JPH05251281A - 固体電解コンデンサの製造方法 - Google Patents
固体電解コンデンサの製造方法Info
- Publication number
- JPH05251281A JPH05251281A JP1530192A JP1530192A JPH05251281A JP H05251281 A JPH05251281 A JP H05251281A JP 1530192 A JP1530192 A JP 1530192A JP 1530192 A JP1530192 A JP 1530192A JP H05251281 A JPH05251281 A JP H05251281A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- tcnq
- electrolytic capacitor
- complex
- solid electrolytic
- anode electrode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Landscapes
- Organic Low-Molecular-Weight Compounds And Preparation Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 固体電解質としてTCNQ錯体を用いるコン
デンサの製造方法において、耐熱性TCNQ錯体の含浸
を可能にし、コンデンサ特性の改善をはかる。 【構成】 4級化されたドナー材の陽イオン部分とこれ
と等モル量のTCNQラジカル陰イオン部分とからなる
塩と、TCNQとの混合物の中に、陽極用電極を浸漬
し、この浸漬物を加温してTCNQ錯体を陽極用電極上
に生成させることにより、TCNQ錯体を陽極用電極に
含浸、接合させる固体電解コンデンサの製造方法。 【効果】 従来の含浸法では困難であった融点が高く融
点と分解点が近い耐熱性TCNQ錯体の含浸を可能と
し、半田リフローの温度に耐えうる耐熱性に優れた固体
電解コンデンサの製造が可能となる。
デンサの製造方法において、耐熱性TCNQ錯体の含浸
を可能にし、コンデンサ特性の改善をはかる。 【構成】 4級化されたドナー材の陽イオン部分とこれ
と等モル量のTCNQラジカル陰イオン部分とからなる
塩と、TCNQとの混合物の中に、陽極用電極を浸漬
し、この浸漬物を加温してTCNQ錯体を陽極用電極上
に生成させることにより、TCNQ錯体を陽極用電極に
含浸、接合させる固体電解コンデンサの製造方法。 【効果】 従来の含浸法では困難であった融点が高く融
点と分解点が近い耐熱性TCNQ錯体の含浸を可能と
し、半田リフローの温度に耐えうる耐熱性に優れた固体
電解コンデンサの製造が可能となる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、固体電解質としてTC
NQ(7,7,8,8ーテトラシアノキノジメタン)錯
体を用いる固体電解コンデンサの製造方法に関するもの
である。
NQ(7,7,8,8ーテトラシアノキノジメタン)錯
体を用いる固体電解コンデンサの製造方法に関するもの
である。
【0002】
【従来の技術】表面に陽極酸化被膜を有する弁作用金属
からなる陽極用電極と、該陽極用電極に対向して構成さ
れた陰極用電極との間に、固体電解質を介在させてなる
固体電解コンデンサには、従来固体電解質として二酸化
マンガンが用いられてきた。
からなる陽極用電極と、該陽極用電極に対向して構成さ
れた陰極用電極との間に、固体電解質を介在させてなる
固体電解コンデンサには、従来固体電解質として二酸化
マンガンが用いられてきた。
【0003】しかし、この固体電解コンデンサの製造法
では、二酸化マンガンを陽極用電極上に形成させる際
に、一般に、陽極用電極を硫酸マンガン溶液に浸漬させ
た後、加熱分解を行なうため、陽極酸化被膜が損傷を受
けるという問題点があった。また、この固体電解コンデ
ンサでは、二酸化マンガンによる陽極酸化被膜の被膜修
復性が乏しいという欠点があった。
では、二酸化マンガンを陽極用電極上に形成させる際
に、一般に、陽極用電極を硫酸マンガン溶液に浸漬させ
た後、加熱分解を行なうため、陽極酸化被膜が損傷を受
けるという問題点があった。また、この固体電解コンデ
ンサでは、二酸化マンガンによる陽極酸化被膜の被膜修
復性が乏しいという欠点があった。
【0004】これらの問題点を解決するために、TCN
Q錯体等の有機半導体を固体電解質として用いる固体電
解コンデンサが提案されている。このタイプの固体電解
コンデンサの製造にあたっては、有機半導体をいかに効
率良く含浸させるかが重要である。この含浸方法に関す
る代表例が、特開昭57ー173928号公報に記載さ
れている。すなわち、TCNQ錯体を含む有機半導体を
加熱融解により液化させ、分解に至るまでの間にコンデ
ンサ素子を入れ、急冷固化させる方法である(以下融解
含浸法と称する)。
Q錯体等の有機半導体を固体電解質として用いる固体電
解コンデンサが提案されている。このタイプの固体電解
コンデンサの製造にあたっては、有機半導体をいかに効
率良く含浸させるかが重要である。この含浸方法に関す
る代表例が、特開昭57ー173928号公報に記載さ
れている。すなわち、TCNQ錯体を含む有機半導体を
加熱融解により液化させ、分解に至るまでの間にコンデ
ンサ素子を入れ、急冷固化させる方法である(以下融解
含浸法と称する)。
【0005】しかしながら、この融解含浸法の適用にあ
たっては、用いるTCNQ錯体は融解点を有する必要が
あり、かつ、融解点と分解点との温度間隔がある程度広
いことが良好な含浸を達成するうえで重要である。一般
に、TCNQ錯体の分解点はTCNQの昇華点である2
90℃付近であり、融解点と分解点の温度間隔を広げる
ことは、必然的に融解点を下げることにつながる。
たっては、用いるTCNQ錯体は融解点を有する必要が
あり、かつ、融解点と分解点との温度間隔がある程度広
いことが良好な含浸を達成するうえで重要である。一般
に、TCNQ錯体の分解点はTCNQの昇華点である2
90℃付近であり、融解点と分解点の温度間隔を広げる
ことは、必然的に融解点を下げることにつながる。
【0006】一方、固体電解コンデンサには耐熱性も要
求され、特にチップ製品については面実装時に半田リフ
ローの温度に耐えうる電解質である必要があり、融解含
浸法に適したTCNQ錯体では、要求される耐熱性を満
足することは難しい。すなわち、上述したように、耐熱
性に優れたTCNQ錯体は、融解点と分解点の温度間隔
が狭いため含浸しにくく、陽極酸化被膜の性能から予測
されるコンデンサ容量に対する含浸後の実際のコンデン
サ容量の大きさ(以下これを含浸性と称する)が極端に
低くなる。逆に含浸性が良好なものは、融解点が低温側
になるので耐熱性が極端に悪くなるのは避けられない。
また、融解含浸法では部分的に錯体の分解が起こるの
で、再現性良く含浸することは困難である。
求され、特にチップ製品については面実装時に半田リフ
ローの温度に耐えうる電解質である必要があり、融解含
浸法に適したTCNQ錯体では、要求される耐熱性を満
足することは難しい。すなわち、上述したように、耐熱
性に優れたTCNQ錯体は、融解点と分解点の温度間隔
が狭いため含浸しにくく、陽極酸化被膜の性能から予測
されるコンデンサ容量に対する含浸後の実際のコンデン
サ容量の大きさ(以下これを含浸性と称する)が極端に
低くなる。逆に含浸性が良好なものは、融解点が低温側
になるので耐熱性が極端に悪くなるのは避けられない。
また、融解含浸法では部分的に錯体の分解が起こるの
で、再現性良く含浸することは困難である。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】本発明は上記の問題点
を解決する新規な固体電解コンデンサの製造方法を提供
するものである。すなわち、耐熱性TCNQ錯体の効率
的な含浸を可能とし、また、電極表面とTCNQ錯体と
の接合を強固なものとして、静電容量、漏れ電流などの
種々のコンデンサ特性の改善を図ることを目的とするも
のである。
を解決する新規な固体電解コンデンサの製造方法を提供
するものである。すなわち、耐熱性TCNQ錯体の効率
的な含浸を可能とし、また、電極表面とTCNQ錯体と
の接合を強固なものとして、静電容量、漏れ電流などの
種々のコンデンサ特性の改善を図ることを目的とするも
のである。
【0008】
【課題を解決するための手段】本発明は、表面に酸化被
膜を有する弁作用金属もしくは該金属合金の陽極用電極
を用い、固体電解質としてTCNQ錯体を用いる固体電
極コンデンサの製造方法において、4級化されたドナー
材の陽イオン部分とこれと等モル量のTCNQラジカル
陰イオン部分とからなる塩と、TCNQとの混合物の中
に、陽極用電極を浸漬し、この浸漬物を加温してTCN
Q錯体を陽極用電極上に生成させることにより、TCN
Q錯体を陽極用電極に含浸、接合させることを特徴とす
る固体電解コンデンサの製造方法である。さらには、4
級化されたドナー材の陽イオン部分とこれと等モル量の
TCNQラジカル陰イオン部分とからなる塩と、TCN
Qとの上記の混合物に、さらにドナー材と4級化剤、又
は4級化されたドナー材を添加する固体電解コンデンサ
の製造方法である。
膜を有する弁作用金属もしくは該金属合金の陽極用電極
を用い、固体電解質としてTCNQ錯体を用いる固体電
極コンデンサの製造方法において、4級化されたドナー
材の陽イオン部分とこれと等モル量のTCNQラジカル
陰イオン部分とからなる塩と、TCNQとの混合物の中
に、陽極用電極を浸漬し、この浸漬物を加温してTCN
Q錯体を陽極用電極上に生成させることにより、TCN
Q錯体を陽極用電極に含浸、接合させることを特徴とす
る固体電解コンデンサの製造方法である。さらには、4
級化されたドナー材の陽イオン部分とこれと等モル量の
TCNQラジカル陰イオン部分とからなる塩と、TCN
Qとの上記の混合物に、さらにドナー材と4級化剤、又
は4級化されたドナー材を添加する固体電解コンデンサ
の製造方法である。
【0009】本発明において用いる弁作用金属とは、そ
の酸化物が電機絶縁体(誘電体)となる金属のことであ
って、周期表の3族,4族及び5族金属を指し、例えば
Al,Ti,Zr,Hf,Ta,Nb等であり、これら
の合金も適用できるが特にアルミニウム(Al)もしく
はその合金がコスト的に安価でかつエッチング処理等に
よる表面積拡大が容易で高い静電容量が得られる等の点
で好適に使用される。該金属の合金としては、Al−T
i,Al−Zr,Al−Hf,Al−Ta,Al−Nb
等のほか、AlとTi,Zr,Hf,Ta,Nbの複数
組み合わせの合金等が挙げられる。
の酸化物が電機絶縁体(誘電体)となる金属のことであ
って、周期表の3族,4族及び5族金属を指し、例えば
Al,Ti,Zr,Hf,Ta,Nb等であり、これら
の合金も適用できるが特にアルミニウム(Al)もしく
はその合金がコスト的に安価でかつエッチング処理等に
よる表面積拡大が容易で高い静電容量が得られる等の点
で好適に使用される。該金属の合金としては、Al−T
i,Al−Zr,Al−Hf,Al−Ta,Al−Nb
等のほか、AlとTi,Zr,Hf,Ta,Nbの複数
組み合わせの合金等が挙げられる。
【0010】本発明におけるドナー材とは、TCNQ錯
体において、安定な陽イオン部分を形成する物質であっ
て、電子供与性物質が使用される。好適なドナー材の例
は、キノリン、イソキノリン、4−フェニルピリジン、
インドール、キナゾリン、キノキサリン、カルバゾー
ル、アクリジン、フェナントリジン、フェナジンあるい
はその誘導体の比較的沸点の高い芳香族アミンである。
体において、安定な陽イオン部分を形成する物質であっ
て、電子供与性物質が使用される。好適なドナー材の例
は、キノリン、イソキノリン、4−フェニルピリジン、
インドール、キナゾリン、キノキサリン、カルバゾー
ル、アクリジン、フェナントリジン、フェナジンあるい
はその誘導体の比較的沸点の高い芳香族アミンである。
【0011】本発明における4級化剤とは、ドナー材と
反応して4級化されたドナー材塩を与える物質であり、
ハロゲン化アルキル、スルホン酸アルキルエステル等が
例示できる。ハロゲン化アルキルとしては、塩化アルキ
ル、臭化アルキル、沃化アルキルを使用しうるが、4級
化反応が効率良く進行する点で沃化アルキルが好まし
く、沃化エチル、沃化プロピル、沃化イソプロピル、沃
化ブチル、沃化イソブチル、沃化アミル、沃化イソアミ
ル、沃化ヘキシル、沃化オクチル等が例示できる。ま
た、スルホン酸アルキルエステルのスルホン酸部分とし
ては、メタンスルホン酸、エタンスルホン酸等のアルカ
ンスルホン酸類、トリフルオロメタンスルホン酸、ペン
タフルオロエタンスルホン酸等のペルフルオロアルカン
スルホン酸類、ベンゼンスルホン酸、パラトルエンスル
ホン酸等の芳香族スルホン酸類が例示でき、アルキル部
分としてはエチル、プルピル、イソプルピル、ブチル、
イソブチル、アミル、イソアミル、ヘキシル、オクチル
等が例示できる。
反応して4級化されたドナー材塩を与える物質であり、
ハロゲン化アルキル、スルホン酸アルキルエステル等が
例示できる。ハロゲン化アルキルとしては、塩化アルキ
ル、臭化アルキル、沃化アルキルを使用しうるが、4級
化反応が効率良く進行する点で沃化アルキルが好まし
く、沃化エチル、沃化プロピル、沃化イソプロピル、沃
化ブチル、沃化イソブチル、沃化アミル、沃化イソアミ
ル、沃化ヘキシル、沃化オクチル等が例示できる。ま
た、スルホン酸アルキルエステルのスルホン酸部分とし
ては、メタンスルホン酸、エタンスルホン酸等のアルカ
ンスルホン酸類、トリフルオロメタンスルホン酸、ペン
タフルオロエタンスルホン酸等のペルフルオロアルカン
スルホン酸類、ベンゼンスルホン酸、パラトルエンスル
ホン酸等の芳香族スルホン酸類が例示でき、アルキル部
分としてはエチル、プルピル、イソプルピル、ブチル、
イソブチル、アミル、イソアミル、ヘキシル、オクチル
等が例示できる。
【0012】本発明における4級化されたドナー材の陽
イオン部分と、これと等モル量のTCNQラジカル陰イ
オン部分とからなる塩(以下、TCNQ単塩と略す)
は、以下に示す公知の方法〔L.R.Melby et al., J.Am.C
hem.Soc., 84,3374 (1962)参照〕で製造できる。
イオン部分と、これと等モル量のTCNQラジカル陰イ
オン部分とからなる塩(以下、TCNQ単塩と略す)
は、以下に示す公知の方法〔L.R.Melby et al., J.Am.C
hem.Soc., 84,3374 (1962)参照〕で製造できる。
【0013】
【数1】 まず、ドナー材(D)と4級化剤(R−X)とを反応さ
せ、4級化されたドナー材(〔D−R〕+ X- )を得
る。これに、エタノール等の溶媒中で、TCNQラジカ
ル陰イオンのアルカリ金属塩(〔TCNQ〕- M+ 、こ
こでM=Li,K,Na)を反応させることによりTC
NQ単塩(〔D−R〕+ 〔TCNQ〕- )を得ることが
できる。
せ、4級化されたドナー材(〔D−R〕+ X- )を得
る。これに、エタノール等の溶媒中で、TCNQラジカ
ル陰イオンのアルカリ金属塩(〔TCNQ〕- M+ 、こ
こでM=Li,K,Na)を反応させることによりTC
NQ単塩(〔D−R〕+ 〔TCNQ〕- )を得ることが
できる。
【0014】本発明では、TCNQ単塩とTCNQとの
混合物中に、陽極用電極を浸漬し、この浸漬物を加温す
ることにより、TCNQ錯体を陽極用電極上に生成させ
る。すなわち、下式に従いTCNQ単塩(〔D−R〕+
〔TCNQ〕- )とTCNQとが反応してTCNQ錯体
(〔D−R〕+ 〔TCNQ〕- 〔TCNQ〕)が生成す
る。
混合物中に、陽極用電極を浸漬し、この浸漬物を加温す
ることにより、TCNQ錯体を陽極用電極上に生成させ
る。すなわち、下式に従いTCNQ単塩(〔D−R〕+
〔TCNQ〕- )とTCNQとが反応してTCNQ錯体
(〔D−R〕+ 〔TCNQ〕- 〔TCNQ〕)が生成す
る。
【0015】
【数2】 本発明では、TCNQ錯体は化学量論量、すなわち、T
CNQ単塩に対して等モル量のTCNQを用いるが、
1.3倍モル量程度までの小過剰量のTCNQを用いて
も差しつえない。また、TCNQ単塩とTCNQとの混
合物は、そのままでも使用可能であるが、適切な溶媒を
添加して使用することが好ましい結果を与える。このよ
うな溶媒としてはアセトニトリル、エタノール、塩化メ
チレン、クロロホルム、アセトンなどが例示できる。溶
媒の添加量はTCNQ単塩とTCNQとの混合物の量に
対して重量比で0.2〜10倍量の範囲が好ましい。溶
媒は前記の加温操作で留去されるため最終的には固体電
解質には残留しない。
CNQ単塩に対して等モル量のTCNQを用いるが、
1.3倍モル量程度までの小過剰量のTCNQを用いて
も差しつえない。また、TCNQ単塩とTCNQとの混
合物は、そのままでも使用可能であるが、適切な溶媒を
添加して使用することが好ましい結果を与える。このよ
うな溶媒としてはアセトニトリル、エタノール、塩化メ
チレン、クロロホルム、アセトンなどが例示できる。溶
媒の添加量はTCNQ単塩とTCNQとの混合物の量に
対して重量比で0.2〜10倍量の範囲が好ましい。溶
媒は前記の加温操作で留去されるため最終的には固体電
解質には残留しない。
【0016】また、上記のTCNQ単塩とTCNQとの
混合物にドナー材と4級化剤、又は4級化されたドナー
材を添加することによって、含浸時の混合物の粘性を下
げ、含浸性を向上させることができる。ここで用いるド
ナー材と4級化剤はTCNQ単塩の合成に用いたものと
異なっていてもよいが、4級化されたドナー材陽イオン
部分との交換反応が起りコンデンサ性能の変化が起こる
恐れがあるので、同じドナー材の使用が好ましい。
混合物にドナー材と4級化剤、又は4級化されたドナー
材を添加することによって、含浸時の混合物の粘性を下
げ、含浸性を向上させることができる。ここで用いるド
ナー材と4級化剤はTCNQ単塩の合成に用いたものと
異なっていてもよいが、4級化されたドナー材陽イオン
部分との交換反応が起りコンデンサ性能の変化が起こる
恐れがあるので、同じドナー材の使用が好ましい。
【0017】添加するドナー材と4級化剤の量は、それ
ぞれTCNQ単塩とのモル比で、2倍モル以下が好まし
く、揮発性の大きな(低沸点の)4級化剤を使用する場
合には、ドナー材に対して過剰量の4級化剤を添加する
ことが好適な結果を与える。同様に、添加する4級化さ
れたドナー材の量は、TCNQ単塩とのモル比で、2倍
モル以下が好ましい。
ぞれTCNQ単塩とのモル比で、2倍モル以下が好まし
く、揮発性の大きな(低沸点の)4級化剤を使用する場
合には、ドナー材に対して過剰量の4級化剤を添加する
ことが好適な結果を与える。同様に、添加する4級化さ
れたドナー材の量は、TCNQ単塩とのモル比で、2倍
モル以下が好ましい。
【0018】また、TCNQ単塩とTCNQとの混合物
のみを用いる前述の方法と同様に、適切な溶媒を添加し
て使用することが好ましい結果を与える。このような溶
媒としてはアセトニトリル、エタノール、塩化メチレ
ン、クロロホルム、アセトンなどが例示できる。溶媒の
添加量はTCNQ単塩とTCNQとの混合物の量に対し
て重量比で0.2〜10倍量の範囲が好ましい。
のみを用いる前述の方法と同様に、適切な溶媒を添加し
て使用することが好ましい結果を与える。このような溶
媒としてはアセトニトリル、エタノール、塩化メチレ
ン、クロロホルム、アセトンなどが例示できる。溶媒の
添加量はTCNQ単塩とTCNQとの混合物の量に対し
て重量比で0.2〜10倍量の範囲が好ましい。
【0019】本発明ではTCNQ単塩とTCNQとの混
合物中に陽極用電極を浸漬し、この浸漬物を加温する。
加温はTCNQ錯体が十分な形成が起こる温度以上の加
温が必要である。また、陽極用電極の誘電体被膜上への
含浸を有効に行なうためには、温度を高くしTCNQ単
塩とTCNQとの混合物の粘性を下げることが必要であ
る。しかしながら、TCNQ錯体の分解温度よりもあま
り高い温度まで加温を行なうとTCNQ錯体の分解が進
み、その結果、固体電解質の絶縁化が起こり、コンデン
サ特性の低下が生ずる恐れがある。一般に、TCNQ錯
体の分解点はTCNQの昇華点である290℃付近であ
り、例えば、N−ノルマルブチルイソキノリウム錯体は
265℃であり、N−ノルマルブチル−4−フェニルピ
リジニウム錯体は270℃である。すなわち、一般に、
60℃〜300℃の温度範囲まで、好ましくは220℃
から300℃の温度範囲まで加温する。このような操作
で含浸させるのに必要な所要時間は、一般に1〜60分
である。なお、巻回型の電解コンデンサの製造において
は、公知のように、陽極用電極と陰極用電極とを共にコ
ルク状に巻いたものを同時に浸漬して含浸を行なうこと
が有利である。
合物中に陽極用電極を浸漬し、この浸漬物を加温する。
加温はTCNQ錯体が十分な形成が起こる温度以上の加
温が必要である。また、陽極用電極の誘電体被膜上への
含浸を有効に行なうためには、温度を高くしTCNQ単
塩とTCNQとの混合物の粘性を下げることが必要であ
る。しかしながら、TCNQ錯体の分解温度よりもあま
り高い温度まで加温を行なうとTCNQ錯体の分解が進
み、その結果、固体電解質の絶縁化が起こり、コンデン
サ特性の低下が生ずる恐れがある。一般に、TCNQ錯
体の分解点はTCNQの昇華点である290℃付近であ
り、例えば、N−ノルマルブチルイソキノリウム錯体は
265℃であり、N−ノルマルブチル−4−フェニルピ
リジニウム錯体は270℃である。すなわち、一般に、
60℃〜300℃の温度範囲まで、好ましくは220℃
から300℃の温度範囲まで加温する。このような操作
で含浸させるのに必要な所要時間は、一般に1〜60分
である。なお、巻回型の電解コンデンサの製造において
は、公知のように、陽極用電極と陰極用電極とを共にコ
ルク状に巻いたものを同時に浸漬して含浸を行なうこと
が有利である。
【0020】
【作用】本発明は、TCNQ単塩とTCNQの反応を陽
極用電極の存在下に行ない、導電性TCNQ錯体が形成
されると同時に該陽極用電極の導電体被膜上に析出さ
せ、更に該錯体の含浸を行なうものである。
極用電極の存在下に行ない、導電性TCNQ錯体が形成
されると同時に該陽極用電極の導電体被膜上に析出さ
せ、更に該錯体の含浸を行なうものである。
【0021】
【実施例】以下、本発明を実地例により更に説明する。 〔実施例1〕高純度アルミニウム箔(純度99%)を交
流により電解エッチングして、約80倍に拡大された表
面積を有する陽極用電極箔を作製し、中性燐酸液にて2
0V化成を行ない、誘電体被膜を形成させた。この陽極
用電極箔に、常用の陰極用アルミニウム箔を紙を介して
巻いたものにリード線を付け、巻回型電解コンデンサ素
子を作製した。次に、N−ノルマルブチルイソキノリウ
ム陽イオンとTCNQラジカル陰イオンとからなる塩
と、これに対して当モル量のTCNQとを混合し、この
混合物をアルミケース内に入れた。さらに、該混合物に
対し重量比で2倍量のアセトニトリルを添加し、さらに
混合した。これに前述の巻回型電解コンデンサ素子を浸
漬し、次いで、270℃まで加温し、巻回型電解コンデ
ンサ素子への含浸とTCNQ錯体の生成を行なった。冷
却後、得られた巻回型電解コンデンサの特性を測定した
ところ、静電容量306μF、耐電圧10V、tanδ
0.10、漏れ電流40μAであった。
流により電解エッチングして、約80倍に拡大された表
面積を有する陽極用電極箔を作製し、中性燐酸液にて2
0V化成を行ない、誘電体被膜を形成させた。この陽極
用電極箔に、常用の陰極用アルミニウム箔を紙を介して
巻いたものにリード線を付け、巻回型電解コンデンサ素
子を作製した。次に、N−ノルマルブチルイソキノリウ
ム陽イオンとTCNQラジカル陰イオンとからなる塩
と、これに対して当モル量のTCNQとを混合し、この
混合物をアルミケース内に入れた。さらに、該混合物に
対し重量比で2倍量のアセトニトリルを添加し、さらに
混合した。これに前述の巻回型電解コンデンサ素子を浸
漬し、次いで、270℃まで加温し、巻回型電解コンデ
ンサ素子への含浸とTCNQ錯体の生成を行なった。冷
却後、得られた巻回型電解コンデンサの特性を測定した
ところ、静電容量306μF、耐電圧10V、tanδ
0.10、漏れ電流40μAであった。
【0022】〔実施例2〕N−ノルマルブチル−4−フ
ェニルピリジウム陽イオンとTCNQラジカル陰イオン
とからなる塩と、これに対して当モル量のTCNQとを
混合し、この混合物をアルミケース内に入れた。さら
に、該混合物に対し重量比で2倍量のアセトニトリルを
添加し、さらに混合した。これに実地例1と同様の方法
で作製した巻回型電解コンデンサ素子を浸漬し、次い
で、270℃まで加温し、巻回型電解コンデンサ素子へ
の含浸とTCNQ錯体の生成を行なった。冷却後、得ら
れた巻回型電解コンデンサの特性を測定したところ、静
電容量370μF、耐電圧16V、tanδ0.07、
漏れ電流10μAであった。
ェニルピリジウム陽イオンとTCNQラジカル陰イオン
とからなる塩と、これに対して当モル量のTCNQとを
混合し、この混合物をアルミケース内に入れた。さら
に、該混合物に対し重量比で2倍量のアセトニトリルを
添加し、さらに混合した。これに実地例1と同様の方法
で作製した巻回型電解コンデンサ素子を浸漬し、次い
で、270℃まで加温し、巻回型電解コンデンサ素子へ
の含浸とTCNQ錯体の生成を行なった。冷却後、得ら
れた巻回型電解コンデンサの特性を測定したところ、静
電容量370μF、耐電圧16V、tanδ0.07、
漏れ電流10μAであった。
【0023】〔実施例3〕N−ノルマルブチルイソキノ
リウム陽イオンとTCNQラジカル陰イオンとからなる
塩と、これに対してそれぞれ当モル量のTCNQおよび
N−ノルマルブチルイソキノリウム沃化物とを混合し、
この混合物をアルミケース内に入れた。さらに、該混合
物に対し重量比で1.5倍量のアセトニトリルを添加
し、さらに混合した。これに実施例1と同様の方法で作
製した巻回型電解コンデンサ素子を浸漬し、次いで、2
50℃まで加温しTCNQ錯体の生成と含浸を行なっ
た。冷却後、得られた巻回型電解コンデンサの特性を測
定したところ、静電容量420μF、耐電圧10V、t
anδ0.02、漏れ電流120μAであった。
リウム陽イオンとTCNQラジカル陰イオンとからなる
塩と、これに対してそれぞれ当モル量のTCNQおよび
N−ノルマルブチルイソキノリウム沃化物とを混合し、
この混合物をアルミケース内に入れた。さらに、該混合
物に対し重量比で1.5倍量のアセトニトリルを添加
し、さらに混合した。これに実施例1と同様の方法で作
製した巻回型電解コンデンサ素子を浸漬し、次いで、2
50℃まで加温しTCNQ錯体の生成と含浸を行なっ
た。冷却後、得られた巻回型電解コンデンサの特性を測
定したところ、静電容量420μF、耐電圧10V、t
anδ0.02、漏れ電流120μAであった。
【0024】〔実施例4〕N−ノルマルブチル−4−フ
ェニルピリジニウム陽イオンとTCNQラジカル陰イオ
ンとからなる塩と、これに対してそれぞれ当モル量のT
CNQおよびN−ノルマルブチルイソキノリウム沃化物
とを混合し、この混合物をアルミケース内に入れた。さ
らに、該混合物に対し重量比で1.5倍量のアセトニト
リルを添加し、さらに混合した。これに実施例1と同様
の方法で作製した巻回型電解コンデンサ素子を浸漬し、
次いで、270℃まで加温しTCNQ錯体の生成と含浸
を行なった。冷却後、得られた巻回型電解コンデンサの
特性を測定したところ、静電容量400μF、耐電圧1
6V、tanδ0.07、漏れ電流20μAであった。
ェニルピリジニウム陽イオンとTCNQラジカル陰イオ
ンとからなる塩と、これに対してそれぞれ当モル量のT
CNQおよびN−ノルマルブチルイソキノリウム沃化物
とを混合し、この混合物をアルミケース内に入れた。さ
らに、該混合物に対し重量比で1.5倍量のアセトニト
リルを添加し、さらに混合した。これに実施例1と同様
の方法で作製した巻回型電解コンデンサ素子を浸漬し、
次いで、270℃まで加温しTCNQ錯体の生成と含浸
を行なった。冷却後、得られた巻回型電解コンデンサの
特性を測定したところ、静電容量400μF、耐電圧1
6V、tanδ0.07、漏れ電流20μAであった。
【0025】〔実施例5〕N−ノルマルブチルイソキノ
リウム陽イオンとTCNQラジカル陰イオンとからなる
塩と、これに対してそれぞれ当モル量のTCNQ、イソ
キノリンおよび沃化ノルマルブチルとを混合し、この混
合物をアルミケース内にいれた。さらに、該混合物に対
し重量比で1.5倍量のアセトニトリルを添加し、さら
に混合した。これに実施例1と同様の方法で作製した巻
回型電解コンデンサ素子を浸漬し、次いで、250℃ま
で加温しTCNQ錯体の生成と含浸を行なった。冷却
後、得られた巻回型電解コンデンサの特性を測定したと
ころ、静電容量422μF、耐電圧10V、tanδ
0.05、漏れ電流150μAであった。
リウム陽イオンとTCNQラジカル陰イオンとからなる
塩と、これに対してそれぞれ当モル量のTCNQ、イソ
キノリンおよび沃化ノルマルブチルとを混合し、この混
合物をアルミケース内にいれた。さらに、該混合物に対
し重量比で1.5倍量のアセトニトリルを添加し、さら
に混合した。これに実施例1と同様の方法で作製した巻
回型電解コンデンサ素子を浸漬し、次いで、250℃ま
で加温しTCNQ錯体の生成と含浸を行なった。冷却
後、得られた巻回型電解コンデンサの特性を測定したと
ころ、静電容量422μF、耐電圧10V、tanδ
0.05、漏れ電流150μAであった。
【0026】〔比較例〕N−ノルマルブチル−4−フェ
ニルピリジニウムカチオンとTCNQラジカル陰イオン
の塩とTCNQを1:1の比率でアセトニトリル溶媒中
反応させ、沈殿したN−ノルマルブチル−4−フェニル
ピリジニウムのTCNQ錯体を単離した。次に、このT
CNQ錯体をアルミケース内に入れ、これに実施例1と
同様の方法で作製した巻回型電解コンデンサ素子を浸漬
し、常法である融解含浸法を用いてTCNQ錯体含浸を
試みた。錯体の融解が起こる約290℃まで加温を行な
ったが、十分な融解が起こると同時にTCNQ錯体の激
しい分解が起こり、固体電解質の絶縁化が起こった。
ニルピリジニウムカチオンとTCNQラジカル陰イオン
の塩とTCNQを1:1の比率でアセトニトリル溶媒中
反応させ、沈殿したN−ノルマルブチル−4−フェニル
ピリジニウムのTCNQ錯体を単離した。次に、このT
CNQ錯体をアルミケース内に入れ、これに実施例1と
同様の方法で作製した巻回型電解コンデンサ素子を浸漬
し、常法である融解含浸法を用いてTCNQ錯体含浸を
試みた。錯体の融解が起こる約290℃まで加温を行な
ったが、十分な融解が起こると同時にTCNQ錯体の激
しい分解が起こり、固体電解質の絶縁化が起こった。
【0027】実施例および比較例より明らかなように、
原料としてTCNQ単塩とTCNQを用いることによ
り、融点が高く融点と分解点が近い(又は融点を持たな
い)ため従来の融解含浸法では含浸は困難である耐熱性
のTCNQ錯体についても含浸が可能となる。また、ド
ナー材および4級化剤、又は4級化されたドナー材を添
加することによって含浸性を向上させることができる。
原料としてTCNQ単塩とTCNQを用いることによ
り、融点が高く融点と分解点が近い(又は融点を持たな
い)ため従来の融解含浸法では含浸は困難である耐熱性
のTCNQ錯体についても含浸が可能となる。また、ド
ナー材および4級化剤、又は4級化されたドナー材を添
加することによって含浸性を向上させることができる。
【0028】
【発明の効果】本発明により、融点が高く融点と分解点
が近い(又は融点を持たない)ため従来の融解含浸法で
は困難であった耐熱性のTCNQ錯体を用いることがで
き、そのため、半田リフローなどの温度に耐えうる耐熱
性に優れた固体電解コンデンサの製造が可能となる。
が近い(又は融点を持たない)ため従来の融解含浸法で
は困難であった耐熱性のTCNQ錯体を用いることがで
き、そのため、半田リフローなどの温度に耐えうる耐熱
性に優れた固体電解コンデンサの製造が可能となる。
Claims (3)
- 【請求項1】 表面に酸化被膜を有する弁作用金属もし
くは該金属合金の陽極用電極を用い、固体電解質として
TCNQ(7,7,8,8ーテトラシアノキノジメタ
ン)錯体を用いる固体電解コンデンサの製造方法におい
て、4級化されたドナー材の陽イオン部分とこれと等モ
ル量のTCNQラジカル陰イオン部分とからなる塩と、
TCNQとの混合物の中に、陽極用電極を浸漬し、この
浸漬物を加温してTCNQ錯体を陽極用電極上に生成さ
せることにより、TCNQ錯体を陽極用電極に含浸、接
合させることを特徴とする固体電解コンデンサの製造方
法。 - 【請求項2】 4級化されたデナー材の陽イオン部分と
これと等モル量のTCNQラジカル陰イオン部分とから
なる塩と、TCNQとの混合物に、さらにドナー材と4
級化剤、又は4級化されたドナー材を添加することを特
徴とする請求項1記載の固体電解コンデンサの製造方
法。 - 【請求項3】 弁作用金属もしくは該金属合金が、アル
ミニウム又はその合金である請求項1又は2記載の固体
電解コンデンサの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1530192A JPH05251281A (ja) | 1992-01-30 | 1992-01-30 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1530192A JPH05251281A (ja) | 1992-01-30 | 1992-01-30 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05251281A true JPH05251281A (ja) | 1993-09-28 |
Family
ID=11884991
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1530192A Withdrawn JPH05251281A (ja) | 1992-01-30 | 1992-01-30 | 固体電解コンデンサの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05251281A (ja) |
-
1992
- 1992-01-30 JP JP1530192A patent/JPH05251281A/ja not_active Withdrawn
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JPH05251281A (ja) | 固体電解コンデンサの製造方法 | |
| JP3221889B2 (ja) | 固体電解コンデンサの製造方法 | |
| JPS63226912A (ja) | 電解コンデンサ用電解液 | |
| EP0285728B1 (en) | Solid electrolytic capacitor, and method of manufacturing same | |
| JPH05259001A (ja) | 固体電解コンデンサの製造方法 | |
| JP3228531B2 (ja) | 固体電解コンデンサの製造方法 | |
| JPS63173316A (ja) | 新規な固体電解コンデンサ | |
| JPH02294009A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
| JPH02239609A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
| JP3208308B2 (ja) | 固体電解コンデンサの製造方法 | |
| JP2810100B2 (ja) | 固体電解コンデンサの製造方法 | |
| JP2673436B2 (ja) | 耐熱性電荷移動錯体及び耐熱性固体電解コンデンサ | |
| JP2586917B2 (ja) | 耐熱性固体電解コンデンサ | |
| JPH02237010A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
| JPS62188307A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
| JPH0629249B2 (ja) | コンデンサ用錯体組成物 | |
| JPH02235324A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
| JPH02235325A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
| JPS63239912A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
| JPH02241014A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
| JPH0377649B2 (ja) | ||
| JPH01255208A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
| JPH02237009A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
| JPS63215034A (ja) | 固体電解コンデンサ | |
| JPH02235323A (ja) | 固体電解コンデンサ |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19990408 |