JPH053110A - ヒユーズ抵抗器のトリミング方法 - Google Patents
ヒユーズ抵抗器のトリミング方法Info
- Publication number
- JPH053110A JPH053110A JP3180117A JP18011791A JPH053110A JP H053110 A JPH053110 A JP H053110A JP 3180117 A JP3180117 A JP 3180117A JP 18011791 A JP18011791 A JP 18011791A JP H053110 A JPH053110 A JP H053110A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- film
- fuse resistor
- resistance film
- resistor
- heat
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000009966 trimming Methods 0.000 title claims abstract description 21
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 17
- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 claims description 45
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims description 15
- 230000035939 shock Effects 0.000 claims description 7
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 13
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 4
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 4
- KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N Ruthenium Chemical compound [Ru] KJTLSVCANCCWHF-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 3
- 229910052707 ruthenium Inorganic materials 0.000 description 3
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N aluminium oxide Inorganic materials [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 229910052797 bismuth Inorganic materials 0.000 description 2
- JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N bismuth atom Chemical compound [Bi] JCXGWMGPZLAOME-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 239000005388 borosilicate glass Substances 0.000 description 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 2
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 2
- 229910052839 forsterite Inorganic materials 0.000 description 2
- HCWCAKKEBCNQJP-UHFFFAOYSA-N magnesium orthosilicate Chemical compound [Mg+2].[Mg+2].[O-][Si]([O-])([O-])[O-] HCWCAKKEBCNQJP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 230000001681 protective effect Effects 0.000 description 2
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 2
- 229910000978 Pb alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- 229910001128 Sn alloy Inorganic materials 0.000 description 1
- ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N Tin Chemical compound [Sn] ATJFFYVFTNAWJD-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 description 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 description 1
- 239000000470 constituent Substances 0.000 description 1
- 238000000151 deposition Methods 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000001939 inductive effect Effects 0.000 description 1
Landscapes
- Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 発熱抵抗膜の抵抗値を正確に設定することが
できるとともに、サージの如き瞬時の過大電圧をそのま
ま通じることができ焼損する虞れのない優れたヒューズ
抵抗器と成すヒューズ抵抗器のトリミング方法を実現す
る。 【構成】 熱衝撃により砕裂する絶縁基板２に、連続し
た過電流の通電によって熱衝撃を発生する発熱抵抗膜３
を被着し、この発熱抵抗膜３の相対向する一方向の側縁
に１対の取り出し電極４1，４2を接続したヒューズ抵抗
器１において、上記取り出し電極４1，４2間における発
熱抵抗膜３の抵抗値が所望する値となるように、上記発
熱抵抗膜３の相対向する他方向の一側縁の両側部で上記
取り出し電極４1，４2との境界間もしくは境界近傍間の
発熱抵抗膜部分３ａを略コ字形状のスリット７により切
断する。
できるとともに、サージの如き瞬時の過大電圧をそのま
ま通じることができ焼損する虞れのない優れたヒューズ
抵抗器と成すヒューズ抵抗器のトリミング方法を実現す
る。 【構成】 熱衝撃により砕裂する絶縁基板２に、連続し
た過電流の通電によって熱衝撃を発生する発熱抵抗膜３
を被着し、この発熱抵抗膜３の相対向する一方向の側縁
に１対の取り出し電極４1，４2を接続したヒューズ抵抗
器１において、上記取り出し電極４1，４2間における発
熱抵抗膜３の抵抗値が所望する値となるように、上記発
熱抵抗膜３の相対向する他方向の一側縁の両側部で上記
取り出し電極４1，４2との境界間もしくは境界近傍間の
発熱抵抗膜部分３ａを略コ字形状のスリット７により切
断する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、各種機器を通じる過大
電流を遮断して回路構成素子を保護するヒューズ抵抗器
において、その抵抗値を精調整するトリミング方法に関
する。
電流を遮断して回路構成素子を保護するヒューズ抵抗器
において、その抵抗値を精調整するトリミング方法に関
する。
【０００２】
【従来の技術】従来、各種機器における回路構成素子を
過大電圧等から保護する保安機構としては、図２に示す
如き本願出願人によるヒューズ抵抗器１１が提案されて
いる。
過大電圧等から保護する保安機構としては、図２に示す
如き本願出願人によるヒューズ抵抗器１１が提案されて
いる。
【０００３】この従来のヒューズ抵抗器１１は、アルミ
ナ、フォルステライト、ステアタイト等のセラミックか
らなる板厚０．１〜１．０ｍｍの絶縁基板２に対し、そ
の一方面にルテニウム系ペースト等よりなる発熱抵抗膜
３を被着し、この発熱抵抗膜３の相対向する左右の側縁
に、Ａｇ・Ｐｄ系ペースト等の電気的良導体よりなる１
対の取り出し電極４1，４2を被着形成するとともに、こ
の取り出し電極４1，４2を絶縁基板２の下端部分の一側
部に導出して外部端子接続部分４1ａ，４2ａを形成し、
この外部端子接続部分４1ａ，４2ａに外部端子５1，５2
をそれぞれハンダ付け等により固着している。そして、
上記外部端子接続部分４1ａ，４2ａ相互間に位置する絶
縁基板部分に、略半円状の切欠部２ａを形成し、更に外
部端子接続部分４1ａ，４2ａを除く取り出し電極４1，
４2と、発熱抵抗膜３とをホウケイ酸ガラスやビスマス
ガラス等の脱鉛ガラスからなる保護膜６により１０μｍ
〜１００μｍの厚さで被覆している。
ナ、フォルステライト、ステアタイト等のセラミックか
らなる板厚０．１〜１．０ｍｍの絶縁基板２に対し、そ
の一方面にルテニウム系ペースト等よりなる発熱抵抗膜
３を被着し、この発熱抵抗膜３の相対向する左右の側縁
に、Ａｇ・Ｐｄ系ペースト等の電気的良導体よりなる１
対の取り出し電極４1，４2を被着形成するとともに、こ
の取り出し電極４1，４2を絶縁基板２の下端部分の一側
部に導出して外部端子接続部分４1ａ，４2ａを形成し、
この外部端子接続部分４1ａ，４2ａに外部端子５1，５2
をそれぞれハンダ付け等により固着している。そして、
上記外部端子接続部分４1ａ，４2ａ相互間に位置する絶
縁基板部分に、略半円状の切欠部２ａを形成し、更に外
部端子接続部分４1ａ，４2ａを除く取り出し電極４1，
４2と、発熱抵抗膜３とをホウケイ酸ガラスやビスマス
ガラス等の脱鉛ガラスからなる保護膜６により１０μｍ
〜１００μｍの厚さで被覆している。
【０００４】このヒューズ抵抗器１１の外部端子５1，
５2間に連続した過大電圧を印加すると、発熱抵抗膜３
に過電流が流れて急激に発熱して絶縁基板２に熱衝撃を
加えることで切欠部２ａの延長線に沿って絶縁基板２が
縦方向に砕裂する。これにより、絶縁基板２に被着形成
された電流経路である発熱抵抗膜３も縦方向に切断さ
れ、発熱抵抗膜３を流れる過電流が遮断され回路構成素
子が保護される。このヒューズ抵抗器１１は、鉛、錫等
の合金からなるヒューズの如く印加される電流値と印加
時間とによって溶断特性が大きく変化することのない優
れたものである。
５2間に連続した過大電圧を印加すると、発熱抵抗膜３
に過電流が流れて急激に発熱して絶縁基板２に熱衝撃を
加えることで切欠部２ａの延長線に沿って絶縁基板２が
縦方向に砕裂する。これにより、絶縁基板２に被着形成
された電流経路である発熱抵抗膜３も縦方向に切断さ
れ、発熱抵抗膜３を流れる過電流が遮断され回路構成素
子が保護される。このヒューズ抵抗器１１は、鉛、錫等
の合金からなるヒューズの如く印加される電流値と印加
時間とによって溶断特性が大きく変化することのない優
れたものである。
【０００５】然して、このように保安機構として作用す
る上記ヒューズ抵抗器１１を電話機等に用いた場合に
は、電話回線等に電力線が接触した場合を想定したＣＳ
ＡやＵＬ等の安全規格による過電圧試験において、上記
電話機等に対して回路構成素子の定格電圧を上回る連続
した交流電圧が印加されても、上記ヒューズ抵抗器１１
はヒューズ抵抗器１１が接続された回路構成素子を確実
に保護して上記過電圧試験の合格基準を充足するもので
ある。
る上記ヒューズ抵抗器１１を電話機等に用いた場合に
は、電話回線等に電力線が接触した場合を想定したＣＳ
ＡやＵＬ等の安全規格による過電圧試験において、上記
電話機等に対して回路構成素子の定格電圧を上回る連続
した交流電圧が印加されても、上記ヒューズ抵抗器１１
はヒューズ抵抗器１１が接続された回路構成素子を確実
に保護して上記過電圧試験の合格基準を充足するもので
ある。
【０００６】そして、上記ヒューズ抵抗器１１における
発熱抵抗膜３の抵抗値は、所望する電流遮断特性及びこ
のヒューズ抵抗器１１が接続される回路のインピーダン
スに適合させるべく、例えば定格抵抗値に対する誤差を
１％以内とすることが要求されている。しかし、ルテニ
ウム系ペースト等を被着して形成される発熱抵抗膜３に
あっては、その厚さが僅かに変わることで抵抗値が大き
く変化することから、定格抵抗値と殆ど誤差のない抵抗
値の発熱抵抗膜３をペースト等の被着手段のみにより得
ることは極めて困難であった。そこで、定格抵抗値と殆
ど誤差のない抵抗値の発熱抵抗膜を得る方法として、抵
抗値を予め小さめに設定した発熱抵抗膜３を被着形成
し、この発熱抵抗膜３の抵抗値を測定しながら少しずつ
切断して所望する抵抗値を得るという、所謂トリミング
作業が行われている。
発熱抵抗膜３の抵抗値は、所望する電流遮断特性及びこ
のヒューズ抵抗器１１が接続される回路のインピーダン
スに適合させるべく、例えば定格抵抗値に対する誤差を
１％以内とすることが要求されている。しかし、ルテニ
ウム系ペースト等を被着して形成される発熱抵抗膜３に
あっては、その厚さが僅かに変わることで抵抗値が大き
く変化することから、定格抵抗値と殆ど誤差のない抵抗
値の発熱抵抗膜３をペースト等の被着手段のみにより得
ることは極めて困難であった。そこで、定格抵抗値と殆
ど誤差のない抵抗値の発熱抵抗膜を得る方法として、抵
抗値を予め小さめに設定した発熱抵抗膜３を被着形成
し、この発熱抵抗膜３の抵抗値を測定しながら少しずつ
切断して所望する抵抗値を得るという、所謂トリミング
作業が行われている。
【０００７】この具体的なトリミング方法としては、取
り出し電極４1，４2間における発熱抵抗膜３の抵抗値を
抵抗計等にて測定しながら、図２に示す如く、絶縁基板
２の他側部に位置する発熱抵抗膜３の側縁からレーザト
リミング装置等を使用して、例えば略コ字形状のスリッ
ト７を徐々に形成していき、所望する抵抗値となったと
きに切断を停止するものである。
り出し電極４1，４2間における発熱抵抗膜３の抵抗値を
抵抗計等にて測定しながら、図２に示す如く、絶縁基板
２の他側部に位置する発熱抵抗膜３の側縁からレーザト
リミング装置等を使用して、例えば略コ字形状のスリッ
ト７を徐々に形成していき、所望する抵抗値となったと
きに切断を停止するものである。
【０００８】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来のヒューズ抵抗器のトリミング方法にあっては、
確かに発熱抵抗膜の抵抗値は定格抵抗値と殆ど誤差のな
い正確な値となるものの、このようなトリミング方法に
よるヒューズ抵抗器を機器に実装し、この機器に誘導雷
等のサージが印加された場合、本来的にはヒューズ抵抗
器はサージの如き瞬時の過大電圧をそのまま通じるべき
であるが、このヒューズ抵抗器そのものがサージによっ
て損傷してしまうという問題があった。
た従来のヒューズ抵抗器のトリミング方法にあっては、
確かに発熱抵抗膜の抵抗値は定格抵抗値と殆ど誤差のな
い正確な値となるものの、このようなトリミング方法に
よるヒューズ抵抗器を機器に実装し、この機器に誘導雷
等のサージが印加された場合、本来的にはヒューズ抵抗
器はサージの如き瞬時の過大電圧をそのまま通じるべき
であるが、このヒューズ抵抗器そのものがサージによっ
て損傷してしまうという問題があった。
【０００９】すなわち、ヒューズ抵抗器１１における取
り出し電極４1，４2間に通常の電圧が印加される場合に
は、発熱抵抗膜３の略コ字形状のスリット７に特に問題
が生じることはない。しかし、これは発熱抵抗膜３に印
加される単位長さ当りの電圧値が小さいからであり、取
り出し電極４1，４2間にサージの如き１０００Ｖ程度の
過大電圧が印加された場合には、単位長さ当りの電圧値
が極めて大きなものとなるため、上記スリット７が変位
点となってこの部分の電流密度が高くなり、スリット７
近傍が部分的に焼損する虞れがあった。
り出し電極４1，４2間に通常の電圧が印加される場合に
は、発熱抵抗膜３の略コ字形状のスリット７に特に問題
が生じることはない。しかし、これは発熱抵抗膜３に印
加される単位長さ当りの電圧値が小さいからであり、取
り出し電極４1，４2間にサージの如き１０００Ｖ程度の
過大電圧が印加された場合には、単位長さ当りの電圧値
が極めて大きなものとなるため、上記スリット７が変位
点となってこの部分の電流密度が高くなり、スリット７
近傍が部分的に焼損する虞れがあった。
【００１０】そこで、本発明にあっては、回路構成素子
を確実に保護して安全規格に適合する安全性の高いヒュ
ーズ抵抗器の発熱抵抗膜の抵抗値を正確に設定すること
ができるとともに、サージの如き瞬時の過大電圧によっ
て焼損することなく、サージをそのまま通じることがで
きるヒューズ抵抗器のトリミング方法を実現することを
目的とする。
を確実に保護して安全規格に適合する安全性の高いヒュ
ーズ抵抗器の発熱抵抗膜の抵抗値を正確に設定すること
ができるとともに、サージの如き瞬時の過大電圧によっ
て焼損することなく、サージをそのまま通じることがで
きるヒューズ抵抗器のトリミング方法を実現することを
目的とする。
【００１１】
【課題を解決するための手段】上述した目的を達成すべ
く、本発明のヒューズ抵抗器のトリミング方法は、熱衝
撃により砕裂する絶縁基板に、連続した過電流の通電に
よって熱衝撃を発生する発熱抵抗膜を被着し、この発熱
抵抗膜の相対向する一方向の側縁に１対の電極を接続し
てなるヒューズ抵抗器の抵抗値を精調整するヒューズ抵
抗器のトリミング方法において、上記電極間における発
熱抵抗膜の抵抗値が所定の値となるように、上記発熱抵
抗膜における相対向する他方向の一側縁の両側部で上記
電極との境界間もしくは境界近傍間の発熱抵抗膜を切断
することを特徴とするものである。
く、本発明のヒューズ抵抗器のトリミング方法は、熱衝
撃により砕裂する絶縁基板に、連続した過電流の通電に
よって熱衝撃を発生する発熱抵抗膜を被着し、この発熱
抵抗膜の相対向する一方向の側縁に１対の電極を接続し
てなるヒューズ抵抗器の抵抗値を精調整するヒューズ抵
抗器のトリミング方法において、上記電極間における発
熱抵抗膜の抵抗値が所定の値となるように、上記発熱抵
抗膜における相対向する他方向の一側縁の両側部で上記
電極との境界間もしくは境界近傍間の発熱抵抗膜を切断
することを特徴とするものである。
【００１２】
【作用】電極間における発熱抵抗膜の抵抗値が所定の値
となるように、上記発熱抵抗膜における相対向する他方
向の一側縁の両側部で上記電極との境界間もしくは境界
近傍間の発熱抵抗膜を切断することで、発熱抵抗膜の抵
抗値を正確に設定することができるとともに、電流密度
が高い変位点となるような発熱抵抗膜部分が電極間に存
在しなくなることから、切断された発熱抵抗膜部分を除
く発熱抵抗膜全体に電流密度が略均一に分散してサージ
等の如き瞬時の過大電圧をそのまま通じる。
となるように、上記発熱抵抗膜における相対向する他方
向の一側縁の両側部で上記電極との境界間もしくは境界
近傍間の発熱抵抗膜を切断することで、発熱抵抗膜の抵
抗値を正確に設定することができるとともに、電流密度
が高い変位点となるような発熱抵抗膜部分が電極間に存
在しなくなることから、切断された発熱抵抗膜部分を除
く発熱抵抗膜全体に電流密度が略均一に分散してサージ
等の如き瞬時の過大電圧をそのまま通じる。
【００１３】
【実施例】図１は、本発明のヒューズ抵抗器のトリミン
グ方法を示すヒューズ抵抗器の正面図である。図中１は
ヒューズ抵抗器であり、アルミナ、フォルステライト、
ステアタイト等のセラミックからなる板厚０．１〜１．
０ｍｍの絶縁基板２に対し、その一方面に、ルテニウム
系ペースト等よりなる発熱抵抗膜３を被着し、この発熱
抵抗膜３の相対向する左右の側縁に、Ａｇ・Ｐｄ系ペー
スト等の電気的良導体よりなる１対の取り出し電極
４1，４2を被着形成するとともに、この取り出し電極４
1，４2を絶縁基板２の下端部分である一側部に導出して
外部端子接続部分４1ａ，４ 2ａを形成し、この外部端子
接続部分４1ａ，４2ａに外部端子５1，５2をそれぞれハ
ンダ付け等により固着している。そして、上記外部端子
接続部分４1ａ，４2ａ相互間に位置する絶縁基板部分
に、略半円状の切欠部２ａを形成している。
グ方法を示すヒューズ抵抗器の正面図である。図中１は
ヒューズ抵抗器であり、アルミナ、フォルステライト、
ステアタイト等のセラミックからなる板厚０．１〜１．
０ｍｍの絶縁基板２に対し、その一方面に、ルテニウム
系ペースト等よりなる発熱抵抗膜３を被着し、この発熱
抵抗膜３の相対向する左右の側縁に、Ａｇ・Ｐｄ系ペー
スト等の電気的良導体よりなる１対の取り出し電極
４1，４2を被着形成するとともに、この取り出し電極４
1，４2を絶縁基板２の下端部分である一側部に導出して
外部端子接続部分４1ａ，４ 2ａを形成し、この外部端子
接続部分４1ａ，４2ａに外部端子５1，５2をそれぞれハ
ンダ付け等により固着している。そして、上記外部端子
接続部分４1ａ，４2ａ相互間に位置する絶縁基板部分
に、略半円状の切欠部２ａを形成している。
【００１４】このような構成からなるヒューズ抵抗器１
をレーザトリミング装置に装着し、上記外部端子５1，
５2に抵抗計を接続して発熱抵抗膜３の抵抗値を測定
し、この抵抗値が所望する定格値となるように、発熱抵
抗膜３における相対向する他方向の上方の一側縁から一
定間隔を有して、上記取り出し電極４1，４2との境界
間、もしくはこの境界から０．２ｍｍ以内の境界近傍部
分に挟まれた発熱抵抗膜部分３ａを、略コ字形状のスリ
ット７を切欠形成することにより切断する。
をレーザトリミング装置に装着し、上記外部端子５1，
５2に抵抗計を接続して発熱抵抗膜３の抵抗値を測定
し、この抵抗値が所望する定格値となるように、発熱抵
抗膜３における相対向する他方向の上方の一側縁から一
定間隔を有して、上記取り出し電極４1，４2との境界
間、もしくはこの境界から０．２ｍｍ以内の境界近傍部
分に挟まれた発熱抵抗膜部分３ａを、略コ字形状のスリ
ット７を切欠形成することにより切断する。
【００１５】上記スリット７と取り出し電極４1，４2と
の境界とスリット７との間隔が０．２ｍｍを越えると、
すなわち取り出し電極４1，４2の少なくとも一方に０．
２ｍｍの幅を越える発熱抵抗膜３が残存すると、各種実
験の結果、この僅かな幅の発熱抵抗膜３であっても、取
り出し電極４1，４2間にサージ等の過大電圧が印加され
た場合には変位点となって電流密度が高くなることが確
認されている。
の境界とスリット７との間隔が０．２ｍｍを越えると、
すなわち取り出し電極４1，４2の少なくとも一方に０．
２ｍｍの幅を越える発熱抵抗膜３が残存すると、各種実
験の結果、この僅かな幅の発熱抵抗膜３であっても、取
り出し電極４1，４2間にサージ等の過大電圧が印加され
た場合には変位点となって電流密度が高くなることが確
認されている。
【００１６】上述の如きトリミング作業によって一度で
所望する抵抗値を得るためには、抵抗計の出力を電子計
算機等に入力した上で、まずトリミング前の発熱抵抗膜
３が所望する抵抗値と比較してどの程度抵抗値が小さい
かを求め、この抵抗値の不足分に対応した発熱抵抗膜３
の面積の一部を切断することにより、概ね所望する抵抗
値の発熱抵抗膜３が得られるものである。
所望する抵抗値を得るためには、抵抗計の出力を電子計
算機等に入力した上で、まずトリミング前の発熱抵抗膜
３が所望する抵抗値と比較してどの程度抵抗値が小さい
かを求め、この抵抗値の不足分に対応した発熱抵抗膜３
の面積の一部を切断することにより、概ね所望する抵抗
値の発熱抵抗膜３が得られるものである。
【００１７】そして、上述の如きトリミング作業が終了
した後、外部端子接続部分４1ａ，４2ａを除く取り出し
電極４1，４2と、発熱抵抗膜３とをホウケイ酸ガラスや
ビスマスガラス等の脱鉛ガラスからなる保護膜６により
１０μｍ〜１００μｍの厚さで被覆し、これにより露出
した通電部分において生じ易い沿面放電の発生を防止し
ている。
した後、外部端子接続部分４1ａ，４2ａを除く取り出し
電極４1，４2と、発熱抵抗膜３とをホウケイ酸ガラスや
ビスマスガラス等の脱鉛ガラスからなる保護膜６により
１０μｍ〜１００μｍの厚さで被覆し、これにより露出
した通電部分において生じ易い沿面放電の発生を防止し
ている。
【００１８】
【発明の効果】以上詳述した如く、本発明によれば、熱
衝撃により砕裂する絶縁基板に、連続した過電流の通電
によって熱衝撃を発生する発熱抵抗膜を被着し、この発
熱抵抗膜の相対向する一方向の側縁に１対の電極を接続
してなるヒューズ抵抗器の抵抗値を精調整するヒューズ
抵抗器のトリミング方法において、上記電極間における
発熱抵抗膜の抵抗値が所定の値となるように、上記発熱
抵抗膜における相対向する他方向の一側縁の両側部で上
記電極との境界間もしくは境界近傍間の発熱抵抗膜を切
断することで、過大電流から回路構成素子を確実に保護
して安全規格に適合する安全性に優れるヒューズ抵抗器
となることは勿論のこと、発熱抵抗膜の抵抗値を正確に
設定することができるとともに、電流密度が高くなる変
位点となるような発熱抵抗膜部分が電極間に存在しなく
なることから、切断された発熱抵抗膜部分を除く発熱抵
抗膜全体に電流密度が略均一に分散して、サージ等の如
き瞬時の過大電圧が印加された場合であっても焼損する
ことなく、過大電圧をそのまま通じることができるもの
である。
衝撃により砕裂する絶縁基板に、連続した過電流の通電
によって熱衝撃を発生する発熱抵抗膜を被着し、この発
熱抵抗膜の相対向する一方向の側縁に１対の電極を接続
してなるヒューズ抵抗器の抵抗値を精調整するヒューズ
抵抗器のトリミング方法において、上記電極間における
発熱抵抗膜の抵抗値が所定の値となるように、上記発熱
抵抗膜における相対向する他方向の一側縁の両側部で上
記電極との境界間もしくは境界近傍間の発熱抵抗膜を切
断することで、過大電流から回路構成素子を確実に保護
して安全規格に適合する安全性に優れるヒューズ抵抗器
となることは勿論のこと、発熱抵抗膜の抵抗値を正確に
設定することができるとともに、電流密度が高くなる変
位点となるような発熱抵抗膜部分が電極間に存在しなく
なることから、切断された発熱抵抗膜部分を除く発熱抵
抗膜全体に電流密度が略均一に分散して、サージ等の如
き瞬時の過大電圧が印加された場合であっても焼損する
ことなく、過大電圧をそのまま通じることができるもの
である。
【図１】本発明のトリミング方法によるヒューズ抵抗器
を示す正面図である。
を示す正面図である。
【図２】従来のトリミング方法によるヒューズ抵抗器を
示す正面図である。
示す正面図である。
１ ヒューズ抵抗器 ２ 絶縁基板 ３ 発熱抵抗膜 ３ａ 発熱抵抗膜部分 ４1，４2 取り出し電極 ７ スリット
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 【請求項１】 熱衝撃により砕裂する絶縁基板に、連続
した過電流の通電によって熱衝撃を発生する発熱抵抗膜
を被着し、この発熱抵抗膜の相対向する一方向の側縁に
１対の電極を接続してなるヒューズ抵抗器の抵抗値を精
調整するヒューズ抵抗器のトリミング方法において、上
記電極間における発熱抵抗膜の抵抗値が所定の値となる
ように、上記発熱抵抗膜における相対向する他方向の一
側縁の両側部で上記電極との境界間もしくは境界近傍間
の発熱抵抗膜を切断することを特徴とするヒューズ抵抗
器のトリミング方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3180117A JPH053110A (ja) | 1991-06-25 | 1991-06-25 | ヒユーズ抵抗器のトリミング方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3180117A JPH053110A (ja) | 1991-06-25 | 1991-06-25 | ヒユーズ抵抗器のトリミング方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH053110A true JPH053110A (ja) | 1993-01-08 |
Family
ID=16077718
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3180117A Pending JPH053110A (ja) | 1991-06-25 | 1991-06-25 | ヒユーズ抵抗器のトリミング方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH053110A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0238708B2 (ja) * | 1983-03-15 | 1990-08-31 | Japan Vilene Co Ltd |
-
1991
- 1991-06-25 JP JP3180117A patent/JPH053110A/ja active Pending
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0238708B2 (ja) * | 1983-03-15 | 1990-08-31 | Japan Vilene Co Ltd |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN101233585B (zh) | 具有热耦合mov过电压元件和pptc过电流元件的电路保护装置 | |
| US3978443A (en) | Fusible resistor | |
| KR100366177B1 (ko) | 전기퓨즈및보호회로 | |
| JP2791979B2 (ja) | 過電圧過電流から保護する保護回路 | |
| CN103943291A (zh) | 一种具有过流保护功能的静电抑制器及其制作方法 | |
| CA2063654C (en) | Surge absorber for protection of communication equipment connected to communication lines | |
| JP3768621B2 (ja) | 保護素子の使用方法 | |
| KR960000923B1 (ko) | 서지흡수소자의 보호장치 | |
| JPH053110A (ja) | ヒユーズ抵抗器のトリミング方法 | |
| JP3074527B2 (ja) | チップ形ヒューズ抵抗器 | |
| JPH087731A (ja) | 基板型抵抗・温度ヒュ−ズ | |
| JPH054407U (ja) | ヒユーズ抵抗器 | |
| JPH0733353Y2 (ja) | ヒューズ抵抗器 | |
| JPH071749Y2 (ja) | 保安機構付基板抵抗及びサージ吸収器 | |
| JPH071748Y2 (ja) | 保安機構付基板抵抗及びサージ吸収器 | |
| GB1143208A (en) | Electronic component | |
| JPH0733352Y2 (ja) | ヒューズ抵抗器 | |
| JP2594861B2 (ja) | 保安機構付サージ吸収素子 | |
| JP2528404B2 (ja) | 回路開放素子 | |
| JPH07320845A (ja) | 放電型サージアブソーバ | |
| JPH035135B2 (ja) | ||
| JPH0139064Y2 (ja) | ||
| JP2876534B2 (ja) | 過電圧過電流保護のサージ吸収装置 | |
| JP2550465Y2 (ja) | 通信端末機器用プロテクタ | |
| JPH01176686A (ja) | サージ吸収器 |