS6280281A (ja)

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JP22118885A JPS6280281A (ja) 1985-10-04 1985-10-04 フオトリソエツチング加工法

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JP22118885A JPS6280281A (ja) 1985-10-04 1985-10-04 フオトリソエツチング加工法

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JPS6280281A JPS6280281A (ja) 1987-04-13
JPH0520515B2 true JPH0520515B2 (ja) 1993-03-19

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JP22118885A Granted JPS6280281A (ja) 1985-10-04 1985-10-04 フオトリソエツチング加工法

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JPS5916433A (ja) * 1982-07-20 1984-01-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd 選択呼出受信装置

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JPS6280281A (ja) 1987-04-13

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