JPH05251145A - Soj型icソケット - Google Patents

Soj型icソケット

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Publication number
JPH05251145A
JPH05251145A JP4049057A JP4905792A JPH05251145A JP H05251145 A JPH05251145 A JP H05251145A JP 4049057 A JP4049057 A JP 4049057A JP 4905792 A JP4905792 A JP 4905792A JP H05251145 A JPH05251145 A JP H05251145A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
soj
tested
soj type
type
tray
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP4049057A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenichi Taya
健一 田屋
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH05251145A publication Critical patent/JPH05251145A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 SOJ型ICを複数個同時脱着する。 【構成】 複数のスプリングプローブピン2を設けた本
体1上に被試験SOJ型IC8の形状と対応した位置決
め用の凹部7を複数有し、上下方向に摺動可能なフロー
テイングプレート4から被試験SOJ型IC8を搭載し
た状態で脱着可能なICトレー6を設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はSOJ型ICソケット、
特に、バーンインまたは試験用のSOJ型ICソケット
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来この種のSOJ型ICソケットで
は、IC位置決め用の凹部を有するものは凹部が本体と
一体構造となっているか、脱着不可能な構造となってい
た。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来のIC位
置決め用凹部を有するSOJ型ICソケットでは凹部は
ソケット本体と一体構造になっているか、脱着不可能な
構造となっていた。また従来のソケットではICの脱着
は1個単位となっており、多量のICをバーンインまた
は試験するには作業効率が悪いという欠点がある。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明のSOJ型ICソ
ケットはフローテイングプレート上に被試験SOJ型I
Cを実装状態にて脱着でき、IC位置決め用凹部を複数
有するICトレーを設けている。
【0005】
【実施例】次に本発明について図面を参照して説明す
る。
【0006】図1は本発明の一実施例を示す断面図、図
2(a),(b)は図1に示すICトレー部の断面図お
よび平面図である。
【0007】本体1には複数のスプリングプローブ2所
定の位置に本体1を貫通して垂直に設置してある。この
スプリングプローブ2の設置部分の上側には、複数のス
プリングガイドピン3で水平方向が保持され、上下方向
には摺動可能なフローテイングプレート4が設けられて
いる。なお、フローテイングプレート4には、スプリン
グプローブ2に対応する位置に透孔5があけられてお
り、スプリングプローブ2の先端が透孔5を貫通するよ
うになっている。
【0008】また、フローテイングプレート4の上部に
は、被試験SOJ型IC8が載せられるICトレー5が
設けられている。このICトレー5は図2の(a),
(b)に示すように、被試験SOJ型IC8の外形に合
いSOJリード部9が貫通状態となる凹部7が複数設け
られている。なお、ICトレー6は被試験SOJ型IC
8が搭載状態にて本体1及びフローテイングプレート4
より脱着可能な構造を有している。
【0009】このSOJ型ICソケットを使用するとき
には、被試験SOJ型IC8をICトレー6の凹部7に
載せることにより前後左右の位置を固定し被試験SOJ
型IC8を搭載した状態でICトレー6をフローテイン
グプレート4上にセットし、被試験SOJ型IC8の上
側に被試験SOJ型IC8の上面に密着する下面を有す
るカバー板10を置き、押え部材11で被試験SOJ型
IC8を押圧することにより、フローテイングプレート
4が下方に摺動し、SOJリード部9がスプリングプロ
ーブ2の先端と接触し試験可能状態となる。
【0010】
【発明の効果】以上説明したように本発明は、フローテ
イングプレート上に被試験SOJ型ICを実装状態にて
脱着でき、IC位置決め用凹部を複数有するICトレー
を設けているので試験時のIC交換に対し複数のICト
レーを準備することにより複数のICを同時に交換でき
るため作業性が向上する効果がある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示す断面図である。
【図2】(a),(b)は図1に示すICトレー部の断
面図および平面図である。
【符号の説明】
1 本体 2 スプリングプローブ 3 スプリングガイドピン 4 フローテイングプレート 5 透孔 6 ICトレー 7 凹部 8 被試験SOJ型IC 9 SOJリード部 10 カバー板 11 押え部材

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 複数のスプリングプローブピンを設けた
    本体と、この本体上に被試験SOJ型ICの形状と対応
    した位置決め用の凹部を複数有し、上下方向に摺動可能
    なフローテイングプレートから脱着可能なICトレーを
    有することを特徴とするSOJ型ICソケット。
JP4049057A 1992-03-06 1992-03-06 Soj型icソケット Withdrawn JPH05251145A (ja)

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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100748482B1 (ko) * 2006-01-23 2007-08-10 미래산업 주식회사 반도체 소자 테스트 핸들러
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Effective date: 19990518