JPH0534836B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPH0534836B2
JPH0534836B2 JP57074014A JP7401482A JPH0534836B2 JP H0534836 B2 JPH0534836 B2 JP H0534836B2 JP 57074014 A JP57074014 A JP 57074014A JP 7401482 A JP7401482 A JP 7401482A JP H0534836 B2 JPH0534836 B2 JP H0534836B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
thin film
film transistor
liquid crystal
current
electrode
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Lifetime
Application number
JP57074014A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS5921064A (ja
Inventor
Hiroyuki Ooshima
Toshimoto Kodaira
Toshihiko Mano
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Epson Corp
Original Assignee
Seiko Epson Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Priority to JP57074014A priority Critical patent/JPS5921064A/ja
Application filed by Seiko Epson Corp filed Critical Seiko Epson Corp
Priority to GB838311219A priority patent/GB8311219D0/en
Priority to FR838307125A priority patent/FR2530868B1/fr
Priority to GB08311878A priority patent/GB2122419B/en
Priority to DE3315671A priority patent/DE3315671C2/de
Priority to FR8313382A priority patent/FR2532116B1/fr
Publication of JPS5921064A publication Critical patent/JPS5921064A/ja
Priority to SG398/88A priority patent/SG39888G/en
Priority to HK701/89A priority patent/HK70189A/xx
Priority to US08/014,053 priority patent/US5365079A/en
Publication of JPH0534836B2 publication Critical patent/JPH0534836B2/ja
Priority to US08/259,354 priority patent/US6037608A/en
Priority to US08/237,521 priority patent/US5474942A/en
Priority to US08/406,419 priority patent/US5650637A/en
Priority to US08/408,979 priority patent/US5552615A/en
Priority to US08/445,030 priority patent/US5573959A/en
Priority to US08/461,933 priority patent/US5677547A/en
Priority to US08/859,494 priority patent/US6316790B1/en
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W20/00Interconnections in chips, wafers or substrates
    • H10W20/40Interconnections external to wafers or substrates, e.g. back-end-of-line [BEOL] metallisations or vias connecting to gate electrodes
    • H10W20/41Interconnections external to wafers or substrates, e.g. back-end-of-line [BEOL] metallisations or vias connecting to gate electrodes characterised by their conductive parts
    • H10W20/44Conductive materials thereof
    • H10W20/4403Conductive materials thereof based on metals, e.g. alloys, metal silicides
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136209Light shielding layers, e.g. black matrix, incorporated in the active matrix substrate, e.g. structurally associated with the switching element
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/133Constructional arrangements; Operation of liquid crystal cells; Circuit arrangements
    • G02F1/136Liquid crystal cells structurally associated with a semi-conducting layer or substrate, e.g. cells forming part of an integrated circuit
    • G02F1/1362Active matrix addressed cells
    • G02F1/136213Storage capacitors associated with the pixel electrode
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D30/00Field-effect transistors [FET]
    • H10D30/60Insulated-gate field-effect transistors [IGFET]
    • H10D30/67Thin-film transistors [TFT]
    • H10D30/6704Thin-film transistors [TFT] having supplementary regions or layers in the thin films or in the insulated bulk substrates for controlling properties of the device
    • H10D30/6723Thin-film transistors [TFT] having supplementary regions or layers in the thin films or in the insulated bulk substrates for controlling properties of the device having light shields
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D30/00Field-effect transistors [FET]
    • H10D30/60Insulated-gate field-effect transistors [IGFET]
    • H10D30/67Thin-film transistors [TFT]
    • H10D30/6729Thin-film transistors [TFT] characterised by the electrodes
    • H10D30/6737Thin-film transistors [TFT] characterised by the electrodes characterised by the electrode materials
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10DINORGANIC ELECTRIC SEMICONDUCTOR DEVICES
    • H10D30/00Field-effect transistors [FET]
    • H10D30/60Insulated-gate field-effect transistors [IGFET]
    • H10D30/67Thin-film transistors [TFT]
    • H10D30/674Thin-film transistors [TFT] characterised by the active materials
    • H10D30/6741Group IV materials, e.g. germanium or silicon carbide
    • H10D30/6743Silicon
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W70/00Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
    • H10W70/60Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers
    • H10W70/611Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers for connecting multiple chips together
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10WGENERIC PACKAGES, INTERCONNECTIONS, CONNECTORS OR OTHER CONSTRUCTIONAL DETAILS OF DEVICES COVERED BY CLASS H10
    • H10W70/00Package substrates; Interposers; Redistribution layers [RDL]
    • H10W70/60Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers
    • H10W70/62Insulating or insulated package substrates; Interposers; Redistribution layers characterised by their interconnections
    • H10W70/65Shapes or dispositions of interconnections
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F2202/00Materials and properties
    • G02F2202/10Materials and properties semiconductor
    • G02F2202/104Materials and properties semiconductor poly-Si

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Thin Film Transistor (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は光電流を低減させる構造を有する半導
体薄膜トランジスタに関する。
近年、絶縁基板上に薄膜トランジスタを形成す
る研究が活発に行なわれている。この技術は、安
価な絶縁基板を用いて薄形デイスプレイを実現す
るアクテイブマトリツクスパネル、あるいは通常
の半導体集積回路上にトランジスタなどの能動素
子を形成する三次元集積回路、あるいは安価で高
性能なイメージセンサ、あるいは高密度のメモリ
など、数多くの応用が期待されるものである。以
下、薄膜トランジスタをアクテイブマトリツクス
パネルに応用した場合を例に取つて説明するが、
本発明は薄膜トランジスタの光電流が問題となる
他の場合にも、全く同様に適用することができ
る。これは、本発明の主旨が、光電流を減少させ
るという薄膜トランジスタの本質的な特性向上に
関するものだからである。
薄膜トランジスタをアクテイブマトリツクスパ
ネルに応用した場合の液晶表示装置は、一般に、
上側のガラス基板と、下側の薄膜トランジスタ基
板と、その間に封入された液晶とから構成されて
おり、前記薄膜トランジスタ基板上にマトリツク
ス状に配置された液晶駆動素子を外部選択回路に
より選択し、前記液晶駆動素子に接続された液晶
駆動電極に電圧を印加することにより、任意の文
字、図形、あるいは画像の表示を行なうものであ
る。前記薄膜トランジスタ基板の一般的な回路図
を第1図に示す。
第1図aは薄膜トランジスタ基板上の液晶駆動
素子のマトリツクス状配置図である。図中の1で
囲まれた領域が表示領域であり、その中に液晶駆
動素子2がマトリツクス状に配置されている。3
は液晶駆動素子2へのデータ信号ラインであり、
4は液晶駆動素子2へのタイミング信号ラインで
ある。液晶駆動素子2の回路図を第1図bに示
す。5は薄膜トランジスタであり、データのスイ
ツチングを行なう。6はコンデンサであり、デー
タ信号の保持用として用いられる。このコンデン
サの容量としては、液晶自体の有する容量と故意
に設けたコンデンサの容量を含むが、場合によつ
ては液晶の容量のみで構成されることもある。7
は液晶パネルであり、7−1は各液晶駆動素子に
対応して形成された液晶駆動電極であり、7−2
は上側ガラスパネルである。
第2図は半導体薄膜を用いた従来のNチヤネル
薄膜トランジスタの一般的な構造を示す断面図で
ある。8はガラス、石英などの絶縁性透明基板、
9は多結晶シリコンなどの半導体薄膜、10は半
導体薄膜中にリンやヒ素などの不純物をドープし
て形成したソース領域、11は同じくドレイン領
域、12はゲート膜、13はゲート電極、14は
層間絶縁膜、15はソース電極、16はドレイン
電極である。
このような薄膜トランジスタをアクテイブマト
リツクスパネルに応用する場合、薄膜トランジス
タは、液晶に印加する電圧のデータをスイツチン
グするために用いられ、このとき薄膜トランジス
タに要求される特性は大きく次の2種類に分類さ
れる。
(1) 薄膜トランジスタをON状態にした時コンデ
ンサを充電させるために充分な電流を流すこと
ができこと。
(2) 薄膜トランジスタをOFF状態にした時、極
力、電流が流れないこと。
(1)は、コンデンサへのデータの書き込み特性に
関するものである。液晶の表示はコンデンサの電
位により決定されるため、短時間にデータを完壁
に書き込むことができるように、薄膜トランジス
タは充分大きい電流を流すことができなくてはな
らない。この時の電流(以下、ON電流という。)
は、コンデンサの容量と、書き込み時間とから定
まり、そのON電流をクリアできるように薄膜ト
ランジスタを製造しなくてはならない。薄膜トラ
ンジスタの流すことができるON電流は、トラン
ジスタのサイズ(チヤネル長とチヤネル幅)、構
造、製造プロセス、ゲート電圧、ドレイン電圧な
どに大きく依存する。
(2)は、コンデンサに書き込まれたデータの保持
特性に関するものである。一般に、書き込まれた
データは書き込み時間よりもはるかに長い時間保
持されなくてはならない。コンデンサの容量は、
通常1PF程度の小さい値であるため、薄膜トラン
ジスタがOFF状態の時にわずかでもリーク電流
(以下、OFF電流という。)が流れると、ドレイ
ンの電位(すなわち、コンデンサの電位)は急激
にソースの電位に近づき、書き込まれたデータは
正しく保持されなくなつてしまう。したがつて、
OFF電流はできる限り、小さくしなくてはなら
ない。
また、薄膜トランジスタに光を照射すると、光
によりキヤリアが励起され、半導体薄膜の伝導度
が増大する。このため、ON電流、OFF電流とも
に増加する。特にOFF電流の増加の割合が著し
い。また光を照射することによる電流の増分(光
電流)は、その光の照度に比例する。したがつ
て、明るい環境にあるほど、OFF電流が増加し、
前記の要求される特性が満たされなくなる。一般
に液晶表示装置は明るい環境にあるほどコントラ
ストが向上し良好な表示特性が得られるが、スイ
ツチング素子にこのような薄膜トランジスタを用
いる場合には、逆に明るいほど表示性能が低下す
ることになる。
第3図は、第2図に示した構造を有する薄膜ト
ランジスタの特性を示すグラフである。なお、こ
のデータは本出願人が実験を行なつて得られた結
果である。このグラフの横軸はソースに対するゲ
ート電圧VGSであり、縦軸はドレイン電流IDSであ
る。ソースに対するドレイン電圧VDSは4Vであ
る。
図中、Aの実線のグラフは光を照射しない時の
ドレイン電流(暗電流)を示し、Bの破線のグラ
フは1万ルツクスの光を照射した時のドレイン電
流を示している。第3図からわかるように、光を
照射することによりON電流はほとんど増加しな
いが、OFF電流は大幅に増加している。このた
め、ON/OFF比がとれなくなり、したがつて十
分なトランジスタ特性が得られない。
本発明は、このような従来の薄膜トランジスタ
の欠点を除去するものであり、その目的とすると
ころは、光電流を低減させる構造を有する薄膜ト
ランジスタを提供することである。これを実現す
るために本発明では、半導体薄膜を用い、ソース
電極とドレイン電極とゲート電極を備えた薄膜ト
ランジスタにおいて、前記ソース電極あるいは前
記ドレイン電極を延長することにより、前記薄膜
トランジスタのチヤネル領域を被覆したことを特
徴とする薄膜トランジスタを提供する。以下、図
を参照しつつ、本発明を詳しく説明する。
第4図は本発明による薄膜トランジスタの構造
を示す断面図である。図中8〜16の意味する内
容は、第2図と全く同様である。第4図からわか
るように、トランジスタのチヤネル領域は延長さ
れたソース電極により被覆されている。したがつ
てチヤネル領域には全く光が入射しない。ただし
ソース電極とドレイン電極の間隙17からは光が
入射するための、この間隙はできる限り狭いほう
が望ましい。その間隙の幅はパターニング技術の
限界により決定される。しかし、間隙17から入
射する光は、主にドレイン領域11におけるキヤ
リア生成に寄与するため、光電流の発生にはほと
んど関与しない。これは、通常、ドレイン領域1
1の不純物濃度が非常に高く、発生したキヤリア
のライフタイム及び移動度が小さいためである。
したがつて第4図に示すような構造を採用するこ
とにより、光電流の発生を充分小さく抑制するこ
とができる。なお、第4図では、ソース電極を延
長することによりチヤネル部を被覆する場合につ
いて示したが、ドレイン電極を延長することによ
りチヤネル部を被覆してもよい。この場合にも、
上述した説明は同様に成立する。
また本発明では、ソース領域10あるいはドレ
イン領域11のうち一方は、チヤネル領域と同様
に、電極で被覆されるため、光が入射する領域
は、ソース領域あるいはドレイン領域のうちの一
方のみとなる。したがつて、チヤネル領域のみを
遮光材で被覆した場合に比べて、さらに光電流を
減少せしめることが可能となる。しかも、そのよ
うな構造を実現するために、特別な製造工程を必
要としない。すなわち、ソース電極あるいはドレ
イン電極のパターンを変更するだけで、従来の製
造工程を何ら変更する必要はない。
第5図は、第4図に示した構造を有する薄膜ト
ランジスタの特性を示すグラフである。このデー
タも本出願が実験を行ない得られた結果である。
種々のパラメータは第3図の場合と同様である。
図中、Cの実線のグラフは光を照射しない時のド
レイン電流(暗電流)を示し、Dの破線のグラフ
は1万ルツクスの光を照射した時のドレイン電流
を示している。Cのグラフは、第3図のAのグラ
フに一致する。第5図からわかるように、光電流
の発生は非常にわずかであり、1万ルツクスの光
を照射してもOFF電流は1PA程度しか増加しな
い。このOFF電流のわずかな増分は、前述した
ように、主にソース電極とドレイン電極の間隙か
ら入射した光の効果によるものである。なお、ド
レイン電極を延長することによりチヤネル部を被
覆する構造の薄膜トランジスタでも、全く同様の
結果が得られる。
上述の如く本発明は、薄膜トランジスタの光電
流を大幅に低減できるので、液晶パネルに入射し
た光により薄膜トランジスタの誤動作が生ずるこ
とがなく、良好な表示特性を得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図a,bは薄膜トランジスタをアクテイブ
マトリツクスパネルに応用した場合の一般的な回
路図である。第2図は半導体薄膜を用いたNチヤ
ネル薄膜トランジスタの一般的な構造を示す断面
図である。第3図は従来の薄膜トランジスタの特
性を示すグラフである。第4図は、本発明による
薄膜トランジスタの構造を示す断面図である。第
5図は、本発明による薄膜トランジスタの特性を
示すグラフである。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 一対の透明基板内に液晶が封入され、該基板
    の一方の基板上に設けられた画素電極と、該画素
    電極に接続され、該基板上に設けられてなる薄膜
    トランジスタと、該薄膜トランジスタのソース領
    域に接続されてなるソース電極とを有してなる液
    晶表示装置において、 該薄膜トランジスタは、該基板上に形成された
    非単結晶シリコン薄膜からなるチヤネル領域と、
    該ソース領域及びドレイン領域と、該チヤネル上
    にゲート絶縁膜を介して形成された光透過性のゲ
    ート電極と、該ソース領域に接続され、層間絶縁
    膜により該ゲート電極と絶縁された光非透過性の
    ソース電極とからなり、該ソース電極が該チヤネ
    ル領域上を覆つていることを特徴とする液晶表示
    装置。
JP57074014A 1982-04-30 1982-04-30 液晶表示装置 Granted JPS5921064A (ja)

Priority Applications (16)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57074014A JPS5921064A (ja) 1982-04-30 1982-04-30 液晶表示装置
GB838311219A GB8311219D0 (en) 1982-04-30 1983-04-25 Thin film transistor
FR838307125A FR2530868B1 (fr) 1982-04-30 1983-04-29 Transistor a couche mince et dispositif d'affichage a cristaux liquides utilisant ce transistor
GB08311878A GB2122419B (en) 1982-04-30 1983-04-29 A thin film transistor and an active matrix liquid crystal display device
DE3315671A DE3315671C2 (de) 1982-04-30 1983-04-29 Dünnfilmtransistor
FR8313382A FR2532116B1 (fr) 1982-04-30 1983-08-17 Transistor a couche mince et dispositif d'affichage a cristaux liquides utilisant ce transistor
SG398/88A SG39888G (en) 1982-04-30 1988-06-20 An active matrix liquid crystal display device
HK701/89A HK70189A (en) 1982-04-30 1989-08-31 An active matrix liquid crystal display device
US08/014,053 US5365079A (en) 1982-04-30 1993-02-05 Thin film transistor and display device including same
US08/259,354 US6037608A (en) 1982-04-30 1994-05-03 Liquid crystal display device with crossover insulation
US08/237,521 US5474942A (en) 1982-04-30 1994-05-03 Method of forming a liquid crystal display device
US08/406,419 US5650637A (en) 1982-04-30 1995-03-20 Active matrix assembly
US08/408,979 US5552615A (en) 1982-04-30 1995-03-23 Active matrix assembly with double layer metallization over drain contact region
US08/445,030 US5573959A (en) 1982-04-30 1995-05-19 Method of forming a liquid crystal device
US08/461,933 US5677547A (en) 1982-04-30 1995-06-05 Thin film transistor and display device including same
US08/859,494 US6316790B1 (en) 1982-04-30 1997-05-20 Active matrix assembly with light blocking layer over channel region

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP57074014A JPS5921064A (ja) 1982-04-30 1982-04-30 液晶表示装置

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8673694A Division JP2564995B2 (ja) 1994-04-25 1994-04-25 液晶表示装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS5921064A JPS5921064A (ja) 1984-02-02
JPH0534836B2 true JPH0534836B2 (ja) 1993-05-25

Family

ID=13534814

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP57074014A Granted JPS5921064A (ja) 1982-04-30 1982-04-30 液晶表示装置

Country Status (3)

Country Link
JP (1) JPS5921064A (ja)
DE (1) DE3315671C2 (ja)
GB (1) GB8311219D0 (ja)

Families Citing this family (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6179256A (ja) * 1984-09-26 1986-04-22 Seiko Instr & Electronics Ltd 薄膜トランジスタ
JPH0374849A (ja) * 1989-08-16 1991-03-29 Matsushita Electron Corp 半導体装置
JPH0456282A (ja) * 1990-06-25 1992-02-24 Matsushita Electron Corp 薄膜トランジスタとそれを用いた液晶表示装置
US5317433A (en) * 1991-12-02 1994-05-31 Canon Kabushiki Kaisha Image display device with a transistor on one side of insulating layer and liquid crystal on the other side
JP3092761B2 (ja) * 1991-12-02 2000-09-25 キヤノン株式会社 画像表示装置及びその製造方法
JP2869238B2 (ja) * 1992-02-07 1999-03-10 シャープ株式会社 アクティブマトリクス型液晶表示装置
JP2738315B2 (ja) * 1994-11-22 1998-04-08 日本電気株式会社 薄膜トランジスタおよびその製造方法
FR2734404B1 (fr) * 1995-05-16 1997-06-27 Thomson Lcd Procede de fabrication de tft etages directs avec interconnexion grille-source ou drain
US7053973B1 (en) 1996-05-16 2006-05-30 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Display device
JPH09311342A (ja) 1996-05-16 1997-12-02 Semiconductor Energy Lab Co Ltd 表示装置
JP3126661B2 (ja) 1996-06-25 2001-01-22 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置
EP1031873A3 (en) 1999-02-23 2005-02-23 Sel Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Semiconductor device and fabrication method thereof
US9035389B2 (en) * 2012-10-22 2015-05-19 Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. Layout schemes for cascade MOS transistors
JP6466614B2 (ja) * 2018-06-04 2019-02-06 株式会社半導体エネルギー研究所 液晶表示装置

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5492022A (en) * 1977-12-29 1979-07-20 Matsushita Electric Ind Co Ltd Picture display device
JPS5562479A (en) * 1978-11-06 1980-05-10 Suwa Seikosha Kk Liquid crystal display panel
JPS5691276A (en) * 1979-12-25 1981-07-24 Citizen Watch Co Ltd Display panel
JPS56107287A (en) * 1980-01-31 1981-08-26 Tokyo Shibaura Electric Co Image display unit
JPS56150871A (en) * 1980-04-24 1981-11-21 Toshiba Corp Semiconductor device

Also Published As

Publication number Publication date
GB8311219D0 (en) 1983-06-02
DE3315671C2 (de) 1986-04-10
DE3315671A1 (de) 1983-11-03
JPS5921064A (ja) 1984-02-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US5650637A (en) Active matrix assembly
US5365079A (en) Thin film transistor and display device including same
JP2002357850A (ja) アクティブマトリクスデバイスおよびディスプレイ
JPH0534836B2 (ja)
JPH0338755B2 (ja)
JP3302187B2 (ja) 薄膜トランジスタ、これを用いた半導体装置、液晶表示装置
JPS58182272A (ja) 薄膜トランジスタ
JPH0544195B2 (ja)
JP2564995B2 (ja) 液晶表示装置
JP2668317B2 (ja) アクティブマトリクスパネル
JP3305814B2 (ja) 薄膜トランジスタおよびそれを用いた液晶表示装置
JPH0247865B2 (ja)
JPH0544196B2 (ja)
JP2622661B2 (ja) 液晶表示パネル
CN208903642U (zh) 反相器及goa电路
JPS5821863A (ja) 液晶表示装置
JPS6053082A (ja) 薄膜トランジスタ
JPH0371793B2 (ja)
JPS58190063A (ja) 透過型液晶表示パネル用薄膜トランジスタ
JPH03293641A (ja) アクティブマトリクス表示装置
JPH0772821B2 (ja) 液晶表示装置の製造方法
JPS6058676A (ja) 薄膜トランジスタの駆動方法
JP2525708B2 (ja) 薄膜トランジスタの製造方法
KR101001430B1 (ko) 박막 트랜지스터 및 그 제조 방법
GB2122419A (en) A thin film transistor and an active matrix liquid crystal display device