JPH0543109Y2 - - Google Patents

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JPH0543109Y2
JPH0543109Y2 JP1987030658U JP3065887U JPH0543109Y2 JP H0543109 Y2 JPH0543109 Y2 JP H0543109Y2 JP 1987030658 U JP1987030658 U JP 1987030658U JP 3065887 U JP3065887 U JP 3065887U JP H0543109 Y2 JPH0543109 Y2 JP H0543109Y2
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  • Liquid Deposition Of Substances Of Which Semiconductor Devices Are Composed (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本考案は、化合物半導体結晶成長装置に関する
ものである。
[従来の技術] 化合物半導体の液相エピタキシヤル成長工程に
おいては、通常、原料溶液溜治具とスライド板か
ら成るスライドボートを用いて、原料溶液溜治具
に原料溶液を収容し、スライド板に基板を設置
し、基板を溶液に接触させて結晶の成長を行わせ
る方式が用いらられているが、エピタキシヤル層
の数が増加したりあるいは基板の寸法が大形にな
ると、スライドボートにも大形のものを用いる必
要が生ずる。
[考案が解決しようとする問題点] 上述したように、エピタキシヤル層の増加や基
板寸法の大形化に伴つてスライドボートにも大形
のものが必要となるが、スライドボートが大形に
なると、これを構成する材料例えばグラフアイト
の異方性により均熱性が低下して安定した多層エ
ピタキシヤル成長を行なうことが困難となり、エ
ピタキシヤル層の面内の不純物濃度が不均一とな
り、また膜厚のばらつきが大きくなつてしまう。
本考案の目的は、エピタキシヤル層の面内の不
純物濃度及び膜厚の均一性を向上することができ
る均熱特性の良好なスライドボートを有する化合
物半導体結晶成長装置を提供することにある。
[問題点が解決するための手段] 本考案は、原料溶液と基板とをスライドボート
に入れ、この基板を移動して前記溶液と接触させ
て化合物結晶薄膜を成長させる化合物半導体結晶
成長装置において、前記スライドボートが、成層
格子の方向が前記基板の移動方向と一致するグラ
フアイトよりなることを特徴とし、スライドボー
トの熱特性が均一になるようにして目的の達成を
計つたものである。
[作用] グラフアイトは、第3図に示すように、複数の
微小層が積層されて構成されている。
本考案の化合物半導体結晶成長装置では、エピ
タキシヤル成長に用いられるグラフアイト製のス
ライドボートを製作する場合に、グラフアイトの
いわゆる成層格子の方向Yを基板の移動する方
向、即ちエピタキシヤル成長炉内の均熱化される
方向と一致するようにしてあるので、スライドボ
ートの熱伝導特性が向上してスライドボート内の
熱特性か均一となり、結晶成長時の不純物濃度を
均一にして膜厚の一定な高品質の化合物半導体結
晶を得ることができる。
[実施例] 以下、本考案の一実施例を図により説明する。
第1図は本考案の化合物半導体結晶成長装置の
一実施例の説明図である。
図において2はスライド板、3はスライド板2
に取付られた基板、4A,4B,4Cは例えば
Ga溶液にGaAs結晶を溶解した原料融液で夫々組
成等が異なる。1は原料溶液4A〜4Cを入れる
原料溶液溜である。5は支持体である。
この実施例では、基板3をスライド板2と共に
図の矢印×方向に移動させ、原料溶液4A,4
B,4Cと次々に接触させることにより基板3の
上に性質の異なる単結晶を多層成長させることが
できる。
原料溶液溜治具1、スライド板2、及び支持体
5はグラフアイトを材料にして作成されている
が、これらの各部品を作るグラフアイトの成層格
子の方向を図の矢印×の方向、即ち基板3の移動
方向と一致するようにしてあるので、成長装置の
熱伝導度が良好となり、かつ均熱特性が著しく向
上し、高品質の多層エピタキシヤル成長層を得る
ことができる。
第1図では原料溶液には4A,4B,4Cと三
種類の溶液を用いる場合について示したが、二種
以下、或は四種以上用いる場合にも同様に適用す
ることができる。
又、第2図に示すような基板3を縦に設置する
形式のスライドボートでは原料溶液溜治具6を形
成するグラフアイトの成層格子の方向を図の矢印
Y方向と一致させることにより、成長装置熱伝導
度及び均熱特性が向上し、高品質の結晶を成長さ
せることができる。
実施例 1 基板の移動方向とグラフアイトの成層格子の方
向を一致させた第2図に示したスライドボートに
より、GaAs基板上にSi濃度1×1018cm-3を目標
として20μmのGaAs層を成長させた。得られた
GaAs層の面ない不純物濃度のばらつきは±8%
以下であり、膜厚のばらつきは±2μm以下であ
つた。
比較例 1 無配向性グラフアイトからなるスライドボート
を使用して、実施例1と同じ条件でGaAs層を成
長したところ、得られたGaAs層の面ない不純物
濃度のばらつきは±15%以上であり、膜厚のばら
つきは±5μm以上であつた。
以上、本考案の各実施例によれば、次のような
効果が得られる。
(1) 成長装置が大形となり熱特性が劣化する恐れ
がある場合でも、材料のグラフアイトの成層格
子の方向を基板の移動方向と一致させることに
より、成長装置自体の熱伝導特性及び均熱特性
を向上させることができる。
(2) グラフアイトの成層格子の方向を考慮して成
長装置の各部品を作成したことにより、成層格
子の方向が不規則のまま成長装置を作成した場
合に比べ、熱伝導度を100〜1000倍上昇させる
ことができる。
[考案の効果] 以上詳細に説明したように本考案によれば、エ
ピタキシヤル層の面内の不純物濃度及び膜厚の均
一性を向上することができる均熱特性の良好なス
ライドボートを有する化合物半導体結晶成長装置
を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の化合物半導体結晶成長装置の
一実施例の説明図、第2図は同じく他の実施例の
説明図、第3図はグラフアイトの層状構造を示す
説明図である。 1,6……原料溶液溜治具、2……スライド
板、3……基板、4A,4B,4C……原料溶
液、5……支持体。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 原料溶液を収容する原料溶液溜治具と基板を設
    置するスライド板とを備え前記原料溶液溜治具と
    前記スライド板を相対的に移動して前記原料溶液
    と前記基板とを接触させて前記基板上に化合物結
    晶薄膜をエピタキシヤル成長させる化合物半導体
    結晶成長装置において、前記原料溶液溜治具及び
    前記スライド板が、成層格子の方向が前記基板の
    移動方向と一致するグラフアイトよりなることを
    特徴とする化合物半導体結晶成長装置。
JP1987030658U 1987-03-03 1987-03-03 Expired - Lifetime JPH0543109Y2 (ja)

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JP1987030658U JPH0543109Y2 (ja) 1987-03-03 1987-03-03

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JPS63140072U JPS63140072U (ja) 1988-09-14
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS591342B2 (ja) * 1976-08-30 1984-01-11 三菱電機株式会社 ソレノイド制御装置
JPS5391921A (en) * 1977-01-24 1978-08-12 Kogyo Gijutsuin Process for making highly oriented graphite material

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JPS63140072U (ja) 1988-09-14

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