JPH0571934A - 表面欠陥検査装置 - Google Patents
表面欠陥検査装置Info
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- JPH0571934A JPH0571934A JP3235124A JP23512491A JPH0571934A JP H0571934 A JPH0571934 A JP H0571934A JP 3235124 A JP3235124 A JP 3235124A JP 23512491 A JP23512491 A JP 23512491A JP H0571934 A JPH0571934 A JP H0571934A
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- inspection
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 検査物１を全周方向から照明するリング状光
ファイバライトガイド６と、ライトガイド中央部に入射
する反射光を読み取るＣＣＤカメラ４と、ＣＣＤカメラ
の入力画像データを２値化し、検査物周辺部の正反射光
を、２値化画像データより識別し、検査物の有無および
／または位置ズレを判別し、周辺部から一定位置にある
範囲の欠陥を検出する画像処理手段３とからなる表面欠
陥検査装置。 【効果】 全ての角度のキズを輝点として検出でき、検
査物の有無、位置ズレ、表裏のチェックなどが可能とな
るため、プレスにより打抜きされた金属部品の表面に発
生するキズ、打痕などの欠陥を検査することができる。
ファイバライトガイド６と、ライトガイド中央部に入射
する反射光を読み取るＣＣＤカメラ４と、ＣＣＤカメラ
の入力画像データを２値化し、検査物周辺部の正反射光
を、２値化画像データより識別し、検査物の有無および
／または位置ズレを判別し、周辺部から一定位置にある
範囲の欠陥を検出する画像処理手段３とからなる表面欠
陥検査装置。 【効果】 全ての角度のキズを輝点として検出でき、検
査物の有無、位置ズレ、表裏のチェックなどが可能とな
るため、プレスにより打抜きされた金属部品の表面に発
生するキズ、打痕などの欠陥を検査することができる。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、プレスにより打抜きさ
れた金属部品の表面に発生するキズ、打痕などの欠陥を
検査するための表面欠陥検査装置に関する。
れた金属部品の表面に発生するキズ、打痕などの欠陥を
検査するための表面欠陥検査装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】プレスにより打抜きされた金属部品の表
面欠陥を検査する装置として、ＣＣＤカメラと画像処理
装置とを組み合わせたものが数多く発表されている。こ
の装置では、照明にリング状蛍光灯を使用し、斜めから
照明して、キズを輝点として検出している。
面欠陥を検査する装置として、ＣＣＤカメラと画像処理
装置とを組み合わせたものが数多く発表されている。こ
の装置では、照明にリング状蛍光灯を使用し、斜めから
照明して、キズを輝点として検出している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来技
術では、次のような不都合がある。すなわち、キズの検
出精度が、照明の角度により変化するので、リング状の
蛍光灯を使用した場合、各方向から照明されるためかな
りの角度範囲のキズの検出が可能である。しかし、光源
がＵ字型であり、全周からの照明ができないため、一部
の角度のキズ検出精度が低下するという不都合である。
また、キズがない正常な検査物は、輝点が検出されない
ため、検査物が無い場合に検査物の位置ズレが生じると
いう不都合である。
術では、次のような不都合がある。すなわち、キズの検
出精度が、照明の角度により変化するので、リング状の
蛍光灯を使用した場合、各方向から照明されるためかな
りの角度範囲のキズの検出が可能である。しかし、光源
がＵ字型であり、全周からの照明ができないため、一部
の角度のキズ検出精度が低下するという不都合である。
また、キズがない正常な検査物は、輝点が検出されない
ため、検査物が無い場合に検査物の位置ズレが生じると
いう不都合である。
【０００４】この発明は、上述の背景に基づきなされた
ものであり、その目的とするところは、全ての角度のキ
ズを輝点として検出でき、さらに、検査物の有無、位置
ズレ、表裏のチェックなどができる表面欠陥検査装置を
提供することである。
ものであり、その目的とするところは、全ての角度のキ
ズを輝点として検出でき、さらに、検査物の有無、位置
ズレ、表裏のチェックなどができる表面欠陥検査装置を
提供することである。
【０００５】
【課題を解決するための手段】この発明による表面欠陥
検査装置は、検査物を全周方向から入射角θで照明する
リング状光ファイバライトガイドと、検査物から少なく
ともリング状光ファイバライトガイド中央部に入射する
反射光を読み取るＣＣＤカメラと、ＣＣＤカメラの入力
画像データを２値化し、検査物の上下左右いずれかの周
辺部で表面の傾きが実質的にθ／２である周辺部からの
正反射光を、２値化画像データより識別し、検査物の有
無および／または位置ズレを判別し、周辺部から一定位
置にある範囲の欠陥を検出する画像処理手段と、からな
ることを特徴とするものである。
検査装置は、検査物を全周方向から入射角θで照明する
リング状光ファイバライトガイドと、検査物から少なく
ともリング状光ファイバライトガイド中央部に入射する
反射光を読み取るＣＣＤカメラと、ＣＣＤカメラの入力
画像データを２値化し、検査物の上下左右いずれかの周
辺部で表面の傾きが実質的にθ／２である周辺部からの
正反射光を、２値化画像データより識別し、検査物の有
無および／または位置ズレを判別し、周辺部から一定位
置にある範囲の欠陥を検出する画像処理手段と、からな
ることを特徴とするものである。
【０００６】
【作用】上述の構成を有する本発明では、以下のように
作用・動作する。リング状光ファイバライトガイドの全
周から、ほぼ一定の角度で照明して全ての角度のキズを
輝点として検出する。プレスで打抜きされた検査物は、
周辺部に傾きがあり、この部分を検査物の有無、あるい
は、位置ズレの検出に使用する。リング状光ファイバラ
イトガイドで入射角θで照明した場合、表面が入射角の
半分、実質的にθ／２の角度で傾いていると、正反射光
がＣＣＤカメラで受光される。キズがない正常な検査物
でも、周辺部は輝点として検出できる。従って、検査物
の周辺部に相当する上下左右のいずれかの範囲について
輝点検出を行うことにより、検査物の有無、あるいは、
位置ズレが判定できる。検査が必要となる検査物の中心
部については、周辺部に相当する位置から一定位置にあ
る範囲の欠陥を検出すれば、検査物に位置ズレがあって
も、検査範囲を補正することができる。
作用・動作する。リング状光ファイバライトガイドの全
周から、ほぼ一定の角度で照明して全ての角度のキズを
輝点として検出する。プレスで打抜きされた検査物は、
周辺部に傾きがあり、この部分を検査物の有無、あるい
は、位置ズレの検出に使用する。リング状光ファイバラ
イトガイドで入射角θで照明した場合、表面が入射角の
半分、実質的にθ／２の角度で傾いていると、正反射光
がＣＣＤカメラで受光される。キズがない正常な検査物
でも、周辺部は輝点として検出できる。従って、検査物
の周辺部に相当する上下左右のいずれかの範囲について
輝点検出を行うことにより、検査物の有無、あるいは、
位置ズレが判定できる。検査が必要となる検査物の中心
部については、周辺部に相当する位置から一定位置にあ
る範囲の欠陥を検出すれば、検査物に位置ズレがあって
も、検査範囲を補正することができる。
【０００７】
【実施例】以下、実施例により本発明を詳細に説明す
る。
る。
【０００８】図１は、本発明による装置例の構成を示す
概略図である。図示するこの実施例の表面欠陥検査装置
は、検査物１全周方向から入射角θで照明するリング状
光ファイバライトガイド６と、検査物１からリング状光
ファイバライトガイド中央部に入射する反射光を読み取
るレンズ５およびＣＣＤカメラ４と、ＣＣＤカメラの入
力画像データを２値化し、検査物の上下左右いずれかの
周辺部で表面の傾きがθ／２である周辺部からの正反射
光を、２値化画像データより識別し、検査物の有無およ
び／または位置ズレを判別し、周辺部から一定位置にあ
る範囲の欠陥を検出する画像処理手段３とからなる。更
に、この実施例の態様では、画像処理装置に接続された
モニターＴＶ８と、リング状ライトガイドの光源７と、
画像処理装置からおよび画像処理装置への制御信号によ
り検査物を搬送する搬送系２を備える。
概略図である。図示するこの実施例の表面欠陥検査装置
は、検査物１全周方向から入射角θで照明するリング状
光ファイバライトガイド６と、検査物１からリング状光
ファイバライトガイド中央部に入射する反射光を読み取
るレンズ５およびＣＣＤカメラ４と、ＣＣＤカメラの入
力画像データを２値化し、検査物の上下左右いずれかの
周辺部で表面の傾きがθ／２である周辺部からの正反射
光を、２値化画像データより識別し、検査物の有無およ
び／または位置ズレを判別し、周辺部から一定位置にあ
る範囲の欠陥を検出する画像処理手段３とからなる。更
に、この実施例の態様では、画像処理装置に接続された
モニターＴＶ８と、リング状ライトガイドの光源７と、
画像処理装置からおよび画像処理装置への制御信号によ
り検査物を搬送する搬送系２を備える。
【０００９】この実施例の装置では、表面欠陥検査は次
の手順で行われる。 検査物１を、搬送系２により１個ずつ検査位置にセ
ットする。 この例の検査物１は、次のようなＩＣチップターミナル
である。 a)サイズ １〜２mm b)形状 四角形、六角形、円形などであり、表面の周
辺部にだれがある。 c)材質 鉄にアルミメッキが施されている。
の手順で行われる。 検査物１を、搬送系２により１個ずつ検査位置にセ
ットする。 この例の検査物１は、次のようなＩＣチップターミナル
である。 a)サイズ １〜２mm b)形状 四角形、六角形、円形などであり、表面の周
辺部にだれがある。 c)材質 鉄にアルミメッキが施されている。
【００１０】 検査位置にセットされたとき、搬送系
２から画像処理装置３に対して検査スタート信号が出力
される。
２から画像処理装置３に対して検査スタート信号が出力
される。
【００１１】 リング状光ファイバライトガイド６に
より光源７の光を、入射角θで検査物１に全周から照明
する。なお、ＣＣＤカメラのレンズ５は、Ｃマウントア
ダプタに、５倍〜１０倍の対物レンズを取りつけてい
る。レンズを介してＣＣＤカメラでは、キズ、打痕など
の欠陥がない部分から反射光を受光せず、欠陥がある部
分、および、検査物の周辺でθ／２の表面の傾きがある
部分から反射光を受光する。このようにしてＣＣＤカメ
ラ４が、画像を入力する。この例では、リング状光ファ
イバライトガイド６は、三菱レイヨン（株）製ＰＲ５５
−１０００型（商品名）を使用した。また、光源７とし
て、三菱レイヨン（株）製ＥＬＩ−１００型（商品名）
を使用した。
より光源７の光を、入射角θで検査物１に全周から照明
する。なお、ＣＣＤカメラのレンズ５は、Ｃマウントア
ダプタに、５倍〜１０倍の対物レンズを取りつけてい
る。レンズを介してＣＣＤカメラでは、キズ、打痕など
の欠陥がない部分から反射光を受光せず、欠陥がある部
分、および、検査物の周辺でθ／２の表面の傾きがある
部分から反射光を受光する。このようにしてＣＣＤカメ
ラ４が、画像を入力する。この例では、リング状光ファ
イバライトガイド６は、三菱レイヨン（株）製ＰＲ５５
−１０００型（商品名）を使用した。また、光源７とし
て、三菱レイヨン（株）製ＥＬＩ−１００型（商品名）
を使用した。
【００１２】 画像処理装置３では、入力された画像
を予め設定した値で２値化し、欠陥および検査物の周辺
部を「白」、その他を「黒」とする。 画像処理装置３は、三菱レイヨン（株）製オプティカル
エリアチェッカーＦＳＣ−１００型（商品名）を使用し
た。２値化条件は、照明の明るさ、レンズの絞りなどに
より変化するため、均一な反射光を有する白紙の画像を
入力し、２値化後の白の面積率が５０％になるように設
定した。この方法により、２値化レベルを１／２５６以
下の精度で容易に設定することが可能となる。
を予め設定した値で２値化し、欠陥および検査物の周辺
部を「白」、その他を「黒」とする。 画像処理装置３は、三菱レイヨン（株）製オプティカル
エリアチェッカーＦＳＣ−１００型（商品名）を使用し
た。２値化条件は、照明の明るさ、レンズの絞りなどに
より変化するため、均一な反射光を有する白紙の画像を
入力し、２値化後の白の面積率が５０％になるように設
定した。この方法により、２値化レベルを１／２５６以
下の精度で容易に設定することが可能となる。
【００１３】 検査物の周辺部に相当する上下左右の
いずれかの範囲を検査範囲として、前記「白」の画素数
をカウントする。 実際には、左、上の２箇所に検査範囲を設定した。各検
査範囲の座標は、次の通りである。 a)左方向 始点（８０，１９２） 範囲（３７，４
１） b)上方向 始点（２０４，４４） 範囲（３７，４
１） ここで、検査物が正常にセットされた場合は、「白」の
画素数が一定範囲（２００以上）であるが、下記のよう
な異常時は、「白」の画素数は大幅に少なくなる。 a) 検査物がない場合 b) 検査物の位置ズレが、前記検査範囲を外れる程度で
ある場合 c) 検査物が裏面であり、表面のような周辺部の傾きが
ない場合 d) 検査物はプレスで打抜き後、フィルムが除去される
が、このフィルムが除去されていなかった場合
いずれかの範囲を検査範囲として、前記「白」の画素数
をカウントする。 実際には、左、上の２箇所に検査範囲を設定した。各検
査範囲の座標は、次の通りである。 a)左方向 始点（８０，１９２） 範囲（３７，４
１） b)上方向 始点（２０４，４４） 範囲（３７，４
１） ここで、検査物が正常にセットされた場合は、「白」の
画素数が一定範囲（２００以上）であるが、下記のよう
な異常時は、「白」の画素数は大幅に少なくなる。 a) 検査物がない場合 b) 検査物の位置ズレが、前記検査範囲を外れる程度で
ある場合 c) 検査物が裏面であり、表面のような周辺部の傾きが
ない場合 d) 検査物はプレスで打抜き後、フィルムが除去される
が、このフィルムが除去されていなかった場合
【００１４】 前記で正常と判定されたものについ
て、検査物１の中心部の欠陥検出を行う。 a)検査範囲は、始点（１３２，１０４） 範囲（１６
９，２１７）とした。 b)粗検査として、上記a)の範囲の「白」の画素数をカウ
ントし、３００以上の場合を欠 陥と判定した。 c)上記b)で欠陥と判定されなかったものについて、指定
した画素（１０）以上の「白」 の有無を測定した。
て、検査物１の中心部の欠陥検出を行う。 a)検査範囲は、始点（１３２，１０４） 範囲（１６
９，２１７）とした。 b)粗検査として、上記a)の範囲の「白」の画素数をカウ
ントし、３００以上の場合を欠 陥と判定した。 c)上記b)で欠陥と判定されなかったものについて、指定
した画素（１０）以上の「白」 の有無を測定した。
【００１５】 前記、で欠陥と判定された場合、
搬送系２に対してＮＧ信号を出力する。 また、画像、測定結果はモニターＴＶ８に出力される。
搬送系２に対してＮＧ信号を出力する。 また、画像、測定結果はモニターＴＶ８に出力される。
【００１６】 搬送系２では、画像処理装置３のＯ
Ｋ、ＮＧ信号により、正常品と欠陥品の振り分けを行
う。
Ｋ、ＮＧ信号により、正常品と欠陥品の振り分けを行
う。
【００１７】図２は、図１の実施例装置の画像入力部の
配置例を示す図である。リング状光ファイバライトガイ
ド６の光ファイバ出射端９は、６１mmφの直径であり、
検査面から７３mm上方にある。光ファイバ出射端９に
は、０．５mmφの光ファイバが１列で並んでいる。光フ
ァイバは、三菱レイヨン（株）製エスカを使用してい
る。エスカのＮＡは、０．５であるため、６０°の範囲
で照明されることになる。しかし、Ｃマウントアダプタ
１０の下方に５倍の対物レンズ１１が取りつけられてい
るため、照明は４７°（入射角２３．５゜）に規制され
ている。検査物１の部分では集光部が３mmφであり、こ
の中に検査物１がセットされる。また、検査物１の周辺
部で１１．７５°の傾きがある部分が輝点として検出さ
れることになる。
配置例を示す図である。リング状光ファイバライトガイ
ド６の光ファイバ出射端９は、６１mmφの直径であり、
検査面から７３mm上方にある。光ファイバ出射端９に
は、０．５mmφの光ファイバが１列で並んでいる。光フ
ァイバは、三菱レイヨン（株）製エスカを使用してい
る。エスカのＮＡは、０．５であるため、６０°の範囲
で照明されることになる。しかし、Ｃマウントアダプタ
１０の下方に５倍の対物レンズ１１が取りつけられてい
るため、照明は４７°（入射角２３．５゜）に規制され
ている。検査物１の部分では集光部が３mmφであり、こ
の中に検査物１がセットされる。また、検査物１の周辺
部で１１．７５°の傾きがある部分が輝点として検出さ
れることになる。
【００１８】図３〜図７は、モニターＴＶ８の画面を示
す画像であり、ＣＣＤカメラ入力画像、または、検査結
果の画面を示す画像である。図３は、ＣＣＤカメラから
入力された濃淡画像である。周辺部、および、中心部に
ある欠陥が輝点として検出されている。
す画像であり、ＣＣＤカメラ入力画像、または、検査結
果の画面を示す画像である。図３は、ＣＣＤカメラから
入力された濃淡画像である。周辺部、および、中心部に
ある欠陥が輝点として検出されている。
【００１９】図４は、図３のＣＣＤカメラ入力画像を検
査した結果を示している。この例の検査時間は、左上に
表示されているように４６０msである。この判定結果
は、左方３行目に表示されているようにＮＧであった。
検査物の位置については、周辺部（上方）の「白」の画
素数は、左方４行目に表示されているように、５５１
画素（４０．４％）である。周辺部（左方）の「白」の
画素数は、左方６行目に表示されているように、２５９
画素（１９．０％）である。前記、いずれも、２００
画素以上であることから、検査物１が正常にセットされ
ていると判定している。 粗検査 中心部の「白」の画素数は、左方８行目に表示されてい
るように、２７１画素（０．８％）である。検査条件で
ある３００画素以下であることから、粗検査では、ＯＫ
と判定している。 精検査 中心部の画素数１０以上の「白」の集合は、左方１０行
目に表示されているように、５個、合計画素数１４５、
平均画素数２９、バラツキ１６９であり、精検査では、
ＮＧと判定している。
査した結果を示している。この例の検査時間は、左上に
表示されているように４６０msである。この判定結果
は、左方３行目に表示されているようにＮＧであった。
検査物の位置については、周辺部（上方）の「白」の画
素数は、左方４行目に表示されているように、５５１
画素（４０．４％）である。周辺部（左方）の「白」の
画素数は、左方６行目に表示されているように、２５９
画素（１９．０％）である。前記、いずれも、２００
画素以上であることから、検査物１が正常にセットされ
ていると判定している。 粗検査 中心部の「白」の画素数は、左方８行目に表示されてい
るように、２７１画素（０．８％）である。検査条件で
ある３００画素以下であることから、粗検査では、ＯＫ
と判定している。 精検査 中心部の画素数１０以上の「白」の集合は、左方１０行
目に表示されているように、５個、合計画素数１４５、
平均画素数２９、バラツキ１６９であり、精検査では、
ＮＧと判定している。
【００２０】図５は、検査物無しの場合の検査結果を示
している。この図から分かるように、周辺部（左、上
方）の「白」の画素数は、いずれも、０であり、この段
階でＮＧと判定している。図６は、検査物の位置がずれ
ている場合の検査結果を示している。この例では、図５
と同様、周辺部（左、上方）の「白」の画素数は、いず
れも、０であり、この段階でＮＧと判定している。
している。この図から分かるように、周辺部（左、上
方）の「白」の画素数は、いずれも、０であり、この段
階でＮＧと判定している。図６は、検査物の位置がずれ
ている場合の検査結果を示している。この例では、図５
と同様、周辺部（左、上方）の「白」の画素数は、いず
れも、０であり、この段階でＮＧと判定している。
【００２１】図７は、検査物が裏面の場合の検査結果を
示している。この図から分かるように、周辺部（上方）
の「白」の画素数は０、周辺部（左方）の「白」の画素
数は１てあり、この段階でＮＧと判定している。上記の
実施例から実証されるように、全ての角度のキズを輝点
として検出して、検査物の有無、位置ズレ、表裏のチェ
ックを確実に行うことができる。
示している。この図から分かるように、周辺部（上方）
の「白」の画素数は０、周辺部（左方）の「白」の画素
数は１てあり、この段階でＮＧと判定している。上記の
実施例から実証されるように、全ての角度のキズを輝点
として検出して、検査物の有無、位置ズレ、表裏のチェ
ックを確実に行うことができる。
【００２２】
【発明の効果】本発明は、全ての角度のキズを輝点とし
て検出可能とし、さらに、検査物の有無、位置ズレ、表
裏のチェックなどが行うことができ、プレスにより打抜
きされた金属部品の表面に発生するキズ、打痕などの欠
陥を検査するための表面欠陥検査装置としての効果は大
きい。
て検出可能とし、さらに、検査物の有無、位置ズレ、表
裏のチェックなどが行うことができ、プレスにより打抜
きされた金属部品の表面に発生するキズ、打痕などの欠
陥を検査するための表面欠陥検査装置としての効果は大
きい。
【図１】図１は、本発明の装置構成の１例を示す図であ
る。
る。
【図２】図２は、図１に示す装置例の画像入力部の配置
例を示す図である。
例を示す図である。
【図３】図３は、ＣＣＤカメラから入力したモニターＴ
Ｖ画面の画像図である。
Ｖ画面の画像図である。
【図４】図４は、キズ不良品を判定された検査結果のモ
ニターＴＶ画面の画像図である。
ニターＴＶ画面の画像図である。
【図５】図５は、検査物なしと判定された検査結果のモ
ニターＴＶ画面の画像図である。
ニターＴＶ画面の画像図である。
【図６】図６は、検査物の位置がずれていると判定され
た検査結果のモニターＴＶ画面の画像図である。
た検査結果のモニターＴＶ画面の画像図である。
【図７】図７は、検査物が裏面であると判定された検査
結果のモニターＴＶ画面の画像図である。
結果のモニターＴＶ画面の画像図である。
１ 検査物 ２ 搬送系 ３ 画像処理装置 ４ ＣＣＤカメラ ５ レンズ ６ リング状光ファイバライトガイド ７ 光源 ８ モニターＴＶ。 ９ 光ファイバ出射端 １０ Ｃマウントアダプタ １１ 対物レンズ
Claims (1)
- 【請求項１】 検査物を全周方向から入射角θで照明す
るリング状光ファイバライトガイドと、検査物から少な
くとも前記リング状光ファイバライトガイド中央部に入
射する反射光を読み取るＣＣＤカメラと、前記ＣＣＤカ
メラの入力画像データを２値化し、検査物の上下左右い
ずれかの周辺部で表面の傾きがθ／２の該周辺部からの
正反射光を、該２値化画像データより識別し、前記検査
物の有無および／または位置ズレを判別し、前記周辺部
から一定位置にある範囲の欠陥を検出する画像処理手段
と、からなる表面欠陥検査装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3235124A JPH0571934A (ja) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | 表面欠陥検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP3235124A JPH0571934A (ja) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | 表面欠陥検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0571934A true JPH0571934A (ja) | 1993-03-23 |
Family
ID=16981410
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP3235124A Pending JPH0571934A (ja) | 1991-09-13 | 1991-09-13 | 表面欠陥検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0571934A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006112466A1 (ja) * | 2005-04-19 | 2006-10-26 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | 鏡面基板の異物検査方法 |
| JP2011169676A (ja) * | 2010-02-17 | 2011-09-01 | Konica Minolta Holdings Inc | 可撓性を有する検査対象物の表面の状態を検査する方法および装置 |
| KR20170010862A (ko) | 2014-05-31 | 2017-02-01 | 니홍 케미칼 리써치 가부시키가이샤 | 우리딘과 n-아세틸-d-만노사민을 함유하는 배지 |
-
1991
- 1991-09-13 JP JP3235124A patent/JPH0571934A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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