JPH0528525Y2 - - Google Patents
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- JPH0528525Y2 JPH0528525Y2 JP8315388U JP8315388U JPH0528525Y2 JP H0528525 Y2 JPH0528525 Y2 JP H0528525Y2 JP 8315388 U JP8315388 U JP 8315388U JP 8315388 U JP8315388 U JP 8315388U JP H0528525 Y2 JPH0528525 Y2 JP H0528525Y2
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- barrel
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 11
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Landscapes
- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
〔考案の目的〕
(産業上の利用分野)
本考案は、電子部品の電気的導通試験に用いら
れるスプリングプローブに関するものである。
れるスプリングプローブに関するものである。
(従来の技術)
第4図に示されるように、バレル11の内部に
プランジヤ12が軸線方向に摺動自在に嵌合さ
れ、このプランジヤ12の先端にプリント配線基
板や電子部品のリードに当接される測定端子13
が形成され、また、バレル11の反対側部がター
ミナル端子14とされ、このターミナル端子14
の内部に嵌着されたスプリング15によつて前記
プランジヤ12の内端部を弾力的に押圧するとと
もに、バレル11の周面に形成された凹部16に
よつてこのプランジヤ内端部を係止するようにし
ている。
プランジヤ12が軸線方向に摺動自在に嵌合さ
れ、このプランジヤ12の先端にプリント配線基
板や電子部品のリードに当接される測定端子13
が形成され、また、バレル11の反対側部がター
ミナル端子14とされ、このターミナル端子14
の内部に嵌着されたスプリング15によつて前記
プランジヤ12の内端部を弾力的に押圧するとと
もに、バレル11の周面に形成された凹部16に
よつてこのプランジヤ内端部を係止するようにし
ている。
そうして、前記測定端子13を被試験物に押付
け、被試験回路に試験電流を流して導通試験を行
う。
け、被試験回路に試験電流を流して導通試験を行
う。
(考案が解決しようとする課題)
この種の構造のスプリングプローブは、測定端
子13の先端にかけることができる荷重が、100
〜200グラム程度に限られる。そのため、導通試
験のときに被試験物の強度を試験できない。
子13の先端にかけることができる荷重が、100
〜200グラム程度に限られる。そのため、導通試
験のときに被試験物の強度を試験できない。
また、スプリングプローブの内部では検査ごと
に繰返し摺動作用があり、接触部品間で摩耗が生
ずる。この摩耗によつて摺動部分から発生する摩
耗粉は電気的導通を悪くし、接触抵抗値を大きく
する問題がある。
に繰返し摺動作用があり、接触部品間で摩耗が生
ずる。この摩耗によつて摺動部分から発生する摩
耗粉は電気的導通を悪くし、接触抵抗値を大きく
する問題がある。
本考案の目的は、電子部品の導通試験および強
度試験を一つのスプリングプローブでほぼ同時に
行えるようにすることにある。さらに、本考案の
他の目的は、摺動部分に生ずる摩耗粉が導通伝達
接触面に付着することなく長期間にわたつて使用
に耐え得るようにすることにある。
度試験を一つのスプリングプローブでほぼ同時に
行えるようにすることにある。さらに、本考案の
他の目的は、摺動部分に生ずる摩耗粉が導通伝達
接触面に付着することなく長期間にわたつて使用
に耐え得るようにすることにある。
(課題を解決するための手段)
請求項1の考案は、バレル21の内部に一方の
プランジヤ23が軸線方向へ摺動自在に嵌合さ
れ、この一方のプランジヤ23の中間部に形成さ
れたフランジ部24がバレル21に内蔵された比
較的強いスプリング27によつてバレル21の先
端係止部25に弾力的に押圧され、このバレル2
1の先端部から突出されたプランジヤ23が測定
端子26とされ、前記比較的強いスプリング27
はバレル21の後端部に嵌着された絶縁材31を
介してバレル21に形成された後端係止部33に
より支承され、バレル21の後端部より前記絶縁
材31に嵌着されたターミナル35が突出され、
このターミナル35の内部に比較的弱いスプリン
グ37およびこのスプリング37によつて前記一
方のプランジヤ23側に弾力的に突出する他方の
プランジヤ38が嵌合され、両方のプランジヤ2
3,38の対向端面23a,38a間に隙間39
が形成されたスプリングプローブである。
プランジヤ23が軸線方向へ摺動自在に嵌合さ
れ、この一方のプランジヤ23の中間部に形成さ
れたフランジ部24がバレル21に内蔵された比
較的強いスプリング27によつてバレル21の先
端係止部25に弾力的に押圧され、このバレル2
1の先端部から突出されたプランジヤ23が測定
端子26とされ、前記比較的強いスプリング27
はバレル21の後端部に嵌着された絶縁材31を
介してバレル21に形成された後端係止部33に
より支承され、バレル21の後端部より前記絶縁
材31に嵌着されたターミナル35が突出され、
このターミナル35の内部に比較的弱いスプリン
グ37およびこのスプリング37によつて前記一
方のプランジヤ23側に弾力的に突出する他方の
プランジヤ38が嵌合され、両方のプランジヤ2
3,38の対向端面23a,38a間に隙間39
が形成されたスプリングプローブである。
請求項2の考案は、上記請求項1の構成に加え
て、一方のプランジヤ23から他方のプランジヤ
38にわたつて絶縁性パイプ28が嵌合されたス
プリングプローブである。
て、一方のプランジヤ23から他方のプランジヤ
38にわたつて絶縁性パイプ28が嵌合されたス
プリングプローブである。
(作用)
本考案は、比較的強いスプリング27に抗して
一方のプランジヤ23の測定端子26を被試験物
に押付け、両方のプランジヤ23,38間に設け
られた隙間39部分で、被試験物に比較的強いス
プリング27の荷重を与え、強度試験を行う。そ
れから、一方のプランジヤ23が他方のプランジ
ヤ38に接触して比較的弱いスプリング37の附
勢力で確実に両プランジヤ23,38間の電気的
導通が保たれた状態で、通電を行つて被試験物の
導通試験を行う。
一方のプランジヤ23の測定端子26を被試験物
に押付け、両方のプランジヤ23,38間に設け
られた隙間39部分で、被試験物に比較的強いス
プリング27の荷重を与え、強度試験を行う。そ
れから、一方のプランジヤ23が他方のプランジ
ヤ38に接触して比較的弱いスプリング37の附
勢力で確実に両プランジヤ23,38間の電気的
導通が保たれた状態で、通電を行つて被試験物の
導通試験を行う。
また、一方のプランジヤ23から他方のプラン
ジヤ38にわたつて嵌合した絶縁性パイプ28を
設けることにより、比較的強いスプリング27が
バレル21の内壁面で摺動することにより摩耗粉
が生ずることがあつても、両プランジヤ23,3
8の対向端面23a,38a間にその摩耗粉が侵
入しない。
ジヤ38にわたつて嵌合した絶縁性パイプ28を
設けることにより、比較的強いスプリング27が
バレル21の内壁面で摺動することにより摩耗粉
が生ずることがあつても、両プランジヤ23,3
8の対向端面23a,38a間にその摩耗粉が侵
入しない。
(実施例)
以下、本考案を第1図乃至第3図に示される実
施例を参照して詳細に説明する。
施例を参照して詳細に説明する。
第1図に示されるように、バレル21の内部
に、その後端開口22より一方のプランジヤ23
が挿入され、このプランジヤ23の中間部に形成
されたフランジ部24がバレル21の先端部に形
成された先端係止部25に当接され、プランジヤ
23のフランジ部24より左側に位置する測定端
子26がバレル先端の開口より外部に突出されて
いる。
に、その後端開口22より一方のプランジヤ23
が挿入され、このプランジヤ23の中間部に形成
されたフランジ部24がバレル21の先端部に形
成された先端係止部25に当接され、プランジヤ
23のフランジ部24より左側に位置する測定端
子26がバレル先端の開口より外部に突出されて
いる。
それから、バレル21の後端開口22よりバレ
ル内に比較的強いスプリング27が挿入され、こ
のスプリング27の左端が前記フランジ部24に
係合され、さらに、テフロン系樹脂の絶縁性パイ
プ28が前記プランジヤ23に嵌合される。この
パイプ28の右端部外周には前記スプリング27
の右端に当るスペーサ29が一体に設けられてい
る。
ル内に比較的強いスプリング27が挿入され、こ
のスプリング27の左端が前記フランジ部24に
係合され、さらに、テフロン系樹脂の絶縁性パイ
プ28が前記プランジヤ23に嵌合される。この
パイプ28の右端部外周には前記スプリング27
の右端に当るスペーサ29が一体に設けられてい
る。
続いて、第2図にも示されるように、バレル2
1の後端開口22からバレル後部に絶縁材31お
よびストツパ32が嵌着され、比較的強いスプリ
ング27の力は、前記スペーサ29、絶縁材31
およびストツパ32を介し、バレル21の周面に
凹形に形成された後端係止部33によつて係止さ
れている。前記絶縁材31の軸心部にはターミナ
ル嵌着溝34が設けられており、この嵌着溝34
に嵌着されたターミナル35がバレル21の後端
開口22より突出され、最後にこの後端開口22
に樹脂36が封入され、ターミナル35が固定さ
れている。このターミナル35にはソケツトを介
してリードワイヤが接続される。
1の後端開口22からバレル後部に絶縁材31お
よびストツパ32が嵌着され、比較的強いスプリ
ング27の力は、前記スペーサ29、絶縁材31
およびストツパ32を介し、バレル21の周面に
凹形に形成された後端係止部33によつて係止さ
れている。前記絶縁材31の軸心部にはターミナ
ル嵌着溝34が設けられており、この嵌着溝34
に嵌着されたターミナル35がバレル21の後端
開口22より突出され、最後にこの後端開口22
に樹脂36が封入され、ターミナル35が固定さ
れている。このターミナル35にはソケツトを介
してリードワイヤが接続される。
前記樹脂36は、第2図に示されるようにスト
ツパ32とターミナル35との間にも充填され、
その間の絶縁を保つている。
ツパ32とターミナル35との間にも充填され、
その間の絶縁を保つている。
前記ターミナル35の内部には比較的弱いスプ
リング37およびこのスプリング37によつて前
記一方のプランジヤ23側に弾力的に突出する他
方のプランジヤ38が嵌合されている。そして、
両方のプランジヤ23,38の対向端面23a,
38a間に隙間39が形成されている。前記他方
のプランジヤ38には、第2図に示されるように
スプリング37によつて押圧される大径部41が
一体成形され、この大径部41がターミナル35
の開口端で小径にかしめられた部分42によつて
係止されている。
リング37およびこのスプリング37によつて前
記一方のプランジヤ23側に弾力的に突出する他
方のプランジヤ38が嵌合されている。そして、
両方のプランジヤ23,38の対向端面23a,
38a間に隙間39が形成されている。前記他方
のプランジヤ38には、第2図に示されるように
スプリング37によつて押圧される大径部41が
一体成形され、この大径部41がターミナル35
の開口端で小径にかしめられた部分42によつて
係止されている。
前記バレル21、スペーサ29およびストツパ
32の材質は黄銅であり、絶縁材31の材質はベ
ークライトまたはジユラコン等であり、一方およ
び他方のプランジヤ23,38の材質は鋼であ
る。
32の材質は黄銅であり、絶縁材31の材質はベ
ークライトまたはジユラコン等であり、一方およ
び他方のプランジヤ23,38の材質は鋼であ
る。
次に、この実施例の作用を説明する。
摺動を伴わないフリーの状態では、先端のプラ
ンジヤ23とターミナル35のプランジヤ38と
の間で電気的導通はない。
ンジヤ23とターミナル35のプランジヤ38と
の間で電気的導通はない。
バレル21に内蔵された一方のプランジヤ23
および他方のプランジヤ38は、それぞれスプリ
ング27,37により左方へ弾力的に附勢されて
おり、右方軸線方向へ摺動可能であるから、測定
端子26が被試験物に押付けられたとき、外部か
らの負荷は、プランジヤ23の中間部に形成され
たフランジ部24を介しスプリング27を圧縮
し、スペーサ29、絶縁材31、ストツパ32を
介してバレル21の凹部33で支承される。同時
に、プランジヤ23の摺動により前記隙間39が
縮まつて両方のプランジヤ23,38の対向端面
23a,38aが接触すると、ターミナル内スプ
リング37が圧縮されて両方のプランジヤ23,
38が一体的に右方軸線方向へ摺動し、測定端子
26とターミナル35との間で電気的導通が得ら
れる。
および他方のプランジヤ38は、それぞれスプリ
ング27,37により左方へ弾力的に附勢されて
おり、右方軸線方向へ摺動可能であるから、測定
端子26が被試験物に押付けられたとき、外部か
らの負荷は、プランジヤ23の中間部に形成され
たフランジ部24を介しスプリング27を圧縮
し、スペーサ29、絶縁材31、ストツパ32を
介してバレル21の凹部33で支承される。同時
に、プランジヤ23の摺動により前記隙間39が
縮まつて両方のプランジヤ23,38の対向端面
23a,38aが接触すると、ターミナル内スプ
リング37が圧縮されて両方のプランジヤ23,
38が一体的に右方軸線方向へ摺動し、測定端子
26とターミナル35との間で電気的導通が得ら
れる。
このとき、ターミナル35にかかる軸線方向の
負荷は、バレル21の右端開口22に封入され固
化された前記樹脂36によつて支承される。
負荷は、バレル21の右端開口22に封入され固
化された前記樹脂36によつて支承される。
前記テフロン系樹脂の絶縁性パイプ28は、一
方のプランジヤ23から他方のプランジヤ38に
わたつて設けられており、このパイプ28によつ
て、スプリング27とバレル21の内壁との摺動
で生ずる摩耗粉等が、対抗するプランジヤ23,
38の端面23a,38a間の間隙39に侵入す
るおそれを防止する。
方のプランジヤ23から他方のプランジヤ38に
わたつて設けられており、このパイプ28によつ
て、スプリング27とバレル21の内壁との摺動
で生ずる摩耗粉等が、対抗するプランジヤ23,
38の端面23a,38a間の間隙39に侵入す
るおそれを防止する。
そうして、プリント配線基板または電子部品の
リード等の被試験物に測定端子26を押付け、一
方のプランジヤ23と他方のプランジヤ38との
間にある隙間39の長さ部分で比較的強いスプリ
ング27の附勢力を利用して被試験物の強度試験
を行ない、そして、両プランジヤ23,38が接
触した後に、摺動を重ねてスプリング37の押付
け力によりプランジヤ23,38間の電気的導通
を確保した上で、通電して導通試験を行う。
リード等の被試験物に測定端子26を押付け、一
方のプランジヤ23と他方のプランジヤ38との
間にある隙間39の長さ部分で比較的強いスプリ
ング27の附勢力を利用して被試験物の強度試験
を行ない、そして、両プランジヤ23,38が接
触した後に、摺動を重ねてスプリング37の押付
け力によりプランジヤ23,38間の電気的導通
を確保した上で、通電して導通試験を行う。
実験によれば、絶縁性パイプ28を用いないス
プリングプローブを30万回繰返し導通試験した
後、その接触抵抗値を測定したところ、300〜
700mΩであつたが、絶縁性パイプ28を用いた
スプリングプローブは、その接触抵抗値が80〜
100mΩへ減少した。これは摩耗粉の前記隙間3
9への侵入が前記パイプ28によつて押えられて
いるためである。
プリングプローブを30万回繰返し導通試験した
後、その接触抵抗値を測定したところ、300〜
700mΩであつたが、絶縁性パイプ28を用いた
スプリングプローブは、その接触抵抗値が80〜
100mΩへ減少した。これは摩耗粉の前記隙間3
9への侵入が前記パイプ28によつて押えられて
いるためである。
なお、第3図に示されるように、前記スペーサ
29を絶縁性パイプ28と一体に樹脂で成形して
もよいし、さらには、パイプ28、スペーサ2
9、絶縁材31およびストツパ32を絶縁材で一
体成形してもよい。
29を絶縁性パイプ28と一体に樹脂で成形して
もよいし、さらには、パイプ28、スペーサ2
9、絶縁材31およびストツパ32を絶縁材で一
体成形してもよい。
本考案によれば、2種のスプリングによつてそ
れぞれ弾力的に押圧される2種のプランジヤが間
隙を介して設けられたから、電子部品等の被試験
物の強度試験および導通試験をほぼ同時に行え、
測定回数を半減できる。
れぞれ弾力的に押圧される2種のプランジヤが間
隙を介して設けられたから、電子部品等の被試験
物の強度試験および導通試験をほぼ同時に行え、
測定回数を半減できる。
また、このスプリングプローブの繰返し使用に
より、内部の摺動部分に摩耗粉が生じた場合でも
それらを絶縁性パイプで遮断することにより、摩
耗粉が両方のプランジヤの接触端面に付着しない
ようにしたので、低い接触抵抗値を長期間にわた
つて維持できる。
より、内部の摺動部分に摩耗粉が生じた場合でも
それらを絶縁性パイプで遮断することにより、摩
耗粉が両方のプランジヤの接触端面に付着しない
ようにしたので、低い接触抵抗値を長期間にわた
つて維持できる。
第1図は本考案のスプリングプローブの一実施
例を示す断面図、第2図はその一部を拡大した断
面図、第3図は本考案の変形例を示す断面図、第
4図は従来のスプリングプローブを示す一部切欠
の正面図である。 21……バレル、23……一方のプランジヤ、
23a……端面、24……フランジ部、25……
先端係止部、26……測定素子、27……比較的
強いスプリング、28……絶縁性パイプ、31…
…絶縁材、33……後端係止部、35……ターミ
ナル、37……比較的弱いスプリング、38……
他方のプランジヤ、38a……端面、39……隙
間。
例を示す断面図、第2図はその一部を拡大した断
面図、第3図は本考案の変形例を示す断面図、第
4図は従来のスプリングプローブを示す一部切欠
の正面図である。 21……バレル、23……一方のプランジヤ、
23a……端面、24……フランジ部、25……
先端係止部、26……測定素子、27……比較的
強いスプリング、28……絶縁性パイプ、31…
…絶縁材、33……後端係止部、35……ターミ
ナル、37……比較的弱いスプリング、38……
他方のプランジヤ、38a……端面、39……隙
間。
Claims (1)
- 【実用新案登録請求の範囲】 (1) バレルの内部に一方のプランジヤが軸線方向
へ摺動自在に嵌合され、この一方のプランジヤ
の中間部に形成されたフランジ部がバレルに内
蔵された比較的強いスプリングによつてバレル
の先端係止部に弾力的に押圧され、このバレル
の先端部から突出されたプランジヤが測定端子
とされ、前記比較的強いスプリングはバレルの
後端部に嵌着された絶縁材を介してバレルに形
成された後端係止部により支承され、バレルの
後端部より前記絶縁材に嵌着されたターミナル
が突出され、このターミナルの内部に比較的弱
いスプリングおよびこのスプリングによつて前
記一方のプランジヤ側に弾力的に突出する他方
のプランジヤが嵌合され、両方のプランジヤの
対向端面間に隙間が形成されたことを特徴とす
るスプリングプローブ。 (2) 一方のプランジヤから他方のプランジヤにわ
たつて絶縁性パイプが嵌合されたことを特徴と
する請求項1記載のスプリングプローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8315388U JPH0528525Y2 (ja) | 1988-06-23 | 1988-06-23 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8315388U JPH0528525Y2 (ja) | 1988-06-23 | 1988-06-23 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH025072U JPH025072U (ja) | 1990-01-12 |
| JPH0528525Y2 true JPH0528525Y2 (ja) | 1993-07-22 |
Family
ID=31307876
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8315388U Expired - Lifetime JPH0528525Y2 (ja) | 1988-06-23 | 1988-06-23 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0528525Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10012686B2 (en) * | 2016-08-15 | 2018-07-03 | Tektronix, Inc. | High frequency time domain reflectometry probing system |
| KR101954086B1 (ko) * | 2017-11-07 | 2019-03-06 | 리노공업주식회사 | 검사 프로브 조립체 및 검사 소켓 |
-
1988
- 1988-06-23 JP JP8315388U patent/JPH0528525Y2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH025072U (ja) | 1990-01-12 |
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