JPH0423741B2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPH0423741B2 JPH0423741B2 JP3733184A JP3733184A JPH0423741B2 JP H0423741 B2 JPH0423741 B2 JP H0423741B2 JP 3733184 A JP3733184 A JP 3733184A JP 3733184 A JP3733184 A JP 3733184A JP H0423741 B2 JPH0423741 B2 JP H0423741B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- capsule
- cap
- twin
- circuit
- mask
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/95—Investigating the presence of flaws or contamination characterised by the material or shape of the object to be examined
- G01N21/9508—Capsules; Tablets
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の属する技術分野〕
本発明は、医療用カプセル検査装置に関するも
のであり、更に詳しくは、薬剤充填前のツインキ
ヤツプと称される不良カプセルを検出するための
カプセル検査装置に関するものである。
のであり、更に詳しくは、薬剤充填前のツインキ
ヤツプと称される不良カプセルを検出するための
カプセル検査装置に関するものである。
第１図ａは、薬剤充填前の空カプセルにおいて
は、キヤツプ１とボデー２の結合は仮結合状態に
なつていることを示すためのカプセル外観図であ
り、第１図ｂは充填後のカプセルにおいては、両
者の結合は本結合状態になつていることを示すた
めの外観図、である。なお、３はキヤツプとボデ
ー本結合した場合にパチンと相互にロツクし合う
ためのノツチを示している。
は、キヤツプ１とボデー２の結合は仮結合状態に
なつていることを示すためのカプセル外観図であ
り、第１図ｂは充填後のカプセルにおいては、両
者の結合は本結合状態になつていることを示すた
めの外観図、である。なお、３はキヤツプとボデ
ー本結合した場合にパチンと相互にロツクし合う
ためのノツチを示している。
第１図ｂにおいては、ボデー２の先端がキヤツ
プ１の奥にまで入り込み、ボデーとキヤツプが本
結合されているのに対し、第１図ａにおいては、
ボデー２の先端はキヤツプ１の奥にまでは入ら
ず、仮結合状態にあることがわかるであろう。
プ１の奥にまで入り込み、ボデーとキヤツプが本
結合されているのに対し、第１図ａにおいては、
ボデー２の先端はキヤツプ１の奥にまでは入ら
ず、仮結合状態にあることがわかるであろう。
このように仮結合状態にあるボデーとキヤツプ
は、結合力が弱いので、相互に分離しやすい。従
つて、このような空カプセルを検査装置などにか
けて振動を与えると、キヤツプがボデーから抜
け、他の正常なカプセルのボデーに後から結合
し、第２図に示したような不良カプセル（以下、
ツインキヤツプカプセルともいう。）を作ること
がある。なお、第２図はかかるツインキヤツプカ
プセルを示す外観図である。
は、結合力が弱いので、相互に分離しやすい。従
つて、このような空カプセルを検査装置などにか
けて振動を与えると、キヤツプがボデーから抜
け、他の正常なカプセルのボデーに後から結合
し、第２図に示したような不良カプセル（以下、
ツインキヤツプカプセルともいう。）を作ること
がある。なお、第２図はかかるツインキヤツプカ
プセルを示す外観図である。
このようなツインキヤツプカプセルを目視によ
らず自動的に検出する装置は、既に本出願と同じ
出願人によつて出願されている。（特願昭57−
158178号（特開昭59−48645号公報）参照）。その
発明では、第２図において見られるとおり、ツイ
ンキヤツプカプセルには必ず２個のノツチがある
ことに着目し、これを検出してツインキヤツプの
識別を可能としている。しかし、上記出願の方式
は大部分のカプセルに対しては有効であるが、或
る１部のカプセルに対しては不十分であることが
判明した。すなわち、カプセルのボデーの材質が
不透明で、キヤツプの材質が透明と不透明中間で
ある場合はノツチ部からの信号が微弱で、ボデー
部におけるノイズ信号との差が少なくなり、ノツ
チ部からの信号がノツチ部のないボデー部におけ
る信号より充分大きいことを前提として成り立つ
上記出願の方式では判定が困難になるという点で
ある。
らず自動的に検出する装置は、既に本出願と同じ
出願人によつて出願されている。（特願昭57−
158178号（特開昭59−48645号公報）参照）。その
発明では、第２図において見られるとおり、ツイ
ンキヤツプカプセルには必ず２個のノツチがある
ことに着目し、これを検出してツインキヤツプの
識別を可能としている。しかし、上記出願の方式
は大部分のカプセルに対しては有効であるが、或
る１部のカプセルに対しては不十分であることが
判明した。すなわち、カプセルのボデーの材質が
不透明で、キヤツプの材質が透明と不透明中間で
ある場合はノツチ部からの信号が微弱で、ボデー
部におけるノイズ信号との差が少なくなり、ノツ
チ部からの信号がノツチ部のないボデー部におけ
る信号より充分大きいことを前提として成り立つ
上記出願の方式では判定が困難になるという点で
ある。
本発明は、前述の如きキヤツプノツチ信号とボ
テー部ノイズ信号との差が少ない場合でも、ツイ
ンキヤツプと良品とを正確に判別することが可能
な新しい検査装置を提供することを目的とする。
テー部ノイズ信号との差が少ない場合でも、ツイ
ンキヤツプと良品とを正確に判別することが可能
な新しい検査装置を提供することを目的とする。
キヤツプのノツチ部からの信号とボデー部のノ
イズ信号を詳細に比較し、次の差に着目した。
イズ信号を詳細に比較し、次の差に着目した。
ノツチはキヤツプに２個設けてある（第２図の
状態を表とすると、その裏側にも設けられてい
る）。このため、カプセルが搬送の過程で１回転
する間に１つのノツチ部からの信号は２個発生す
るので、これを積分して得られる積分出力は、ボ
デー部から普通、１回又はそれ以下しか発生しな
い信号（ノイズ）の積分値より充分大きい。
状態を表とすると、その裏側にも設けられてい
る）。このため、カプセルが搬送の過程で１回転
する間に１つのノツチ部からの信号は２個発生す
るので、これを積分して得られる積分出力は、ボ
デー部から普通、１回又はそれ以下しか発生しな
い信号（ノイズ）の積分値より充分大きい。
つまり、本発明では、上記の差を検出するため
に、ツインキヤツプのノツチ部に対応した２つの
領域でそれぞれ前述の微分信号を整流した後積分
し、その結果をそれぞれ規準値と比較し、規準値
を越えている場合はキヤツプ部、規準値より低い
場合はボデー部とそれぞれ判定するようにしたの
で、ツインキヤツプ（不良品）であればキヤツプ
部が２箇所、それ以外ではキヤツプ部が１個所検
出されるので、それによつてツインキヤツプ（不
良品）を判定するようにしたものである。
に、ツインキヤツプのノツチ部に対応した２つの
領域でそれぞれ前述の微分信号を整流した後積分
し、その結果をそれぞれ規準値と比較し、規準値
を越えている場合はキヤツプ部、規準値より低い
場合はボデー部とそれぞれ判定するようにしたの
で、ツインキヤツプ（不良品）であればキヤツプ
部が２箇所、それ以外ではキヤツプ部が１個所検
出されるので、それによつてツインキヤツプ（不
良品）を判定するようにしたものである。
〔発明の実施例〕
次に図を参照して本発明の一実施例を説明す
る。
る。
一般に、カプセルの如き円筒状物体の光学的セ
ンサによる外観検査装置はすでに本発明者等によ
り提案（例えば特願昭57−040183号）されてお
り、光学的センサについては、既提案にかかるも
のを本発明においても使用するので、その概要を
以下に先ず説明する。
ンサによる外観検査装置はすでに本発明者等によ
り提案（例えば特願昭57−040183号）されてお
り、光学的センサについては、既提案にかかるも
のを本発明においても使用するので、その概要を
以下に先ず説明する。
第３図はかかる光学的センサの概要を示す断面
図である。同図において、５は自転しながら進行
するカプセル、６は光源７、コンデンサレンズ
８、ハーフミラー９、レンズ１０、アパーチヤ１
１およびフオトダイオード１２等からなるセンサ
である。
図である。同図において、５は自転しながら進行
するカプセル、６は光源７、コンデンサレンズ
８、ハーフミラー９、レンズ１０、アパーチヤ１
１およびフオトダイオード１２等からなるセンサ
である。
第３図において、光源７から放射された光はコ
ンデンサレンズ８で集光された後、ハーフミラー
９で光路を45°曲げられ、レンズ１０を介してカ
プセル５に照射される。カプセル表面で反射され
た光はレンズ１０、ハーフミラー９、アパーチヤ
１１を介してフオトダイオード１２に入射する。
フオトダイオード１２で入射光量は光電変換さ
れ、その出力が後述の判定回路に導かれるわけで
ある。
ンデンサレンズ８で集光された後、ハーフミラー
９で光路を45°曲げられ、レンズ１０を介してカ
プセル５に照射される。カプセル表面で反射され
た光はレンズ１０、ハーフミラー９、アパーチヤ
１１を介してフオトダイオード１２に入射する。
フオトダイオード１２で入射光量は光電変換さ
れ、その出力が後述の判定回路に導かれるわけで
ある。
第４図は、ノツチの如き凹みにおいては、反射
光量が減じ、従つてセンサ出力も減少することを
示す説明図である。
光量が減じ、従つてセンサ出力も減少することを
示す説明図である。
同図において、平坦領域Ａに於いてはセンサか
ら照射された光１５はセンサの光軸方向に360°正
反射されるのでフオトダイオードに届く光量は大
きい。しかる傾斜領域Ｂに於いては、センサの光
軸と異なつた方向に反射光１６の如く反射される
ので、フオトダイオードに届く光量は少ない。
ら照射された光１５はセンサの光軸方向に360°正
反射されるのでフオトダイオードに届く光量は大
きい。しかる傾斜領域Ｂに於いては、センサの光
軸と異なつた方向に反射光１６の如く反射される
ので、フオトダイオードに届く光量は少ない。
次に、自転しながら進行するカプセルを、上記
センサで光学的に走査することにより得られるセ
ンサ出力の波形を第５図を参照して説明してお
く。
センサで光学的に走査することにより得られるセ
ンサ出力の波形を第５図を参照して説明してお
く。
第５図において、カプセルは自転しながら進行
するので、センサによる光学的走査方向は、Y1，
Y2で示した如き方向となる。ノツチ３について
は、Y1とY2の二つの走査がなされたものとして
説明する。なお、カプセルの自転の速度は、その
搬送速度に比べてかなり大きく選ばれる。
するので、センサによる光学的走査方向は、Y1，
Y2で示した如き方向となる。ノツチ３について
は、Y1とY2の二つの走査がなされたものとして
説明する。なお、カプセルの自転の速度は、その
搬送速度に比べてかなり大きく選ばれる。
領域は、キヤツプ１の先端部分に当るが、先
端ほど丸みを帯びるのでセンサに達する反射光量
は少なくなる。領域乃至では、キヤツプ１と
ボデー２が重なつている部分なので、領域また
はのように、キヤツプ単独、ボデー単独の場合
よりも、反射光量が多くなる。領域とでは、
それぞれノツチ３による凹みのために、反射光量
は少なくなつている。領域は領域と同様であ
り、領域、は拡散によつて反射光量が殆んど
得られない領域である。
端ほど丸みを帯びるのでセンサに達する反射光量
は少なくなる。領域乃至では、キヤツプ１と
ボデー２が重なつている部分なので、領域また
はのように、キヤツプ単独、ボデー単独の場合
よりも、反射光量が多くなる。領域とでは、
それぞれノツチ３による凹みのために、反射光量
は少なくなつている。領域は領域と同様であ
り、領域、は拡散によつて反射光量が殆んど
得られない領域である。
次に、本発明の判定回路について説明する。
第６図は本発明の判定回路を示すブロツク図で
ある。同図において、２０は増幅器、２１は微分
回路、２２は整流回路、２３はリセツト用スイツ
チ（SW）付積分器、２４はコンパレータ、２
５，２６はそれぞれフリツプフロツプ、AN１〜
３はアンドゲートである。積分器２３のスイツチ
SWは、通常は閉じられており、マスク信号Ｆ−
MASK、Ｒ−MASKが発生したときのみ開かれ
て積分動作を行なう。なお、マスク信号Ｆ−
MASK、Ｒ−MASKは、それぞれ２つのノツチ
に対応して発せられるもので、カプセルの先端部
が検出されてから所定時間後、つまり、ノツチが
存在するであろうと予測される位置で発せられ
る。この種のカプセル検査装置においては、被検
査カプセルが搬送ベルトあるいは搬送ドラム等の
搬送手段に設けられたカプセル収容孔（この収容
孔の長さ寸法はカプセルのサイズに応じてカプセ
ルの長さ寸法より若干大きく設定されている）に
収容された状態で検査位置まで搬送されてくるよ
うに構成されているので、カプセルのキヤツプと
ボデーの種類が決まれば、ツインキヤツプカプセ
ルとなつた場合のノツチ部発生領域もある２つの
範囲に制限される。したがつて、本実施例の如く
ノツチが存在するであろうと予測される２つの位
置でマスク信号Ｆ−MASK、Ｒ−MASKを発生
させ、不要なノイズ信号を抽出しないようにして
おくことが好ましい。
ある。同図において、２０は増幅器、２１は微分
回路、２２は整流回路、２３はリセツト用スイツ
チ（SW）付積分器、２４はコンパレータ、２
５，２６はそれぞれフリツプフロツプ、AN１〜
３はアンドゲートである。積分器２３のスイツチ
SWは、通常は閉じられており、マスク信号Ｆ−
MASK、Ｒ−MASKが発生したときのみ開かれ
て積分動作を行なう。なお、マスク信号Ｆ−
MASK、Ｒ−MASKは、それぞれ２つのノツチ
に対応して発せられるもので、カプセルの先端部
が検出されてから所定時間後、つまり、ノツチが
存在するであろうと予測される位置で発せられ
る。この種のカプセル検査装置においては、被検
査カプセルが搬送ベルトあるいは搬送ドラム等の
搬送手段に設けられたカプセル収容孔（この収容
孔の長さ寸法はカプセルのサイズに応じてカプセ
ルの長さ寸法より若干大きく設定されている）に
収容された状態で検査位置まで搬送されてくるよ
うに構成されているので、カプセルのキヤツプと
ボデーの種類が決まれば、ツインキヤツプカプセ
ルとなつた場合のノツチ部発生領域もある２つの
範囲に制限される。したがつて、本実施例の如く
ノツチが存在するであろうと予測される２つの位
置でマスク信号Ｆ−MASK、Ｒ−MASKを発生
させ、不要なノイズ信号を抽出しないようにして
おくことが好ましい。
第７Ａ，Ｂ図は第６図における各部信号の波形
図であり、特に第７Ａ図は正常なカプセルCAを
走査した場合（正常動作）、第７Ｂ図はツインキ
ヤツプカプセルCBを走査した場合（異常動作）
にそれぞれ得られる各部信号の波形図である。
図であり、特に第７Ａ図は正常なカプセルCAを
走査した場合（正常動作）、第７Ｂ図はツインキ
ヤツプカプセルCBを走査した場合（異常動作）
にそれぞれ得られる各部信号の波形図である。
次に、本発明の動作を第６図、第７Ａ図および
第７Ｂ図を参照して説明する。センサ出力である
入力信号ａは、増幅器２０により適当な電圧レベ
ルまで増幅された後、微分回路２１により微分さ
れ、微分出力ｂとなる。微分信号ｂは整流回路２
２で整流された後、積分回路２３に入る（信号ｃ
参照）。積分回路２３のリセツトスイツチSWは、
ノツチ部の位置を示すＦ−MASKd、Ｒ−
MASKeによつて開かれ、これにより積分動作が
行なわれるので、整流された信号ｃは信号ｄまた
はｅがオンの期間だけ積分される。積分された波
形ｆは、コンパレータ２４で規準電圧VSと比較
され、さらに、この二値化された信号ｇは、アン
ドゲートAN１，２においてＦ−MASK、Ｒ−
MASK信号と同期化される。フリツプフロツプ
２５，２６は、アンドゲートAN１，２を介する
信号によつてセツトされ、その出力ｈ，ｉはアン
ドゲートAN３に与えられる。したがつて、正常
なカプセルを検査した場合は、フリツプフロツプ
２５はセツトされるが、フリツプフロツプ２６は
セツトされないので、アンドゲートAN３の出力
信号ｊはオンレベルにならないのに対し、ツイン
キヤツプを検査した場合は第７Ｂ図に示された波
形ｈ，ｉ，ｊから判るように、フリツプフロツプ
２５，２６ともにセツトされて出力信号ｊはオン
レベルにセツトされ、これによつてツインキヤツ
プカプセルであることがわかる。
第７Ｂ図を参照して説明する。センサ出力である
入力信号ａは、増幅器２０により適当な電圧レベ
ルまで増幅された後、微分回路２１により微分さ
れ、微分出力ｂとなる。微分信号ｂは整流回路２
２で整流された後、積分回路２３に入る（信号ｃ
参照）。積分回路２３のリセツトスイツチSWは、
ノツチ部の位置を示すＦ−MASKd、Ｒ−
MASKeによつて開かれ、これにより積分動作が
行なわれるので、整流された信号ｃは信号ｄまた
はｅがオンの期間だけ積分される。積分された波
形ｆは、コンパレータ２４で規準電圧VSと比較
され、さらに、この二値化された信号ｇは、アン
ドゲートAN１，２においてＦ−MASK、Ｒ−
MASK信号と同期化される。フリツプフロツプ
２５，２６は、アンドゲートAN１，２を介する
信号によつてセツトされ、その出力ｈ，ｉはアン
ドゲートAN３に与えられる。したがつて、正常
なカプセルを検査した場合は、フリツプフロツプ
２５はセツトされるが、フリツプフロツプ２６は
セツトされないので、アンドゲートAN３の出力
信号ｊはオンレベルにならないのに対し、ツイン
キヤツプを検査した場合は第７Ｂ図に示された波
形ｈ，ｉ，ｊから判るように、フリツプフロツプ
２５，２６ともにセツトされて出力信号ｊはオン
レベルにセツトされ、これによつてツインキヤツ
プカプセルであることがわかる。
本発明によれば次のような効果を期待すること
ができる。
ができる。
(イ) キヤツプに必ず形成されているノツチを検出
するようにしているので、確実に不良カプセル
であるツインキヤツプカプセルを識別すること
ができる。例えば、ボデーが短い場合、または
キヤツプが長い場合は第２図に於けるツインキ
ヤツプのキヤツプ間スキマΔCが零となるよう
なツインキヤツプカプセルもある。この場合、
キヤツプ間スキマΔCを検出してツインキヤツ
プを判定する方式では確実にツインキヤツプを
検出することは困難であるが、本発明によると
このような場合でも確実に検出することができ
る。
するようにしているので、確実に不良カプセル
であるツインキヤツプカプセルを識別すること
ができる。例えば、ボデーが短い場合、または
キヤツプが長い場合は第２図に於けるツインキ
ヤツプのキヤツプ間スキマΔCが零となるよう
なツインキヤツプカプセルもある。この場合、
キヤツプ間スキマΔCを検出してツインキヤツ
プを判定する方式では確実にツインキヤツプを
検出することは困難であるが、本発明によると
このような場合でも確実に検出することができ
る。
(ロ) 第３図を参照して説明した如き同軸反射形セ
ンサーを用いることにより、被検査物の材質が
透明体でも不透明体でもセンサー出力は、第７
Ａまたは７Ｂ図ａの如き波形となるので、全て
のカプセルに対して本発明を適用することがで
きる。
ンサーを用いることにより、被検査物の材質が
透明体でも不透明体でもセンサー出力は、第７
Ａまたは７Ｂ図ａの如き波形となるので、全て
のカプセルに対して本発明を適用することがで
きる。
第１図ａは薬剤充填前の空カプセルの外観図、
第１図ｂは同じく充填後のカプセル外観図、第２
図はツインキヤツプカプセルの外観図、第３図は
光学センサの概要を示す構成図、第４図はノツチ
の如き凹部における反射の態様を説明するための
説明図、第５図は所定軸のまわりで回転しながら
搬送されるカプセルをセンサにて光学的に走査し
て得られるセンサ出力波形を示す波形図、第６図
は本発明の実施例を示すブロツク図、第７Ａ図は
正常動作をするための各部波形図、第７Ｂ図は異
常動作を説明するための各部波形図である。 符号説明、１……キヤツプ、２……ボデー、３
……ノツチ、５……カプセル、６……センサ、７
……光源、８……コンデンサレンズ、９……ハー
フミラー、１０……レンズ、１１……アパーチ
ヤ、１２……フオトダイオード、２０……増幅
器、２１……微分回路、２２……整流回路、２３
……リセツトスイツチ付積分回路、２４……コン
パレータ、２５，２６……フリツプフロツプ。
第１図ｂは同じく充填後のカプセル外観図、第２
図はツインキヤツプカプセルの外観図、第３図は
光学センサの概要を示す構成図、第４図はノツチ
の如き凹部における反射の態様を説明するための
説明図、第５図は所定軸のまわりで回転しながら
搬送されるカプセルをセンサにて光学的に走査し
て得られるセンサ出力波形を示す波形図、第６図
は本発明の実施例を示すブロツク図、第７Ａ図は
正常動作をするための各部波形図、第７Ｂ図は異
常動作を説明するための各部波形図である。 符号説明、１……キヤツプ、２……ボデー、３
……ノツチ、５……カプセル、６……センサ、７
……光源、８……コンデンサレンズ、９……ハー
フミラー、１０……レンズ、１１……アパーチ
ヤ、１２……フオトダイオード、２０……増幅
器、２１……微分回路、２２……整流回路、２３
……リセツトスイツチ付積分回路、２４……コン
パレータ、２５，２６……フリツプフロツプ。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 長手軸を中心として回転しながら該軸方向に
搬送されるカプセルに光を投射し、その反射光量
から前記カプセルがツインキヤツプカプセルであ
るか否かを検査するカプセル検査装置であつて、 反射光を光電変換して得られる電気信号の微分
回路と、該微分回路による微分出力を整流する整
流回路と、前記カプセルの表面における特定２箇
所に対応した第１及び第２のマスク信号発生手段
と、前記第１及び第２のマスク信号発生手段から
それぞれマスク信号が出力されている期間だけ前
記整流回路からの整流出力を積分する積分回路
と、前記第１及び第２のマスク信号に対応する前
記積分回路による積分値がいずれも或る一定値を
超えたとき、当該カプセルはツインキヤツプカプ
セルであると判定する判定手段と、から成ること
を特徴とするカプセル検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3733184A JPS60183544A (ja) | 1984-03-01 | 1984-03-01 | カプセル検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3733184A JPS60183544A (ja) | 1984-03-01 | 1984-03-01 | カプセル検査装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60183544A JPS60183544A (ja) | 1985-09-19 |
| JPH0423741B2 true JPH0423741B2 (ja) | 1992-04-23 |
Family
ID=12494648
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3733184A Granted JPS60183544A (ja) | 1984-03-01 | 1984-03-01 | カプセル検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60183544A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH1198770A (ja) * | 1997-09-19 | 1999-04-09 | Victor Co Of Japan Ltd | モータのステータ構造及びモータのステータ組立方法 |
-
1984
- 1984-03-01 JP JP3733184A patent/JPS60183544A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60183544A (ja) | 1985-09-19 |
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