JPH0531082B2 - - Google Patents

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JPH0531082B2
JPH0531082B2 JP13479083A JP13479083A JPH0531082B2 JP H0531082 B2 JPH0531082 B2 JP H0531082B2 JP 13479083 A JP13479083 A JP 13479083A JP 13479083 A JP13479083 A JP 13479083A JP H0531082 B2 JPH0531082 B2 JP H0531082B2
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JP
Japan
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workpiece
measuring
roller groove
roller
contact
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JP13479083A
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JPS6027803A (ja
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Shigenobu Nishizawa
Katsuhiro Ogawa
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Anritsu Corp
Original Assignee
Anritsu Corp
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Publication date
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Publication of JPS6027803A publication Critical patent/JPS6027803A/ja
Publication of JPH0531082B2 publication Critical patent/JPH0531082B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/02Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring length, width or thickness
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B5/00Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques
    • G01B5/14Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures
    • G01B5/16Measuring arrangements characterised by the use of mechanical techniques for measuring distance or clearance between spaced objects or spaced apertures between a succession of regularly spaced objects or regularly spaced apertures

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • A Measuring Device Byusing Mechanical Method (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明はその内周面あるいは外周面にローラ
溝が形成されたワークのローラ溝寸法、このロー
ラ溝の割り出し角度およびローラ溝のピツチ・サ
ークル・ダイヤメータ(PCD)などの各寸法を
測定するワーク測定装置に関する。
前輪駆動車などのユニバーサルジヨイントに用
いられハウジングシヤフト(以下これをワークと
称する)は第1図の斜視図に示すように、円棒状
のシヤフト部1とカツプ状のジヨイント部2とを
有するものであり、このカツプ部2の内周面には
このワーク3に連結される他方のシヤフト側のロ
ーラ(図示略)が嵌め込み得るように3つのロー
ラ溝4,5,6が等間隔に形成されている。
ところでこのようなワーク3はその構造上各ロ
ーラ溝4〜6を精度良く仕上げる必要があるが、
従来のワーク測定装置は第2図に示すようにワー
ク3のローラ溝端4cに測定子の一端を当接さ
せ、このローラ溝端4cから所定距離L4だけ中
心側に位置する部分でローラ溝面4a,4bの間
隔L2を測定して、この時の値をローラ溝4の最
大幅としていたので、鋳造したワークなどのよう
にローラ溝端4cの精度が良くない時にはローラ
溝4の最大幅測定に誤差が生じるという不都合が
あつた。またこのような従来のワーク測定装置は
ワーク3のローラ溝4,5,6の各最大幅を測定
するのみで、各ローラ溝4〜6の相互角度(割り
出し角度)θ1,θ2,θ3を測定したり、ワーク3の
中心軸7と各ローラ溝4〜6の最大幅位置P4
P5,P6との距離を2倍した値(ピツチ・サーク
ル・ダイヤメータ)CX,CY,CZを測定したり
することができずローラ溝4〜6の寸法を総合的
に測定することができなかつた。
この発明は上記の事情に鑑み、その内周面また
は外周面にローラ溝を有するワークのローラ溝寸
法、割り出し角度、ピツチ・サークル・ダイヤメ
ータなどの各寸法を測定することができるととも
に、この時ワークが予め決められた位置から扁心
して固定された場合にもこの扁心量に応じてその
各測定値を補正して高い測定精度を確保すること
ができるワーク測定装置を提供することを目的と
するものである。
上記目的を達成するため、本発明のワーク測定
装置は、内周面あるいは外周面にローラ溝が形成
されたワークを固定するとともに、該ワークに測
定子を当接させて該ワークの所望箇所の寸法を測
定するワーク測定装置において; 第1の発明では、前記ワークを所望位置に固定
する基準位置決め機構と:この基準位置決め機構
によつて固定された前記ワークのローラ溝の壁面
に測定子を当接させるとともに、該測定子を前記
壁面に沿つて移動させて前記ローラ溝の壁面間隔
を検出する測定機構と:この測定機構によつて得
られた前記壁面間隔から前記ローラ溝の溝中心を
求め、前記ワークの基準位置から前記溝中心の方
向までの割り出し角度を演算する割り出し角度演
算手段とを具備したことを特徴としている。
また、第2の発明では、前記ワークを所望位置
に固定する基準位置決め機構と;この基準位置決
め機構によつて固定された前記ワークのローラ溝
の壁面に測定子を当接させるとともに、該測定子
を前記壁面に沿つて移動させて前記ローラ溝の壁
面間隔およびこのときにおける前記測定子の測定
位置を検出する測定機構と:この測定機構によつ
て得られた前記壁面間隔から前記ローラ溝の最大
幅を求める演算手段と:該最大幅に対応する前記
測定子の測定位置から前記ローラ溝の最大幅位置
と前記ワークの中心位置との間隔を求める寸法演
算手段とを具備したことを特徴とする。
また、第3の発明では、前記ワークをクランプ
するとともに、この時におけるワークの位置と予
め設定されている基準位置との間の偏心量を測定
する固定・測定機構と:この固定・測定機構によ
つてクランプされた前記ワークのローラ溝の壁面
に測定子を当接させるとともに、該測定子を前記
壁面に沿つて移動させて前記ローラ溝の壁面間隔
およびこのときの前記測定子の測定位置を検出す
る測定機構と:この測定機構によつて得られた前
記壁面間隔および前記測定位置から基準方向に対
する前記ローラ溝の割り出し角度あるいは前記ロ
ーラ溝の最大幅位置と前記ワークの中心位置との
間隔の少なくともいずれか一方を求める演算手段
と:前記固定・測定機構によつて得られた偏心量
に基づいて前記割り出し角度あるいは前記間隔の
少なくともいずれか一方を補正して前記偏心量に
起因する誤差を補償する補正演算手段とを具備し
たことを特徴としている。
以下この発明を図面に示す実施例にしたがつて
説明する。
第3図はこの発明によるワーク測定装置の一実
施例を示す斜視図である。この図において、10
はこのワーク測定装置11の基台であり、この基
台10の中央にはワークリフタ12が設けられて
いる。ワークリフタ12は第4図の断面図に示す
ように、前記基台10の上板10aに形成された
貫通孔13に嵌入されたシヤフト受け14と、こ
のシヤフト受け14に上下動自在に支持されるシ
ヤフト15と、前記シヤフト受け14に取り付け
られたフレーム16に固定される第1のアクチユ
エータ17と、前記シヤフト15の上端に固定さ
れる基板18と、ベアリング19によつて前記基
板18に回転自在に垂設されるワーク受け20
と、前記基板18の一端に固定され、ギヤ21,
22を介して前記ワーク受け20を軸線23を中
心に回転させてこのワーク受け20に載置された
ワーク24を回転させるモータ25とを有するも
のであり、前記第1のアクチユエータ17を付勢
してその軸26を突出させれば、ジヨイント27
を介してこの軸26に接続された前記基板18が
シヤフト15とともに上方に移動し、この基台1
8のワーク受け20によつて載置されたワーク2
4が所定位置まで持ち上げられる。そしてこの場
合、モータ25を付勢してワーク受け20を回転
させれば、これに応じてワーク24が軸線23に
沿つて回転し、ワークのローラ溝が所定方向に向
くようにセツトしなおすことができる。
また、第3図に示すように前記基台10の上板
10aの後部には支持部30が垂設され、この支
持部30の上部30aと中央部30bとに各々設
けられた前方に延びる支持板31,32によつて
測定部33が支持されている。測定部33は第5
図aの一部裁断正面図および同図bの一部裁断側
面図に示すようにその上部側に前記支持板31上
に前記ワークリフタ12の軸線23と同心的に設
けられるボス34と、このボス34に上下動自在
に支持される中空軸35と、この中空軸35内に
これとスライド自在に設けられるセンタ軸36
と、前記ボス34の外周面に固定されるフレーム
37と、このフレーム37の中央付近に設けられ
た支持板38に固定されるとともにその軸39が
前記センタ軸36の上端に接続された第2のアク
チユエータ40と、前記支持板38に上下動自在
に支持されるとともにその下端が前記中空軸35
の上端に接続されたスライド支持部41と、前記
フレーム37の上端に設けられる支持板42と、
この支持板42上に固定されるとともにその軸4
3が前記スライド支持部41の上端に接続される
第3のアクチユエータ44とを有するリフタ45
が設けられたものであり、このリフタ45の下端
には測定部33の主要部となる寸法検出部46が
形成されている。寸法検出部46は第6図aの正
面図、同図bの右側面図、同図cの左側面図に示
すように、前記支持板31を貫通して下方に突出
した前記中空軸35が貫通固定されるスライド基
板47と、このスライド基板47の下面に取り付
けられる測定子群48と、前記支持板32の下面
に設けられるワーク固定機構49とを有して構成
されるものであり、前記ワークリフタ12によつ
て所定の高さまで持ち上げられたワーク24はワ
ーク固定機構49によつて固定されるとともに、
前記軸線23に対する偏心量が測定され、この後
前記測定子群48によつてワーク24内の各ロー
ル溝50,51,52(第7図参照)の寸法が測
定される。以下これらスライド基板47、測定子
群48、固定機構49をさらに詳述する。
まず、スライド基板47は第3図および第6図
a,b,cに示すように横断面三角形状の板状部
材53と、この板状部材53の下面に該板状部材
53の各辺から突出するように取り付けられた補
助部材54,55,56とを有して構成されるも
のであり、これらの補助部材54〜56の下部に
各々形成された軸取付け部57〜59には測定子
群48の各揺動アーム60〜62が軸支されてい
る。これら揺動アーム60〜62のうちの1つで
ある揺動アーム60は第7図の斜視図に示すよう
に前記軸取付け部57の軸61に軸支される縦断
面コ字状の回動部材62と、この回動部材62の
前面に取り付けられる駆動アーム63と、このア
ーム63の中央付近に設けられる突起64と、前
記駆動アーム63を上方に付勢するバネ軸28
と、該駆動アーム63の前端位置を検出する検出
器29と、前記回動部材62の下端側に軸65,
66によつて各々横方向に揺動自在に支持される
第1、第2の測定子67,68と、これら第1、
第2の測定子67,68の間に設けられる圧縮バ
ネ69と、前記回動部材62の前端側両側部から
横方向に長くに形成された水平アーム70,71
と、これらの水平アーム70,71の先端側に取
り付けられる第1、第2の垂直アーム72,73
と、これらの垂直アーム72,73の下端に取り
付けられ前記第1、第2の測定子67,68の横
方向の揺動量を検出する検出器74,75と、前
記第1、第2の測定子67,68の外側面に設け
られる突起ローラ76,77とを有して構成され
るものであり、前記測定子67,68の下端外側
部にある当接子78,79をワーク24のローラ
溝50の内壁50a,50bに当接させてこれら
の測定子67,68を前後方向(矢印A,B方
向)に揺動させれば、前記ロール溝50の内壁5
0a,50bの間隔に応じた信号が前記検出器7
4,75から出力される。すなわち、測定子6
7,68の突起ローラ76,77を両側から圧し
てこれら測定子67,68の下端側を閉じた状態
で、これら測定子67,68の下端をワーク24
のローラ溝50に挿通した後に、前記突起ローラ
76,77の押圧力を解除すれば、圧縮バネ69
によつて測定子67,68の下端側が広げられ、
これら測定子67,68の当接子78,79がロ
ーラ溝50の各内壁50a,50bに各々当接す
る。したがつてこの後、前記駆動アーム63の前
端側を上下させて前記測定子67,68の下端側
をローラ溝50内を前後に移動させれば、内壁5
0a,50bの面形状に応じて測定子67,68
が横方向に揺動し、検出器74,75からこの時
の揺動量に応じた信号が出力される。
また、前記揺動アーム61,62も上述した揺
動アーム60と同様に構成されるものであり、前
記揺動アーム60を前記ワーク24のローラ溝5
0に挿通した時に揺動アーム61の測定子23
0,231の下端がローラ溝51に、また揺動ア
ーム62の測定子232,233の下端がローラ
溝52に挿通されるような配置で前記スライド基
板47に取り付けられている。
一方、前記スライド基板47の板状部材53に
は第6図a,b,cに示すように前記各揺動アー
ム60〜62を構成している各測定子67,6
8,230,231,232,233の突起ロー
ラ76,77,234,235,236,237
を押圧するスクリユ機構80が設けられている。
スクリユ機構80は前記板状部材53の頂点部分
に設けられるスクリユ軸受け81,82,83
と、これらのスクリユ軸受け81〜83に各々装
着されるスクリユ軸84,85,86と、これら
のスクリユ軸84〜86の各下端に各々取り付け
られる円すい台形のテーパ部87,88,89
と、前記スクリユ軸84〜86の各上端に各々取
り付けられるスプロケツト90,91,92と、
これらのスプロケツト90〜92間に張設される
チエーン93と、接続金具94を介して前記スク
リユ軸86に接続される第4のアクチユエータ9
5とを有して構成されるものであり、前記第4の
アクチユエータ95によつてスクリユ軸86を下
方に押圧すれば、このスクリユ軸86が回転しな
がら下方に移動するとともに、この時の回転がチ
エーン93によつて他のスクリユ軸84,85に
伝達され、これらのスクリユ軸84〜86が連動
して下方に移動する。そしてこの場合、スクリユ
軸84には、リング96が取り付けられ、前記ス
クリユ軸84〜86を押し下げる時には第1の近
接センサ97がこのリング96を検出した時、す
なわち各テーパ部87〜89が各突起ローラ7
6,77,234〜237を押圧した時に前記第
4のアクチユエータ95が消勢され、また前記ス
クリユ軸84〜86を引き上げる時にはスクリユ
軸86に取り付けられているリング98を第2の
近接センサ99が検出した時すなわち各テーパ部
87〜89が各突起ローラ76,77,234〜
237を押圧しなくなつた時に前記第4のアクチ
ユエータ95が消勢される。
他方、前記スライド基板47の補助部材54〜
56の突出部分には前記各測定子67,68,2
30,231,232,233をワーク24のロ
ーラ溝50,51,52(第7図参照)に当接摺
動させるための駆動機構100が設けられてい
る。駆動機構100は前記補助部材54〜56に
上下に貫通するように嵌入されるベアリング軸受
け104,105,106と、前記補助部材54
〜56の上下に突出するようにして前記各ベアリ
ング軸受け104〜106に各々装着される回転
軸107,108,109と、これらの各回転軸
107〜109の下端に取り付けられるテーパカ
ム110,111,112と、該各回転軸107
〜109の上端に取り付けられるスプロケツト1
13,114,115と、これらのスプロケツト
113〜115の間に張設されるチエーン116
と、ギヤ117,118を介して前記回転軸10
7を回転駆動するモータ119とを有して構成さ
れるものであり、前記モータ119を付勢して回
転軸107を回転させれば、この回転力がチエー
ン116を介して他の回転軸108,109に伝
達され、これらの回転軸107〜108の下端に
取り付けられたテーパカム110〜112で前記
各測定子67,68,230〜233の駆動アー
ム63,240,241に取り付けられた突起6
4,242,243を介して各測定子67,6
8,230〜233が各々対応する軸61,24
4,245を中心に揺動する。そしてこの場合、
前記各駆動アーム63,240,241に当接す
る各検出器29,183,189によつて対応す
る各測定子67,68,230〜233の揺動
量、すなわち各測定子67,68,230〜23
3の当接子78,79,250,251,25
2,253の位置が検出される。
このように、各揺動アーム60〜62、スクリ
ユ機構80、駆動機構100によつて構成される
測定子群48によつて、ワークリフタ12で所定
の高さまで持ち上げられたワーク24の各ローラ
溝50,51,52の各壁面間隔が中心軸側から
ローラ溝端50c,51c,52c側に(または
ローラ溝端50c,51c,52c側から中心軸
側に)連続して測定されるとともに、この時にお
ける各測定子67,68,230〜233の当接
子78,79,250,251,252,253
が当接している部分の位置が連続して測定され
る。
また、前記固定機構49は第6図a,b,cに
示すように前記支持板32の下面に取り付けられ
るスクロールチヤツク135と、このスクロール
チヤツク135の下面に前記ワーク24のローラ
溝位置に対応して設けられる固定クランプ部13
6,137、可動クランプ部138と、該固定ク
ランプ部136,137を構成しているスライド
部材151,152に各々取り付けられた各固定
クランプアーム139,140の下端側外面およ
び内面に各々設けられる当接子141〜144,
145〜148と、前記可動クランプ部138を
構成しているスライド部材149に軸支される可
動クランプアーム150と、該スライド部材14
9に取り付けられ前記可動クランプアーム150
を揺動させる第5のアクチユエータ153と、こ
の時の揺動量を検出して前記可動クランプアーム
150の下端位置を検出する検出器154と、前
記可動クランプアーム150の下端側外面および
内面に設けられる当接子155,156とを有し
て構成されるものであり、前記支持板32および
スクロールチヤツク135を貫通して下方に延び
る前記測定子67,68,230〜233の各下
端部分は第8図の斜視図に示すように各固定クラ
ンプアーム139,140および可動クランプア
ーム150の両側部に各々配置される。そしてこ
の場合、スクロールチヤツク135によつて各ス
ライド部材149,151,152を半径方向に
移動し得るようになつているので、このスクロー
ルチヤツク135を調整して固定クランプアーム
139,140および可動クランプアーム150
の各外面位置をワーク24のローラ溝50,5
1,52のロール溝端位置に合うようにした後
に、第5のアクチユエータ153を付勢して可動
クランプアーム150の下端側を外側に回動させ
れば、固定クランプアーム139,140および
可動クランプアーム150の各当接子141〜1
44,155がワーク24の対応するローラ溝端
50c,51c,52cに各々当接してワーク2
4が3点固定される。またこの場合、スクロール
チヤツク135によつて設定された固定クランプ
アーム139,140、可動クランプアーム15
0の各位置がワーク24の内径と一致していない
時には第9図の平面図に示すようにワーク24の
中心線160と前記軸線23とがずれるが、この
時の扁心距離δは可動クランプアーム150にお
ける下端側の揺動距離dとして検出器154で検
出される。
一方、このようなクランプ機構を用いてワーク
24を固定する場合の他に第6図a,b,cに示
すようにワーク24の内側にセンタ溝24aがあ
る場合には前記第2のアクチユエータ40(第5
図a,b参照)を付勢してセンタ軸36を下方に
突出させ、このセンタ軸36の下端を前記センタ
溝24aに嵌合させてこのセンタ軸36および前
記ワークリフタ12のセンタ軸160(第4図参
照)によつてワーク24を固定しても良い。なお
この場合、ワーク24の中心線が前記軸線23と
常に一致するからその扁心距離は常に零である。
また第3図に示すように前記支持部30の下部
から所定高さの部分には零セツト機構161が設
けられている。零セツト機構161は前記支持部
30の前面板162に水平に取り付けられたガイ
ドレール163と、このガイドレール163にス
ライド自在に装着された基準ワーク載置台164
と、この基準ワーク載置台164を横方向に移動
させて基準ワーク載置台164に載せられた基準
ワーク165を前記測定子6768,230〜2
33の下端側にセツトさせる第6のアクチユエー
タ166とを有するものであり、前記測定子6
7,68,230〜233の位置にセツトされた
基準ワーク165のロール溝データは測定子群4
8によつて測定され、この測定結果が記憶され
て、これ以後測定されるワークのデータと前記基
準ワーク165のデータとが比較され、この比較
結果でワークの良否が容易に判別される。
次のこの実施例の回路構成例を図面にしたがつ
て説明する。
第10図は上述した測定子群48の各検出器2
9,74,75,181,182,183,18
7,188,189および固定機構49の検出器
195の出力を処理する回路の一例を示すブロツ
ク図である。この図において、74,75は前記
揺動アーム60に設けられている溝幅測定用の検
出器であり、これらの検出器74,75によつて
得られた信号drx,dxは対応するアンプ17
0,171を介して第1、第2のピークホールド
回路172,173に各々供給されてそのピーク
値が保持され、これらのピーク値に対応した信号
rx,xがアナログ演算回路174に供給され
るとともに、第1の加算回路175に供給され、
ここでこれらの信号rx,xが加算され、この
加算結果(信号x)がコンパレータ回路176に
供給される。また前記検出器74,75の出力は
第2の加算回路177にも供給され、ここで加算
されて前記コンパレータ回路176に供給され
る。コンパレータ回路176は前記揺動アームが
前進動作(ピーク値検出動作)を終了して戻り動
作(ロール溝幅測定動作)になつた時に、前記第
1、第2の加算回路175,177の出力を比較
するものであり、この比較動作期間中において第
2の加算回路177の出力が第1の加算回路17
5の出力の90%となつた時、すなわち測定子6
7,68の当接子78,79(第7図参照)が第
11図の平面図に示す位置P1,P2に来た時に信
号S1,S2を各々出力して各サンプルホールド
回路178,179に供給する。サンプルホール
ド回路178,179はアンプ213を介して前
記揺動アーム60に設けられている測定位置検出
用の検出器29の出力(信号dpx)が供給される
ものであり、前記信号S1,S2に各々同期して
前記信号dxpをサンプリングし、これらのサンプ
リング結果(信号dpx1,dpx2)を第3の加算回
路180に供給する。第3の加算回路180は前
記信号dpx1,dpx2を加算した後に、この加算結
果を2で除算して信号Px(Px=dpx1+dpx2/2)
を求めるものであり、この信号Pxを前記アナロ
グ演算回路174に供給する。また、181,1
82は前記揺動アーム61に設けられる溝幅測定
用の検出器であり、これらの検出器181,18
2の出力(信号dry,dy)および前記揺動ア
ーム61に設けられた測定位置検出用の検出器1
83の出力(信号dpy)は各々対応するアンプ1
84,185,186で増幅された後に前記第1
のピークホールド回路172、第2のピークホー
ルド回路173、第1の加算回路175〜第3の
加算回路180によつて上述した各検出器74,
75,29の出力と同様に処理され、この処理結
果である信号ry,y,pyは前記アナログ演算
回路174に供給される。また、前記揺動アーム
62の溝幅測定用検出器187,188が出力す
る信号drz,dzおよび前記揺動アーム62の
測定位置検出用検出器189が出力する信号dpz
も各々対応するアンプ190,191,192で
増幅された後に、上述した処理と同様に処理さ
れ、この処理結果(信号rz,z,pz)は前記ア
ナログ演算回路174に供給される。
また、195は前記可動アーム150(第8図
参照)に設けられるワークの扁心距離測定用の検
出器であり、ワーク24をクランプする時、すな
わち前記各検出器74,75,29,181,1
82,183,187,188,189が動作す
る時に信号dを出力するとともに、これをアンプ
196を介して前記アナログ演算回路174に供
給する。アナログ演算回路174は、次式に示す
アナログ演算、 AX=rx+x AY=ry+y AZ=rz+z ……(1) を行なつて前記各信号rx,x,px〜rz,z,
pzおよび信号dから第11図に示すようにワー
ク24のローラ溝寸法AX,AY,AZ、割り出し
角BX,BY,BZ,PCD(ピツチ・サークル・ダ
イヤメータ)CX,CY,CZを求めるとともに、
図示せぬ切換器によつて選択されているローラ溝
に対応した信号dr,de,dpおよび扁心距離に対
応した信号dを選び出すものであり、前記切換器
によつて例えば揺動アーム60によつて測定され
たローラ溝の信号が選択されている時には前記信
号dr,de,dpとして信号rx,x,pxを選び出
すとともに、信号dを選んでA/D変換回路(ア
ナログ/デジタル変換回路)201に供給する一
方、前記ローラ溝寸法AX〜AZ、割り出し角BX
〜BZ,PCD CX〜CZを零セツト回路200に供
給する。零セツト回路200はマスター値記憶回
路202に予め記憶されている基準ワークに対応
した基準のローラ溝寸法AX0〜AZ0、基準の割り
出し角BX0〜BZ0、基準のPCD CX0〜CZ0を基準
として前記ロール溝寸法AX〜AZ、割り出し角
BX〜BZ,PCD CX〜CZの偏差量を求めるもの
であり、これらの各扁差量であるロール溝偏差
AX−AX0〜AZ−AZ0、割り出し角偏差BX−
BX0〜BZ−BZ0,PCD偏差CX−CX0〜CZ−CZ0
は前記A/D変換回路201に供給される。A/
D変換回路201はCPU(マイクロプロセツサ)
203からの変換命令に応じて前記各信号および
各偏差をA/D変換するものであり、この変換結
果(データ)はバスライン204上に送出され
る。CPU203はバスライン204上のこれら
の各データを取り込むとともに、これらが適正な
値か否かを判別するとともに、この判別結果に基
づいて装置各部を制御し、また該判別結果をアウ
トプツトインターフエース205を介してランプ
群206に供給して表示させるとともに、供給し
てこここれらの判別結果および各測定値データを
シリアルI/O(シリアル入出力回路)207を
介してキーボード/プリンタ208に供給し、こ
こでプリントアウトさせる。またCPU203は
前記各検出器74,75,〜188,189によ
つて測定されるワークが基準ワークである場合に
はこの時得られた新たな基準ローラ溝寸法AX0
〜AZ0、基準割り出し角BX0〜BZ0、基準PCD
CX0〜CZ0をアウトプツトインターフエース20
9を介して表示装置210に供給してこれらの各
値を表示させるとともに、前記マスター値記憶回
路202のラツチ回路211に供給して基準デー
タを更新させる。そしてこの新たな基準データは
D/A変換回路(デジタル/アナログ変換回路)
212でD/A変換され、この変換結果が前記零
セツト回路200に供給される。
このようにこの回路においては、ワーク24の
偏心量に対応する信号dに応じて各検出器74,
75〜188,189の出力を補正するようにし
ているので、ワーク24が偏心してクランプされ
た時にも高い測定精度を確保することができると
ともに、各検出器74,75〜188,189,
195の出力を演算処理してロール溝の寸法のみ
ならず、割り出し角およびPCDを求めるように
しているので、ワークの良否をより正確に判別す
ることができる。なおこの場合、センタ軸36に
よつてワークを固定する時には前記(1)式〜(3)式の
dは零にされて演算処理が行なわれる。
また上述した実施例においては、アナログ演算
回路174で前記(1)式〜(3)式に示す演算を行なつ
てローラ溝寸法AX,AY,AZ、割り出し角BX,
BY,BZ,PCD CX,CY,CZを求めているがこ
れをCPU203で求めるようにしても良い。
以上説明したようにこの発明によるワーク測定
装置は、ワークを位置決めした後に、該ワークの
ローラ溝壁面に測定子を当接させるとともに、該
測定子を前記ローラ溝壁面に沿つて移動させて前
記ローラ溝の壁面間隔および必要に応じてこの時
における前記測定子の測定位置を検出し、これら
の検出結果から基準方向に対する前記ローラ溝の
割り出し角度あるいは該ローラ溝のPCDを求め
るようにしたので、ワークのローラ溝端位置が正
確でない場合においてもワークのローラ溝寸法、
割り出し角度、PCDなどの各寸法を正確に測定
することができる。そしてこの場合、ワークが偏
心してセツトされても、この時の偏心距離に応じ
て各演算値が補正されるようにしたので、ワーク
の径が変わつた場合などにおいても高い測定精度
を確保することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はワークの一例を示す斜視図、第2図は
従来のワーク測定装置を説明するための図、第3
図はこの発明によるワーク測定装置の一実施例を
示す斜視図、第4図は同実施例のワークリフタ1
2の詳細を示す断面図、第5図a,bは各々同実
施例のリフタ45の詳細を示す正面図および一部
裁断右側面図、第6図a,b,cは各々同実施例
の寸法検出部46の詳細を示す正面図、右側面
図、左側面図、第7図は同実施例の揺動アーム6
0の詳細を示す斜視図、第8図は同実施例のクラ
ンプ機構部分の詳細を示す斜視図、第9図は同ク
ランプ機構部分の平面図、第10図は同実施例の
回路構成例を示すブロツク図、第11図はこのブ
ロツク図を説明するための図である。 24……ワーク、33……測定部(測定機構)、
36,160……センタ軸(基準位置決め機構)、
49……固定機構(固定・測定機構)、50,5
1,52……ローラ溝、50a,50b,51
a,51b,52a,52b……壁面、67,6
8,230,231,232,233……測定
子、174……アナログ演算回路(演算手段、角
度演算手段、寸法演算手段、補正手段)。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 内周面あるいは外周面にローラ溝が形成され
    たワークを固定するとともに、該ワークに測定子
    を当接させて該ワークの所望箇所の寸法を測定す
    るワーク測定装置において;前記ワークを所望位
    置に固定する基準位置決め機構と:この基準位置
    決め機構によつて固定された前記ワークのローラ
    溝の壁面に測定子を当接させるとともに、該測定
    子を前記壁面に沿つて移動させて前記ローラ溝の
    壁面間隔を検出する測定機構と:この測定機構に
    よつて得られた前記壁面間隔から前記ローラ溝の
    溝中心を求め、前記ワークの基準位置から前記溝
    中心の方向までの割り出し角度を演算する割り出
    し角度演算手段とを具備したことを特徴とするワ
    ーク測定装置。 2 内周面あるいは外周面にローラ溝が形成され
    たワークを固定するとともに、該ワークに測定子
    を当接させて該ワークの所望箇所の寸法を測定す
    るワーク測定装置において;前記ワークを所望位
    置に固定する基準位置決め機構と;この基準位置
    決め機構によつて固定された前記ワークのローラ
    溝の壁面に測定子を当接させるとともに、該測定
    子を前記壁面に沿つて移動させて前記ローラ溝の
    壁面間隔およびこのときにおける前記測定子の測
    定位置を検出する測定機構と:この測定機構によ
    つて得られた前記壁面間隔から前記ローラ溝の最
    大幅を求める演算手段と:該最大幅に対応する前
    記測定子の測定位置から前記ローラ溝の最大幅位
    置と前記ワークの中心位置との間隔を求める寸法
    演算手段とを具備したことを特徴とするワーク測
    定装置。 3 内周面あるいは外周面にローラ溝が形成され
    たワークを固定するとともに、該ワークに測定子
    を当接させて該ワークの所望箇所の寸法を測定す
    るワーク測定装置において;前記ワークをクラン
    プするとともに、この時におけるワークの位置と
    予め設定されている基準位置との間の偏心量を測
    定する固定・測定機構と:この固定・測定機構に
    よつてクランプされた前記ワークのローラ溝の壁
    面に測定子を当接させるとともに、該測定子を前
    記壁面に沿つて移動させて前記ローラ溝の壁面間
    隔およびこのときの前記測定子の測定位置を検出
    する測定機構と:この測定機構によつて得られた
    前記壁面間隔および前記測定位置から基準方向に
    対する前記ローラ溝の割り出し角度あるいは前記
    ローラ溝の最大幅位置と前記ワークの中心位置と
    の間隔の少なくともいずれか一方を求める演算手
    段と:前記固定・測定機構によつて得られた偏心
    量に基づいて前記割り出し角度あるいは前記間隔
    の少なくともいずれか一方を補正して前記偏心量
    に起因する誤差を補償する補正演算手段とを具備
    したことを特徴とするワーク測定装置。
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