JPH0543355U - パラレルヘツド転送磁気デイスク用検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 パラレルヘッド転送磁気ディスク装置のアナ
ログエラー及びデジタルエラーを検出し欠陥情報をフォ
ーマットする。 【構成】 奇数データヘッドのアナログエラーを検出す
るＯＤＤアナログサーチファイ回路８と、偶数データヘ
ッドのアナログエラーを検出するＥＶＮアナログサーチ
ファイ回路９と、デジタルエラーを検出するデジタルサ
ーチファイ回路１１により検出された各エラーをエラー
合成回路１２で合成し、エラー位置及びエラー長をエラ
ーメモリ回路１３に記憶する。フォーマット回路１４に
よりエラーメモリ回路１３からエラーデータを読み出
し、磁気ディスク装置にインターフェイスコントロール
回路１０を介して欠陥情報を書き込む。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、パラレルヘッド転送磁気ディスク用検査装置に関し、特にコンピュ ータの外部記憶装置である磁気ディスク装置のテストシステムに関する。

【０００２】

【従来の技術】

従来の磁気ディスク検査装置は図２に示すように、磁気ディスク装置の１つの ヘッドからのアナログリード信号を入力してアナログエラー信号を出力するアナ ログサーチファイ回路２６と、磁気ディスク装置とのインターフェイスをコント ロールするインターフェイスコントロール回路２７と、このインターフェイスコ ントロール回路２７を介してデジタルリード信号を入力してデジタルエラー信号 を出力するデジタルサーチファイ回路２８と、アナログエラー信号，デジタルエ ラー信号，インデックス信号，ビットクロック信号を入力してエラー位置及びエ ラー長を記憶するエラーメモリ回路２９と、このエラーデータをもとに磁気ディ スク装置に欠陥情報を書き込むフォーマット回路３０とを有している。

【０００３】 次に動作について説明する。

【０００４】 磁気ディスク装置の媒体２１に書き込まれたデータは、Ｒ／Ｗヘッド２２より リードされ、Ｒ／Ｗアンプ２３で増幅されて、アナログリード信号として検査装 置のアナログサーチファイ回路２６へ入力される。

【０００５】 一方、Ｒ／Ｗアンプ２３のアナログリード信号は、Ｒ／Ｗ回路２４へも入力さ れてデジタルリード信号に変換され、インターフェイスコントロール回路２５を 介して、検査装置側のインターフェイスコントロール回路２７へ入力される。

【０００６】 検査装置側では、入力されたアナログリード信号をアナログサーチファイ回路 ２６によりアナログエラーを検出してアナログエラー信号を生成し、エラーメモ リ回路２９へ送る。

【０００７】 一方、入力されたデジタルリード信号は、インターフェイスコントロール回路 ２７を介してデジタルサーチファイ回路２８へ入力される。デジタルサーチファ イ回路２８では、デジタルエラーを検出してデジタルエラー信号を生成し、エラ ーメモリ回路２９へ送る。

【０００８】 エラーメモリ回路２９では、アナログ，デジタルエラー信号及びインターフェ イスコントロール回路２７より得られたインデックス信号，ビットクロック信号 をもとに、アナログ，デジタル両エラーのエラー位置（インデックスからのバイ ト数）及びエラー長（ビット長）をエラーデータとして記憶する。

【０００９】 磁気ディスク装置全体の検査が終了したら、フォーマット回路３０は、エラー メモリ回路２９のエラーデータを読み出し、欠陥情報をインターフェイスコント ロール回路２７を介して磁気ディスク装置に書き込む。

【００１０】

【考案が解決しようとする課題】

この従来の磁気ディスク検査装置では、アナログサーチファイ回路が１回路し かなく、同時に２つのヘッドよりリード・ライトを行うパラレルヘッド転送磁気 ディスク装置の検査ができないという欠点があった。

【００１１】 本考案の目的は、同時に２つのヘッドからのアナログリード信号を入力してエ ラーを検出できるようにした磁気ディスク用検査装置を提供することにある。

【００１２】

【課題を解決するための手段】

前記目的を達成するため、本考案に係るパラレルヘッド転送磁気ディスク用検 査装置においては、磁気ディスク装置の２つのヘッドからアナログリード信号を 入力して、アナログエラー信号を出力する２つのアナログサーチファイ回路と、 磁気ディスクインターフェイスからデジタルリード信号を入力して、デジタル エラー信号を出力するデジタルサーチファイ回路と、 ２つのアナログエラー信号とデジタルエラー信号とを入力してトータルエラー 信号を出力するエラー合成回路と、 トータルエラー信号とインデックス信号とビットクロックとを入力して、エラ ー位置及びエラー長を記憶するエラーメモリ回路と、 エラーデータをもとに磁気ディスク装置に欠陥情報を書き込むフォーマット回 路とを有するものである。

【００１３】

【作用】

本考案の検査装置は、磁気ディスク装置の２つのヘッドから同時にアナログリ ード信号を入力してアナログエラー信号を出力し、磁気ディスクインターフェイ スを介してデジタルリード信号を入力してデジタルエラー信号を出力し、２つの アナログエラー信号とデジタルエラー信号を入力してトータルエラー信号を出力 し、トータルエラー信号及びインデックス信号及びビットクロック信号を入力し てエラー位置及びエラー長をエラーデータとして記憶し、このエラーデータをも とに磁気ディスク装置に欠陥情報を書き込むようにしたものである。

【００１４】

【実施例】

次に本考案について図面を参照して説明する。

【００１５】 図１は、本考案の一実施例を示すブロック図である。

【００１６】 図において、本実施例に係るパラレルヘッド転送磁気ディスク装置では、媒体 １にライトする場合、データの奇数バイトをＯＤＤ Ｒ／Ｗヘッド２により、デ ータの偶数バイトをＥＶＮ Ｒ／Ｗヘッド３により行う。

【００１７】 媒体１に書き込まれたデータの奇数バイトは、ＯＤＤ Ｒ／Ｗヘッド２よりリ ードされ、Ｒ／Ｗ・ＡＭＰ（アンプ）４で増幅されてＯＤＤアナログ信号として 検査装置のＯＤＤアナログサーチファイ回路８へ入力される。

【００１８】 一方、偶数バイトは、ＥＶＮ Ｒ／Ｗヘッド３によりリードされ、Ｒ／Ｗ・Ａ ＭＰ５で増幅されてＥＶＮアナログ信号として検査装置のＥＶＮアナログサーチ ファイ回路９へ入力される。

【００１９】 また、前記ＯＤＤ，ＥＶＮのアナログ信号は、Ｒ／Ｗ回路６へも入力され、Ｒ ／Ｗ回路６では、ＯＤＤ，ＥＶＮ信号を合成し、デジタルリード信号に変換して インターフェイス回路７を介して検査装置側のインターフェイス回路１０へ入力 される。

【００２０】 検査装置側では、入力されたＯＤＤアナログ信号についてＯＤＤアナログサー チファイ回路８によりアナログエラーを検出し、ＯＤＤアナログエラー信号を生 成してエラー合成回路１２へ送る。

【００２１】 同様に、入力されたＥＶＮアナログ信号についてＥＶＮアナログサーチファイ 回路９によりアナログエラーを検出し、ＥＶＮアナログエラー信号を生成してエ ラー合成回路１２へ送る。

【００２２】 デジタルサーチファイ回路１１では、インターフェイスコントロール回路１０ を介して得たデジタルリード信号より、デジタルエラーを検出し、デジタルエラ ー信号を生成してエラー合成回路１２へ送る。

【００２３】 エラー合成回路１２では、３つのエラー信号すなわちＯＤＤアナログエラー， ＥＶＮアナログエラー，デジタルエラーの各信号を合成してトータルエラー信号 を生成し、エラーメモリ回路１３へ送る。

【００２４】 エラーメモリ回路１３では、トータルエラー信号及び、インターフェイスコン トロール回路１０より得られたインデックス信号，ビットクロック信号をもとに エラー位置及びエラー長をエラーデータとして記憶する。

【００２５】 磁気ディスク装置全体の検査が終了したら、フォーマット回路１４は、エラー メモリ回路１３のエラーデータを読み出し、欠陥情報をインターフェイスコント ロール回路１０を介して磁気ディスク装置に書き込む。

【００２６】

【考案の効果】

以上説明したように本考案は、同時に２つのヘッドからのアナログリード信号 を入力してエラーを検出できるように２つのアナログサーチファイ回路をもち、 デジタルエラーと合成することにより、パラレルヘッド転送磁気ディスク装置の 検査が可能になるという効果を有する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案の一実施例を示すブロック図である。

【図２】従来の検査装置を示すブロック図である。

【符号の説明】

１ ディスク媒体 ２ ＯＤＤ Ｒ／Ｗヘッド ３ ＥＶＮ Ｒ／Ｗヘッド ４ Ｒ／Ｗ・ＡＭＰ ５ Ｒ／Ｗ・ＡＭＰ ６ Ｒ／Ｗ回路 ７ インターフェイスコントロール回路（磁気ディスク
側） ８ ＯＤＤアナログサーチファイ回路 ９ ＥＶＮアナログサーチファイ回路 １０ インターフェイスコントロール回路（検査装置
側） １１ デジタルサーチファイ回路 １２ エラー合成回路 １３ エラーメモリ回路 １４ フォーマット回路

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 磁気ディスク装置の２つのヘッドからア
   ナログリード信号を入力して、アナログエラー信号を出
   力する２つのアナログサーチファイ回路と、 磁気ディスクインターフェイスからデジタルリード信号
   を入力して、デジタルエラー信号を出力するデジタルサ
   ーチファイ回路と、 ２つのアナログエラー信号とデジタルエラー信号とを入
   力してトータルエラー信号を出力するエラー合成回路
   と、 トータルエラー信号とインデックス信号とビットクロッ
   クとを入力して、エラー位置及びエラー長を記憶するエ
   ラーメモリ回路と、 エラーデータをもとに磁気ディスク装置に欠陥情報を書
   き込むフォーマット回路とを有することを特徴とするパ
   ラレルヘッド転送磁気ディスク用検査装置。