JPH05263221A - 真空薄膜製造装置 - Google Patents
真空薄膜製造装置Info
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- JPH05263221A JPH05263221A JP9018692A JP9018692A JPH05263221A JP H05263221 A JPH05263221 A JP H05263221A JP 9018692 A JP9018692 A JP 9018692A JP 9018692 A JP9018692 A JP 9018692A JP H05263221 A JPH05263221 A JP H05263221A
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- Japan
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- evaporation
- crucible
- opening
- shield
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 落下物が蒸発源に混入せず、成膜時の蒸発状
態の急変を防ぐ。基材に一様な成膜を実現する。 【構成】 チャンバ11内の坩堝12の直上に基材14
を配設する。水平シャッタ板15の開口部15Aを開閉
するシャッタ16の下方で坩堝12の上方に複数段の基
材加熱防止用の傾斜シールド部材21、22、23、2
4を上下方向に沿って並設する。傾斜シールド部材2
1、22、23、24を垂直面内でハの字形状をなして
対向する一対の板材で構成する。一対の板材の間に開口
部21A、22A、23A、24Aを画成し、上段の傾
斜シールド部材21の開口部21Aの開口面積よりも下
段のそれ22A、さらにその下の段のそれ23A、さら
に最下段のそれ24Aの方を順番に小さく設定する。最
下段の傾斜シールド部材24の傾斜下側のエッジ部分を
坩堝12の外側の上方に位置させる。
態の急変を防ぐ。基材に一様な成膜を実現する。 【構成】 チャンバ11内の坩堝12の直上に基材14
を配設する。水平シャッタ板15の開口部15Aを開閉
するシャッタ16の下方で坩堝12の上方に複数段の基
材加熱防止用の傾斜シールド部材21、22、23、2
4を上下方向に沿って並設する。傾斜シールド部材2
1、22、23、24を垂直面内でハの字形状をなして
対向する一対の板材で構成する。一対の板材の間に開口
部21A、22A、23A、24Aを画成し、上段の傾
斜シールド部材21の開口部21Aの開口面積よりも下
段のそれ22A、さらにその下の段のそれ23A、さら
に最下段のそれ24Aの方を順番に小さく設定する。最
下段の傾斜シールド部材24の傾斜下側のエッジ部分を
坩堝12の外側の上方に位置させる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は例えばスパッタリング装
置、真空蒸着装置等の真空薄膜製造装置、詳しくは基材
防熱用に設置されるシールドの構造に係り、特にセラミ
ックス材料の連続成膜時における蒸発安定性を向上させ
た蒸発技術に関する。
置、真空蒸着装置等の真空薄膜製造装置、詳しくは基材
防熱用に設置されるシールドの構造に係り、特にセラミ
ックス材料の連続成膜時における蒸発安定性を向上させ
た蒸発技術に関する。
【0002】
【従来の技術】今日、強度や透明性に優れた材料とし
て、プラスチックフィルムが各種包装材料として多く使
用されている。特に食品や医療品等の包装には、ガスバ
リヤ性や防湿性を与えるために、巻取り式真空蒸着法に
よるアルミニウム等の金属薄膜が使用されている。さら
に、内容物を透過視することができる機能を持ったフィ
ルムとして、酸化珪素等のセラミックス透明膜を蒸着し
たフィルムが使用されている。
て、プラスチックフィルムが各種包装材料として多く使
用されている。特に食品や医療品等の包装には、ガスバ
リヤ性や防湿性を与えるために、巻取り式真空蒸着法に
よるアルミニウム等の金属薄膜が使用されている。さら
に、内容物を透過視することができる機能を持ったフィ
ルムとして、酸化珪素等のセラミックス透明膜を蒸着し
たフィルムが使用されている。
【0003】この蒸着基材フィルムとしては、ポリエチ
レン、ポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレート等
の今日広く使用されている透明プラスチックフィルムが
使用されている。また、蒸発材料のセラミックスとして
は、酸化珪素、アルミナ、マグネシア等、無害、透明
性、ガスバリヤ性に優れたセラミックスが用いられてい
る。このセラミックス蒸発材料は、高い蒸発温度を必要
としたり、熱伝導率が低いため、蒸発方法として電子ビ
ーム加熱方式の真空蒸着法や、スパッタリング法により
成膜されることが多い。
レン、ポリプロピレン、ポリエチレンテレフタレート等
の今日広く使用されている透明プラスチックフィルムが
使用されている。また、蒸発材料のセラミックスとして
は、酸化珪素、アルミナ、マグネシア等、無害、透明
性、ガスバリヤ性に優れたセラミックスが用いられてい
る。このセラミックス蒸発材料は、高い蒸発温度を必要
としたり、熱伝導率が低いため、蒸発方法として電子ビ
ーム加熱方式の真空蒸着法や、スパッタリング法により
成膜されることが多い。
【0004】図3に示すように、この真空蒸着に使用さ
れる電子ビーム蒸着装置は、チャンバ31内下方に設置
され、固形物である蒸発材料32を保持する坩堝33
と、この坩堝33内の蒸発材料32に対して数KeV〜
数十KeVの高いエネルギの電子ビームを照射する照射
手段(図示していない)と、を備えている。また、チャ
ンバ31で坩堝33の直上には基材34が配設され、こ
の基材34の下方には防熱用のシールド板35が設置さ
れている。このシールド板35はほぼ水平に保持され、
坩堝33の直上部分には開口部35Aが形成されてい
る。そして、このシールド板35の下方にはその開口部
35Aを開閉自在にシャッタ36が設けられている。ま
た、このシールド板35は冷却用の配管により供給され
る冷却水によって冷却される構成である。37は真空ポ
ンプである。したがって、電子ビーム照射によって加熱
された蒸発材料32は、その表面層から蒸気を発生し、
この蒸気が坩堝33の上方に配置した基材34の表面に
付着することとなる。このとき、外方に向かって広がる
蒸発粒子による基材34の加熱を上記シールド板35に
より防止している。
れる電子ビーム蒸着装置は、チャンバ31内下方に設置
され、固形物である蒸発材料32を保持する坩堝33
と、この坩堝33内の蒸発材料32に対して数KeV〜
数十KeVの高いエネルギの電子ビームを照射する照射
手段(図示していない)と、を備えている。また、チャ
ンバ31で坩堝33の直上には基材34が配設され、こ
の基材34の下方には防熱用のシールド板35が設置さ
れている。このシールド板35はほぼ水平に保持され、
坩堝33の直上部分には開口部35Aが形成されてい
る。そして、このシールド板35の下方にはその開口部
35Aを開閉自在にシャッタ36が設けられている。ま
た、このシールド板35は冷却用の配管により供給され
る冷却水によって冷却される構成である。37は真空ポ
ンプである。したがって、電子ビーム照射によって加熱
された蒸発材料32は、その表面層から蒸気を発生し、
この蒸気が坩堝33の上方に配置した基材34の表面に
付着することとなる。このとき、外方に向かって広がる
蒸発粒子による基材34の加熱を上記シールド板35に
より防止している。
【0005】なお、この蒸発方法として、その他にも、
抵抗加熱方式や誘導加熱方式の蒸着法、または、スパッ
タリング法等がある。これらの方式にあっても、いずれ
も上記と同様なシールド板を使用している。
抵抗加熱方式や誘導加熱方式の蒸着法、または、スパッ
タリング法等がある。これらの方式にあっても、いずれ
も上記と同様なシールド板を使用している。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、このよ
うな従来の真空蒸着装置にあっては、シールド板の表面
には蒸発粒子の再付着が避けられず、長い巻取り基材へ
の長時間の蒸着作業を行う場合には、シールド板上で成
長した固着物が剥がれ落ちる現象が発生する。この落下
物が蒸発中の坩堝等の加熱部分や蒸発部分に混入する
と、蒸発状態に急激な変化を与えることとなる。その結
果、この異常な蒸発により一様な膜質の製品を得ること
ができなくなっていた。このとき、金属等の再溶融し易
い材料の場合にあっては、落下物を蒸発材料として再利
用することも不可能ではない。しかしながら、セラミッ
クス材料の場合にあっては、その最高温度となる加熱部
分が限定され、蒸発性の場所依存性の高い材料であると
同時に、再付着物は原材料とは異なる組成物である場合
が多い。したがって、加熱部に異物が混入することによ
り、蒸発状態の大きな変化を生じることとなる。
うな従来の真空蒸着装置にあっては、シールド板の表面
には蒸発粒子の再付着が避けられず、長い巻取り基材へ
の長時間の蒸着作業を行う場合には、シールド板上で成
長した固着物が剥がれ落ちる現象が発生する。この落下
物が蒸発中の坩堝等の加熱部分や蒸発部分に混入する
と、蒸発状態に急激な変化を与えることとなる。その結
果、この異常な蒸発により一様な膜質の製品を得ること
ができなくなっていた。このとき、金属等の再溶融し易
い材料の場合にあっては、落下物を蒸発材料として再利
用することも不可能ではない。しかしながら、セラミッ
クス材料の場合にあっては、その最高温度となる加熱部
分が限定され、蒸発性の場所依存性の高い材料であると
同時に、再付着物は原材料とは異なる組成物である場合
が多い。したがって、加熱部に異物が混入することによ
り、蒸発状態の大きな変化を生じることとなる。
【0007】そこで、本発明の目的は、蒸発粒子の再付
着物の蒸発源への落下を防止することにより、蒸発材料
の一様な蒸発状態を実現する真空蒸着装置を提供するこ
とを、その目的としている。
着物の蒸発源への落下を防止することにより、蒸発材料
の一様な蒸発状態を実現する真空蒸着装置を提供するこ
とを、その目的としている。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、蒸発源と、この蒸発源の上方に保持された基材と、
これらの蒸発源と基材との間に設けられ、開口部を有す
る基材防熱用のシールドと、を備え、この開口部を通っ
て蒸発源からの蒸発物質が基材表面に付着するようにし
た真空薄膜製造装置において、上記シールドを上下方向
に沿って並設された複数段のシールド部材で構成すると
ともに、これらのシールド部材にあって上段ものに比べ
て下段のものがその開口部の開口面積が小さいものであ
る。換言すると、真空薄膜製造装置にあって蒸発源と成
膜用の基材との間に設置されるシールド板を多段屋根型
とした真空薄膜製造装置である。
は、蒸発源と、この蒸発源の上方に保持された基材と、
これらの蒸発源と基材との間に設けられ、開口部を有す
る基材防熱用のシールドと、を備え、この開口部を通っ
て蒸発源からの蒸発物質が基材表面に付着するようにし
た真空薄膜製造装置において、上記シールドを上下方向
に沿って並設された複数段のシールド部材で構成すると
ともに、これらのシールド部材にあって上段ものに比べ
て下段のものがその開口部の開口面積が小さいものであ
る。換言すると、真空薄膜製造装置にあって蒸発源と成
膜用の基材との間に設置されるシールド板を多段屋根型
とした真空薄膜製造装置である。
【0009】
【作用】本発明に係る真空薄膜製造装置にあっては、上
段からの落下物は下段のシールド部材で受け、最下段か
らの落下物は蒸発源の周囲に落下させるものである。こ
の結果、シールド部材にいったん付着してこれから落下
する落下物が蒸発源に混入することがなく、連続成膜時
に蒸発状態が急激に変化することはない。
段からの落下物は下段のシールド部材で受け、最下段か
らの落下物は蒸発源の周囲に落下させるものである。こ
の結果、シールド部材にいったん付着してこれから落下
する落下物が蒸発源に混入することがなく、連続成膜時
に蒸発状態が急激に変化することはない。
【0010】
【実施例】以下、本発明に係る装置の実施例を図面を参
照して説明する。図1〜図2は本発明に係る真空蒸着装
置の一実施例を示している。
照して説明する。図1〜図2は本発明に係る真空蒸着装
置の一実施例を示している。
【0011】これらの図にあって、11はチャンバであ
って、その内部下方(床面上)には坩堝12が設置され
ている。坩堝12内には蒸発材料13が保持されてい
る。そして、この蒸発材料13を加熱する手段、例えば
電子ビーム照射手段が図示していないがチャンバ11内
に設けられている。坩堝12の直上には所定面積の水平
な板状材である基材14が配設されており、この基材1
4としては例えば各種のフィルムを設置することもでき
る。基材14の直下には所定面積の矩形の開口部15A
を有する水平シールド板15が固設されており、この水
平シールド板15は例えば銅、ステンレス等で形成して
いる。そして、この開口部15Aを開閉可能にシャッタ
16が水平シールド板15の直下に近接して配設されて
いる。このシャッタ16は水平アーム17を介して垂直
ポール18の上端部に支持されている。
って、その内部下方(床面上)には坩堝12が設置され
ている。坩堝12内には蒸発材料13が保持されてい
る。そして、この蒸発材料13を加熱する手段、例えば
電子ビーム照射手段が図示していないがチャンバ11内
に設けられている。坩堝12の直上には所定面積の水平
な板状材である基材14が配設されており、この基材1
4としては例えば各種のフィルムを設置することもでき
る。基材14の直下には所定面積の矩形の開口部15A
を有する水平シールド板15が固設されており、この水
平シールド板15は例えば銅、ステンレス等で形成して
いる。そして、この開口部15Aを開閉可能にシャッタ
16が水平シールド板15の直下に近接して配設されて
いる。このシャッタ16は水平アーム17を介して垂直
ポール18の上端部に支持されている。
【0012】図1に詳示するように、このシャッタ16
の下方で上記坩堝12の上方には複数段からなる基材加
熱防止用の傾斜シールド部材21、22、23、24が
上下方向に沿って並設されている。これらの傾斜シール
ド部材21、22、23、24はいずれも水平面に対し
て所定角度だけ傾斜してその外側部分が内側部分よりも
下方に位置するように設置されている。図2に示すよう
に、傾斜シールド部材21〜24はいずれも垂直面内で
ハの字形状をなして対向する一対の板材で構成されてい
る。そして、これらの一対の板材の間には所定の開口面
積を有する開口部21A、22A、23A、24Aが画
成されており、上段の傾斜シールド部材21の開口部2
1Aの開口面積よりも下段のそれ22A、さらにその下
の段のそれ23A、さらに最下段のそれ24Aの方が小
さく設定されている。そして、これらの開口部21A〜
24Aはすべて矩形であってその中心が、上記坩堝12
の中心と上記水平シールド板15の開口部15Aの中心
とを結ぶ仮想線の線上に位置するようにセットされてい
る。さらにまた、最下段の傾斜シールド部材24の開口
部24Aの開口面積は上記坩堝12の開口面積よりも大
きく設定されている(坩堝12の開口面積よりも小さく
してもよい)。そして、最下段の傾斜シールド部材24
の傾斜下側のエッジ部分は坩堝12の外側の上方に位置
するように形成されている。
の下方で上記坩堝12の上方には複数段からなる基材加
熱防止用の傾斜シールド部材21、22、23、24が
上下方向に沿って並設されている。これらの傾斜シール
ド部材21、22、23、24はいずれも水平面に対し
て所定角度だけ傾斜してその外側部分が内側部分よりも
下方に位置するように設置されている。図2に示すよう
に、傾斜シールド部材21〜24はいずれも垂直面内で
ハの字形状をなして対向する一対の板材で構成されてい
る。そして、これらの一対の板材の間には所定の開口面
積を有する開口部21A、22A、23A、24Aが画
成されており、上段の傾斜シールド部材21の開口部2
1Aの開口面積よりも下段のそれ22A、さらにその下
の段のそれ23A、さらに最下段のそれ24Aの方が小
さく設定されている。そして、これらの開口部21A〜
24Aはすべて矩形であってその中心が、上記坩堝12
の中心と上記水平シールド板15の開口部15Aの中心
とを結ぶ仮想線の線上に位置するようにセットされてい
る。さらにまた、最下段の傾斜シールド部材24の開口
部24Aの開口面積は上記坩堝12の開口面積よりも大
きく設定されている(坩堝12の開口面積よりも小さく
してもよい)。そして、最下段の傾斜シールド部材24
の傾斜下側のエッジ部分は坩堝12の外側の上方に位置
するように形成されている。
【0013】なお、25はチャンバ11内部を真空にす
ることができる真空ポンプである。また、上記傾斜シー
ルド部材21〜24のそれぞれについては、その下端側
エッジを上に向かって反らせる形状としてもよい。この
ようにすると上段からの落下物を確実に受け取ることが
できる。また、防熱効果を高めるために、その傾斜シー
ルド部材21〜24の傾斜角度を緩くしてもよい。ま
た、上記各傾斜シールド部材21〜24は水平シールド
板14に垂下された支柱26により吊り下げられてい
る。なお、これらのシールド部材14、21〜24は図
示していないが冷却水パイプ等により冷却される構成で
もある。もちろん、シールド部材の形状は図1のような
矩形に限定されず、たとえば円形傘形であってもよい。
ることができる真空ポンプである。また、上記傾斜シー
ルド部材21〜24のそれぞれについては、その下端側
エッジを上に向かって反らせる形状としてもよい。この
ようにすると上段からの落下物を確実に受け取ることが
できる。また、防熱効果を高めるために、その傾斜シー
ルド部材21〜24の傾斜角度を緩くしてもよい。ま
た、上記各傾斜シールド部材21〜24は水平シールド
板14に垂下された支柱26により吊り下げられてい
る。なお、これらのシールド部材14、21〜24は図
示していないが冷却水パイプ等により冷却される構成で
もある。もちろん、シールド部材の形状は図1のような
矩形に限定されず、たとえば円形傘形であってもよい。
【0014】以上のように基材防熱用のシールドを多段
屋根型としたため、坩堝12内の蒸発材料13(例えば
セラミックス材料であるSiO)に電子ビームを照射す
ると、この蒸発材料が融点以上に加熱され、蒸発して基
材14(0.5mmのガラス基板または12μmのポリ
エステルフィルム)表面に付着する。この場合、200
0オングストロームの膜厚のSiO膜を形成するための
加熱を10回繰り返したとすると、水平シールド板14
等からの落下物が生じる。ところが、この落下物である
セラミックス組成物は上記多段屋根傾斜シールド部材2
1〜24の上面に落下し、坩堝12内に混入することは
ない。すべての落下物は坩堝12の周囲のチャンバの床
面に落下するものである。これらの結果、常に良好な成
膜を得ることができる。
屋根型としたため、坩堝12内の蒸発材料13(例えば
セラミックス材料であるSiO)に電子ビームを照射す
ると、この蒸発材料が融点以上に加熱され、蒸発して基
材14(0.5mmのガラス基板または12μmのポリ
エステルフィルム)表面に付着する。この場合、200
0オングストロームの膜厚のSiO膜を形成するための
加熱を10回繰り返したとすると、水平シールド板14
等からの落下物が生じる。ところが、この落下物である
セラミックス組成物は上記多段屋根傾斜シールド部材2
1〜24の上面に落下し、坩堝12内に混入することは
ない。すべての落下物は坩堝12の周囲のチャンバの床
面に落下するものである。これらの結果、常に良好な成
膜を得ることができる。
【0015】
【発明の効果】以上説明してきたように、本発明によれ
ば、落下物が蒸発源に混入することがなく、成膜時の蒸
発状態の急変を防ぐことができる。この結果、基材に一
様な成膜を実現することができる。これは大量の蒸発に
より成膜する場合に特に有効である。
ば、落下物が蒸発源に混入することがなく、成膜時の蒸
発状態の急変を防ぐことができる。この結果、基材に一
様な成膜を実現することができる。これは大量の蒸発に
より成膜する場合に特に有効である。
【図1】本発明の一実施例に係る真空蒸着装置をその一
部を破断して示す斜視図である。
部を破断して示す斜視図である。
【図2】本発明の一実施例に係る真空蒸着装置を示す断
面図である。
面図である。
【図3】従来の真空蒸着装置を示す断面図である。
12 坩堝 13 蒸発材料 14 基材 15 水平シールド板 15A 開口部 21〜24 傾斜シールド部材 21A〜24A 開口部
Claims (1)
- 【請求項1】 蒸発源と、 この蒸発源の上方に保持された基材と、 これらの蒸発源と基材との間に設けられ、開口部を有す
る基材防熱用のシールドと、を備え、この開口部を通っ
て蒸発源からの蒸発物質が基材表面に付着するようにし
た真空薄膜製造装置において、 上記シールドを上下方向に沿って並設された複数段のシ
ールド部材で構成するとともに、これらのシールド部材
にあって上段ものに比べて下段のものがその開口部の開
口面積が小さいことを特徴とする真空薄膜製造装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9018692A JPH05263221A (ja) | 1992-03-16 | 1992-03-16 | 真空薄膜製造装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9018692A JPH05263221A (ja) | 1992-03-16 | 1992-03-16 | 真空薄膜製造装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05263221A true JPH05263221A (ja) | 1993-10-12 |
Family
ID=13991462
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9018692A Pending JPH05263221A (ja) | 1992-03-16 | 1992-03-16 | 真空薄膜製造装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH05263221A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005116253A (ja) * | 2003-10-06 | 2005-04-28 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 表示装置の製造装置及び表示装置の製造方法 |
| JP2008285358A (ja) * | 2007-05-17 | 2008-11-27 | Olympus Corp | 光学素子成形用金型及びその製造方法 |
| KR20190027711A (ko) * | 2017-09-07 | 2019-03-15 | 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 | 성막 장치 |
-
1992
- 1992-03-16 JP JP9018692A patent/JPH05263221A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005116253A (ja) * | 2003-10-06 | 2005-04-28 | Toshiba Matsushita Display Technology Co Ltd | 表示装置の製造装置及び表示装置の製造方法 |
| JP2008285358A (ja) * | 2007-05-17 | 2008-11-27 | Olympus Corp | 光学素子成形用金型及びその製造方法 |
| KR20190027711A (ko) * | 2017-09-07 | 2019-03-15 | 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 | 성막 장치 |
| KR20200062125A (ko) * | 2017-09-07 | 2020-06-03 | 시바우라 메카트로닉스 가부시끼가이샤 | 성막 장치 |
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