JPH05252009A - スライスレベル発生回路 - Google Patents

スライスレベル発生回路

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JPH05252009A
JPH05252009A JP30366691A JP30366691A JPH05252009A JP H05252009 A JPH05252009 A JP H05252009A JP 30366691 A JP30366691 A JP 30366691A JP 30366691 A JP30366691 A JP 30366691A JP H05252009 A JPH05252009 A JP H05252009A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
diode
operational amplifier
anode
cathode
slice level
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP30366691A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Shirato
賢司 白土
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by NEC Corp filed Critical NEC Corp
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Publication of JPH05252009A publication Critical patent/JPH05252009A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】スライスレベル発生回路において、微小入力信
号時での出力動作保証範囲が広いスライスレベル発生回
路を実現する。 【構成】入力端子は、第1のオペアンプと第2のオペア
ンプのそれぞれの非反転入力に接続され、第1のオペア
ンプの出力は第1のダイオードのカソードに接続され、
第1のダイオードのアノードは第1のオペアンプの反転
入力に接続され、第1のダイオードのアノードと電源の
間に第1のコンデンサが接続され、更に第1のダイオー
ドのアノードと出力端子の間に第1の抵抗が接続され、
第2のオペアンプの出力は第2のダイオードのアノード
に接続され、第2のダイオードのカソードは第2のオペ
アンプの反転入力に接続され、第2のダイオードのカソ
ードと電源の間に第2のコンデンサが接続され、更に第
2のダイオードのカソードと出力端子の間に第2の抵抗
が接続される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はスライスレベル発生回路
に関し、特に入力信号の高低各レベルをホールドし、抵
抗分圧によりスライスレベルを発生させるスライスレベ
ル発生回路に関する。
【0002】
【従来の技術】図2に従来のスライスレベル発生回路を
示す。
【0003】図2に示すようなこの種のスライスレベル
発生回路は、入力端子がそれぞれダイオードD1のカソ
ードとダイオードD2のアノードに接続され、ダイオー
ドD1のアノードとグランドの間にコンデンサC1が接
続され、更にこのダイオードD1のアノードと出力端子
との間に抵抗R1が接続され、ダイオードD2のカソー
ドとグランドの間にコンデンサC2が接続され、更にこ
のダイオードD2のカソードと出力端子との間に抵抗R
2が接続されている。
【0004】入力端子より入力信号が印加されると、そ
の入力信号の高低各レベルをコンデンサによりホールド
し、抵抗分圧によりスライスレベルを発生させる。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】図2に従来のスライス
レベル発生回路を示す。
【0006】従来、図2に示すようなこの種のスライス
レベル発生回路は、ダイオードD1,D2の順方向降下
電圧をVF とすると、この順方向降下電圧VF の為に正
確に入力信号の高低各レベルをホールドせず、微小入力
信号時での出力動作保証が出来ないと言った問題点があ
った。
【0007】従来のスライスレベル発生回路は、図2に
示すように入力信号VINとその入力信号のホールド高レ
ベルVH ,低レベルVL を抵抗R1,R2により抵抗分
圧し、スレッショルドレベルVTHを発生させる。
【0008】 VTH=(VH +VL )/2[R1=R2の時]…… しかし、ここで図2の回路の実際の高低ホールドレベル
H ,VL は、ダイオードD1,D2を介しているた
め、ダイオードの順方向降下電圧VF(≒0.7V)分
ずれた値となる。つまり、入力信号VINの高低各レベル
をVINH ,VINLとすると、ホールドレベルVH ,VL
は、 VH =VINH −VF …… VL =VINL +VF …… となる。
【0009】図3に従来のスライスレベル発生回路の動
作タイムチャートを示す。図3に示すタイムチャートを
参照して、入力信号レベルによる出力動作を確認する。
ここで、VH ,VL の初期状態をVINH とした場合、 (1)入力信号が大きい時:VINH −VINL >2VF
ときは、VH は、VINH のVF シフトした値をピークと
し、同じくVL は、VINL のVF シフトした値をピーク
とし、スライスレベルVTHは、正常動作する。(VH
L の初期状態をVINL とした場合も同様である) (2)入力信号が小さい時:VF <VINH −VINL
2VF のときは、VLは、VINL のVF シフトした値を
ピークとするが、VH は、VL に漸近するため、VF
シフトせず、極限状態ではVH とVL は同じ値となるた
め、スライスレベルVTHは正常な値とならない。また、
H ,VL の初期状態をVINL とした場合でも、V
H は、VINH のVF シフトした値をピークとし、V
L は、VH に漸近するため、同様にスライスレベルVTH
は正常な値とならない。
【0010】VINH −VINL <VF のときは、VH
L は初期状態に依らず、共にVFシフトせず、不安定
状態となるため、スライスレベルVTHは正常な値となら
ない。
【0011】従って、従来のスライスレベル発生回路で
は、入力信号が式を満足しないと正常動作しない。
【0012】VINH −VINL >2VF …… ここで、入力信号振幅値をVPPとすると、VPP=VINH
−VINL であるから、VPPは、 VPP>2VF …… を満たさなければならない。
【0013】つまり、微小入力信号時(VPP=VINH
INL <2VF )では、このスライスレベルVTHは動作
保証出来ない。
【0014】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、入力端
子が、オペアンプOP1とオペアンプOP2のそれぞれ
の非反転入力に接続され、オペアンプOP1の出力はダ
イオードD1のカソードに接続され、このダイオードD
1のアノードはオペアンプOP1の反転入力に接続さ
れ、このダイオードD1のアノードとグランドの間にコ
ンデンサC1が接続され、更にこのダイオードD1のア
ノードと出力端子との間に抵抗R1が接続され、オペア
ンプOP2の出力はダイオードD2のアノードに接続さ
れ、ダイオードD2のカソードはオペアンプOP2の反
転入力に接続され、このダイオードD2のカソードとグ
ランドの間にコンデンサC2が接続され、更にこのダイ
オードD2のカソードと出力端子の間に抵抗R2が接続
されたスライスレベル回路を得る。
【0015】
【実施例】次に本発明の一実施例について図面を参照し
て説明する。第1図は本発明のスライスレベル発生回路
の一実施例の回路図である。
【0016】本発明のスライスレベル発生回路は、図1
に示すように、入力端子は、オペアンプOP1とオペア
ンプOP2のそれぞれの非反転入力に接続され、オペア
ンプOP1の出力はダイオードD1のカソードに接続さ
れ、ダイオードD1のアノードはオペアンプOP1の反
転入力に接続され、このダイオードD1のアノードとグ
ランドの間にコンデンサC1が接続され、更にこのダイ
オードD1のアノードと出力端子との間に抵抗R1が接
続され、オペアンプOP2の出力はダイオードD2のア
ノードに接続され、ダイオードD2のカソードはオペア
ンプOP2の反転入力に接続され、このダイオードD2
のカソードとグランドの間にコンデンサC2が接続さ
れ、更にこのダイオードD2のカソードと出力端子の間
に抵抗R2が接続される。
【0017】本発明のスライスレベル発生回路は、図1
に示すように、オペアンプOP1の出力がダイオードD
1のカソードに接続され、ダイオードD1のアノードは
オペアンプOP1の非反転入力に接続される。また、オ
ペアンプOP2の出力がダイオードD2のアノードに接
続され、ダイオードD1のカソードはオペアンプOP2
の非反転入力に接続されることによって、ダイオード順
方向電圧降下VF をキャンセルする。このため、コンデ
ンサC1の端子電圧に対し、入力電圧の電圧が低い場合
には、ダイオードD1が導通し、順方向降下電圧VF
キャンセルされているため、コンデンサの端子電圧は入
力端子電圧と等しくなり、また、コンデンサC2の端子
電圧に対し、入力端子の電圧が高い場合には、ダイオー
ドD2が遮断し、コンデンサC1の端子電圧はLレベル
をホールドする。
【0018】更に、コンデンサC2の端子電圧に対し、
入力端子の電圧が高い場合には、ダイオードD2が導通
し、順方向降下電圧VF はキャンセルされているため、
コンデンサの端子電圧は入力端子電圧と等しくなり、ま
た、コンデンサC2の端子電圧に対し、入力端子の電圧
が低い場合には、ダイオードD2が遮断し、コンデンサ
C2の端子電圧は高レベルをホールドする。つまり、コ
ンデンサC1,C2が、順方向降下電圧VF の影響を受
けず、入力電圧の高低各レベルを正しくホールド出来る
ため、微小入力信号時(VH −VL <2VF )でも正し
いスライスレベルを発生することができる。
【0019】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のスライス
レベル発生回路は、入力端子がオペアンプOP1とオペ
アンプOP2のそれぞれの非反転入力に接続され、オペ
アンプOP1の出力はダイオードD1のカソードに接続
され、ダイオードD1のアノードはオペアンプOP1の
反転入力に接続され、このダイオードD1のアノードと
グランドの間にコンデンサC1が接続され、更にこのダ
イオードD1のアノードと出力端子の間に抵抗R1が接
続され、オペアンプOP2の出力はダイオードD2のア
ノードに接続され、ダイオードD2のカソードはオペア
ンプOP2の反転入力に接続され、このダイオードD2
のカソードとグランドの間にコンデンサCDが接続さ
れ、更にこのダイオードD2のカソードと出力端子との
間に抵抗R2が接続されることによって、ホールドレベ
ルにおけるダイオードD1,D2の順方向降下電圧VF
分のずれを無くし、微小入力信号時での出力動作保証範
囲を大きくすることが出来る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例によるスライスレベル発生回
路。
【図2】従来のスライスレベル発生回路。
【図3】従来のスライスレベル発生回路の動作タイムチ
ャート。
【符号の説明】
1 コンデンサC1 2 抵抗R1 3 抵抗R2 4 コンデンサC2 5 ダイオードD1 6 ダイオードD2 7 オペアンプOP1 8 オペアンプOP2 9 入力端子 10 出力端子

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 入力端子は、第1のオペアンプと第2の
    オペアンプのそれぞれの非反転入力に接続され、前記第
    1のオペアンプの出力は第1のダイオードのカソードに
    接続され、前記第1のダイオードのアノードは前記第1
    のオペアンプの反転入力に接続され、前記第1のダイオ
    ードのアノードと電源の間に第1のコンデンサが接続さ
    れ、更に前記第1のダイオードのアノードと出力端子の
    間に第1の抵抗が接続され、前記第2のオペアンプの出
    力は第2のダイオードのアノードに接続され、前記第2
    のダイオードのカソードは前記第2のオペアンプの反転
    入力に接続され、前記第2のダイオードのカソードと電
    源の間に第2のコンデンサが接続され、更に前記第2の
    ダイオードのカソードと出力端子の間に第2の抵抗が接
    続されることを特徴とするスライスレベル発生回路。
JP30366691A 1991-11-20 1991-11-20 スライスレベル発生回路 Withdrawn JPH05252009A (ja)

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JP30366691A JPH05252009A (ja) 1991-11-20 1991-11-20 スライスレベル発生回路

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JPH05252009A true JPH05252009A (ja) 1993-09-28

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JP30366691A Withdrawn JPH05252009A (ja) 1991-11-20 1991-11-20 スライスレベル発生回路

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7633320B2 (en) 2007-06-29 2009-12-15 Kabushiki Kaisha Toshiba Comparator circuit

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7633320B2 (en) 2007-06-29 2009-12-15 Kabushiki Kaisha Toshiba Comparator circuit
US8044686B2 (en) 2007-06-29 2011-10-25 Kabushiki Kaisha Toshiba Comparator circuit for generating binarized data

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