JPH0538527Y2 - - Google Patents

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JPH0538527Y2
JPH0538527Y2 JP1984199347U JP19934784U JPH0538527Y2 JP H0538527 Y2 JPH0538527 Y2 JP H0538527Y2 JP 1984199347 U JP1984199347 U JP 1984199347U JP 19934784 U JP19934784 U JP 19934784U JP H0538527 Y2 JPH0538527 Y2 JP H0538527Y2
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stage
sample
drive mechanism
pressure
rod
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Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、走査電子顕微鏡等において試料を水
平移動あるいは傾斜もしくは上下動させるための
試料装置の改良に関する。
[従来の技術] 走査電子顕微鏡においては、試料の光軸方向の
移動と共に試料の傾斜が容易に行えるために、第
3図に示すような構造の試料装置が広く使用され
ている。
図中、1は走査電子顕微鏡の試料室で、内部に
試料2が置かれており、また、上部には図示外の
電子銃から発生した電子線EBを細く集束して試
料2上に照射するための最終段集束レンズ3が設
置されている。4は前記試料2を水平方向に移動
させるための移動体で、ステージ5上に移動可能
に載置されている。このステージ5はその一端が
板体6に回転可能に支持されており、また、この
ステージの回転中心Oは前記電子線EBの光軸Z
と直交するようになしてある。さらに、この回転
中心Oと光軸Zとの交叉部分に試料2の表面が一
致するように置かれている。前記板体6は試料室
1の側壁に気密を保つて着脱可能に取付けられた
ケース7内に2つの直線ガイド(図示せず)を介
して光軸Zと平行に移動できるように取付けられ
ている。その結果、この板体を上下動させること
によりステージ5を介して試料2を光軸Zに沿つ
て移動、つまり試料2と集束レンズ3との間の距
離(以下この距離をワーキングデイスタンスと称
す)を変化させることができ、また、この任意な
ワーキングデイスタンスの位置においてステージ
5を回動させることにより試料2を光軸Zに対し
て傾斜させることができる。前記ケース7内には
移動体4、ステージ5及び板体6を夫々駆動する
ための機構が組込まれており、また、外部に水平
移動用摘子8、傾斜用摘子9及び上下移動用摘子
10が夫々設けてある。
[考案が解決しようとする問題点] しかしながら、このような試料装置において
は、図から明らかなようにステージ5は板体6に
その一端が支持された構造、つまり片持ちの支持
構造となるため、外部振動に対して弱かつた。
そこで、近時このような不都合を補うため、大
気圧にて押圧されたロツク軸をステージ5の開放
端A部分に係合させることによりステージの振動
を防止する装置が提案されている。
このように大気圧を利用してステージをロツク
する場合、押圧力はロツク軸の直径で決まるた
め、その押圧力を変えるにはロツク軸の直径を変
えなければならない。従つて、試料の大きさが大
きく変わつた場合には、つまり試料の重さが大き
く変化した場合には、その都度その重さにあつた
押圧力を有するロツク機構と交換しなければなら
ず、取扱いが非常に厄介である欠点を有してい
る。また、試料を水平移動させるために移動体を
ステージの先端方向へと移動した場合、ステージ
の重心位置が変化すると共にステージが下方へ撓
み、振動による影響を受け易くなり、また、撓み
によるワーキングデイスタンスの変化が発生する
という欠点を有している。
本考案は斯様な不都合を解決するために、試料
の重さが大きく変化しても簡単な操作でもつて常
に適正な押圧力をステージに加えることのできる
試料装置を提供することを目的とする。
[問題点を解決するための手段] 上記目的を達成するために、本考案は真空に保
たれた試料室と、該試料室内の側壁に一端が上下
動可能に取付けられたステージと、該ステージ上
に載置され、試料を水平移動させるための移動体
と、前記ステージの他端下面に当接した棒体と、
該棒体を介して前記ステージに下方から押圧力を
与えるためのシリンダ及びピストンからなる流体
駆動機構と、該流体駆動機構内に加圧流体を供給
する手段と、該供給手段からの加圧流体の圧力が
調整可能で、該調整後はステージの上下移動にか
かわらず一定圧力を維持する圧力調整手段とを設
けたことを特徴とする。
[実施例] 第1図は本考案の一実施例を示す構成略図であ
り、第3図と同一番号のものは同一構成要素を示
すものである。図において、11はステージ5の
開放端A側の下面に当接した棒体で、ステージと
の接触部分にはボール12が設けてある。また、
この棒体と接触するステージ5の下面は第2図に
その側面図を示すように回転中心Oを中心とした
円弧状に形成してある。前記棒体の下端は試料室
1の底部を貫通して大気中に取出されて、シリン
ダ13のピストン14に連結されている。このシ
リンダ13はボルト15により試料室1に固定さ
れており、また、このシリンダの下方の部屋13
aには弁16を備えたパイプ17を介してコンプ
レツサ18からの加圧空気が導入される。19は
前記シリンダ13内に供給する加圧空気の圧力を
調整する定圧弁からなる圧力調整器である。20
はシリンダ13内に供給された加圧空気を排出す
るためのリーク弁である。21はスプリングコイ
ルで、試料室1及びシリンダ13内が大気圧に保
たれたとき、ピストン14を降下させてステージ
5等の取出しが容易に行えるようになすためのも
のである。22はピストン14に設けられたOシ
リングパツキングである。
このように構成すれば、シリンダ13内に供給
する加圧空気の圧力を圧力調整器19により任意
に調整することができるため、観察すべき試料2
の重さ(実際の重さとしてはステージ5や移動体
4等の重さが含まれていることは言うまでもな
い)に対応した適正な押圧力を棒体11に加えて
ステージ5の開放端を支えることができる。ま
た、この状態において摘子9によりステージ5を
回転させても、このステージ5は棒体11に対し
てすべりながら回転するため、試料2の傾斜を何
等阻害しない。さらに、摘子10により板体6を
上下させてワーキングデイスタンスを変化させた
場合、棒体11を介してシリンダ13内の部屋1
3aの容積が変化するわけであるが、圧力調整器
19はその容積が変化しても常に部屋13aの圧
力が一定となるように加圧空気を供給したりある
いは排出したりするため、試料2の光軸方向の移
動を妨げることはない。
一方、試料室1内の真空を破つて試料の交換等
を行う場合には、リーク弁20を開放することに
よりシリンダ13内の加圧空気を大気中に放出
し、スプリングコイル21により棒体11を降下
させてステージ5から切離す。
尚、前述の説明ではシリンダ内に加圧空気を供
給したが、これに限定されることなく、水や油等
の加圧流体を供給するようになしても良く、ま
た、棒体の降下にスプリングコイルを使用した
が、棒体及びピストンの自重で降下するような場
合には不要であることは言うまでもない。
[考案の効果] 以上のようになせば、試料の重さが変化しても
簡単な操作によりその重さに対応した適正な押圧
力でもつてステージの開放端を支持することがで
きるため、取扱い操作が非常に容易となり、実用
性大である。
又、ステージに下方から押圧力を与えるための
シリンダ及びピストンからなる流体駆動機構と、
該流体駆動機構内に加圧流体を供給する手段から
の加圧流体の圧力が調整可能で、該調整後はステ
ージの上下移動にかかわらず一定圧力を維持する
圧力調整手段を設けたので、ワーキングデイスタ
ンスが大きく変化しても、該変化に追尾して適性
な圧力でステージを一定の圧力で支え続けること
ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の一実施例を示す構成略図、第
2図は本考案で使用されるステージの側面図、第
3図は従来例を示す図である。 1……試料室、2……試料、3……集束レン
ズ、4……移動体、5……ステージ、6……板
体、7……ケース、8,9,10……摘子、11
……棒体、12……ボール、13……シリンダ、
14……ピストン、16……弁、17……パイ
プ、18……コンプレツサ、19……圧力調整
器、20……リーク弁、21……スプリングコイ
ル。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 真空に保たれた試料室と、該試料室の側壁に一
    端が上下可能に取付けられたステージと、該ステ
    ージを上下動させるための駆動機構と、該ステー
    ジ上に載置され、試料を水平移動させるための移
    動体と、前記ステージの他端下面に当接した棒体
    と、該棒体を介して前記ステージに下方から押圧
    力を与えるためのシリンダ及びピストンからなる
    流体駆動機構と、該流体駆動機構内に加圧流体を
    供給する手段と、該供給手段からの加圧流体の圧
    力が調整可能で、該調整後はステージの上下移動
    にかかわらず一定圧力を維持する圧力調整手段と
    からなる走査電子顕微鏡等における試料装置。
JP1984199347U 1984-12-28 1984-12-28 Expired - Lifetime JPH0538527Y2 (ja)

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JPS61114755U JPS61114755U (ja) 1986-07-19
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JP3667884B2 (ja) * 1996-06-27 2005-07-06 Jfeスチール株式会社 局所分析装置
JP2000021345A (ja) * 1998-07-06 2000-01-21 Hitachi Ltd 走査型電子顕微鏡
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JPS59194043U (ja) * 1983-06-09 1984-12-24 セイコーインスツルメンツ株式会社 除振支持装置

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