JPH05259910A - D−aコンバータ装置及びその較正方法 - Google Patents

D−aコンバータ装置及びその較正方法

Info

Publication number
JPH05259910A
JPH05259910A JP4314064A JP31406492A JPH05259910A JP H05259910 A JPH05259910 A JP H05259910A JP 4314064 A JP4314064 A JP 4314064A JP 31406492 A JP31406492 A JP 31406492A JP H05259910 A JPH05259910 A JP H05259910A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
converter
digital
calibration
output
signal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP4314064A
Other languages
English (en)
Inventor
Navdeep S Sooch
シン スーク ナブディープ
Michael L Duffy
エル ダフィー マイケル
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Crystal Semiconductor Corp
Original Assignee
Crystal Semiconductor Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Crystal Semiconductor Corp filed Critical Crystal Semiconductor Corp
Publication of JPH05259910A publication Critical patent/JPH05259910A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/322Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters
    • H03M3/352Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters of deviations from the desired transfer characteristic
    • H03M3/354Continuously compensating for, or preventing, undesired influence of physical parameters of deviations from the desired transfer characteristic at one point, i.e. by adjusting a single reference value, e.g. bias or gain error
    • H03M3/356Offset or drift compensation
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03MCODING; DECODING; CODE CONVERSION IN GENERAL
    • H03M3/00Conversion of analogue values to or from differential modulation
    • H03M3/30Delta-sigma modulation
    • H03M3/50Digital/analogue converters using delta-sigma modulation as an intermediate step

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Compression, Expansion, Code Conversion, And Decoders (AREA)
  • Analogue/Digital Conversion (AREA)

Abstract

(57)【要約】 (修正有) 【目的】 D−Aコンバータから直流オフセットを除去
する。 【構成】 デルタ−シグマ変調器(44)の出力は1ビ
ットD−Aコンバータ(48)へ入力され、そのアナロ
グ出力がアナログ・ローパス・フィルタ(50)により
フィルタリングされる。較正時、較正済みのA−Dコン
バータ(22)は、マルチプレクサ(58)を介して0
が入力された状態で、D−Aコンバータのアナログ出力
を受ける。A−Dコンバータの出力はデルタ−シグマ変
調器及びアナログ・ローパス・フィルタの固有の誤差を
表わすが、これは暫定オフセット・レジスタ(62)へ
蓄積されついで、オフセット・レジスタ/ラッチ回路
(56)の内容は、インターポレーションの回路の出力
に加算されてデルタ−シグマ変調器へ入力される。較正
にインターポレーション回路を用いることにより、その
ゲインをレジスタ/ラッチ回路に蓄積された値で補償す
ることができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は一般的にD−Aコンバー
タに関し、さらに詳細にはD−Aコンバータから直流オ
フセットを除去する較正システム及び関連の再構成フィ
ルタに関する。
【0002】
【従来の技術】デジタル・オーディオ及び通信の分野で
は、高精度及び高分解能のD−Aコンバータ回路の使用
がシステム性能の改善にとって重要である。高分解能の
D−Aコンバータには、従来、バイナリ・ウエイトを持
つトリミング付き回路または多スロープ積分器が用いら
れている。バイナリ・ウエイトを持つ回路では、レーザ
ーによるトリミング、ダイナミック素子のマッチング、
またはROMによるデジタル法の実施が必要であった。
これは、変換精度がバイナリ・ウエイトを持つ回路の素
子のマッチング許容誤差に大きく依存するためであっ
た。トリミングされていないかかるウエイト付き回路の
精度は普通、14ビットであるが、トリミングを行った
回路で得られる変換精度は15ビットよりも高い。多ス
ロープ積分型回路では積分器、サンプル・ホールド回路
及び電流源が必要であり、これらは当然、比較的高精度
で高速のデバイスでなければならない。この技術を用い
る高分解能D−Aコンバータは、サンプル電荷及びサン
プル・キャパシタが普通、バイポーラ型トランジスタの
ベース・インピーダンスを介して漏洩するため実現困難
である。
【0003】D−Aコンバータの分野で注目されている
もう1つの技術としてオーバ・サンプリングによる変換
がある。この技術はデルタ−シグマ変調器を従来型オー
バ・サンプリング・ノイズ・シェーピング回路及びデジ
タル・フィルタと共に用いる。通常、インターポレーシ
ョン・フィルタを用いてサンプリング・レートを増加さ
せた後、fs/2(fsは入力サンプリング周波数)か
それより高いすべてのイメージ及び量子化ノイズをフィ
ルタリングにより除去する。デルタ−シグマ変調器はイ
ンターポレーション・フィルタの出力を受けてこのオー
バ・サンプリングされた信号を1ビットのデータ信号流
に変換する。この1ビットの出力がD−Aコンバータを
制御するが、これはただ2つのアナログ・レベルを持つ
にすぎないため固有の直線性を有する。この信号はその
後アナログ・ローパス・フィルタへ入力される。
【0004】高分解能D−Aコンバータにオーバ・サン
プリング・ノイズ・シェーピング技術を用いる場合、2
つの問題が生じる。それは直流オフセットと位相直線性
である。インターポレーション・フィルタ、サンプル・
ホールド回路、デルタ−シグマ変調器よりなるD−Aコ
ンバータのデジタル部は実質的に位相直線性を持つよう
に設計可能であり、また直流オフセットを与えることも
できる。しかしながら、D−Aコンバータの全システム
のうちのアナログ部、即ちアナログ・ローパス・フィル
タを組み込むと、位相に応答する非直線性に加えてもう
1つのレベルの直流オフセットがシステムに導入され
る。直流オフセットを除去してD−Aコンバータ・シス
テムのアナログ部の応答に位相直線性を得るのは困難で
ある。
【0005】デジタル・オーディオのような用途では、
この直流オフセットと位相応答直線性は可聴的であるた
め、望ましい高い音声品質が低下する。この問題に対す
る1つの解決法はD−Aコンバータにオフセット・レジ
スタを設け、オフセット・レジスタの出力をノーマル動
作時デジタル入力に加算してデルタ−シグマ変調器に存
在する種々の非直線性を補償することである。較正制御
回路を作動させてD−Aコンバータを較正モードにし、
逐次比較コントローラと共にオフセット数を発生させ
る。しかしながら、この逐次比較コントローラを構成す
るには多量の回路が必要であり、また較正だけのために
完全に別個のブロックを用いる必要がある。したがっ
て、D−Aコンバータを較正するためのさらに効率的な
較正コントローラに対する需要が存在する。
【0006】本発明は較正システムを一体的に組み込ん
だD−Aコンバータとして実現される。D−Aコンバー
タはそのデジタル入力でデジタル入力信号を受け、デジ
タル入力信号のデジタル値に対応するアナログ出力レベ
ルのアナログ出力信号を出力する。デジタル入力におけ
る所与のデジタル入力値に対するオフセット値だけアナ
ログ出力レベルをオフセットさせるオフセット回路を設
ける。較正モードで作動して較正信号の発生に応答して
オフセット値を求める較正回路を設ける。この較正回路
は、出力レベルが所与のアナログ入力レベルに対して較
正されたA−Dコンバータを含んでいる。このA−Dコ
ンバータは較正モード時D−Aコンバータの出力にその
入力が結合されるように作動可能であり、その出力がオ
フセット値となる。
【0007】本発明のもう1つの特徴として、D−Aコ
ンバータはデジタル入力信号のサンプリング周波数を増
加させるインターポレーション回路を含む。インターポ
レーション回路の出力はnビットのデジタル信号流を得
るためnビット量子化器により処理される。このnビッ
ト・デジタル信号流はアナログ信号に変換された後、ア
ナログ・ローパス・フィルタによりフィルタリングされ
てアナログ出力信号となる。インターポレーション・フ
ィルタとnビット量子化器との間に加算点を設ける。オ
フセット・レジスタを設けてその内容を加算点に出力す
ることによりデジタル・パスのその値をオフセットす
る。較正モード時、オフセット値を表わすA−Dコンバ
ータの出力はインターポレーション回路のゲインに等し
くなるように補償される。これは、インターポレーショ
ン回路の入力をデジタル・パスから切り離してA−Dコ
ンバータの出力をインターポレーション回路で処理する
ことにより達成する。
【0008】本発明のさらに別の特徴として、A−Dコ
ンバータは較正モード及びノーマル・モードのいずれに
おいても作動可能である。ノーマル・モードでは、A−
Dコンバータの入力が外部のアナログ入力信号に接続さ
れ、その出力が外部のアナログ入力信号に相当する外部
のデジタル出力信号を与える。
【0009】以下、添付図面を参照して本発明を実施例
につき詳細に説明する。
【0010】
【実施例】図1を参照して、較正されたD−Aコンバー
タ10は、以下において説明するようにオーバ・サンプ
リングされるデジタル・デルタ−シグマ・コンバータ及
びインターポレーション・フィルタを用いる。コンバー
タ10のデジタル入力は入力バス14で受けて加算点1
6へ入力される。加算点16はオフセット・レジスタ1
8の内容をデジタル入力14のデジタル値から減算する
ように作動する。オフセット・レジスタ18の内容は較
正ステップ時に求められる。加算点16の出力はD−A
コンバータ10へ入力されてアナログ値へ変換され、こ
のアナログ値がアナログ出力20へ出力される。
【0011】較正されたA−Dコンバータは較正用とし
て用いる。このA−Dコンバータを本発明の好ましい実
施例の回路に組み込む目的は、この回路でD−A変換だ
けでなくA−D変換を行なうためである。このA−Dコ
ンバータは、好ましくは米国特許第4,943,807
号(発明の名称“Digitally Calibra
ted Delta−Sigma Analog−to
−Digital Converter”)に記載され
たように較正されたA−Dコンバータである。この特許
は本明細書の一部を形成するものとして引用する。この
較正されたA−Dコンバータは、入力に較正マルチプレ
クサ24を有し、オーバ・サンプリングされたA−Dコ
ンバータ22を含む。
【0012】較正マルチプレクサ24は、この回路のA
−Dコンバータ部分のノーマル動作のためのアナログ入
力と、A−Dコンバータの較正に用いるための較正電圧
とを選択するように作動可能である。さらに、この較正
マルチプレクサ24はD−A変換プロセスの結果として
生じるライン20上のアナログ出力を受けるように制御
可能である。このA−Dコンバータ22はバス26上に
デジタル出力を出力し、この出力は較正モジュール28
へ入力される。較正モジュール28は較正モードにおい
て較正パラメータを発生するために用いられるが、これ
らのパラメータは蓄積された後、A−Dコンバータ22
によるデジタル値出力のオフセットに利用される。較正
モジュール28の出力は出力マルチプレクサ30へ入力
され、D−Aコンバータ10の較正時利用される。
【0013】A−D変換プロセスのノーマル動作によ
り、デジタル・バス32においてデジタル出力が得られ
る。しかしながら、D−Aコンバータ10の較正モード
時では、このマルチプレクサ30の出力はバス34によ
り較正制御回路36へ入力される。較正制御回路はA−
Dコンバータ22の較正及びD−Aコンバータ10の較
正を共に行なうように作動可能である。図示はしない
が、較正制御回路36は内部のA−Dコンバータ較正パ
ラメータを発生し、またオフセット・レジスタ18に蓄
積される値を発生するように作動可能である。この値は
D−A変換時に用いられる。
【0014】動作について説明すると、A−Dコンバー
タ22が一旦較正されると、較正モジュール28の出力
におけるA−Dコンバータ22の出力は、図1に示すよ
うに、D−Aコンバータ10へ入力されるデジタル値が
0であればD−Aコンバータ10に存在する実際の誤差
を表わす。これが較正ステップである。このモードで
は、オフセット・レジスタ18及び加算点16はバイパ
スされるため、デジタル値0がD−Aコンバータ10へ
直接入力される。次いで、較正マルチプレクサ24は、
D−Aコンバータ10の出力をサンプリングし、較正さ
れたA−Dコンバータへ入力し、この情報を較正制御回
路36へ送ってオフセット・レジスタ18へ蓄積される
ように制御される。その後、ノーマル動作時において、
オフセット・レジスタ18の内容を用いることによりD
−Aコンバータ10に固有に存在する誤差が補償され
る。較正モード時、A−Dコンバータ22の出力は、A
−Dコンバータ22及びD−Aコンバータ10のアナロ
グ信号レンジと分解能が実質的に同じであればD−Aコ
ンバータ10のオフセットを直接表わす。
【0015】図2は、較正システムの好ましい実施例を
示すさらに詳細なブロック図である。D−Aコンバータ
10はインターポレーション・フィルタを含むインター
ポレーション回路40より成る。このインターポレーシ
ョン・フィルタは有限長インパルス応答フィルタ(FI
R)であって、所定セットのFIRフィルタ係数を有す
る。これらの係数はメモリー42に蓄積されている。通
常、インターポレーション回路40の出力はデルタ−シ
グマ・デジタル変調器44へ入力され、このインターポ
レーション回路40及びデルタ−シグマ変調器44がマ
ルチビットのデジタル入力ワードを1ビットのデジタル
信号流へ変換可能なデジタル部を形成する。この出力は
1ビットのデジタル信号流をアナログ値へ変換する1ビ
ットD−Aコンバータ48へ入力される。次いで、この
アナログ値がアナログ出力20を与えるアナログ・ロー
パス・フィルタ50へ入力される。
【0016】デルタ−シグマ・デジタル変調器を示した
が、任意のタイプの1ビットまたはマルチビット量子化
器を用いて1ビット・デジタル信号流への変換を行なう
ことが可能である。デルタ−シグマ変調器44を用いる
理由は、低レベルの性能がよく、微分非直線性が良好な
ためである。インターポレーション回路40及びデルタ
−シグマ変調器44の一般的な動作は、例えば、IEEE J
ournal ofSolid-StateCircuits, Vol.24, No.4, August
1989に掲載されたYasuyuki Matsuya, Kuniharu Uchiya
ma, Atsushi Awaiti and Takayo Kaneko 著の論文”A 1
7-Bit Oversampling D-to-A Conversion Technology Us
ing Multi-Stage Noise Shaping”及びIEEE Journal of
Solid-State Circuits, Vol.SC-22, No.3, June 19 87
に掲載されたP.J. Naus, E.C. Dijkmans, E.F. Stikvoo
rt, A.J. McKnight, D.J. Holland, and W. Bradinal
著の”A CMOS Stereo 16-Bit D/A Converter For Digit
alAudio”に記載されているように当該技術分野におい
て公知である。
【0017】インターポレーション回路40の出力は、
1つの出力が加算点54の入力に接続された較正オフセ
ット・マルチプレクサ52へ入力される。加算点のもう
1つの入力はオフセット・レジスタ/ラッチ56の出力
に接続してあり、このオフセット・レジスタ/ラッチ5
6はオフセット値を蓄積するよう作動可能である。加算
点54の出力は較正基準マルチプレクサ58へ入力され
る。このマルチプレクサの出力はデルタ−シグマ変調器
44の入力に接続してある。
【0018】較正基準マルチプレクサ58のもう1つの
入力は較正に用いるデジタル値0へ接続してある。較正
基準マルチプレクサ58は、デルタ−シグマ・コンバー
タ44へ確実に真の0値を入力させるために設けてあ
る。しかしながら、これは本発明の動作を説明するため
に図示したただ1つの例に過ぎない。好ましい例では、
0のデジタル・ワードがインターポレーション回路40
へ直接入力され、オフセット・レジスタ/ラッチ56の
内容が0になる。いずれの方法でも同様な結果、即ちD
−Aコンバータ10のオフセット誤差を表わすアナログ
出力を得ることができる。
【0019】インターポレーション回路40の入力は較
正入力マルチプレクサ60の出力に接続してあるが、こ
のマルチプレクサは較正のため暫定オフセット・レジス
タ62から1つの入力を受ける。もう1つの入力はノー
マル動作のためデジタル入力に接続してある。これにつ
いては以下においてさらに詳しく説明する。
【0020】A−Dコンバータ22は、アナログ・デル
タ−シグマ変調器64とデジタル・フィルタ66を含
む。較正マルチプレクサ24の出力はアナログ・デルタ
−シグマ変調器64へ入力され、その出力はデジタル・
フィルタにより処理される較正モジュール28へ入力さ
れるアナログ出力となる。A−Dコンバータ22の較正
時、A−D変換制御回路68は値0のアナログ電圧を入
力するよう較正マルチプレクサ24を制御し、較正モジ
ュール28と共に蓄積デバイス70に蓄積するA−D変
換較正パラメータを発生する。ノーマル動作時、A−D
変換制御回路68はこれらの較正パラメータを用いて較
正モジュール28を制御しこれによりA−Dコンバータ
22の出力でオフセットが得られるようにする。
【0021】D−A変換部を較正する前に、まずA−D
変換較正パラメータを求める必要がある。予めこれらの
パラメータを求めていない場合、まずA−D変換較正パ
ラメータを求めるようにA−D変換制御回路68の動作
を制御するため、システム較正制御回路76が設けられ
ている。システムによりA−D変換が較正されたもので
あると判定されると、次のステップは以下においてさら
に詳細に説明するようにD−A変換の較正である。
【0022】インターポレーション回路40は、インタ
ーポレーション・フィルタを持つような構成が普通であ
る。インターポレーション・フィルタは、関連の係数を
メモリー42へ蓄積した有限長インパルス応答(FI
R)フィルタであるのが好ましい。好ましい実施例のイ
ンターポレーション回路40は、複数タップを有する1
つのインターポレーション・フィルタ段を持つような構
成である。本発明の好ましい実施例ではFIRフィルタ
を用いるが、無限長インパルス応答(IIR)フィルタ
を用いてもよい。インターポレーション回路40への入
力は16ビットであり、これはインターポレーション回
路の内部において24ビットへ拡張される。インターポ
レーション回路40は、まずデジタル入力信号列のサン
プル間に0を介在させ、次いで画定された通過帯域応答
でイメージをフィルタリングにより除去するように作動
可能である。
【0023】0を介在させると周波数軸がリスケーリン
グされるに過ぎないが、このリスケーリングされた周波
数領域に含まれる元の低周波数信号のイメージがFIR
フィルタにより実行されるデジタル・ローパス・フィル
タリング・ステップにより除去される。その結果、入力
サンプリング・レートより所定の比率だけ早いレートの
サンプル信号列がインターポレーション出力で得られ
る。インターポレーションの一般的なプロセスは、Pro
c. of the IEEE, Vol. 69, pp. 300-331, March 19, 19
81 に掲載されたR.E. Crochiere and L.R. Rabiner 著
の”Interpolationand Decimation of Digital Signal
s: A Tutorial Review”及びPrentice Hall,Englewood
Cliffs, 1989 のA.B. Oppenheim and R.W. Schafer
著”Discrete-Time Signal Processing ”に記載されて
いる。これらの文献は共に本明細書の一部を形成するも
のとして引用する。
【0024】インターポレーション回路40のFIRフ
ィルタは本質的に論理演算装置(ALU)であるデジタ
ル信号処理ユニット(DSP)により実現するが、その
入力はフィルタ作用を実現するに必要な計算を行なうた
めに多重化してある。通常、デジタル・フィルタは所定
のシーケンスで実行しなければならない一連の掛け算及
び加算/減算ステップを行なう。そのため、デジタル入
力値がメモリー42に蓄積された係数にしたがってイン
ターポレーション回路40のFIRフィルタ部分により
処理される。これにより、較正オフセット・マルチプレ
クサ52へ出力するためのフィルタリング及びインター
ポレーション機能が得られる。
【0025】通常、デルタ−シグマ変調器は複数の積分
段を含み、第1段はデジタル入力ワードをフィードバッ
ク・ワードへ加えるように作動可能な加算点の出力を受
ける。各積分段の出力は関連のスケーリング係数を有す
るフィードフォワード・パスへ入力される。フィードフ
ォワード・パスの出力はそれぞれ加算されて量子化回路
へ入力され、その出力が量子化されて、D−Aコンバー
タ48へ入力される1ビットのデジタル・データ流とな
る。この1ビットのデジタル・データ流はまた加算点へ
入力される2つのフィードバック・ワードの一方を選択
するために用いられる。
【0026】アナログ・ローパス・フィルタ部分50は
スイッチト・キャパシタによる3次バターワース・ロー
パス・フィルタを含む。このフィルタ50の出力がアナ
ログ出力20を形成する。このフィルタの後に、補償さ
れない連続時間2次バターワース・ローパス・フィルタ
が設けられるが、この段は本発明の補償方法に組み込む
ことができる。
【0027】アナログ出力20には帯域外のノイズが多
少存在するため、A−Dコンバータ22が較正モード時
さらにフィルタリングを行なう。このフィルタリングは
A−Dコンバータ22のデジタル・フィルタ66により
得られるが、これはデルタ−シグマ・アナログ変調器を
用いるA−Dコンバータの固有の一部である。逐次比較
型A−Dコンバータのような別のタイプのA−Dコンバ
ータを用いる場合、D−Aコンバータ10のオフセット
の大きさを正確に求めるためにはデジタルまたはアナロ
グ領域においてさらにフィルタリングを行なう必要があ
ろう。
【0028】D−Aコンバータ部分の較正時、そしてA
−Dコンバータを較正した後、システム較正制御回路7
6は較正制御(CAL)信号を受信する。この較正制御
信号はリセット動作または或るタイプのオーバ・フロー
動作の結果として内部で発生させるか、若しくは外部信
号である場合がある。この信号を受けると、システム較
正制御回路76がまずA−Dコンバータ部分の較正を行
なった後、システムがD−Aコンバータを較正するモー
ドをエンターする。このモードでは、デジタル・デルタ
−シグマ変調器44への入力が加算点54から切り離さ
れ、デジタル・ワード0が入力される。これにより0値
でのテストが保証される。
【0029】較正マルチプレクサ24は、アナログ・ロ
ーパス・フィルタ部分50のアナログ出力をA−Dコン
バータ22へ入力するため選択する。デルタ−シグマ変
調器44への入力は0値のワードであるため、較正モジ
ュール28の出力はデルタ−シグマ変調器、そしてD−
Aコンバータ48とアナログ・ローパス・フィルタ部分
50のような後続回路の誤差をデジタル値で表わす。そ
してこのデジタル値が暫定オフセット・レジスタ62へ
蓄積される。
【0030】図1に関連して説明したように、レジスタ
62に蓄積される値はオフセットを表わし、全体として
所望の動作を実行するため入力に加算することができ
る。しかしながら、他のファクタを考慮する必要があ
る。例えば、オフセット値と入力値の加算をそのデータ
をインターポレーション回路40へ入力する前に行なう
場合、加算の結果としてもう1ビットのデータを入力デ
ータに加える必要がある。インターポレーション・フィ
ルタはその入力に、回路のうち最高速度を有し最も複雑
な部分を位置させる必要がある。入力へ1ビットを加え
ることにより、さらに複雑な回路を用いる必要が生じ
る。したがって、加算ステッップをインターポレーショ
ン・フィルタリング・ステップの後にするのがさらに望
ましい。しかしながら、この場合、インターポレーショ
ン・フィルタ部分のゲインが1にならないだろうという
問題が生じる。
【0031】好ましい実施例のインターポレーション・
フィルタ部分のゲインは1ではない。その結果、あるゲ
イン係数を暫定レジスタ62の内容と掛け算する必要が
ある。これは、掛け算回路により、ゲイン係数を求めた
後その係数をオフセット値に掛け合わせることにより行
なうことが可能である。しかしながら、好ましい実施例
では、インターポレーション回路を用いてオフセット値
が求められるようにアーキテクチュアが作られている。
【0032】図3は、インターポレーション回路40と
その周りのデータ・バスを詳細に示すが、較正基準マル
チプレクサ58とFIRフィルタ係数メモリー42は図
示していない。好ましい実施例において、暫定オフセッ
ト・レジスタ62に蓄積されるデータは16ビット・ワ
ードであり、これはシフト動作によりシリアル・ライン
82を介して較正入力マルチプレクサ60へ入力され
る。このデジタル入力ワードはまた16ビット・ワード
であり、シリアル・ライン84により較正入力マルチプ
レクサ60へ入力される。較正入力マルチプレクサ60
の出力はインターポレーション回路40へ入力されるシ
リアル・ライン86である。
【0033】前述したように、インターポレーション回
路40はバス86にさらに多数のビットを収容するとし
たらさらに複雑になるであろう。通常、インターポレー
ション回路40はフィルタリング時23ビットのデータ
を発生する。インターポレーション動作の後、ビットの
数は切り捨てられて18ビットとなる。この切り捨て
は、主として出力デジタル・ワードの分解能を実際的な
値に減少させ、その後処理されるビットの全体数を減少
させるように設計してある。これは較正オフセット・マ
ルチプレクサ52への18ビットへのデータ・バス88
に出力される。
【0034】較正オフセット・マルチプレクサ52の出
力の1つは18ビット・データ・バス90を介してレジ
スタ/ラッチ56の入力へ、また18ビットのデータバ
ス92を介して加算点54のもう1つの入力へ接続して
ある。好ましい実施例では、このレジスタ/ラッチ56
は出力が20ビットとなるように20ビットを含む。し
たがって、加算点54の出力は21ビットのデータ・バ
ス94であり、加算動作にさらに1つのビットが必要で
ある。これはデジタル・デルタ−シグマ変調器44へ入
力される。したがって、加算動作によるさらに別のビッ
トはインターポレーション回路40でなくてデジタル・
デルタ−シグマコンバータ44により収容されることが
分かる。
【0035】再び図2を参照して、デジタル較正動作を
説明する。上述したように、第1のステップにおいてD
−Aコンバータ10全体のオフセットを求めるが、誤差
の大部分は1ビットD−Aコンバータ48とアナログ・
ローパス・フィルタ50の動作に原因がある。しかしな
がら、加算点54がインターポレーション回路40の後
にあるため、インターポレーション回路40のゲインに
つき何等かの補償を行なう必要がある。これは、暫定オ
フセット・レジスタ62の内容を求めた後それを較正入
力マルチプレクサ60を介してインターポレーション回
路40の入力へ入力することにより行なう。そして、較
正オフセット・マルチプレクサ52がインターポレーシ
ョン回路40からのインターポレーション(補間)され
た出力を得てそれをオフセット・レジスタ/ラッチ56
へ入力し、この情報がそこにラッチされる。レジスタ/
ラッチ56に蓄積されたデジタル値はインターポレーシ
ョン回路40の任意のゲイン変動によるものである。
【0036】レジスタ/ラッチ56の内容を求めた後、
較正入力マルチプレクサ60はノーマル・モードへ戻
り、較正オフセット・マルチプレクサ52がそのノーマ
ル・モードへ戻る。アナログ出力20は差分出力であ
り、変調器64への入力は差分入力である。アナログ出
力20の正の出力は、較正動作時データ・パスの反転を
行なうためアナログ変調器64の負の入力に接続されて
いる。この反転の目的は、減算動作が2の補数を求める
必要があるためレジスタ/ラッチ56の内容が減算でな
く加算可能であるようにすることである。
【0037】図4は、D−A変換部分の較正手順の全体
を表わすフローチャートである。この手順はスタート・
ブロック96で開始され、ファンクション・ブロック1
00へ入力されてA−D変換較正動作を行なう。次い
で、プログラムはブロック100からブロック102の
入力へ流れ、デジタル較正基準をデルタ−シグマ変調器
44へ入力する。
【0038】デジタル値(これはゼロである)を較正基
準マルチプレクサ58へ入力した後、暫定オフセットが
ファンクション・ブロック104で示すように発生され
てオフセット・レジスタ62へ蓄積される。暫定オフセ
ット・レジスタの内容はファンクション・ブロック10
6で示すようにインターポレーション回路40へ入力さ
れ、次いで、ファンクション・ブロック108で示すよ
うにその出力がオフセット・レジスタ/ラッチ56にオ
フセットとして蓄積される。そして、ファンクション・
ブロック110で示すようにシステムがノーマル・モー
ドへ戻る。
【0039】要約すると、以上において、オーバー・サ
ンプリングしたデジタル・デルタ−シグマ変換部分を用
いてD−Aコンバータを較正する方法及び装置を示し
た。較正したA−Dコンバータを較正に用いて、最初に
ゼロ値をD−Aコンバータへ入力し、次いでA−Dコン
バータより出力される内容をオフセット・レジスタへ蓄
積することにより誤差を求める。A−Dコンバータ変換
動作は較正されるから、これはD−Aコンバータのデジ
タル値としての実際の誤差を表わす。インターポレーシ
ョン・フィルタ部分の後でオフセットをD−Aコンバー
タで加算し、較正時、インターポレーション・フィルタ
部分のゲイン変動をインターポレーション・フィルタ部
分を較正手順に組み込むことにより補償する。
【図面の簡単な説明】
【図1】図1は、本発明のD−Aコンバータの単純なブ
ロック図である。
【図2】図2は、D−Aコンバータと較正に用いる較正
されたA−Dコンバータとを示す詳細なブロック図であ
る。
【図3】図3は、較正に用いるオフセット・レジスタ/
ラッチ回路の単純なブロック図である。
【図4】図4は、較正手順のフローチャートである。
【符号の説明】
10 較正されたD−Aコンバータ 16 加算点 18 オフセット・レジスタ 24 較正マルチプレクサ 28 較正モジュール 30 出力マルチプレクサ 36 較正制御回路 40 インターポレーション回路 42 メモリー 44 デジタル・デルタ−シグマ変調器 48 1ビットD−Aコンバータ 50 アナログ・ローパス・フィルタ 52 較正オフセット・マルチプレクサ 54 加算点 56 オフセット・レジスタ/ラッチ 58 較正基準マルチプレクサ 64 アナログ・デルタ−シグマ変調器 66 デジタル・フィルタ 68 A−Dコンバータ制御回路 70 蓄積装置 76 システム較正制御回路 82,84,86 シリアル・ライン 92 18ビットデータ・バス 94 21ビットデータ・バス
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 マイケル エル ダフィー アメリカ合衆国 テキサス州 78741 オ ースティン イースト オルトーフ スト リート 1710 アパートメント 711

Claims (27)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 デジタル入力でデジタル入力信号を受け
    てそのデジタル値に対応するアナログ出力レベルのアナ
    ログ出力信号を出力する、固有の誤差を持ったD−Aコ
    ンバータと、 デジタル入力における所与のデジタル入力値に対するオ
    フセット値だけアナログ出力レベルをオフセットする回
    路と、 較正モードで作動されると較正信号の発生に応答して前
    記オフセット値を求める較正回路とより成り、 前記較正回路はデジタル入力信号を強制的に所定の較正
    デジタル入力信号にする回路と、 所定の較正デジタル入力信号がD−Aコンバータへ入力
    されるとこのD−Aコンバータが出力するアナログ出力
    信号のアナログ出力レベルを求める回路と、 アナログ入力でこの所定のアナログ出力レベルを受ける
    A−Dコンバータとよりなり、 前記A−Dコンバータの出力は前記オフセット値のデジ
    タル・ワードであり、 このオフセット値は前記所定の較正デジタル入力信号に
    D−Aコンバータの固有誤差を加えたものに相当し、オ
    フセット回路がこのオフセット値を利用することを特徴
    とする較正システムを組み込んだD−Aコンバータ装
    置。
  2. 【請求項2】 前記オフセット回路は、 D−Aコンバータのデジタル・パスにあって、入力がこ
    のD−Aコンバータのデジタル・パスのデジタル信号を
    受けるデジタル加算点と、 デジタル値としての前記オフセット値を蓄積するオフセ
    ット・レジスタとよりなり、 オフセット・レジスタの出力が前記デジタル加算点の第
    2の入力へ入力されて前記デジタル入力信号と加算され
    ると前記オフセット値がその入力信号から差し引かれる
    ことを特徴とする請求項1のD−Aコンバータ装置。
  3. 【請求項3】 前記所定の較正デジタル入力信号は実質
    的に0の値を有し、このためA−Dコンバータの出力が
    実質的にD−Aコンバータの固有の誤差となることを特
    徴とする請求項1に記載のD−Aコンバータ装置。
  4. 【請求項4】 前記D−Aコンバータは、 デジタル入力信号のサンプリング周波数を増加させるイ
    ンターポレーション回路と、 インターポレーション回路の出力をnビットのデジタル
    信号流に変換するnビット量子化器と、 nビット量子化器の出力をアナログ信号へ変換するnビ
    ットD−Aコンバータと、 nビットD−Aコンバータの出力をフィルタリングして
    ローパス・アナログ・フィルタの帯域幅の外側の高周波
    数成分を実質的に除去するローパス・アナログ・フィル
    タとよりなることを特徴とする請求項1に記載のD−A
    コンバータ装置。
  5. 【請求項5】 前記オフセット回路は、 インターポレーション回路と量子化器との間に位置する
    デジタル加算点と、 デジタル値としての前記オフセット値を蓄積するオフセ
    ット・レジスタとよりなり、 オフセット・レジスタの出力が前記デジタル加算点の第
    2の入力へ入力されるとインターポレーション回路が出
    力する前記デジタル信号が前記オフセット値と加算され
    ることを特徴とする請求項4に記載のD−Aコンバータ
    装置。
  6. 【請求項6】 前記インターポレーション回路は1とは
    異なるゲインを有し、前記較正回路は較正動作時前記オ
    フセット値をインターポレーション回路のゲインで補償
    する補償回路をさらに含むことを特徴とする請求項5に
    記載のD−Aコンバータ装置。
  7. 【請求項7】 前記較正回路と補償回路は、 nビット量子化器の入力をD−Aコンバータのデジタル
    ・パスから切り離して前記所定の較正デジタル入力信号
    に結合する第1のマルチプレクサと、 暫定レジスタと、 サンプリング回路によるアナログ出力レベルのサンプリ
    ング時、較正モードにあるA−Dコンバータの出力を暫
    定レジスタの入力に結合する第2のマルチプレクサと、 暫定レジスタの出力をインターポレーション回路の入力
    に結合する第3のマルチプレクサと、 暫定レジスタがインターポレーション回路の入力に結合
    されるとインターポレーション回路の出力を前記デジタ
    ル加算点の入力から切り離し、インターポレーション回
    路の出力をオフセット・レジスタの入力に結合する第4
    のマルチプレクサとより成り、 インターポレーション回路は較正モード時A−Dコンバ
    ータのデジタル・パス内にあるため、オフセット・レジ
    スタへの蓄積のためオフセット信号が発生される間その
    ゲインが補償されることを特徴とする請求項6に記載の
    D−Aコンバータ装置。
  8. 【請求項8】 前記補償回路は、オフセット・レジスタ
    に蓄積される前にA−Dコンバータの出力をインターポ
    レーション回路により処理する回路を含むことを特徴と
    する請求項6に記載のD−Aコンバータ装置。
  9. 【請求項9】 前記nビット量子化器はデルタ−シグマ
    変調器より成ることを特徴とする請求項4に記載のD−
    Aコンバータ装置。
  10. 【請求項10】 前記D−Aコンバータはデルタ−シグ
    マ変調型D−Aコンバータであることを特徴とする請求
    項1に記載のD−Aコンバータ装置。
  11. 【請求項11】 前記A−Dコンバータは較正されたA
    −Dコンバータであることを特徴とする請求項1に記載
    のD−Aコンバータ装置。
  12. 【請求項12】 オフセット信号発生前にA−Dコンバ
    ータを較正するA−Dコンバータ較正回路をさらに備え
    てなることを特徴とする請求項11に記載のD−Aコン
    バータ装置。
  13. 【請求項13】 前記A−Dコンバータは2つの動作モ
    ード、即ちD−Aコンバータの較正時前記オフセット信
    号の発生に用いる第1の較正モードと、外部アナログ入
    力信号を受けてそれに対応する外部デジタル出力信号を
    発生する第2のノーマル・モードとを有し、前記較正回
    路は第1及び第2のモードでA−Dコンバータの動作を
    制御するように作動可能であることを特徴とする請求項
    1に記載のD−Aコンバータ装置。
  14. 【請求項14】 前記A−Dコンバータはデルタ−シグ
    マ変調型A−Dコンバータであることを特徴とする請求
    項1に記載のD−Aコンバータ装置。
  15. 【請求項15】 前記A−Dコンバータには較正モード
    時D−Aコンバータから過大なノイズを除去するため少
    なくとも較正モード時において付加的なフィルタリング
    を行なう手段が設けられていることを特徴とする請求項
    1に記載のD−Aコンバータ。
  16. 【請求項16】 D−Aコンバータの較正方法であっ
    て、 デジタル入力端子を提供し、 アナログ出力端子を提供し、 固有の誤差を有するD−Aコンバータによりデジタル入
    力端子で受けたデジタル入力信号をこの入力信号のデジ
    タル値に対応しアナログ出力端子で得られるアナログ出
    力レベルのアナログ出力信号へ変換し、 固有の誤差を補償するためデジタル入力端子における所
    与のデジタル入力信号に対するオフセット値だけアナロ
    グ出力レベルをオフセットし、 外部からの較正信号に応答して較正モードを作動させる
    ことにより前記オフセット値を求めるステップより成
    り、 オフセット値を求める前記ステップは、 デジタル・パスに沿うデジタル入力信号を強制的に所定
    の較正信号とし、 デジタル・パスに沿うデジタル信号が強制的に所定の較
    正信号となるとアナログ出力信号のアナログ出力レベル
    を求め、 所与のアナログ入力に対して較正した出力を有するA−
    Dコンバータを提供し、 前記ステップで求めたアナログ出力レベルをA−Dコン
    バータへ入力してA−Dコンバータの出力が前記オフセ
    ット値となるようにするステップよりなることを特徴と
    する較正方法。
  17. 【請求項17】 較正モード時、サンプリングされたア
    ナログ信号を入力する前にA−Dコンバータを較正する
    ステップをさらに含むことを特徴とする請求項6に記載
    の較正方法。
  18. 【請求項18】 前記オフセット値はデジタル値であ
    り、アナログ出力レベルをオフセット値でオフセットす
    る前記ステップは、 オフセット・レジスタを提供し、 オフセット・レジスタに前記オフセット値を蓄積し、 オフセット・レジスタの出力をデジタル・パスのデジタ
    ル信号に加算するステップよりなることを特徴とする請
    求項16に記載の方法。
  19. 【請求項19】 前記所定の較正デジタル信号は実質的
    に0であり、前記所定の較正アナログ出力信号はD−A
    コンバータの固有の誤差だけ前記較正入力信号とは異な
    る値を有することを特徴とする請求項18に記載の較正
    方法。
  20. 【請求項20】 デジタル入力信号をアナログ出力信号
    へ変換する前記ステップは、 デジタル入力信号をインターポレーション回路で処理し
    てサンプリング周波数を増加させ、 インターポレーション回路の出力をnビット・デジタル
    信号流に変換し、 nビット・デジタル信号流をアナログ信号へ変換し、 ローパス・アナログ・フィルタにより変換済みアナログ
    信号をフィルタリングしてローパス・アナログ・フィル
    タの帯域幅の外側の高周波数成分を実質的に除去するス
    テップよりなることを特徴とする請求項16に記載の較
    正方法。
  21. 【請求項21】 前記オフセット・ステップは、 オフセット・レジスタを提供し、 前記オフセット値をデジタル値としてオフセット・レジ
    スタに蓄積し、 インターポレーション回路により、且つインターポレー
    ション回路出力をnビット・デジタル信号流へ変換する
    前に、オフセット・レジスタの出力をデジタル信号出力
    と加算するステップより成ることを特徴とする請求項2
    0に記載の較正方法。
  22. 【請求項22】 前記インターポレーション回路は1と
    は異なるゲインを有し、オフセット値を求める前記ステ
    ップは前記オフセット値をインターポレーション回路の
    ゲインで補償してインターポレーション回路のゲインを
    逆に補償するステップをさらに含むことを特徴とする請
    求項21に記載の較正方法。
  23. 【請求項23】 オフセット値を求める前記ステップは
    さらに、 nビット量子化器の入力をデジタル・パスから切り離し
    て実質的に0に等しい前記所定の較正デジタル信号に結
    合し、 D−Aコンバータのアナログ出力をA−Dコンバータの
    入力に結合し、 A−Dコンバータの出力を未補償オフセット値として暫
    定的に蓄積し、 インターポレーション回路の出力をデジタル・パスから
    切り離し且つ未補償オフセット値をインターポレーショ
    ン回路に入力するステップより成り、 インターポレーション回路の出力は前記オフセット値で
    あり、このオフセット値がオフセット・レジスタに蓄積
    されることを特徴とする請求項22に記載の較正方法。
  24. 【請求項24】 前記補償ステップは、オフセット・レ
    ジスタへの蓄積前にA−Dコンバータにより出力される
    オフセット値をインターポレーション回路により処理す
    ることを含むことを特徴とする請求項22に記載の較正
    方法。
  25. 【請求項25】 インターポレーション回路の出力をn
    ビット・デジタル信号流に変換する前記ステップは、デ
    ルタ−シグマ変調器によりインターポレーション回路の
    出力を処理するステップをさらに含むことを特徴とする
    請求項24に記載の較正方法。
  26. 【請求項26】 A−Dコンバータを提供する前記ステ
    ップはデルタ−シグマ変調型A−Dコンバータを提供す
    ることを特徴とする請求項16に記載の較正方法。
  27. 【請求項27】 前記ステップで求めたアナログ出力レ
    ベルをA−Dコンバータへ入力する前記ステップは、A
    −D変換時D−A変換に起因する過大なノイズをフィル
    タリングにより除去するステップをさらに含むことを特
    徴とする請求項16に記載の較正方法。
JP4314064A 1991-11-08 1992-10-29 D−aコンバータ装置及びその較正方法 Pending JPH05259910A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US07/790,574 US5248970A (en) 1991-11-08 1991-11-08 Offset calibration of a dac using a calibrated adc
US790574 1997-01-28

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH05259910A true JPH05259910A (ja) 1993-10-08

Family

ID=25151115

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP4314064A Pending JPH05259910A (ja) 1991-11-08 1992-10-29 D−aコンバータ装置及びその較正方法

Country Status (4)

Country Link
US (2) US5248970A (ja)
JP (1) JPH05259910A (ja)
DE (1) DE4237082C2 (ja)
GB (1) GB2261336B (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011503924A (ja) * 2007-09-28 2011-01-27 クゥアルコム・インコーポレイテッド 音声デバイスの中の抑制する出力オフセット
JP2011511604A (ja) * 2008-02-06 2011-04-07 クゥアルコム・インコーポレイテッド 適応可能な高次のデジタル・アナログ変換
JP2012521727A (ja) * 2009-03-25 2012-09-13 アッコ セミコンダクター インコーポレイテッド 短縮化処理を有するシグマデルタ変調器及びその適用

Families Citing this family (94)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5412387A (en) * 1993-04-06 1995-05-02 Analog Devices, Inc. Error reduction in switched capacitor digital-to-analog converter systems by balanced sampling
JP3248304B2 (ja) * 1993-07-07 2002-01-21 松下電器産業株式会社 Dac出力値算出回路
US5381148A (en) * 1993-07-12 1995-01-10 Analog Devices, Inc. Method and apparatus for calibrating a gain control circuit
FI96811C (fi) * 1993-11-30 1996-08-26 Nokia Mobile Phones Ltd Menetelmä ja piirijärjestely D/A-muuntimen DC-erojännitteen kompensoimiseksi
US6002538A (en) * 1994-03-18 1999-12-14 Fujitsu, Ltd. PRML regenerating apparatus having adjusted slice levels
US5594439A (en) * 1994-08-24 1997-01-14 Crystal Semiconductor Corporation Diagnosing problems in an electrical system by monitoring changes in nonlinear characteristics
US5594612A (en) * 1994-08-24 1997-01-14 Crystal Semiconductor Corporation Analog-to-digital converter with digital linearity correction
US5583501A (en) * 1994-08-24 1996-12-10 Crystal Semiconductor Corporation Digital-to-analog converter with digital linearity correction
US5596322A (en) * 1994-10-26 1997-01-21 Lucent Technologies Inc. Reducing the number of trim links needed on multi-channel analog integrated circuits
US5598157A (en) * 1994-10-28 1997-01-28 Harris Corporation Sigma Delta analog to digital converter with three point calibration apparatus and method
US5493343A (en) * 1994-12-28 1996-02-20 Thomson Consumer Electronics, Inc. Compensation for truncation error in a digital video signal decoder
US5717321A (en) * 1995-01-17 1998-02-10 Cirrus Logic, Inc. Drive current calibration for an analog resistive touch screen
US5644308A (en) * 1995-01-17 1997-07-01 Crystal Semiconductor Corporation Algorithmic analog-to-digital converter having redundancy and digital calibration
US5777912A (en) * 1996-03-28 1998-07-07 Crystal Semiconductor Corporation Linear phase finite impulse response filter with pre-addition
US6442213B1 (en) * 1997-04-22 2002-08-27 Silicon Laboratories Inc. Digital isolation system with hybrid circuit in ADC calibration loop
US6289070B1 (en) 1997-04-22 2001-09-11 Silicon Laboratories, Inc. Digital isolation system with ADC offset calibration including coarse offset
US6137827A (en) 1997-04-22 2000-10-24 Silicon Laboratories, Inc. Isolation system with digital communication across a capacitive barrier
US6144326A (en) * 1997-04-22 2000-11-07 Silicon Laboratories, Inc. Digital isolation system with ADC offset calibration
US6137826A (en) * 1997-11-17 2000-10-24 Ericsson Inc. Dual-mode modulation systems and methods including oversampling of narrow bandwidth signals
US6100827A (en) * 1998-09-11 2000-08-08 Ericsson Inc. Modulation systems and methods that compensate for DC offset introduced by the digital-to-analog converter and/or the low pass filter thereof
JP2002542633A (ja) * 1997-11-17 2002-12-10 エリクソン インコーポレイテッド 狭帯域信号のオーバーサンプリングおよび直流オフセット補償を含む変調システムおよび方法
US6169502B1 (en) * 1998-05-08 2001-01-02 Cirrus Logic, Inc. Pipelined analog-to-digital converter (ADC) systems, methods, and computer program products
GB2337882B (en) * 1998-05-26 2001-10-31 Lsi Logic Corp Method of testing analog to digital converters
US6191715B1 (en) 1998-10-29 2001-02-20 Burr-Brown Corporation System for calibration of a digital-to-analog converter
KR100284285B1 (ko) * 1998-11-26 2001-03-02 김영환 싸이클릭 아날로그/디지털 변환기
US6294962B1 (en) 1998-12-09 2001-09-25 Cypress Semiconductor Corp. Circuit(s), architecture and method(s) for operating and/or tuning a ring oscillator
FR2787280B1 (fr) * 1998-12-14 2001-01-05 Cit Alcatel Circuit electronique de conversion numerique-analogique pour une chaine de transmission en bande de base
US6816100B1 (en) 1999-03-12 2004-11-09 The Regents Of The University Of California Analog-to-digital converters with common-mode rejection dynamic element matching, including as used in delta-sigma modulators
US6191660B1 (en) 1999-03-24 2001-02-20 Cypress Semiconductor Corp. Programmable oscillator scheme
DK199901006A (da) * 1999-07-09 2001-01-10 Telital R & D Denmark As Digital til analog konverteringsanordning
US6359575B1 (en) * 1999-12-09 2002-03-19 National Instruments Corporation Analog to digital converter having a digital to analog converter mode
US6320525B1 (en) * 2000-01-12 2001-11-20 Winbond Electronics Corp. Analog-to-digital level error automatic calibration circuit
US6946920B1 (en) 2000-02-23 2005-09-20 Cypress Semiconductor Corp. Circuit for locking an oscillator to a data stream
US6297705B1 (en) 2000-02-23 2001-10-02 Cypress Semiconductor Corp. Circuit for locking an oscillator to a data stream
US6407641B1 (en) 2000-02-23 2002-06-18 Cypress Semiconductor Corp. Auto-locking oscillator for data communications
FR2805940B1 (fr) * 2000-03-01 2002-05-31 France Telecom Systeme de correction du cna pour modulateur delta sigma
SE517675C2 (sv) * 2000-03-14 2002-07-02 Ericsson Telefon Ab L M Ett förfarande för A/D-omvandling samt ett A/D- omvandlingssystem
US6445319B1 (en) * 2000-05-10 2002-09-03 Texas Instruments Incorporated Analog to digital converter circuit
US7093151B1 (en) 2000-09-22 2006-08-15 Cypress Semiconductor Corp. Circuit and method for providing a precise clock for data communications
US6525681B2 (en) * 2001-03-29 2003-02-25 Agere Systems, Inc. DC compensation method and apparatus
US6509852B1 (en) 2001-08-03 2003-01-21 Texas Instruments Incorporated Apparatus and method for gain calibration technique for analog-to-digital converter
JP3910868B2 (ja) * 2002-03-19 2007-04-25 富士通株式会社 集積回路
US6624772B1 (en) * 2002-05-28 2003-09-23 Analog Devices, Inc. Offset calibration system
US6567022B1 (en) * 2002-08-12 2003-05-20 Lsi Corporation Matching calibration for dual analog-to-digital converters
US7068193B2 (en) * 2002-09-26 2006-06-27 Analog Devices, Inc. Integrated digital calibration circuit and digital to analog converter (DAC)
US7355536B2 (en) * 2002-09-27 2008-04-08 Analog Devices, Inc. System and method for digital compensation of digital to analog and analog to digital converters
DE10250939B4 (de) * 2002-10-31 2006-04-27 Advanced Micro Devices, Inc., Sunnyvale DSSS und CCK-Basisband-Codierungsgerät und Verfahren
US6919833B2 (en) * 2003-09-04 2005-07-19 Regan N. Mills Parallel converter topology for reducing non-linearity errors
US7379831B1 (en) * 2004-05-12 2008-05-27 Zilog, Inc. Error correction in an oversampled ADC using few stored calibration coefficients
US7126510B2 (en) * 2004-12-17 2006-10-24 Rambus Inc. Circuit calibration system and method
TWI259662B (en) * 2005-05-18 2006-08-01 Ite Tech Inc Signal converting apparatus for integrated analog-to-digital converter and digital-to-analog converter and integrator unit thereof
KR100777456B1 (ko) * 2005-11-11 2007-11-21 삼성전자주식회사 D/a 컨버터와 a/d 컨버터 간 출력 교정방법 및 그아날로그 인코딩 장치
US7809973B2 (en) * 2005-11-16 2010-10-05 Cypress Semiconductor Corporation Spread spectrum clock for USB
US7623050B2 (en) * 2005-12-13 2009-11-24 Broadcom Corporation Digital calibration loop for an analog to digital converter
US7812746B2 (en) * 2005-12-14 2010-10-12 Broadcom Corporation Variable gain and multiplexing in a digital calibration for an analog-to-digital converter
US7843368B2 (en) * 2005-12-14 2010-11-30 Broadcom Corporation Programmable settling for high speed analog to digital converter
US7466249B2 (en) * 2005-12-14 2008-12-16 Broadcom Corporation System and method for common mode calibration in an analog to digital converter
US7456764B2 (en) * 2005-12-14 2008-11-25 Broadcom Corporation Analog to digital converter with dynamic power configuration
US8035455B1 (en) 2005-12-21 2011-10-11 Cypress Semiconductor Corporation Oscillator amplitude control network
DE112006003542B4 (de) * 2005-12-27 2016-08-04 Analog Devices Inc. Analog-Digital-Umsetzersystem mit Drehtakt-Flash und Verfahren
US7271751B2 (en) * 2006-02-08 2007-09-18 Toshiba America Electronic Components, Inc. Digital BIST test scheme for ADC/DAC circuits
JP4771311B2 (ja) * 2006-02-09 2011-09-14 オンセミコンダクター・トレーディング・リミテッド フィルタ係数設定装置、フィルタ係数設定方法、及びプログラム
US7573408B2 (en) * 2006-09-21 2009-08-11 Analogic Corporation Method and system for correcting switched input A/D converters
US8564252B2 (en) * 2006-11-10 2013-10-22 Cypress Semiconductor Corporation Boost buffer aid for reference buffer
US8035401B2 (en) 2007-04-18 2011-10-11 Cypress Semiconductor Corporation Self-calibrating driver for charging a capacitive load to a desired voltage
KR100743965B1 (ko) 2007-05-11 2007-08-01 쓰리에이로직스(주) Rf 신호의 오프셋 전압을 보상할 수 있는 복조기 및 그방법
US7486214B1 (en) * 2007-09-04 2009-02-03 Infineon Technologies Ag Tuning methods for loop-filters of continuous-time sigma-delta modulators
US8106800B2 (en) * 2008-02-21 2012-01-31 Honeywell International Inc. Self-calibrating signal reconstruction system
US7733258B2 (en) * 2008-09-30 2010-06-08 Freescale Semiconductor, Inc. Data conversion circuitry for converting analog signals to digital signals and vice-versa and method therefor
US7880650B2 (en) * 2008-09-30 2011-02-01 Freescale Semiconductor, Inc. Method and apparatus for testing data converter
US7868795B2 (en) * 2008-09-30 2011-01-11 Freescale Semiconductor, Inc. Data conversion circuitry with an extra successive approximation step and method therefor
US7868796B2 (en) * 2008-09-30 2011-01-11 Freescale Semiconductor, Inc. Self-calibrating data conversion circuitry and method therefor
US7876254B2 (en) * 2008-09-30 2011-01-25 Freescale Semiconductor, Inc. Data conversion circuitry having successive approximation circuitry and method therefor
US7940199B2 (en) * 2008-11-25 2011-05-10 Mediatek Inc. Method for calibrating analog-to-digital converting circuits
US8134486B2 (en) * 2009-08-17 2012-03-13 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. DAC calibration
US8364870B2 (en) 2010-09-30 2013-01-29 Cypress Semiconductor Corporation USB port connected to multiple USB compliant devices
US8477052B2 (en) 2011-04-05 2013-07-02 Freescale Semiconductor, Inc. Method and apparatus for self-test of successive approximation register (SAR) A/D converter
US8493251B2 (en) 2011-07-28 2013-07-23 Fujitsu Semiconductor Limited Self-calibrated DAC with reduced glitch mapping
US9667240B2 (en) 2011-12-02 2017-05-30 Cypress Semiconductor Corporation Systems and methods for starting up analog circuits
TWI462488B (zh) * 2012-01-30 2014-11-21 Sunplus Technology Co Ltd 類比數位轉換裝置與方法
CN103247307B (zh) * 2012-02-10 2015-12-16 凌阳科技股份有限公司 模拟数字转换装置与方法
US8681026B2 (en) * 2012-02-29 2014-03-25 Silicon Laboratories Inc. Digital to analog converter
US8719682B2 (en) * 2012-06-15 2014-05-06 Lsi Corporation Adaptive calibration of noise predictive finite impulse response filter
US8686884B2 (en) 2012-08-15 2014-04-01 International Business Machines Corporation Testing of digital to analog converters in serial interfaces
EP2888818A1 (en) * 2012-08-21 2015-07-01 Missing Link Electronics Inc. Configurable mixed-signal systems
TWI489237B (zh) * 2012-11-16 2015-06-21 Ind Tech Res Inst 即時取樣裝置及其方法
KR101477895B1 (ko) 2013-03-12 2014-12-30 엘에스산전 주식회사 아날로그 출력모듈의 오프셋 게인 설정방법
JP6189085B2 (ja) 2013-05-13 2017-08-30 ルネサスエレクトロニクス株式会社 電子システムおよびその動作方法
CN106788429B (zh) * 2016-11-30 2021-05-07 黄山学院 基于电荷域信号处理的dac失调误差校准电路
CN106712770B (zh) * 2016-12-28 2020-02-18 深圳市英特瑞半导体科技有限公司 一种提高数模转换器的输出精度的方法和装置
TWI666880B (zh) * 2018-11-16 2019-07-21 瑞昱半導體股份有限公司 應用在數位類比轉換器的校正方法及相關的電路
CN114153786B (zh) * 2021-11-26 2023-08-04 山东云海国创云计算装备产业创新中心有限公司 一种服务器及其soc系统
CN118199636A (zh) * 2022-12-12 2024-06-14 恩智浦有限公司 自校准缓冲电压dac
EP4675285A1 (en) * 2024-07-02 2026-01-07 NXP USA, Inc. A battery management system

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS587877A (ja) * 1981-07-06 1983-01-17 Seiko Instr & Electronics Ltd 絶縁ゲ−ト型静電誘導トランジスタ
JPS58148993A (ja) * 1982-03-01 1983-09-05 Seiko Instr & Electronics Ltd メモ機能付電子時計
JPH0319428A (ja) * 1989-06-15 1991-01-28 Tlv Co Ltd D/a変換器の校正方法
JPH0396018A (ja) * 1989-09-08 1991-04-22 Hitachi Ltd オーバサンプリング方式ディジタル/アナログ変換器及びオーバサンプリング方式アナログ/ディジタル変換器

Family Cites Families (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3725903A (en) * 1971-02-09 1973-04-03 Bendix Corp Self-calibrating analog to digital converter
US4186384A (en) * 1975-06-24 1980-01-29 Honeywell Inc. Signal bias remover apparatus
JPS5953727B2 (ja) * 1977-04-06 1984-12-26 株式会社日立製作所 補正回路付da変換器
US4222107A (en) * 1979-01-22 1980-09-09 Burr-Brown Research Corporation Method and apparatus for automatically calibrating a digital to analog converter
US4338589A (en) * 1979-02-13 1982-07-06 Hewlett-Packard Company Autocalibration of compressed A/D converter
US4272760A (en) * 1979-04-10 1981-06-09 Burr-Brown Research Corporation Self-calibrating digital to analog conversion system and method
JPS6030453B2 (ja) * 1979-10-24 1985-07-16 株式会社日立製作所 デイジタル−アナログ変換器
US4350975A (en) * 1980-07-18 1982-09-21 American Microsystems, Inc. Dual bandwidth autozero loop for a voice frequency CODEC
JPS5753145A (en) * 1980-09-16 1982-03-30 Sony Tektronix Corp Calibrator for analogue-digital converter
US4335373A (en) * 1980-11-07 1982-06-15 Fairchild Camera & Instrument Corp. Method for analyzing a digital-to-analog converter with a nonideal analog-to-digital converter
US4509037A (en) * 1981-06-12 1985-04-02 Gould Inc. Enhanced delta modulation encoder
US4633425A (en) * 1981-10-13 1986-12-30 Intel Corporation Switched capacitor filter utilizing a differential input and output circuit
JPS58181323A (ja) * 1982-04-16 1983-10-24 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 較正機能付きデジタルアナログ変換器
US4674062A (en) * 1984-04-20 1987-06-16 General Electric Company Apparatus and method to increase dynamic range of digital measurements
US4588979A (en) * 1984-10-05 1986-05-13 Dbx, Inc. Analog-to-digital converter
US4796004A (en) * 1986-02-14 1989-01-03 General Instrument Corp. Integrated analog-to-digital converter
GB2199711B (en) * 1987-01-08 1990-10-24 Schlumberger Electronics Converter calibration
DE3709207A1 (de) * 1987-02-28 1988-09-08 Standard Elektrik Lorenz Ag Schaltungsanordnung zum umwandeln von digitalen tonsignalwerten in ein analoges tonsignal
US4829236A (en) * 1987-10-30 1989-05-09 Teradyne, Inc. Digital-to-analog calibration system
US4943807A (en) * 1988-04-13 1990-07-24 Crystal Semiconductor Digitally calibrated delta-sigma analog-to-digital converter
SU1683176A1 (ru) * 1989-01-17 1991-10-07 Предприятие П/Я Р-6149 Цифроаналоговый преобразователь с автокалибровкой
US5087914A (en) * 1990-08-22 1992-02-11 Crystal Semiconductor Corp. DC calibration system for a digital-to-analog converter

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS587877A (ja) * 1981-07-06 1983-01-17 Seiko Instr & Electronics Ltd 絶縁ゲ−ト型静電誘導トランジスタ
JPS58148993A (ja) * 1982-03-01 1983-09-05 Seiko Instr & Electronics Ltd メモ機能付電子時計
JPH0319428A (ja) * 1989-06-15 1991-01-28 Tlv Co Ltd D/a変換器の校正方法
JPH0396018A (ja) * 1989-09-08 1991-04-22 Hitachi Ltd オーバサンプリング方式ディジタル/アナログ変換器及びオーバサンプリング方式アナログ/ディジタル変換器

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011503924A (ja) * 2007-09-28 2011-01-27 クゥアルコム・インコーポレイテッド 音声デバイスの中の抑制する出力オフセット
JP2011511604A (ja) * 2008-02-06 2011-04-07 クゥアルコム・インコーポレイテッド 適応可能な高次のデジタル・アナログ変換
JP2012521727A (ja) * 2009-03-25 2012-09-13 アッコ セミコンダクター インコーポレイテッド 短縮化処理を有するシグマデルタ変調器及びその適用

Also Published As

Publication number Publication date
DE4237082C2 (de) 1999-08-19
GB2261336B (en) 1995-11-08
US5248970A (en) 1993-09-28
US5818370A (en) 1998-10-06
GB2261336A (en) 1993-05-12
GB9217775D0 (en) 1992-10-07
DE4237082A1 (ja) 1993-05-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPH05259910A (ja) D−aコンバータ装置及びその較正方法
JP2994497B2 (ja) D/aコンバータのdcオフセットキャリブレーション方法とd/aコンバータのdcオフセットキャリブレーションシステム
JP3337722B2 (ja) デジタル・インターポレータ
JP2704060B2 (ja) 過サンプリング変換器
US5257026A (en) Method and apparatus for calibrating a multi-bit delta-sigma modular
RU2159505C2 (ru) Устройство и способ преобразования аналогового сигнала в цифровую форму, устройство и способ преобразования множества двоично-кодированных числовых отсчетов сигнала в аналоговый сигнал
US5061928A (en) System and method of scaling error signals of caseload second order modulators
US5198817A (en) High-order sigma-delta analog-to-digital converter
KR0185999B1 (ko) 다수의 시그마-델타 변조기로 구성된 a/d 신호 변환기
US5061925A (en) Phase equalization system for a digital-to-analog converter utilizing separate digital and analog sections
US5084702A (en) Plural-order sigma-delta analog-to-digital converter using both single-bit and multiple-bit quantizers
JP3011424B2 (ja) A/d変換器
JPH0793581B2 (ja) シグマデルタアナログ/デジタル変換器
JPS63254825A (ja) ディジタル/アナログ間の符号化および復号の方法および装置
JP2001094429A (ja) アナログデジタル混在δς変調器
JP4331188B2 (ja) デジタル/アナログ変換器および信号のデジタル/アナログ変換方法
JPH07193506A (ja) 3つのシグマ−デルタ変調器をカスケード接続する方法、およびシグマ−デルタ変調器システム
JPH05304475A (ja) ノイズシェイパ
JP3367800B2 (ja) 選択装置およびこれを用いたa/d変換器並びにd/a変換器
US5281968A (en) DC offset correction circuit for A/D converter
JPH0648439B2 (ja) サンプリング周波数変換装置
JP3362718B2 (ja) マルチビット−デルタシグマad変換器
US6680680B1 (en) Process and device for converting an analog signal into a digital signal with automatic gain control
JP3113525B2 (ja) A/d変換器
JPH09307447A (ja) 高次δς変調器とδς変調型コンバータ

Legal Events

Date Code Title Description
A02 Decision of refusal

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02

Effective date: 19970318