JPH0548557B2 - - Google Patents
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- JPH0548557B2 JPH0548557B2 JP61114368A JP11436886A JPH0548557B2 JP H0548557 B2 JPH0548557 B2 JP H0548557B2 JP 61114368 A JP61114368 A JP 61114368A JP 11436886 A JP11436886 A JP 11436886A JP H0548557 B2 JPH0548557 B2 JP H0548557B2
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- JP
- Japan
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- liner
- case
- light
- edge
- floppy disk
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- 238000000034 method Methods 0.000 claims description 13
- 239000002657 fibrous material Substances 0.000 claims description 4
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 9
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 239000000428 dust Substances 0.000 description 4
- 229920000297 Rayon Polymers 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 239000004745 nonwoven fabric Substances 0.000 description 3
- 239000004033 plastic Substances 0.000 description 3
- 239000002964 rayon Substances 0.000 description 3
- 239000004743 Polypropylene Substances 0.000 description 2
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 2
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000001678 irradiating effect Effects 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 239000004677 Nylon Substances 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 238000003780 insertion Methods 0.000 description 1
- 230000037431 insertion Effects 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 1
- 229920001778 nylon Polymers 0.000 description 1
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 1
- -1 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 229920001155 polypropylene Polymers 0.000 description 1
- 238000004080 punching Methods 0.000 description 1
- 239000002759 woven fabric Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B23/00—Record carriers not specific to the method of recording or reproducing; Accessories, e.g. containers, specially adapted for co-operation with the recording or reproducing apparatus ; Intermediate mediums; Apparatus or processes specially adapted for their manufacture
- G11B23/50—Reconditioning of record carriers; Cleaning of record carriers ; Carrying-off electrostatic charges
- G11B23/505—Reconditioning of record carriers; Cleaning of record carriers ; Carrying-off electrostatic charges of disk carriers
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B23/00—Record carriers not specific to the method of recording or reproducing; Accessories, e.g. containers, specially adapted for co-operation with the recording or reproducing apparatus ; Intermediate mediums; Apparatus or processes specially adapted for their manufacture
- G11B23/02—Containers; Storing means both adapted to cooperate with the recording or reproducing means
- G11B23/03—Containers for flat record carriers
- G11B23/033—Containers for flat record carriers for flexible discs
- G11B23/0332—Containers for flat record carriers for flexible discs for single discs, e.g. envelopes
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は一般にジヤケツトあるいはシエルと指
称される、ライナーを内部に貼付してなるフロツ
ピーデイスク用ケースの検査する方法に関し、詳
しくはこのケースの縁部から、繊維材料よりなる
上記ライナーがはみ出しているか否かを検査する
フロツピーデイスク用ケース検査方法に関するも
のである。
称される、ライナーを内部に貼付してなるフロツ
ピーデイスク用ケースの検査する方法に関し、詳
しくはこのケースの縁部から、繊維材料よりなる
上記ライナーがはみ出しているか否かを検査する
フロツピーデイスク用ケース検査方法に関するも
のである。
(従来の技術)
コンピユータ用あるいは電子スチルカメラ用の
記録媒体等として用いられるフロツピーデイスク
(マイクロフロツピーデイスクを含む)は、一般
に磁気デイスクを、塵埃除去用の繊維材料からな
るライナーを内部に貼付したプラスチツクケース
内に収容することにより形成されている。
記録媒体等として用いられるフロツピーデイスク
(マイクロフロツピーデイスクを含む)は、一般
に磁気デイスクを、塵埃除去用の繊維材料からな
るライナーを内部に貼付したプラスチツクケース
内に収容することにより形成されている。
ところで、このケースは記録再生用磁気ヘツド
の挿入を許容する開口部を備えており、さらに上
記ライナーがこの開口部の縁部のぎりぎりのとこ
ろまで貼付される構成となつているために、この
ライナーをケース上で位置決めする際に誤差が生
じたり、このライナーにケバ立ちが生じたりする
と上記開口部の縁部からライナーがはみ出しやす
い。このようなライナーのはみ出しが生じている
状態でフロツピーデイスクを記録再生に供すると
ライナーが磁気ヘツドに接触しドロツプアウト発
生の原因となつたり、記録再生が不可能になつた
りする。
の挿入を許容する開口部を備えており、さらに上
記ライナーがこの開口部の縁部のぎりぎりのとこ
ろまで貼付される構成となつているために、この
ライナーをケース上で位置決めする際に誤差が生
じたり、このライナーにケバ立ちが生じたりする
と上記開口部の縁部からライナーがはみ出しやす
い。このようなライナーのはみ出しが生じている
状態でフロツピーデイスクを記録再生に供すると
ライナーが磁気ヘツドに接触しドロツプアウト発
生の原因となつたり、記録再生が不可能になつた
りする。
このような事態を未然に防ぐためには上記はみ
出しがあるか否かを製品検査工程において検査
し、良品と不良品を選別する必要がある。
出しがあるか否かを製品検査工程において検査
し、良品と不良品を選別する必要がある。
従来このような検査方法としてはケースの一方
向から前記開口部の縁部付近に投光器からの光ビ
ームを照射しこの光ビームの反射光をテレビカメ
ラあるいはニリアイメージセンサ等の受光器によ
り検出し、この検出した光量に基づいて上記縁部
からライナーがはみ出していないかどうかを検査
していた。
向から前記開口部の縁部付近に投光器からの光ビ
ームを照射しこの光ビームの反射光をテレビカメ
ラあるいはニリアイメージセンサ等の受光器によ
り検出し、この検出した光量に基づいて上記縁部
からライナーがはみ出していないかどうかを検査
していた。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、ケースの色がライナーの色(通
常は白色)と類似する場合には両者の光反射率が
近似し、ケースとライナーのいずれからの反射光
であるかを受光器によつて区別することが難しく
正確な検査を行なうためには、はみ出しているラ
イナーの部分のみに光線が照射されるように精度
の高い光線位置決めが要求されていた。
常は白色)と類似する場合には両者の光反射率が
近似し、ケースとライナーのいずれからの反射光
であるかを受光器によつて区別することが難しく
正確な検査を行なうためには、はみ出しているラ
イナーの部分のみに光線が照射されるように精度
の高い光線位置決めが要求されていた。
本発明はこのような事情に鑑みなされたもので
あり、ケースに対する投光光線照射域の位置決め
において高い精度を要求されることなく、ケース
縁部からライナーがはみ出しているか否かろ正確
に検査するこのできるフロツピーデイスク用ケー
ス検査方法を提供することを目的とするものであ
る。
あり、ケースに対する投光光線照射域の位置決め
において高い精度を要求されることなく、ケース
縁部からライナーがはみ出しているか否かろ正確
に検査するこのできるフロツピーデイスク用ケー
ス検査方法を提供することを目的とするものであ
る。
(問題点を解決するための手段)
本発明のフロツピーデイスク用ケース検査方法
はケースな厚み方向からこのケースの縁部付近に
光線を照射し、この光線の直進方向以外の方向で
あつて、この縁部からライナーがはみ出している
ときそのライナーのはみ出し部分により上記光線
が散乱される方向に配設した受光手段によりライ
ナーはみ出し部分からの散乱光を検出し、この検
出した光量に基づいてライナーがケースの縁部か
らはみ出しているか否かを検査することを特徴と
するものである。
はケースな厚み方向からこのケースの縁部付近に
光線を照射し、この光線の直進方向以外の方向で
あつて、この縁部からライナーがはみ出している
ときそのライナーのはみ出し部分により上記光線
が散乱される方向に配設した受光手段によりライ
ナーはみ出し部分からの散乱光を検出し、この検
出した光量に基づいてライナーがケースの縁部か
らはみ出しているか否かを検査することを特徴と
するものである。
ここでフロツピーデイスクとはいわゆるマイク
ロコンピユータ等も含むものであう。
ロコンピユータ等も含むものであう。
また、フロツピーデイスク用ケースとはフロツ
ピーデイスクを収納するケースであつて内部に塵
埃除去用のライナーを設けたものであり、フレキ
シブル性を有するジヤツケツトとリジツド性を有
するシエルの両方を含む。
ピーデイスクを収納するケースであつて内部に塵
埃除去用のライナーを設けたものであり、フレキ
シブル性を有するジヤツケツトとリジツド性を有
するシエルの両方を含む。
また、ケースの縁部とはとくにウインドー開口
部における縁部およびセンターホールにおける縁
部をいうが、その他ライナーがケースからはみ出
すおそれのあるケースの縁部全てを含むものとす
る。
部における縁部およびセンターホールにおける縁
部をいうが、その他ライナーがケースからはみ出
すおそれのあるケースの縁部全てを含むものとす
る。
また、縁部付近とはケースの端縁を挟んで所定
距離の範囲内の、内側部分および外側部分の双
方、または端縁から所定距離の範囲内の外側部分
をいうものとし、端縁よりも内側部分のみを意味
しないものとする。
距離の範囲内の、内側部分および外側部分の双
方、または端縁から所定距離の範囲内の外側部分
をいうものとし、端縁よりも内側部分のみを意味
しないものとする。
また、ライナーとは繊維材料から成るものであ
れば良く、通常白色の不織布で形成されている
が、その他種々の色、材質、厚み、密度のものを
含むものとする。勿論織布で形成されているもの
でも良い。
れば良く、通常白色の不織布で形成されている
が、その他種々の色、材質、厚み、密度のものを
含むものとする。勿論織布で形成されているもの
でも良い。
また、光線の直進方向以外の方向であつて、ケ
ースの縁部からライナーがはみ出していとき該ラ
イナーのはみ出し部分によりこの光線が散乱され
る方向とは、この縁部において上記光線の直進方
向に対して所定角度傾けた方向を意味し、この所
定角度とはライナーの性質に応じて変化し得る角
度であり、また上記光線の散乱光が直性光よりも
多く分布する角度であつて、例えば20〜55度の角
度をいう。
ースの縁部からライナーがはみ出していとき該ラ
イナーのはみ出し部分によりこの光線が散乱され
る方向とは、この縁部において上記光線の直進方
向に対して所定角度傾けた方向を意味し、この所
定角度とはライナーの性質に応じて変化し得る角
度であり、また上記光線の散乱光が直性光よりも
多く分布する角度であつて、例えば20〜55度の角
度をいう。
(発明の効果)
本発明のフロツピーデイスク用ケース検査方法
によれば、検査しようとするケースの縁部におい
て照射光線の直進方向に対して所定角度傾けた直
線上でライナーから散乱光のみを検出するように
しているから、ケースの色がライナーの色と類似
する場合においてもケースからの反射光の影響の
考慮する必要がなく、はみ出しているライナーに
のみ光線を照射するというようなめんどうな位置
調整を行なうことなく容易にライナーのはみ出し
を検出することができる。すなわちライナーのは
み出しが無いときケースに照射された光線は遮断
され、それ以外の光線は直進するので受光手段に
より検出される光量は小となる。これに対してラ
イナーのはみ出しがあるときケース照射された光
線は遮断されるがライナーに照射された光線はい
散乱光となつてその一部が受光手段に入射するの
で受光手段により検出される光量は大となる。こ
の検出される光量の大小に基づいてライナーとは
み出しがあるか否かを検査する。
によれば、検査しようとするケースの縁部におい
て照射光線の直進方向に対して所定角度傾けた直
線上でライナーから散乱光のみを検出するように
しているから、ケースの色がライナーの色と類似
する場合においてもケースからの反射光の影響の
考慮する必要がなく、はみ出しているライナーに
のみ光線を照射するというようなめんどうな位置
調整を行なうことなく容易にライナーのはみ出し
を検出することができる。すなわちライナーのは
み出しが無いときケースに照射された光線は遮断
され、それ以外の光線は直進するので受光手段に
より検出される光量は小となる。これに対してラ
イナーのはみ出しがあるときケース照射された光
線は遮断されるがライナーに照射された光線はい
散乱光となつてその一部が受光手段に入射するの
で受光手段により検出される光量は大となる。こ
の検出される光量の大小に基づいてライナーとは
み出しがあるか否かを検査する。
(実施例)
以下、本発明の実施例について図面を用いて説
明する。
明する。
第1図は本発明のフロツピーデイスク用ケース
検査方法を実施するための装置の一例を示す概略
図である。この装置は投光器1と、この投光器1
からの光線2が被検査体であるライナー3により
散乱されて生ずる散乱光を検出する受光器4およ
びこの受光器4の受光量に基づいてライナー3の
はみ出しがあるか否かを判定する判定手段5によ
り構成されている。また、この受光器4は光線2
の光軸6に対し、はみ出しが生じているときのラ
イナー位置において所定角度θ傾けた直線7上に
配設されている。なお、受光器4は通常、工業用
テレビカメラ、リニアイメージセンサ等の光電変
換器によりい形成されている。
検査方法を実施するための装置の一例を示す概略
図である。この装置は投光器1と、この投光器1
からの光線2が被検査体であるライナー3により
散乱されて生ずる散乱光を検出する受光器4およ
びこの受光器4の受光量に基づいてライナー3の
はみ出しがあるか否かを判定する判定手段5によ
り構成されている。また、この受光器4は光線2
の光軸6に対し、はみ出しが生じているときのラ
イナー位置において所定角度θ傾けた直線7上に
配設されている。なお、受光器4は通常、工業用
テレビカメラ、リニアイメージセンサ等の光電変
換器によりい形成されている。
ところで、上記装置にける被検査体であるライ
ナー3はフロツピーデイスク収容用ケース1の内
部に磁気デイスクの塵埃除去を目的として設けら
れらものである。第2図はマイクロフロツピーデ
イスクのプラスチツク収納ケース8のうち一方の
シエルハーフの内面を示す概略図である。このケ
ース8の一部をなすシエルハーフには磁気ヘツド
挿入用開口部であるヘツドウインドー9が形成さ
れており、このヘツドウインド一部を除く部分に
磁気デイスクの収納位置と対応させるようにして
ライナー3が貼付されている。シエルハーフはプ
ラスチツク遮光部材により形成されており、また
ライナー3は例えば以下に示すような不織布によ
り形成されている。
ナー3はフロツピーデイスク収容用ケース1の内
部に磁気デイスクの塵埃除去を目的として設けら
れらものである。第2図はマイクロフロツピーデ
イスクのプラスチツク収納ケース8のうち一方の
シエルハーフの内面を示す概略図である。このケ
ース8の一部をなすシエルハーフには磁気ヘツド
挿入用開口部であるヘツドウインドー9が形成さ
れており、このヘツドウインド一部を除く部分に
磁気デイスクの収納位置と対応させるようにして
ライナー3が貼付されている。シエルハーフはプ
ラスチツク遮光部材により形成されており、また
ライナー3は例えば以下に示すような不織布によ
り形成されている。
例 1
ケンドール9303
材質……レーヨン75%、
ポリプロピレン25%
厚さ……160μ〜400μ
色 ……白色
例 2
ケンドールSP188
材質……レーヨン75%、PET25%
厚さ……160μ〜400μ
色 ……白色
但し、ライナーを形成する不織布の例としては
上記のものに限られるものではなく種々のもを使
用することができ、例えばその材質はレーヨン、
PP、PET、ナインロン、PAN等、あるいはこれ
らの混紡材であつてもよく、その厚さも100μ〜
500μ程度であれば充分である。このようなライ
ナーは塵埃除去の実効を向上させるためヘツドウ
インドー9の縁部のぎりぎりのところまで貼付さ
れているのでライナー3の打抜不良によるケバ立
ちあるいはライナー3の貼付位置ズレがある場合
にライナー3が上記縁部からはみ出し磁気ヘツド
と接触してドロツプアウト発生の原因になつなり
記録再生不良の原因になつたりする。また磁気ヘ
ツドの破損の原因ともなる。またライナー3がセ
ンタホール11の縁部からはみ出した場合にはフ
ロツピーデイスクのデイスクドライブ装置への装
填ミスあるいは取出ミスを招いたりする。そこで
第1図に示す装置によりこのようなライナー3の
はみ出しが生じているケース8を検出して選別す
るようにしている。
上記のものに限られるものではなく種々のもを使
用することができ、例えばその材質はレーヨン、
PP、PET、ナインロン、PAN等、あるいはこれ
らの混紡材であつてもよく、その厚さも100μ〜
500μ程度であれば充分である。このようなライ
ナーは塵埃除去の実効を向上させるためヘツドウ
インドー9の縁部のぎりぎりのところまで貼付さ
れているのでライナー3の打抜不良によるケバ立
ちあるいはライナー3の貼付位置ズレがある場合
にライナー3が上記縁部からはみ出し磁気ヘツド
と接触してドロツプアウト発生の原因になつなり
記録再生不良の原因になつたりする。また磁気ヘ
ツドの破損の原因ともなる。またライナー3がセ
ンタホール11の縁部からはみ出した場合にはフ
ロツピーデイスクのデイスクドライブ装置への装
填ミスあるいは取出ミスを招いたりする。そこで
第1図に示す装置によりこのようなライナー3の
はみ出しが生じているケース8を検出して選別す
るようにしている。
投光器1らの光線2はケース8の縁部に照射さ
れるように設定されている。ケース8の縁部から
ライナー3がはみ出していない場合には光線2の
一部はケース8により遮断され、他はそのまま直
進する。したがつてこの場合投光器4には光線2
が入射されず受光器4の受光量は小である。これ
に対してケース8の縁部からライナー3がはみ出
している場合には光線2の一部はケース8により
遮断されるが、他はライナー3により散乱されそ
の散乱光の一部は受光器4に入射し受光器4の受
光量は大となる。このように受光器4の受光量の
大小は受光器4から判定手段5に出力される出力
電圧の大小となり、この出力電圧の大小に基づい
て判定手段5が上記ライナー3のはみ出しがある
かないかを判定する。なお、上述したように受光
器4は光線2の光軸6から所定角度θ傾けた直線
7上に配設されている。この所定角度θはライナ
ーの材質、厚み、密度等の種々の要素に応じて選
択する。第3図は第2図に示すライナー3に光線
2を照射した場合の散乱光の強度(受光器4から
の出力電圧(V)で表わす)を光線2の光軸6か
らの角度θ〓(度)との関係で表わす実験データを
示すグラフである。なお、第3図には同一条件で
行なつた5回の実験結果が各々示されている。第
3図によれば、θ〓が20°以下のときは照射光線を
直接受光してしまうので散乱光のみの測定は不可
能であり、55°以上のときは散乱光強度が急激に
小さくなるため、その間の角度のとき測定可能と
なることがわかる。このような事情を考慮すると
第1図に示す装置を用いて第2図に示すマイクロ
フロツピーデイスクを検査する場合には所定角度
θを20°〜55°の間に設定すればよい。
れるように設定されている。ケース8の縁部から
ライナー3がはみ出していない場合には光線2の
一部はケース8により遮断され、他はそのまま直
進する。したがつてこの場合投光器4には光線2
が入射されず受光器4の受光量は小である。これ
に対してケース8の縁部からライナー3がはみ出
している場合には光線2の一部はケース8により
遮断されるが、他はライナー3により散乱されそ
の散乱光の一部は受光器4に入射し受光器4の受
光量は大となる。このように受光器4の受光量の
大小は受光器4から判定手段5に出力される出力
電圧の大小となり、この出力電圧の大小に基づい
て判定手段5が上記ライナー3のはみ出しがある
かないかを判定する。なお、上述したように受光
器4は光線2の光軸6から所定角度θ傾けた直線
7上に配設されている。この所定角度θはライナ
ーの材質、厚み、密度等の種々の要素に応じて選
択する。第3図は第2図に示すライナー3に光線
2を照射した場合の散乱光の強度(受光器4から
の出力電圧(V)で表わす)を光線2の光軸6か
らの角度θ〓(度)との関係で表わす実験データを
示すグラフである。なお、第3図には同一条件で
行なつた5回の実験結果が各々示されている。第
3図によれば、θ〓が20°以下のときは照射光線を
直接受光してしまうので散乱光のみの測定は不可
能であり、55°以上のときは散乱光強度が急激に
小さくなるため、その間の角度のとき測定可能と
なることがわかる。このような事情を考慮すると
第1図に示す装置を用いて第2図に示すマイクロ
フロツピーデイスクを検査する場合には所定角度
θを20°〜55°の間に設定すればよい。
なお、上記実施例においてはフロツピーデイス
クのケースをシエルハーフに分解した状態で検査
しているが、上下シエルハーフを組み合わせた状
態でも上記実施例と同様の検査を行なうことがで
きる。
クのケースをシエルハーフに分解した状態で検査
しているが、上下シエルハーフを組み合わせた状
態でも上記実施例と同様の検査を行なうことがで
きる。
なお、上記実施例ではリジツドタイプのシエル
ケースを有するマイクロフロツピーデイスクを検
査する方法について説明しているが、本発明の実
施例としては勿論これに限られるものではなくフ
レキシブルタイプのジヤケツトケースを有するい
わゆるフロツピーデイスクを検査する場合にも同
様に行なうことができる。
ケースを有するマイクロフロツピーデイスクを検
査する方法について説明しているが、本発明の実
施例としては勿論これに限られるものではなくフ
レキシブルタイプのジヤケツトケースを有するい
わゆるフロツピーデイスクを検査する場合にも同
様に行なうことができる。
第1図は本発明のフロツピーデイスク用ケース
検査方法を実施するための装置の一例を示す概略
図、第2図は第1図に示す装置の検査対象たるフ
ロツピーデイスクケースの一例を示す概略図、第
3図は第1図に示すライナーからの散乱光分布強
度を示すグラフである。 1……投光器、2……照射光線、3……ライナ
ー、4……受光器、5……判定手段、8……ケー
ス、9……ヘツドウインドー。
検査方法を実施するための装置の一例を示す概略
図、第2図は第1図に示す装置の検査対象たるフ
ロツピーデイスクケースの一例を示す概略図、第
3図は第1図に示すライナーからの散乱光分布強
度を示すグラフである。 1……投光器、2……照射光線、3……ライナ
ー、4……受光器、5……判定手段、8……ケー
ス、9……ヘツドウインドー。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 フロツピーデイスク用ケースの内側に設けた
繊維材料からなるライナーが該ケースの縁部から
はみ出しているか否かを検査する方法において、 前記ケースの厚み方向から、前記ケースの縁部
付近に光線を照射し、該縁部から前記ライナーが
はみ出している場合に該ライナーのはみ出し部分
により散乱される散乱光が進行する方向であつ
て、かつ前記光線の直進方向以外の方向において
該散乱光を検出し、その検出した結果に基づいて
前記ライナーのはみ出しを検査することを特徴と
するフロツピーデイスク用ケース検査方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61114368A JPS62270079A (ja) | 1986-05-19 | 1986-05-19 | フロツピ−デイスク用ケ−ス検査方法 |
| US07/051,346 US4752696A (en) | 1986-05-19 | 1987-05-19 | Method of inspecting floppy disk casing |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61114368A JPS62270079A (ja) | 1986-05-19 | 1986-05-19 | フロツピ−デイスク用ケ−ス検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62270079A JPS62270079A (ja) | 1987-11-24 |
| JPH0548557B2 true JPH0548557B2 (ja) | 1993-07-21 |
Family
ID=14635961
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61114368A Granted JPS62270079A (ja) | 1986-05-19 | 1986-05-19 | フロツピ−デイスク用ケ−ス検査方法 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4752696A (ja) |
| JP (1) | JPS62270079A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0632186B2 (ja) * | 1987-01-09 | 1994-04-27 | 富士写真フイルム株式会社 | フロツピ−デイスク用ケ−スの検査方法 |
| US4818132A (en) * | 1988-02-12 | 1989-04-04 | Ncr Corporation | Optical sensor protective member |
| EP0435057A1 (en) * | 1989-12-20 | 1991-07-03 | Nitto Denko Corporation | A wafer shape detecting method |
Family Cites Families (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE2047952C3 (de) * | 1970-09-30 | 1973-10-18 | Fa. Carl Zeiss, 7920 Heidenheim | Verfahren zur photometrischen Auswertung der sich bei der Auftrennung von Substanz gemischen in dünnen Schichten aus licht streuendem Material ergebenden Zonen |
| US3892492A (en) * | 1972-10-16 | 1975-07-01 | Loepfe Ag Geb | Optoelectrical apparatus with directional light sources for detecting reflection behaviour of an object |
| SE7905294L (sv) * | 1979-06-15 | 1980-12-16 | Svenska Traeforskningsinst | Stoftmetning |
| US4540887A (en) * | 1983-01-28 | 1985-09-10 | Xerox Corporation | High contrast ratio paper sensor |
| US4593192A (en) * | 1983-06-20 | 1986-06-03 | Targa Electronics Systems Inc. | Electronic circuit module and holder therefor |
-
1986
- 1986-05-19 JP JP61114368A patent/JPS62270079A/ja active Granted
-
1987
- 1987-05-19 US US07/051,346 patent/US4752696A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4752696A (en) | 1988-06-21 |
| JPS62270079A (ja) | 1987-11-24 |
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