JPH052976A - 静電リレー - Google Patents
静電リレーInfo
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- JPH052976A JPH052976A JP15353691A JP15353691A JPH052976A JP H052976 A JPH052976 A JP H052976A JP 15353691 A JP15353691 A JP 15353691A JP 15353691 A JP15353691 A JP 15353691A JP H052976 A JPH052976 A JP H052976A
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- Japan
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- movable
- electrostatic relay
- side base
- electrostatic
- base body
- Prior art date
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- Pending
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H59/00—Electrostatic relays; Electro-adhesion relays
- H01H59/0009—Electrostatic relays; Electro-adhesion relays making use of micromechanics
Landscapes
- Micromachines (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 外部の電磁界に影響され難く、かつ、熱衝撃
に強く、さらに、駆動電極間のギャップ精度の向上が図
れる静電リレーを提供する。 【構成】 可動側基体Aの裏側に設けられた可動接点2
と固定側基体Bの表側に設けられた固定接点3が対面す
るようにして前記可動側基体Aと固定側基体Bとが配置
され、前記可動側基体Aが裏面に前記可動接点2を有す
る可動部12とこの可動部12を可動接点2と固定接点
3が接離する変位可能に支持する支持部13とを備えて
おり、前記両基体A,Bにおける駆動電極への駆動電圧
印加により発生する静電力で前記可動部12が変位して
接点の接離がなされるようになっている静電リレーにお
いて、前記可動側基体Aと固定側基体Bとがともに導電
性材料からなっていて、少なくとも一方の基体Bが半導
体基板で出来ており、この半導体基板に形成された逆導
電型不純物高濃度領域が一方の駆動電極22となってい
ることを特徴とする静電リレー1。
に強く、さらに、駆動電極間のギャップ精度の向上が図
れる静電リレーを提供する。 【構成】 可動側基体Aの裏側に設けられた可動接点2
と固定側基体Bの表側に設けられた固定接点3が対面す
るようにして前記可動側基体Aと固定側基体Bとが配置
され、前記可動側基体Aが裏面に前記可動接点2を有す
る可動部12とこの可動部12を可動接点2と固定接点
3が接離する変位可能に支持する支持部13とを備えて
おり、前記両基体A,Bにおける駆動電極への駆動電圧
印加により発生する静電力で前記可動部12が変位して
接点の接離がなされるようになっている静電リレーにお
いて、前記可動側基体Aと固定側基体Bとがともに導電
性材料からなっていて、少なくとも一方の基体Bが半導
体基板で出来ており、この半導体基板に形成された逆導
電型不純物高濃度領域が一方の駆動電極22となってい
ることを特徴とする静電リレー1。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、静電力(クーロン
力)を利用して接点の接離を行う静電リレーに関する。
力)を利用して接点の接離を行う静電リレーに関する。
【0002】
【従来の技術】静電リレーは、電磁リレーとは違って電
磁コイルを必要とせず、より小型化が図れることから、
開発が盛んに進められている。素子サイズ10mm□以
下のものが可能である。図12および図13は、従来の
静電リレーをあらわす。この静電リレー191では、可
動側基体Aの裏側に設けられた可動接点194と固定側
基体Bの表側に設けられた固定接点197が対面するよ
うにして前記可動側基体Aと固定側基体Bが配置されて
いる。これら両基体A,BはスペーサCを介して接合さ
れている。
磁コイルを必要とせず、より小型化が図れることから、
開発が盛んに進められている。素子サイズ10mm□以
下のものが可能である。図12および図13は、従来の
静電リレーをあらわす。この静電リレー191では、可
動側基体Aの裏側に設けられた可動接点194と固定側
基体Bの表側に設けられた固定接点197が対面するよ
うにして前記可動側基体Aと固定側基体Bが配置されて
いる。これら両基体A,BはスペーサCを介して接合さ
れている。
【0003】可動側基体Aは裏面に可動接点194を備
えた可動板(可動部)192とこの可動板192を可動
接点194と固定接点197が接離する変位可能に支持
する支持部(枠部)193からなる。そして、可動側基
体Aの駆動電極を兼ねる可動板192と固定側基体Bの
駆動電極198の間への駆動電圧印加により発生する静
電力で前記可動板192が固定側基体Bに近づいて前記
両接点194,197が接触し、静電力の消滅に伴い前
記可動板192が自身のバネ性で元の水平状態に復元す
ることにより固定側基体Bから遠ざかり前記両接点19
4,197が離れるようになっている。
えた可動板(可動部)192とこの可動板192を可動
接点194と固定接点197が接離する変位可能に支持
する支持部(枠部)193からなる。そして、可動側基
体Aの駆動電極を兼ねる可動板192と固定側基体Bの
駆動電極198の間への駆動電圧印加により発生する静
電力で前記可動板192が固定側基体Bに近づいて前記
両接点194,197が接触し、静電力の消滅に伴い前
記可動板192が自身のバネ性で元の水平状態に復元す
ることにより固定側基体Bから遠ざかり前記両接点19
4,197が離れるようになっている。
【0004】可動基体Aはシリコン基板を選択エッチン
グ等の微細加工手段で加工することにより必要な構造部
分の作り込みがなされており、一方、固定側基体Bはガ
ラス基板である。可動接点194や固定接点197、あ
るいは、固定側駆動電極198は、金属薄膜形成・パタ
ーンニング等により形成されている。
グ等の微細加工手段で加工することにより必要な構造部
分の作り込みがなされており、一方、固定側基体Bはガ
ラス基板である。可動接点194や固定接点197、あ
るいは、固定側駆動電極198は、金属薄膜形成・パタ
ーンニング等により形成されている。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】上記のような構造およ
び動作から分かるように、静電リレーは、写真製版技術
や微細加工技術等の半導体素子の製造技術を利用して製
造することができるので、極めて小型のものが製造で
き、従来の電磁リレーに比べて体積を1/10以下にす
ることも可能になり、また、高速動作が可能で、使用時
の発熱が非常に小さく、低コストで大量生産することが
できる等の利点がある。
び動作から分かるように、静電リレーは、写真製版技術
や微細加工技術等の半導体素子の製造技術を利用して製
造することができるので、極めて小型のものが製造で
き、従来の電磁リレーに比べて体積を1/10以下にす
ることも可能になり、また、高速動作が可能で、使用時
の発熱が非常に小さく、低コストで大量生産することが
できる等の利点がある。
【0006】しかしながら、上記の静電リレーは、外部
の電磁界に影響されやすいという問題や熱衝撃に弱いと
いう問題がある。上記の静電リレーは、固定側基体Bの
ガラス基板が絶縁材であるため、外部からの電磁誘導が
強く影響する場や強電界の場に静電リレーが置かれた場
合、駆動電圧による静電力が変動して誤動作するのであ
る。
の電磁界に影響されやすいという問題や熱衝撃に弱いと
いう問題がある。上記の静電リレーは、固定側基体Bの
ガラス基板が絶縁材であるため、外部からの電磁誘導が
強く影響する場や強電界の場に静電リレーが置かれた場
合、駆動電圧による静電力が変動して誤動作するのであ
る。
【0007】また、可動側基体Aのシリコン基板と固定
側基体Bのガラス基板は熱膨係数が大きく異なってお
り、熱衝撃を受けた際の両基体A,Bの寸法変動量の差
が大きく大きな歪みや応力が発生するため、破損してし
まうのである。それに、従来の静電リレーでは、駆動電
極間のギャップの誤差が大きく、このギャップ量に比例
する駆動用の静電力のバラツキが大きいという問題もあ
る。静電力が一定していないと安定した駆動力が得られ
ず正常な動作が期待できない。従来、少なくとも一方の
駆動電極を基体表面の絶縁膜の上に形成しており、絶縁
膜の厚み精度や駆動電極用の金属膜厚み精度が中々出な
いなどのため、駆動電極間のギャップ精度が上がらない
のである。
側基体Bのガラス基板は熱膨係数が大きく異なってお
り、熱衝撃を受けた際の両基体A,Bの寸法変動量の差
が大きく大きな歪みや応力が発生するため、破損してし
まうのである。それに、従来の静電リレーでは、駆動電
極間のギャップの誤差が大きく、このギャップ量に比例
する駆動用の静電力のバラツキが大きいという問題もあ
る。静電力が一定していないと安定した駆動力が得られ
ず正常な動作が期待できない。従来、少なくとも一方の
駆動電極を基体表面の絶縁膜の上に形成しており、絶縁
膜の厚み精度や駆動電極用の金属膜厚み精度が中々出な
いなどのため、駆動電極間のギャップ精度が上がらない
のである。
【0008】この発明は、上記事情に鑑み、外部の電磁
界に影響され難く、かつ、熱衝撃に強く、さらに、駆動
電極間のギャップ精度の向上が図れる静電リレーを提供
することを課題とする。
界に影響され難く、かつ、熱衝撃に強く、さらに、駆動
電極間のギャップ精度の向上が図れる静電リレーを提供
することを課題とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1〜6記載の静電
リレーは、前記課題を解決するため、可動側基体の裏側
に設けられた可動接点と固定側基体の表側に設けられた
固定接点が対面するようにして前記可動側基体と固定側
基体とが配置され、前記可動側基体が裏面に前記可動接
点を有する可動部とこの可動部を可動接点と固定接点が
接離する変位可能に支持する支持部とを備えており、前
記両基体における駆動電極への駆動電圧印加により発生
する静電力で前記可動部が変位して接点の接離がなされ
るようになっている静電リレーにおいて、前記可動側基
体と固定側基体とがともに導電性材料からなっていて、
少なくとも一方の基体が半導体基板で出来ており、この
半導体基板に形成された逆導電型不純物高濃度領域を一
方の駆動電極とするようにする。
リレーは、前記課題を解決するため、可動側基体の裏側
に設けられた可動接点と固定側基体の表側に設けられた
固定接点が対面するようにして前記可動側基体と固定側
基体とが配置され、前記可動側基体が裏面に前記可動接
点を有する可動部とこの可動部を可動接点と固定接点が
接離する変位可能に支持する支持部とを備えており、前
記両基体における駆動電極への駆動電圧印加により発生
する静電力で前記可動部が変位して接点の接離がなされ
るようになっている静電リレーにおいて、前記可動側基
体と固定側基体とがともに導電性材料からなっていて、
少なくとも一方の基体が半導体基板で出来ており、この
半導体基板に形成された逆導電型不純物高濃度領域を一
方の駆動電極とするようにする。
【0010】導電性材料からなる基体としては、例え
ば、請求項2のように、シリコン基板が挙げられる。さ
らに、好ましい形態例としては、請求項3のように、半
導体基板の逆導電型不純物高濃度領域以外の部分と他の
基体とが電気的に接続され同電位となっている態様、請
求項4のように、半導体基板では、駆動電極用の逆導電
型不純物高濃度領域の側方の位置にガードリング領域用
の逆導電型不純物高濃度領域(半導体基板と逆導電型)
が形成されている態様が挙げられる。ガードリング領域
は一重でもよいが多重であることが好ましい。
ば、請求項2のように、シリコン基板が挙げられる。さ
らに、好ましい形態例としては、請求項3のように、半
導体基板の逆導電型不純物高濃度領域以外の部分と他の
基体とが電気的に接続され同電位となっている態様、請
求項4のように、半導体基板では、駆動電極用の逆導電
型不純物高濃度領域の側方の位置にガードリング領域用
の逆導電型不純物高濃度領域(半導体基板と逆導電型)
が形成されている態様が挙げられる。ガードリング領域
は一重でもよいが多重であることが好ましい。
【0011】さらに、静電リレーの利用性を高めるため
の形態例として、請求項5のように、可動側基体および
/または固定側基体に駆動用回路部を設けた態様、ある
いは請求項6のように、可動側駆動電極と固定側駆動電
極の間に静電力を増すためのエレクトレットが設けられ
ている態様が挙げられる。また、静電リレーの場合、必
要な静電力を得るための駆動電圧が高め(普通、数十V
〜数百V)であるために使い難く、駆動電圧の低下が望
まれている。通常の電子回路では信号電圧は数V〜十数
V程度なので、昇圧回路が必要となる。駆動電圧の低下
は外付回路の不用化ないし軽減化をもたらす。
の形態例として、請求項5のように、可動側基体および
/または固定側基体に駆動用回路部を設けた態様、ある
いは請求項6のように、可動側駆動電極と固定側駆動電
極の間に静電力を増すためのエレクトレットが設けられ
ている態様が挙げられる。また、静電リレーの場合、必
要な静電力を得るための駆動電圧が高め(普通、数十V
〜数百V)であるために使い難く、駆動電圧の低下が望
まれている。通常の電子回路では信号電圧は数V〜十数
V程度なので、昇圧回路が必要となる。駆動電圧の低下
は外付回路の不用化ないし軽減化をもたらす。
【0012】それに、従来の静電リレーは、可動側・固
定側の二つの駆動電極の間に印加する駆動電圧によって
発生する静電力(クーロン力)で動作するものである
が、十分な接点圧を確保するために両駆動電極間の距離
を短くしている。静電力は両駆動電極間の距離の2乗に
逆比例する一方、接点圧が静電力に比例するからであ
る。しかし、両駆動電極間の距離を短くしているため、
接点間の耐圧がどうしても低くなる。
定側の二つの駆動電極の間に印加する駆動電圧によって
発生する静電力(クーロン力)で動作するものである
が、十分な接点圧を確保するために両駆動電極間の距離
を短くしている。静電力は両駆動電極間の距離の2乗に
逆比例する一方、接点圧が静電力に比例するからであ
る。しかし、両駆動電極間の距離を短くしているため、
接点間の耐圧がどうしても低くなる。
【0013】エレクトレットの採用は、駆動電圧の低下
や接点間の耐圧の向上をもたらすのである。このエレク
トレットは、正および/または負の電荷を有しかつその
和が0でない電荷を保持する絶縁体が挙げられるが、こ
れに限らない。エレクトレットには様々な材質・厚みも
のが挙げられる。例えば、厚み5μmのポリプロピレン
でコロナ放電で帯電させたものが例示される。
や接点間の耐圧の向上をもたらすのである。このエレク
トレットは、正および/または負の電荷を有しかつその
和が0でない電荷を保持する絶縁体が挙げられるが、こ
れに限らない。エレクトレットには様々な材質・厚みも
のが挙げられる。例えば、厚み5μmのポリプロピレン
でコロナ放電で帯電させたものが例示される。
【0014】前述のように、静電リレーの場合、普通、
数十V〜数百Vの駆動電圧が必要とされるので、駆動電
圧発生用の昇圧回路が必要となる。また、駆動電圧の解
除後、駆動電極の間に蓄積された電荷を放電させないと
接点が開かないため、通常、放電回路も要求される。静
電リレー自体は小型でも、他に昇圧回路や放電回路等の
外付回路を付加する必要があるため使い難いのである。
駆動用回路部の基体への搭載は、外付回路の付加の軽減
をもたらす。
数十V〜数百Vの駆動電圧が必要とされるので、駆動電
圧発生用の昇圧回路が必要となる。また、駆動電圧の解
除後、駆動電極の間に蓄積された電荷を放電させないと
接点が開かないため、通常、放電回路も要求される。静
電リレー自体は小型でも、他に昇圧回路や放電回路等の
外付回路を付加する必要があるため使い難いのである。
駆動用回路部の基体への搭載は、外付回路の付加の軽減
をもたらす。
【0015】駆動用回路部の具体的形態例としては、放
電回路を有する態様や、駆動電圧発生用昇圧回路の少な
くとも一部を有する態様が挙げられる。駆動用回路部は
駆動に必要な全ての回路を備えている必要はなく一部の
回路だけを有していてもよい。例えば、昇圧回路の一部
と放電回路を有するという態様もある。もちろん、駆動
に必要な全ての回路を有している態様が望ましい。な
お、駆動用回路部は、可動側基体あるいは固定側基体の
どちらに設けられてもよいし、分割して両基体にまたが
って設けるようにしてもよい。
電回路を有する態様や、駆動電圧発生用昇圧回路の少な
くとも一部を有する態様が挙げられる。駆動用回路部は
駆動に必要な全ての回路を備えている必要はなく一部の
回路だけを有していてもよい。例えば、昇圧回路の一部
と放電回路を有するという態様もある。もちろん、駆動
に必要な全ての回路を有している態様が望ましい。な
お、駆動用回路部は、可動側基体あるいは固定側基体の
どちらに設けられてもよいし、分割して両基体にまたが
って設けるようにしてもよい。
【0016】次に、駆動用回路部の具体的構成例につい
て説明する。駆動用回路部は、通常、図9にみるよう
に、昇圧回路と放電回路とを備え、信号電圧が昇圧回路
で昇圧され駆動電圧として可動側駆動電極16と固定側
駆動電極22の間に印加される。なお、放電回路は、駆
動電圧印加時には放電動作を行わないことは言うまでも
ない。そして、駆動電圧印加が停止された時には放電回
路が駆動電極16,22の間に蓄積された電荷を速やか
に放電させる。
て説明する。駆動用回路部は、通常、図9にみるよう
に、昇圧回路と放電回路とを備え、信号電圧が昇圧回路
で昇圧され駆動電圧として可動側駆動電極16と固定側
駆動電極22の間に印加される。なお、放電回路は、駆
動電圧印加時には放電動作を行わないことは言うまでも
ない。そして、駆動電圧印加が停止された時には放電回
路が駆動電極16,22の間に蓄積された電荷を速やか
に放電させる。
【0017】駆動用回路部のより具体的な回路例を図1
0に示す。図10の場合、発光ダイオード(発光素子)
100と、この発光ダイオード100の光を受けて起電
力を発生する複数の光電池102・・・が直列接続され
たフォトセルアレイ101とで昇圧回路が構成され、ノ
ーマリイオフ型NPNトランジスタ103、抵抗104
およびダイオード105で放電回路が構成されている。
0に示す。図10の場合、発光ダイオード(発光素子)
100と、この発光ダイオード100の光を受けて起電
力を発生する複数の光電池102・・・が直列接続され
たフォトセルアレイ101とで昇圧回路が構成され、ノ
ーマリイオフ型NPNトランジスタ103、抵抗104
およびダイオード105で放電回路が構成されている。
【0018】図10の駆動用回路部の動作は、以下の通
りである。低い信号電圧で発光ダイオード100を発光
させるとフォトセルアレイ101で信号電圧より高い駆
動電圧が発生する。必要な高さの電圧が得られるように
光電池102の数が調整されているのである。駆動電圧
の発生中は、トランジスタ103はオフ状態であり、駆
動電圧が両駆動電極16,22の間に正常にかかり充電
される。信号電圧が消滅すると駆動電圧はなくなるが、
駆動電極16,22の間の蓄積電荷による電圧でトラン
ジスタ103がオン状態になると共に蓄積電荷の放電が
始まる。
りである。低い信号電圧で発光ダイオード100を発光
させるとフォトセルアレイ101で信号電圧より高い駆
動電圧が発生する。必要な高さの電圧が得られるように
光電池102の数が調整されているのである。駆動電圧
の発生中は、トランジスタ103はオフ状態であり、駆
動電圧が両駆動電極16,22の間に正常にかかり充電
される。信号電圧が消滅すると駆動電圧はなくなるが、
駆動電極16,22の間の蓄積電荷による電圧でトラン
ジスタ103がオン状態になると共に蓄積電荷の放電が
始まる。
【0019】駆動回路部は、上記のものに限らない。例
えば、昇圧回路として、n個のダイオードとn個のコン
デンサを直並列接続したチャージポンプ式の回路や薄膜
トランスとダイオードとコンデンサの整流部を組み合わ
せた薄膜トランス型整流昇圧回路などが使える。ただ、
これらの昇圧回路は交流信号電圧を入力とする。
えば、昇圧回路として、n個のダイオードとn個のコン
デンサを直並列接続したチャージポンプ式の回路や薄膜
トランスとダイオードとコンデンサの整流部を組み合わ
せた薄膜トランス型整流昇圧回路などが使える。ただ、
これらの昇圧回路は交流信号電圧を入力とする。
【0020】
【作用】この発明の静電リレーでは、可動側基体と固定
側基体の両方ともが導電性材料である。そのため、熱膨
張率の差が小さく熱衝撃を受けた際に生ずる歪みや応力
が小さくなるために熱衝撃に対し強く、両導電性基体に
挟まれた区間は電気的シールド区間となるために外部の
電磁界の影響が軽減され外的要因による誤動作が起り難
い。
側基体の両方ともが導電性材料である。そのため、熱膨
張率の差が小さく熱衝撃を受けた際に生ずる歪みや応力
が小さくなるために熱衝撃に対し強く、両導電性基体に
挟まれた区間は電気的シールド区間となるために外部の
電磁界の影響が軽減され外的要因による誤動作が起り難
い。
【0021】それに、少なくとも一方の基体が半導体基
板で出来ており、この半導体基板に形成された逆導電型
不純物高濃度領域が一方の駆動電極となっている。した
がって、例えば、他方の基体そのものを他方の駆動電極
とすれば、基体表面の絶縁膜の上に駆動電極を設ける構
成をとらずに済む。その結果、駆動電極間のギャップ精
度の向上を図れ、安定した駆動力を得ることができるよ
うになる。一方の駆動電極の逆導電型不純物高濃度領域
は他方の駆動電極と半導体基板の電極以外の導電性部分
で囲まれ電気的にシールドされた恰好でとなっており、
外部の電磁界の影響軽減効果は損なわれない。
板で出来ており、この半導体基板に形成された逆導電型
不純物高濃度領域が一方の駆動電極となっている。した
がって、例えば、他方の基体そのものを他方の駆動電極
とすれば、基体表面の絶縁膜の上に駆動電極を設ける構
成をとらずに済む。その結果、駆動電極間のギャップ精
度の向上を図れ、安定した駆動力を得ることができるよ
うになる。一方の駆動電極の逆導電型不純物高濃度領域
は他方の駆動電極と半導体基板の電極以外の導電性部分
で囲まれ電気的にシールドされた恰好でとなっており、
外部の電磁界の影響軽減効果は損なわれない。
【0022】可動側基体と固定側基体が共にシリコン基
板であれば、両基体の熱膨張率が同一であるため、熱衝
撃を受けた際の歪みや応力が極めて僅かであるため、熱
衝撃に対し著しく強くなる。また、シリコン基板の場合
は、駆動用回路部のためのトランジスタや抵抗等の素子
を作り込むのに利用することもできる。駆動回路も含め
全体を極めて小型のものにすることが可能となる。
板であれば、両基体の熱膨張率が同一であるため、熱衝
撃を受けた際の歪みや応力が極めて僅かであるため、熱
衝撃に対し著しく強くなる。また、シリコン基板の場合
は、駆動用回路部のためのトランジスタや抵抗等の素子
を作り込むのに利用することもできる。駆動回路も含め
全体を極めて小型のものにすることが可能となる。
【0023】可動側基体と固定側基体が同電位にある場
合、両基体の間は常に電界がかからない状態が確実に維
持されることになるため、非常に安定性が高い。駆動電
極用の逆導電型不純物高濃度領域の側方の位置にガード
リング領域用の逆導電型不純物高濃度領域があれば、不
純物高濃度領域を使う駆動電極の耐圧が高くなるという
利点がある。両不純物高濃度領域は同時形成も可能であ
る。
合、両基体の間は常に電界がかからない状態が確実に維
持されることになるため、非常に安定性が高い。駆動電
極用の逆導電型不純物高濃度領域の側方の位置にガード
リング領域用の逆導電型不純物高濃度領域があれば、不
純物高濃度領域を使う駆動電極の耐圧が高くなるという
利点がある。両不純物高濃度領域は同時形成も可能であ
る。
【0024】さらに、駆動用回路部が基体に設けられて
いれば、その分、外付回路の付加が不要ないし軽減され
ることとなり、使い易くなる。また、固定側駆動電極と
可動側駆動電極の間にはエレクトレットがあって静電力
が増すため、その分、駆動電圧を下げたり、接点ギャッ
プを大きくし接点間耐圧の向上を図ることができる。駆
動電圧や接点ギャップがそのままでよければ接点圧を大
きくすることができる。
いれば、その分、外付回路の付加が不要ないし軽減され
ることとなり、使い易くなる。また、固定側駆動電極と
可動側駆動電極の間にはエレクトレットがあって静電力
が増すため、その分、駆動電圧を下げたり、接点ギャッ
プを大きくし接点間耐圧の向上を図ることができる。駆
動電圧や接点ギャップがそのままでよければ接点圧を大
きくすることができる。
【0025】
【実施例】以下、この発明の実施例を、図面を参照しな
がら詳しく説明する。この発明は、下記の実施例に限ら
ないことは言うまでもない。 −実施例1− 図1は、実施例1にかかる静電リレーの要部構成をあら
わす。図2は、実施例1の静電リレー全体を上方からみ
た状態をあらわす。図3は、図2のX−X断面をあらわ
す。
がら詳しく説明する。この発明は、下記の実施例に限ら
ないことは言うまでもない。 −実施例1− 図1は、実施例1にかかる静電リレーの要部構成をあら
わす。図2は、実施例1の静電リレー全体を上方からみ
た状態をあらわす。図3は、図2のX−X断面をあらわ
す。
【0026】実施例1の静電リレー1では、可動側基体
Aの裏側に設けられた可動接点2と固定側基体Bの表側
に設けられた固定接点3が対面するようにして、両基体
A,Bが配置されている。これら両基体A,Bは接合面
Dで電気的導通がとれるようにして結合されている。こ
の場合、接合面に金とシリコンの合金層を形成した後、
二つの基体を加熱圧着して結合する金共晶法を用いた。
この他の結合方法もあるが、電気的導通がとれない結合
方法を用いた場合は、結合の後で電気的導通をとる処理
を基体A,Bに対して行うようにする。
Aの裏側に設けられた可動接点2と固定側基体Bの表側
に設けられた固定接点3が対面するようにして、両基体
A,Bが配置されている。これら両基体A,Bは接合面
Dで電気的導通がとれるようにして結合されている。こ
の場合、接合面に金とシリコンの合金層を形成した後、
二つの基体を加熱圧着して結合する金共晶法を用いた。
この他の結合方法もあるが、電気的導通がとれない結合
方法を用いた場合は、結合の後で電気的導通をとる処理
を基体A,Bに対して行うようにする。
【0027】可動側基体Aは裏面に可動接点2を備えた
可動板(可動部)12とこの可動板12を可動接点2と
固定接点3が接離する変位可能に支持する支持部(枠
部)13からなる。可動板12はT字型連結部14で支
持部13とつながって変位可能な支持状態が実現されて
いるのである。可動板12は、例えば、厚み30μmで
あって、支持部13の底から僅かに窪んだ位置、例えば
20μm引っ込んだ位置にある。
可動板(可動部)12とこの可動板12を可動接点2と
固定接点3が接離する変位可能に支持する支持部(枠
部)13からなる。可動板12はT字型連結部14で支
持部13とつながって変位可能な支持状態が実現されて
いるのである。可動板12は、例えば、厚み30μmで
あって、支持部13の底から僅かに窪んだ位置、例えば
20μm引っ込んだ位置にある。
【0028】可動側基体Aは(100)面を表面にもつ
シリコン単結晶基板からなり、上記のような構造は、水
酸化カリウムの水溶液エッチャントとマスク材料として
窒化シリコン膜を用いることで比較的容易に作ることが
できる。可動板12の裏面(固定側基体B側の面)は絶
縁膜15が形成されている。絶縁膜15上の先端域には
金属薄膜からなる可動接点2がパターン形成されてい
る。
シリコン単結晶基板からなり、上記のような構造は、水
酸化カリウムの水溶液エッチャントとマスク材料として
窒化シリコン膜を用いることで比較的容易に作ることが
できる。可動板12の裏面(固定側基体B側の面)は絶
縁膜15が形成されている。絶縁膜15上の先端域には
金属薄膜からなる可動接点2がパターン形成されてい
る。
【0029】固定側基体Bはp型シリコン単結晶基板か
らなり、可動板12と対面する箇所に絶縁膜21が形成
されていて、この絶縁膜21の先端域に金属薄膜からな
る固定接点3がパターン形成されている。勿論、固定接
点3は可動接点2と対面するパターンで形成されてい
る。固定接点3の先端には接続端子30、30がそれぞ
れ設けられている。また、図3にみるように、支持部1
3の底の一部が、例えば20μmほど窪んでいて固定接
点3の接続ラインと支持部13が接触しないようになっ
ている。
らなり、可動板12と対面する箇所に絶縁膜21が形成
されていて、この絶縁膜21の先端域に金属薄膜からな
る固定接点3がパターン形成されている。勿論、固定接
点3は可動接点2と対面するパターンで形成されてい
る。固定接点3の先端には接続端子30、30がそれぞ
れ設けられている。また、図3にみるように、支持部1
3の底の一部が、例えば20μmほど窪んでいて固定接
点3の接続ラインと支持部13が接触しないようになっ
ている。
【0030】可動側基体Aでは可動板12が可動側駆動
電極となっている。基体自体が駆動電極を兼ねているの
である。駆動電圧は導入端子19から導入される。この
場合、可動側の駆動電極用の金属パターン形成や絶被覆
形成が省略できる利点がある。固定側基体Bでは表面部
分の逆導電型不純物高濃度領域(不純物ドープ域)が固
定側駆動電極22である。駆動電極22の表面は絶縁膜
21で覆われていて、接続ライン22aの先端の位置に
絶縁膜21の窓が開いており、ここで導入端子25とコ
ンタクトしている。駆動電圧は端子19、25間に加え
られることは言うまでもない。なお、固定側駆動電極2
2の側方にはガードリング用の逆導電型不純物高濃度領
域24も形成されている。
電極となっている。基体自体が駆動電極を兼ねているの
である。駆動電圧は導入端子19から導入される。この
場合、可動側の駆動電極用の金属パターン形成や絶被覆
形成が省略できる利点がある。固定側基体Bでは表面部
分の逆導電型不純物高濃度領域(不純物ドープ域)が固
定側駆動電極22である。駆動電極22の表面は絶縁膜
21で覆われていて、接続ライン22aの先端の位置に
絶縁膜21の窓が開いており、ここで導入端子25とコ
ンタクトしている。駆動電圧は端子19、25間に加え
られることは言うまでもない。なお、固定側駆動電極2
2の側方にはガードリング用の逆導電型不純物高濃度領
域24も形成されている。
【0031】接点2,3、絶縁膜15,21、導入端子
19,25、駆動電極22は、よく知られている薄膜形
成プロセス、半導体プロセス、フォトリソグラフィー技
術等を用いて形成できる。また、それらの材料も、目的
に応じて種々選択できる。接点2,3、真空蒸着法によ
る厚み0.5μmの金薄膜をフォトリソグラフィー技術
でパターン化したものである。絶縁膜15は、常圧CV
D法で厚み1μmの酸化シリコン薄膜を堆積しフォトリ
ソグラフィー技術でパターン化したものである。絶縁膜
21は、熱酸化法で厚み1μmの酸化シリコン薄膜を堆
積しフォトリソグラフィー技術でパターン化したもので
ある。端子19,25は、真空蒸着法による厚み1μm
の金属(例えば、アルミニウム)薄膜をフォトリソグラ
フィー技術でパターン化したものである。駆動電極22
用の不純物高濃度領域は、p型シリコン単結晶基板に対
し、リンを5×1014/cm 3の濃度で拡散深さ約10
μmにてドープすることにより形成したn型不純物領域
である。
19,25、駆動電極22は、よく知られている薄膜形
成プロセス、半導体プロセス、フォトリソグラフィー技
術等を用いて形成できる。また、それらの材料も、目的
に応じて種々選択できる。接点2,3、真空蒸着法によ
る厚み0.5μmの金薄膜をフォトリソグラフィー技術
でパターン化したものである。絶縁膜15は、常圧CV
D法で厚み1μmの酸化シリコン薄膜を堆積しフォトリ
ソグラフィー技術でパターン化したものである。絶縁膜
21は、熱酸化法で厚み1μmの酸化シリコン薄膜を堆
積しフォトリソグラフィー技術でパターン化したもので
ある。端子19,25は、真空蒸着法による厚み1μm
の金属(例えば、アルミニウム)薄膜をフォトリソグラ
フィー技術でパターン化したものである。駆動電極22
用の不純物高濃度領域は、p型シリコン単結晶基板に対
し、リンを5×1014/cm 3の濃度で拡散深さ約10
μmにてドープすることにより形成したn型不純物領域
である。
【0032】可動側基体Aと固定側基体Bの非駆動電極
領域は電気的接続され同電位であり、電気的シールドは
十分なものとなっている。なお、この実施例の静電リレ
ー1では、固定側駆動電極が正となる向きの駆動電圧を
印加する必要がある。p型シリコン単結晶基板における
pn接合が逆バイアスとなるようにするのである。 −実施例2− 図4は、実施例2にかかる静電リレーの要部構成をあら
わす。図5は、実施例2の静電リレー全体を上方からみ
た状態をあらわす。
領域は電気的接続され同電位であり、電気的シールドは
十分なものとなっている。なお、この実施例の静電リレ
ー1では、固定側駆動電極が正となる向きの駆動電圧を
印加する必要がある。p型シリコン単結晶基板における
pn接合が逆バイアスとなるようにするのである。 −実施例2− 図4は、実施例2にかかる静電リレーの要部構成をあら
わす。図5は、実施例2の静電リレー全体を上方からみ
た状態をあらわす。
【0033】実施例2の静電リレー1は、実施例1の静
電リレーにおいて、駆動電極用可動部12と駆動電極2
2の間にエレクトレット8を追加したものである。図5
にみるように、略駆動電極と同程度の大きさのエレクト
レット8が絶縁膜21の上に駆動電極に相対するように
して積まれているのである。実施例1と同一の番号を付
したものは実施例1の場合と同じものであるので説明は
省略する。
電リレーにおいて、駆動電極用可動部12と駆動電極2
2の間にエレクトレット8を追加したものである。図5
にみるように、略駆動電極と同程度の大きさのエレクト
レット8が絶縁膜21の上に駆動電極に相対するように
して積まれているのである。実施例1と同一の番号を付
したものは実施例1の場合と同じものであるので説明は
省略する。
【0034】但し、可動板12は、厚み30μmであっ
て支持部13の底から50μm引っ込んだ位置にあると
ともに、支持部13の底の一部が50μmほど窪んでい
て固定接点3の接続ラインが支持部13に接触しないよ
うになっている。実施例2のエレクトレット8は比誘電
率が約2であってポリプロピレンで厚み5μmである。
エレクトレット8に保持する電荷は、そのリレーに持た
せる動作状態に合わせて選ばれるが、この実施例2の場
合、エレクトレット8の可動側駆動電極16側を負に逆
の側を正に帯電させ、かつ、それらの電荷量の合計が0
となるようにしている。帯電方法も色々あるが、この場
合はコロナ放電を用いる方法である。
て支持部13の底から50μm引っ込んだ位置にあると
ともに、支持部13の底の一部が50μmほど窪んでい
て固定接点3の接続ラインが支持部13に接触しないよ
うになっている。実施例2のエレクトレット8は比誘電
率が約2であってポリプロピレンで厚み5μmである。
エレクトレット8に保持する電荷は、そのリレーに持た
せる動作状態に合わせて選ばれるが、この実施例2の場
合、エレクトレット8の可動側駆動電極16側を負に逆
の側を正に帯電させ、かつ、それらの電荷量の合計が0
となるようにしている。帯電方法も色々あるが、この場
合はコロナ放電を用いる方法である。
【0035】このようにして形成したエレクトレット8
を用いた静電リレー1は、駆動電圧を印加しない(印加
電圧0)時は接点2、3が開いた状態に安定するような
シングルモード動作を行い、可動側駆動電極が正の電圧
となるように駆動電圧を印加すると接点が閉じる。エレ
クトレット8のある分、静電力が強まることは言うまで
もない。
を用いた静電リレー1は、駆動電圧を印加しない(印加
電圧0)時は接点2、3が開いた状態に安定するような
シングルモード動作を行い、可動側駆動電極が正の電圧
となるように駆動電圧を印加すると接点が閉じる。エレ
クトレット8のある分、静電力が強まることは言うまで
もない。
【0036】静電力の強化に関して簡単なモデルに基づ
いて具体的に説明する。静電リレーの駆動電極とエレク
トレットまわりの構成は、図11にみるように、2枚の
電極a,bが間隔(d1 +d2 )隔てて配置され電極b
の上に厚みd2 のエレクトレットcが載った状態で近似
される。但しε1 は空気の誘電率であり、ε2 はエレク
トレットcの誘電率である。σ1 , σ2 はエレクトレッ
トの表面電荷である。
いて具体的に説明する。静電リレーの駆動電極とエレク
トレットまわりの構成は、図11にみるように、2枚の
電極a,bが間隔(d1 +d2 )隔てて配置され電極b
の上に厚みd2 のエレクトレットcが載った状態で近似
される。但しε1 は空気の誘電率であり、ε2 はエレク
トレットcの誘電率である。σ1 , σ2 はエレクトレッ
トの表面電荷である。
【0037】もし、エレクトレットcがない場合はd2
=0として、電極aに働く力Fxが Fx=−ε1 A(V/d1 )2 /2 〔但し:Aは電極およびエレクトレットの面積である〕
となる。一方、エレクトレットcのある場合は、電極a
に働く力Fyが、 Fy=−ε1 A〔(Va−V)/L〕2 /2 となる。ここで、エレクトレットcが表面電荷だけをも
つものとすると、Va=σ2 d2 /ε2 ,L=(ε1 d
2 /ε2 )+d1 であるから、Fy=−ε1 A{〔(σ
2 d2 /ε2 )−V〕/〔(ε1 d2 /ε2 )+
d1 〕}2/2になる。
=0として、電極aに働く力Fxが Fx=−ε1 A(V/d1 )2 /2 〔但し:Aは電極およびエレクトレットの面積である〕
となる。一方、エレクトレットcのある場合は、電極a
に働く力Fyが、 Fy=−ε1 A〔(Va−V)/L〕2 /2 となる。ここで、エレクトレットcが表面電荷だけをも
つものとすると、Va=σ2 d2 /ε2 ,L=(ε1 d
2 /ε2 )+d1 であるから、Fy=−ε1 A{〔(σ
2 d2 /ε2 )−V〕/〔(ε1 d2 /ε2 )+
d1 〕}2/2になる。
【0038】さらに、σ1 +σ2 =0、σ1 >0、σ2
<0とすると、エレクトレットcの有る場合と無い場合
の比Fy/Fxは、 {〔(σ2 d2 /ε2 )−V〕d1 /〔(ε1 d2 /ε2 )+d1 〕V}2 ={〔(σ2 d2 /ε2 V)−1〕/〔(ε1 d2 /ε2 d1 )+1〕〕}2 であるから、σ2 <0、V>0とすると、 1− (σ2 d2 /ε2 V)>(ε1 d2 /ε2 d1 )+1 であるから、故に、V<−σ2 d1 /ε1 の時、エレク
トレットcを設けた方が電極aに働く静電力は強くな
る。
<0とすると、エレクトレットcの有る場合と無い場合
の比Fy/Fxは、 {〔(σ2 d2 /ε2 )−V〕d1 /〔(ε1 d2 /ε2 )+d1 〕V}2 ={〔(σ2 d2 /ε2 V)−1〕/〔(ε1 d2 /ε2 d1 )+1〕〕}2 であるから、σ2 <0、V>0とすると、 1− (σ2 d2 /ε2 V)>(ε1 d2 /ε2 d1 )+1 であるから、故に、V<−σ2 d1 /ε1 の時、エレク
トレットcを設けた方が電極aに働く静電力は強くな
る。
【0039】例えば、電極間ギャップが30μmでエレ
クトレットcの無い場合のFxと電極間ギャップが50
μmで表面電荷−5×10-4C/m 2、厚み5μm、比
誘電率2のエレクトレットcが有る場合のFyは、駆動
電圧が100Vとして、 Fx=−ε1 ×A×1.1×1013÷2 Fy=−ε1 ×A×2.6×1013÷2 となり、エレクトレットcの有る場合の方が電極間ギャ
ップが大きいにもかかわらず倍以上も力が強いのであ
る。そのため、エレクトレットcの有る場合は前述のよ
うな様々な利点をもつようになる。
クトレットcの無い場合のFxと電極間ギャップが50
μmで表面電荷−5×10-4C/m 2、厚み5μm、比
誘電率2のエレクトレットcが有る場合のFyは、駆動
電圧が100Vとして、 Fx=−ε1 ×A×1.1×1013÷2 Fy=−ε1 ×A×2.6×1013÷2 となり、エレクトレットcの有る場合の方が電極間ギャ
ップが大きいにもかかわらず倍以上も力が強いのであ
る。そのため、エレクトレットcの有る場合は前述のよ
うな様々な利点をもつようになる。
【0040】−実施例3−
図6は、実施例3にかかる静電リレーの要部構成をあら
わす。図7は、実施例3の静電リレーを上方からみた状
態をあらわす。図8は、実施例3の静電リレーの駆動用
回路部まわりをあらわす。この静電リレー1は、図10
に示す駆動用回路部を基体に設けている点で先の実施例
1と異なる。リレー機構部分は、実施例1の場合と同じ
構成であるため説明は省略する。ただ、両基体A,Bの
結合を導電ペーストにより行っているとともに、駆動電
極22が接続端子25を介してフォトダイオードアレイ
101のアノードに接続され、可動板12は絶縁膜21
の窓にコンタクトする接続端子18および固定側基体B
の非駆動電極部分を介してトランジスタ103のエミッ
タに接続されている。
わす。図7は、実施例3の静電リレーを上方からみた状
態をあらわす。図8は、実施例3の静電リレーの駆動用
回路部まわりをあらわす。この静電リレー1は、図10
に示す駆動用回路部を基体に設けている点で先の実施例
1と異なる。リレー機構部分は、実施例1の場合と同じ
構成であるため説明は省略する。ただ、両基体A,Bの
結合を導電ペーストにより行っているとともに、駆動電
極22が接続端子25を介してフォトダイオードアレイ
101のアノードに接続され、可動板12は絶縁膜21
の窓にコンタクトする接続端子18および固定側基体B
の非駆動電極部分を介してトランジスタ103のエミッ
タに接続されている。
【0041】続いて、駆動用回路部の説明を行う。駆動
用回路部は、固定側基体Bの一側を中心に設けられてい
る。この駆動用回路部は、昇圧回路と放電回路を備え
る。昇圧回路は、赤色系の発光ダイオード100とこの
発光ダイオード100の光を受けて起電力を発生する多
数の光電池102・・・が多数個直列接続されたフォト
セルアレイ101とで構成されている。各光電池102
はpin型アモルファスシリコン光電池素子を3つ積層
したタンデム構成であって、このフォトセルアレイでは
30セル接続されている。また、放電回路は、ノーマリ
イオフ型NPNトランジスタ103、抵抗104および
ダイオード(ないしダイオードアレイ)105で構成さ
れている。回路の動作は前述した通りであるため省略す
る。なお、発光ダイオード100は、フォトセルアレイ
101の上に、例えば、透光性絶縁膜を介して積層した
り、空間を隔てて配置したりすることができる。さらに
は、発光ダイオード100だけを外付にするようにして
もよい。この場合は、昇圧回路は一部だけが内蔵という
形になる。
用回路部は、固定側基体Bの一側を中心に設けられてい
る。この駆動用回路部は、昇圧回路と放電回路を備え
る。昇圧回路は、赤色系の発光ダイオード100とこの
発光ダイオード100の光を受けて起電力を発生する多
数の光電池102・・・が多数個直列接続されたフォト
セルアレイ101とで構成されている。各光電池102
はpin型アモルファスシリコン光電池素子を3つ積層
したタンデム構成であって、このフォトセルアレイでは
30セル接続されている。また、放電回路は、ノーマリ
イオフ型NPNトランジスタ103、抵抗104および
ダイオード(ないしダイオードアレイ)105で構成さ
れている。回路の動作は前述した通りであるため省略す
る。なお、発光ダイオード100は、フォトセルアレイ
101の上に、例えば、透光性絶縁膜を介して積層した
り、空間を隔てて配置したりすることができる。さらに
は、発光ダイオード100だけを外付にするようにして
もよい。この場合は、昇圧回路は一部だけが内蔵という
形になる。
【0042】なお、実施例3の静電リレー1の場合、駆
動用回路部の形成工程で同時に駆動電極用の逆導電型不
純物高濃度領域を作り込める。最後に静電リレーの動作
を説明する。実施例1、2の静電リレーの場合は、導入
端子19、25の間に駆動電圧が印加されると、駆動電
圧印加による静電力で可動板12が固定側基体Bに近づ
いて接点2、3が接触する。勿論、静電力が消滅する
と、可動板12が自身のバネ性で元の水平状態に復元す
ることにより固定側基体Bから遠ざかり接点2、3が離
れる。
動用回路部の形成工程で同時に駆動電極用の逆導電型不
純物高濃度領域を作り込める。最後に静電リレーの動作
を説明する。実施例1、2の静電リレーの場合は、導入
端子19、25の間に駆動電圧が印加されると、駆動電
圧印加による静電力で可動板12が固定側基体Bに近づ
いて接点2、3が接触する。勿論、静電力が消滅する
と、可動板12が自身のバネ性で元の水平状態に復元す
ることにより固定側基体Bから遠ざかり接点2、3が離
れる。
【0043】実施例3の静電リレーの場合は、発光ダイ
オード100に信号電圧が印加されると、フォトセルア
レイ101に駆動電圧が発生し、これが可動側基体Aの
可動板12と固定側基体Bの駆動電極22の間に印加さ
れると同時にトランジスタ103がオフになり、駆動電
圧印加による静電力で可動板12が固定側基体Bに近づ
いて接点2、3が接触する。発光ダイオード100に信
号電圧が印加されなくなると、フォトセルアレイ101
での電圧発生が停止するとともにトランジスタ103が
オンになり、蓄積電荷が放電され静電力が消滅し、可動
板12が自身のバネ性で元の水平状態に復元することに
より固定側基体Bから遠ざかり接点2、3が離れる。
オード100に信号電圧が印加されると、フォトセルア
レイ101に駆動電圧が発生し、これが可動側基体Aの
可動板12と固定側基体Bの駆動電極22の間に印加さ
れると同時にトランジスタ103がオフになり、駆動電
圧印加による静電力で可動板12が固定側基体Bに近づ
いて接点2、3が接触する。発光ダイオード100に信
号電圧が印加されなくなると、フォトセルアレイ101
での電圧発生が停止するとともにトランジスタ103が
オンになり、蓄積電荷が放電され静電力が消滅し、可動
板12が自身のバネ性で元の水平状態に復元することに
より固定側基体Bから遠ざかり接点2、3が離れる。
【0044】
【発明の効果】以上に述べたように、請求項1〜6記載
の発明にかかる静電リレーでは、熱衝撃を受けた際の歪
みや応力が小さくなるために熱衝撃に対し強くなり、外
部の電磁界の影響が軽減されるために外的要因による誤
動作が起り難くなっており、さらに、駆動電極間のギャ
ップ精度の向上が図れるため、駆動力を安定させられる
ようになり、大変に実用性が高い。
の発明にかかる静電リレーでは、熱衝撃を受けた際の歪
みや応力が小さくなるために熱衝撃に対し強くなり、外
部の電磁界の影響が軽減されるために外的要因による誤
動作が起り難くなっており、さらに、駆動電極間のギャ
ップ精度の向上が図れるため、駆動力を安定させられる
ようになり、大変に実用性が高い。
【0045】請求項2記載の静電リレーの場合は、熱衝
撃を受けた際の歪みや応力が極めて小さくなるため、熱
衝撃に対し著しく強く、また、駆動用回路部の素子の形
成に基板がそのまま利用でき、駆動回路も含め全体を極
めて小型のものにすることが可能となるという利点があ
る。請求項3記載の静電リレーの場合は、両基体の間は
常に電界がかからない状態が維持されることになるた
め、非常に安定性が高い。
撃を受けた際の歪みや応力が極めて小さくなるため、熱
衝撃に対し著しく強く、また、駆動用回路部の素子の形
成に基板がそのまま利用でき、駆動回路も含め全体を極
めて小型のものにすることが可能となるという利点があ
る。請求項3記載の静電リレーの場合は、両基体の間は
常に電界がかからない状態が維持されることになるた
め、非常に安定性が高い。
【0046】請求項4記載の静電リレーの場合は、不純
物高濃度領域を使う駆動電極の耐圧が高く、より実用性
が高い。請求項5記載の静電リレーの場合は、駆動用回
路部が基体に設けられている分、外付回路の付加が省略
ないし軽減できることから、使いやすいという利点があ
る。
物高濃度領域を使う駆動電極の耐圧が高く、より実用性
が高い。請求項5記載の静電リレーの場合は、駆動用回
路部が基体に設けられている分、外付回路の付加が省略
ないし軽減できることから、使いやすいという利点があ
る。
【0047】請求項6記載の静電リレーの場合は、エレ
クトレットがあって静電力が増すため、その分、駆動電
圧を下げたり、接点ギャップを大きくし接点間耐圧の向
上を図ったりすることができるから、非常に実用性が高
い。
クトレットがあって静電力が増すため、その分、駆動電
圧を下げたり、接点ギャップを大きくし接点間耐圧の向
上を図ったりすることができるから、非常に実用性が高
い。
【図1】実施例1にかかる静電リレーの要部構成をあら
わす断面図である。
わす断面図である。
【図2】実施例1の静電リレーを上方からみた状態をあ
らわす平面図である。
らわす平面図である。
【図3】図2のX−X断面図である。
【図4】実施例2にかかる静電リレーの要部構成をあら
わす断面図である。
わす断面図である。
【図5】実施例2の静電リレーを上方からみた状態をあ
らわす平面図である。
らわす平面図である。
【図6】実施例3にかかる静電リレーの要部構成をあら
わす断面図である。
わす断面図である。
【図7】実施例3の静電リレーを上方からみた状態をあ
らわす平面図である。
らわす平面図である。
【図8】実施例3の静電リレーの駆動用回路部の詳細を
あらわす平面図である。
あらわす平面図である。
【図9】この発明の静電リレーの駆動用回路部の構成例
をあらわすブロック図である。
をあらわすブロック図である。
【図10】この発明の静電リレーの駆動用回路部の具体的
構成例をあらわす回路図である。
構成例をあらわす回路図である。
【図11】静電リレーの駆動電極とエレクトレットまわり
のモデル構成をあらわす概略断面図である。
のモデル構成をあらわす概略断面図である。
【図12】従来の静電リレーをあらわす平面図である。
【図13】従来の静電リレーをあらわす断面図である。
1 静電リレー
2 可動接点
3 固定接点
8 エレクトレット
12 可動部
13 支持部
22 固定側駆動電極(逆導電型不純物高濃度領域)
A 可動側基体
B 固定側基体
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成3年9月11日
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0019
【補正方法】変更
【補正内容】
【0019】駆動回路部は、上記のものに限らない。例
えば、昇圧回路として、n個のダイオードとn個のコン
デンサを直並列接続したチャージポンプ式の回路や薄膜
トランスとダイオードとコンデンサの整流部を組み合わ
せた薄膜トランス型整流昇圧回路などが使える。
えば、昇圧回路として、n個のダイオードとn個のコン
デンサを直並列接続したチャージポンプ式の回路や薄膜
トランスとダイオードとコンデンサの整流部を組み合わ
せた薄膜トランス型整流昇圧回路などが使える。
─────────────────────────────────────────────────────
フロントページの続き
(72)発明者 西村 広海
大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株
式会社内
(72)発明者 笠野 文宏
大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株
式会社内
(72)発明者 粟井 崇善
大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株
式会社内
Claims (6)
- 【請求項1】 可動側基体の裏側に設けられた可動接点
と固定側基体の表側に設けられた固定接点が対面するよ
うにして前記可動側基体と固定側基体とが配置され、前
記可動側基体が裏面に前記可動接点を有する可動部とこ
の可動部を可動接点と固定接点が接離する変位可能に支
持する支持部とを備えており、前記両基体における駆動
電極への駆動電圧印加により発生する静電力で前記可動
部が変位して接点の接離がなされるようになっている静
電リレーにおいて、前記可動側基体と固定側基体とがと
もに導電性材料からなっていて、少なくとも一方の基体
が半導体基板で出来ており、この半導体基板に形成され
た逆導電型不純物高濃度領域が一方の駆動電極となって
いることを特徴とする静電リレー。 - 【請求項2】 可動側基体と固定側基体がシリコン基板
である請求項1記載の静電リレー。 - 【請求項3】 半導体基板の逆導電型不純物高濃度領域
以外の部分と他の基体とが電気的に接続され同電位とな
っている請求項1または2記載の静電リレー。 - 【請求項4】 半導体基板では、駆動電極用の逆導電型
不純物高濃度領域の側方の位置にガードリング領域用の
逆導電型不純物高濃度領域が形成されている請求項1か
ら3までのいずれかに記載の静電リレー。 - 【請求項5】 可動側基体および/または固定側基体に
駆動用回路部が設けられている請求項1から4までのい
ずれかに記載の静電リレー。 - 【請求項6】 可動側駆動電極と固定側駆動電極の間に
静電力を増すためのエレクトレットが設けられている請
求項1から5までのいずれかに記載の静電リレー。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15353691A JPH052976A (ja) | 1991-06-25 | 1991-06-25 | 静電リレー |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15353691A JPH052976A (ja) | 1991-06-25 | 1991-06-25 | 静電リレー |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH052976A true JPH052976A (ja) | 1993-01-08 |
Family
ID=15564664
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15353691A Pending JPH052976A (ja) | 1991-06-25 | 1991-06-25 | 静電リレー |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH052976A (ja) |
Cited By (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1174717A (ja) * | 1997-06-23 | 1999-03-16 | Nec Corp | フェーズドアレーアンテナ装置 |
| US6232919B1 (en) | 1997-06-23 | 2001-05-15 | Nec Corporation | Phased-array antenna apparatus |
| US6433657B1 (en) | 1998-11-04 | 2002-08-13 | Nec Corporation | Micromachine MEMS switch |
| US6486425B2 (en) * | 1998-11-26 | 2002-11-26 | Omron Corporation | Electrostatic microrelay |
| WO2008010436A1 (en) * | 2006-07-19 | 2008-01-24 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Electrostatic actuator and method for manufacturing same |
| JP2008221464A (ja) * | 2007-03-08 | 2008-09-25 | Brother Ind Ltd | 駆動装置及び液滴吐出装置 |
| US7439547B2 (en) | 2002-07-15 | 2008-10-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Micro electro mechanical system apparatus |
| JP2010220442A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Toshiba Corp | 昇圧回路 |
| US8441773B2 (en) | 2006-09-27 | 2013-05-14 | Nikon Corporation | Electronic element, variable capacitor, micro switch, method for driving micro switch, and MEMS type electronic element |
| WO2013069333A1 (ja) * | 2011-11-08 | 2013-05-16 | 株式会社村田製作所 | 可変容量装置 |
-
1991
- 1991-06-25 JP JP15353691A patent/JPH052976A/ja active Pending
Cited By (13)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6232919B1 (en) | 1997-06-23 | 2001-05-15 | Nec Corporation | Phased-array antenna apparatus |
| US6492943B1 (en) * | 1997-06-23 | 2002-12-10 | Nec Corporation | Phased-array antenna apparatus |
| JPH1174717A (ja) * | 1997-06-23 | 1999-03-16 | Nec Corp | フェーズドアレーアンテナ装置 |
| US6433657B1 (en) | 1998-11-04 | 2002-08-13 | Nec Corporation | Micromachine MEMS switch |
| US6486425B2 (en) * | 1998-11-26 | 2002-11-26 | Omron Corporation | Electrostatic microrelay |
| US7439547B2 (en) | 2002-07-15 | 2008-10-21 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Micro electro mechanical system apparatus |
| WO2008010436A1 (en) * | 2006-07-19 | 2008-01-24 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Electrostatic actuator and method for manufacturing same |
| US8441773B2 (en) | 2006-09-27 | 2013-05-14 | Nikon Corporation | Electronic element, variable capacitor, micro switch, method for driving micro switch, and MEMS type electronic element |
| US9036327B2 (en) | 2006-09-27 | 2015-05-19 | Nikon Corporation | Electronic element, variable capacitor, micro switch, method for driving micro switch, and MEMS type electronic element |
| JP2008221464A (ja) * | 2007-03-08 | 2008-09-25 | Brother Ind Ltd | 駆動装置及び液滴吐出装置 |
| JP2010220442A (ja) * | 2009-03-18 | 2010-09-30 | Toshiba Corp | 昇圧回路 |
| WO2013069333A1 (ja) * | 2011-11-08 | 2013-05-16 | 株式会社村田製作所 | 可変容量装置 |
| US9087929B2 (en) | 2011-11-08 | 2015-07-21 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Variable capacitance device |
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