JPH0569602U - マイクロメータのアタッチメント - Google Patents

マイクロメータのアタッチメント

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Publication number
JPH0569602U
JPH0569602U JP833592U JP833592U JPH0569602U JP H0569602 U JPH0569602 U JP H0569602U JP 833592 U JP833592 U JP 833592U JP 833592 U JP833592 U JP 833592U JP H0569602 U JPH0569602 U JP H0569602U
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
anvil
attachment
micrometer
spindle
measurement
Prior art date
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Pending
Application number
JP833592U
Other languages
English (en)
Inventor
郁夫 大橋
延次 松井
Original Assignee
富士電気化学株式会社
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Filing date
Publication date
Application filed by 富士電気化学株式会社 filed Critical 富士電気化学株式会社
Priority to JP833592U priority Critical patent/JPH0569602U/ja
Publication of JPH0569602U publication Critical patent/JPH0569602U/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 薄板の幅寸法をマイクロメータにより測定す
る作業を簡単にかつ正確に行えるようにする。 【構成】 アタッチメントの両端のリング状取付部4
a、4bをマイクロメータのアンビル1とスピンドル2
にそれぞれ係合すると、アタッチメント全体がアンビル
/スピンドル軸線Pに対して一定の姿勢で位置決め保持
される。その状態でアタッチメント中間部5の測定基準
面5aがアンビル/スピンドル軸線Pと平行になる。そ
の測定基準面5aに被測定物3を当接して測定を行う。

Description

【考案の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】
この考案は、例えば薄板形の物品の幅寸法をマイクロメータで測定する際に使 用する補助具としてのマイクロメータのアタッチメントに関する。
【0002】
【従来の技術】
図1に示すように、短冊形の薄板3の幅寸法Wをマイクロメータで測定する場 合、アンビル1とスピンドル2の端面間に薄板3を挾み込む際に、アンビル/ス ピンドル軸線Pに対して薄板3を平行にしないと幅寸法Wは正確に測定できず、 軸線Pに対して薄板3が傾いていると測定値は正しい値より小さくなる。
【0003】
【考案が解決しようとする課題】
図1のようにマイクロメータで薄板3の幅寸法Wを測定する際に、アンビル/ スピンドル軸線Pに対して薄板3を平行にすることは、薄板3の位置決め基準が どこにもないので非常に面倒である。そこで一般には、アンビル1とスピンドル 2まで薄板3の角度を微細に変えながら測定し、一番大きな測定値を幅寸法Wと して読み取っている。このような測定操作で正しい幅寸法Wを能率よく読み取る には相当の熟練を要し、慣れない人にとってはこの種の測定は非常に面倒な作業 であり、しかも測定誤差が大きかった。
【0004】 この考案は前述した従来の問題点に鑑みてなされたもので、その目的は、薄板 の幅寸法などをマイクロメータで簡便にかつ正確に測定することができるように したマイクロメータのアタッチメントを提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】
この考案によるアタッチメントは、マイクロメータのアンビルとスピンドルの 外周にそれぞれ係合させることでアンビル/スピンドル軸線に対して全体を一定 の姿勢で位置決め保持させる構造の取付部を両端部に設けるとともに、その2つ の取付部間を一体に連結している中間部に、前記の位置決め保持状態においてア ンビル/スピンドル軸線と平行になる測定基準面を設けたものである。
【0006】
【作用】
このアタッチメントの両端の取付部をマイクロメータのアンビルとスピンドル の外周にそれぞれ係合させ、その中間部の前記測定基準面に薄板(被測定物)を 当接すると、薄板はアンビルとスピンドル間においてそれらの軸線と平行な姿勢 になる。
【0007】
【実施例】
図2はこの考案の一実施例によるアタッチメントの構成を示し、図3、図4、 図5は当該アタッチメントの使用状態を示している。この実施例のアタッチメン トはストレートな円筒体の中間部分を切り欠いた形態になっており、両端部分に リング状取付部4aと4bが有り、これらが半円筒状中間部5で一体に連結され ている。リング状取付部4a、4bの内径寸法はマイクロメータのアンビル1お よびスピンドル2の外径寸法より若干大きく設定されており、図3〜図5に示す ようにリング状取付部4aをアンビル1の外周に嵌合するとともに、リング状取 付部4bをスピンドル2の外周に嵌合することができる。この嵌合取付状態にお いて、リング状取付部4a、4bの軸線はアンビル/スピンドル軸線Pと平行で ほぼ一致する。
【0008】 半円筒状中間部5の2つの端面5a、5aは同一平面内にあり、かつその平面 はリング状取付部4a、4bの軸線と平行である。この面5a、5aが測定基準 面である。
【0009】 図3〜図5のようにマイクロメータに前記のアタッチメントを取り付けると、 半円筒状中間部5の測定基準面5a、5aがアンビル/スピンドル軸線Pと平行 に保たれる。そこで被測定物である薄板3を2つの測定基準面5a、5aにかけ 渡すようにしてこれらに当接すれば、薄板3はアンビル1とスピンドル2の中間 にあって軸線Pと平行に保たれる。したがって薄板3の幅寸法Wを正確に測定す ることができる。
【0010】 なおアタッチメントは前記実施例の形態に限定されるものではなく、さまざま に変形が可能である。例えば、前記の実施例では測定基準面が2つに別れている が、これを連続した1つの平面にしてもよい。また被測定物は図示したような薄 板3に限定されるものではなく、その他の物品の測定にも本考案のアタッチメン トを有効に利用することができる。
【0011】
【考案の効果】
以上詳細に説明したように、この考案に係るアタッチメントは非常に単純な構 造、形態のものであり、これを既存のマイクロメータに簡単に取り付けることが でき、取付状態においてはにアンビルとスピンドル間にこれらの軸線と平行な測 定基準面が形成され、これに被測定物を合わせることで正確な測定を迅速に行う ことができる。このアタッチメントを用いれば、従来非常に面倒で不正確であっ た薄板の幅寸法をマイクロメータで測定する作業が、非常に簡単でしかも正確に 行えるようになる。
【図面の簡単な説明】
【図1】従来の問題点を示すためのマイクロメータによ
る寸法測定状態を示す斜視図である。
【図2】この考案の一実施例によるアタッチメントの斜
視図である。
【図3】同上アタッチメントを用いてマイクロメータに
より寸法測定を行っている状態の斜視図である。
【図4】同上測定状態の平面図である。
【図5】同上測定状態の正面図である。
【符号の説明】
1 アンビル 2 スピンドル 3 被測定物(薄板) 4a、4b リング状取付部 5 半円筒状中間部 5、5a 測定基準面 P アンビル/スピンドル軸線

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】 マイクロメータのアンビルとスピンドル
    の外周にそれぞれ係合させることでアンビル/スピンド
    ル軸線に対して全体を一定の姿勢で位置決め保持させる
    構造の取付部を両端部に設けるとともに、その2つの取
    付部間を一体に連結している中間部に、前記の位置決め
    保持状態においてアンビル/スピンドル軸線と平行にな
    る測定基準面を設けたことを特徴とするマイクロメータ
    のアタッチメント。
JP833592U 1992-02-25 1992-02-25 マイクロメータのアタッチメント Pending JPH0569602U (ja)

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Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53126701A (en) * 1977-04-11 1978-11-06 Nippon Concrete Ind Co Ltd Method of picking up stratum

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS53126701A (en) * 1977-04-11 1978-11-06 Nippon Concrete Ind Co Ltd Method of picking up stratum

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