JPH0571943A - ローラ表面の膜厚計測方法及びその装置 - Google Patents
ローラ表面の膜厚計測方法及びその装置Info
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- JPH0571943A JPH0571943A JP23314491A JP23314491A JPH0571943A JP H0571943 A JPH0571943 A JP H0571943A JP 23314491 A JP23314491 A JP 23314491A JP 23314491 A JP23314491 A JP 23314491A JP H0571943 A JPH0571943 A JP H0571943A
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- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 claims abstract description 65
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 238000012935 Averaging Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
- 239000003550 marker Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 ローラ表面の正確な膜厚を計測するためロー
ラ偏芯、ローラ振動及びセンサドリフトを除去可能とし
た。 【構成】 レーザ外形測定器１により、ローラ２表面に
膜の存在しない状態で基準変位棒４の直径と、同基準変
位棒４とローラ２間ギャップを計測し、予め計測した前
記基準変位棒４の真の直径と、前記各計測値から真の前
記基準変位棒４と前記ローラ２間ギャップを求め、次い
でローラ２表面に膜が存在する状態で上記と同手順で、
前記ギャップを求め、これらのギャップの差から膜厚を
求めることを特徴としている。
ラ偏芯、ローラ振動及びセンサドリフトを除去可能とし
た。 【構成】 レーザ外形測定器１により、ローラ２表面に
膜の存在しない状態で基準変位棒４の直径と、同基準変
位棒４とローラ２間ギャップを計測し、予め計測した前
記基準変位棒４の真の直径と、前記各計測値から真の前
記基準変位棒４と前記ローラ２間ギャップを求め、次い
でローラ２表面に膜が存在する状態で上記と同手順で、
前記ギャップを求め、これらのギャップの差から膜厚を
求めることを特徴としている。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、ローラ表面の膜厚を計
測する膜厚計測方法及びその装置に関する。
測する膜厚計測方法及びその装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来技術の一例を図５に示す。従来にお
ける回転中測定ローラ２上の膜厚を計測するには測定ロ
ーラ２に対向してレーザ変位計１８を設け、該レーザ変
位計１８からのレーザ変位計検出信号２０をレーザ変位
計用演算装置１９に入力し、該レーザ変位計用演算装置
１９にて、ある一定時間平均して膜厚を表示する。
ける回転中測定ローラ２上の膜厚を計測するには測定ロ
ーラ２に対向してレーザ変位計１８を設け、該レーザ変
位計１８からのレーザ変位計検出信号２０をレーザ変位
計用演算装置１９に入力し、該レーザ変位計用演算装置
１９にて、ある一定時間平均して膜厚を表示する。
【０００３】例として、インキ膜厚を計測する方法はレ
ーザ変位計１８にて、インキが付着していない状態の測
定ローラ２までの平均変位Ｄ０を測りレーザ変位計１８
にて、インキが付着している状態の測定ローラ２までの
平均変位Ｄ１を測りレーザ変位計用演算装置１９にて、
Ｆｉ＝Ｄ０−Ｄ１を計算し、平均インキ膜厚Ｆｉを表示
する。
ーザ変位計１８にて、インキが付着していない状態の測
定ローラ２までの平均変位Ｄ０を測りレーザ変位計１８
にて、インキが付着している状態の測定ローラ２までの
平均変位Ｄ１を測りレーザ変位計用演算装置１９にて、
Ｆｉ＝Ｄ０−Ｄ１を計算し、平均インキ膜厚Ｆｉを表示
する。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来技術では
下記の問題点があった。 １）測定ローラ２に偏芯の誤差が生じる。 ２）測定ローラ２の振動とレーザ変位計１８の振動が同
相で変化しない場合、振動による誤差を生じる。
下記の問題点があった。 １）測定ローラ２に偏芯の誤差が生じる。 ２）測定ローラ２の振動とレーザ変位計１８の振動が同
相で変化しない場合、振動による誤差を生じる。
【０００５】３）温度及び湿度が変化した場合、レーザ
変位計１８のドリフト効果により正確な膜厚値が得られ
ない。 ４）レーザ変位計１８を用いた場合、測定ローラ２の下
地によっては透明の膜厚が正確に計測できない。 本発明は、かかる問題点に対処するため開発されたもの
であってローラ偏芯、ローラ振動及びセンサドリフトを
除去し、正確な膜厚を表示する方法及びその装置を提供
することを目的とする。
変位計１８のドリフト効果により正確な膜厚値が得られ
ない。 ４）レーザ変位計１８を用いた場合、測定ローラ２の下
地によっては透明の膜厚が正確に計測できない。 本発明は、かかる問題点に対処するため開発されたもの
であってローラ偏芯、ローラ振動及びセンサドリフトを
除去し、正確な膜厚を表示する方法及びその装置を提供
することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
めの本発明の構成は、レーザ外形測定器によりローラ表
面に膜の存在しない状態で、基準変位棒の直径と同基準
変位棒とローラ間ギャップを計測し、予め計測した前記
基準変位棒の真の直径と、前記各計測値から真の前記基
準変位棒と前記ローラ間ギャップを求め、次いでローラ
表面に膜が存在する状態で、上記と同手順で前記ギャッ
プを求め、これらのギャップの差から膜厚を求めること
を特徴とする。
めの本発明の構成は、レーザ外形測定器によりローラ表
面に膜の存在しない状態で、基準変位棒の直径と同基準
変位棒とローラ間ギャップを計測し、予め計測した前記
基準変位棒の真の直径と、前記各計測値から真の前記基
準変位棒と前記ローラ間ギャップを求め、次いでローラ
表面に膜が存在する状態で、上記と同手順で前記ギャッ
プを求め、これらのギャップの差から膜厚を求めること
を特徴とする。
【０００７】更に本発明の構成は、ローラ表面の膜厚を
測定すべくローラの表面近傍に、同ローラの回転軸と平
行に取付けられた基準変位棒と、同基準変位棒と前記ロ
ーラ表面にレーザ光を投射しかつ、前記ローラの回転軸
方向に移動自在に取付けられたレーザ外形測定器と、前
記ローラの回転数検出手段と、前記レーザ外形測定器と
ローラ回転数検出手段の信号から膜厚を演算する手段と
から成ることを特徴とする。
測定すべくローラの表面近傍に、同ローラの回転軸と平
行に取付けられた基準変位棒と、同基準変位棒と前記ロ
ーラ表面にレーザ光を投射しかつ、前記ローラの回転軸
方向に移動自在に取付けられたレーザ外形測定器と、前
記ローラの回転数検出手段と、前記レーザ外形測定器と
ローラ回転数検出手段の信号から膜厚を演算する手段と
から成ることを特徴とする。
【０００８】
【作用】そして本発明は上記の手段によりレーザ外形測
定器は、回転中ローラ上の膜厚ｄ′を計測し、該測定器
を取り付ける治具をローラと一体化する事によって、ロ
ーラ振動と測定器振動が同相になり機械振動を除去で
き、上記計測データは回転中のローラの１回或いは数回
転分とすることで上記計測データは、ＡＤ変換器により
高速にデジタルデータに変換されて演算装置に取り込ま
れ、演算装置にて取り込んだデータをローラ１回転分平
均化するとローラの偏芯による誤差を除去でき、上記演
算が終わった後、変位測定器により、基準変位ｄｓ′を
計測する。更にセンサのドリフトによって、基準変位ｄ
ｓに対する測定器の出力が変化した場合、その出力の変
化分を、前記演算装置にて取り込んだデータをローラ１
回転分平均化することで得られたローラ１或いは数回転
平均膜厚に作用させて、ドリフトを除去した正確な膜厚
データを演算装置にて計算する。正確な膜厚ｄは次式に
よって計算される。
定器は、回転中ローラ上の膜厚ｄ′を計測し、該測定器
を取り付ける治具をローラと一体化する事によって、ロ
ーラ振動と測定器振動が同相になり機械振動を除去で
き、上記計測データは回転中のローラの１回或いは数回
転分とすることで上記計測データは、ＡＤ変換器により
高速にデジタルデータに変換されて演算装置に取り込ま
れ、演算装置にて取り込んだデータをローラ１回転分平
均化するとローラの偏芯による誤差を除去でき、上記演
算が終わった後、変位測定器により、基準変位ｄｓ′を
計測する。更にセンサのドリフトによって、基準変位ｄ
ｓに対する測定器の出力が変化した場合、その出力の変
化分を、前記演算装置にて取り込んだデータをローラ１
回転分平均化することで得られたローラ１或いは数回転
平均膜厚に作用させて、ドリフトを除去した正確な膜厚
データを演算装置にて計算する。正確な膜厚ｄは次式に
よって計算される。
【０００９】ｄ＝ｄ′／ｄｓ′×ｄｓ 但し、ｄ′：変位センサによって得られた平均膜厚 ｄｓ′：変位センサによって得られた基準変位の大きさ ｄｓ：予め測定しておいた基準変位
【００１０】
【実施例】以下本発明の一実施例を図１及び図２に基づ
いて説明すると、１は受光側のレーザ外形測定器、１′
は発光側のレーザ外形測定器を示し、該レーザ外形測定
器１，１′は測定ローラ２の回転軸と平行なセンサ取付
治具３に、測定ローラ２の回転軸と平行に往復動するよ
うに取付けられ、更にセンサ取付治具３には測定ローラ
２の回転軸と平行に、センサ・ドリフトキャンセル用の
基準変位棒４と、測定ローラ２の回転数を知るための高
速応答計型（応答速度２０μｓ程度）光電スイッチ５と
を取付ける。
いて説明すると、１は受光側のレーザ外形測定器、１′
は発光側のレーザ外形測定器を示し、該レーザ外形測定
器１，１′は測定ローラ２の回転軸と平行なセンサ取付
治具３に、測定ローラ２の回転軸と平行に往復動するよ
うに取付けられ、更にセンサ取付治具３には測定ローラ
２の回転軸と平行に、センサ・ドリフトキャンセル用の
基準変位棒４と、測定ローラ２の回転数を知るための高
速応答計型（応答速度２０μｓ程度）光電スイッチ５と
を取付ける。
【００１１】光電スイッチ５はマーカ６に光が当たると
ＯＮになる。又前記レーザ外形測定器１及び１′コント
ローラ８に指令を与える事によって、基準変位棒４の大
きさｄｓ或いは基準変位棒４と測定ローラ２上膜厚間の
ギャップｄｇを計測する事が可能であり更にレーザ外形
測定器１及び１′から送られたレーザ外形測定器検出信
号１２はコントローラ８によって、基準変位棒４の大き
さｄｓ或いは基準変位棒４と測定ローラ２上膜厚間のギ
ャップｄｇを算出する。コントローラ８は上記のデータ
を電圧に逐次変換する。
ＯＮになる。又前記レーザ外形測定器１及び１′コント
ローラ８に指令を与える事によって、基準変位棒４の大
きさｄｓ或いは基準変位棒４と測定ローラ２上膜厚間の
ギャップｄｇを計測する事が可能であり更にレーザ外形
測定器１及び１′から送られたレーザ外形測定器検出信
号１２はコントローラ８によって、基準変位棒４の大き
さｄｓ或いは基準変位棒４と測定ローラ２上膜厚間のギ
ャップｄｇを算出する。コントローラ８は上記のデータ
を電圧に逐次変換する。
【００１２】図中１１はローラ群、１３は光電スイッチ
検出信号、１４はコントローラ指令信号、１５は変位電
圧信号、１６はＡＤ変換器トリガ信号、１７は変位デジ
タル信号、２１は測定用ライダ・ローラを示す。次に本
発明の測定方法を図３及び図４に基づいて説明すると測
定ローラ２上に膜厚がない状態で、基準変位棒４の変位
出力ｄｓ０及び測定ローラ２を１回或いは数回分回転さ
せたときの測定ローラ２と基準変位棒４間の平均ギャッ
プ出力ｄｇ０を予め計測しておく。
検出信号、１４はコントローラ指令信号、１５は変位電
圧信号、１６はＡＤ変換器トリガ信号、１７は変位デジ
タル信号、２１は測定用ライダ・ローラを示す。次に本
発明の測定方法を図３及び図４に基づいて説明すると測
定ローラ２上に膜厚がない状態で、基準変位棒４の変位
出力ｄｓ０及び測定ローラ２を１回或いは数回分回転さ
せたときの測定ローラ２と基準変位棒４間の平均ギャッ
プ出力ｄｇ０を予め計測しておく。
【００１３】そして基準変位棒４の大きさは既知（ｄ
ｓ）であるので測定ローラ２と基準変位棒４間の平均ギ
ャップ（基準変位）ｄ０は次式で求められる。 ｄ０＝ｄｇ０／ｄｓ０×ｄｓ 光電スイッチ５の出力にてＡＤ変換器９にＡＤ変換器ト
リガ信号１６を与えて１回或いは数回転分のデータを演
算装置１０内メモリに格納する。この操作が終わった直
後、演算装置１０からコントローラ８にコントローラ指
令信号１４を与えて、基準変位棒４の大きさｄｓｌを計
測する。この場合、データの取り込みは測定ローラ２の
回転周期に同期させる必要はない。
ｓ）であるので測定ローラ２と基準変位棒４間の平均ギ
ャップ（基準変位）ｄ０は次式で求められる。 ｄ０＝ｄｇ０／ｄｓ０×ｄｓ 光電スイッチ５の出力にてＡＤ変換器９にＡＤ変換器ト
リガ信号１６を与えて１回或いは数回転分のデータを演
算装置１０内メモリに格納する。この操作が終わった直
後、演算装置１０からコントローラ８にコントローラ指
令信号１４を与えて、基準変位棒４の大きさｄｓｌを計
測する。この場合、データの取り込みは測定ローラ２の
回転周期に同期させる必要はない。
【００１４】次に前記光電スイッチ５の出力にてＡＤ変
換器９にＡＤ変換器トリガ信号１６を与えて１回或いは
数回転分のデータを演算装置１０内メモリに格納したデ
ータを平均化して、測定ローラ２上膜厚と基準変位棒４
間の平均ギャップｄｇｌを求め、また、前記演算装置１
０からコントローラ８にコントローラ指令信号１４を与
えて基準変位棒４の大きさｄｓｌを計測することより得
られた基準変位棒４の大きさｄｓｌより、次式を用いて
真の測定ローラ２上膜厚と基準変位棒４間の平均ギャッ
プｄｌを求める。
換器９にＡＤ変換器トリガ信号１６を与えて１回或いは
数回転分のデータを演算装置１０内メモリに格納したデ
ータを平均化して、測定ローラ２上膜厚と基準変位棒４
間の平均ギャップｄｇｌを求め、また、前記演算装置１
０からコントローラ８にコントローラ指令信号１４を与
えて基準変位棒４の大きさｄｓｌを計測することより得
られた基準変位棒４の大きさｄｓｌより、次式を用いて
真の測定ローラ２上膜厚と基準変位棒４間の平均ギャッ
プｄｌを求める。
【００１５】ｄｌ＝ｄｇｌ／ｄｓｌ×ｄｓ 更に前記測定ローラ２と基準変位棒４間の平均ギャップ
（基準変位）ｄ０を求める操作により、測定ローラ２上
に膜が形成されていないときの測定ローラ２と基準変位
棒４間の平均ギャップｄ０が求められているので、前記
真の測定ローラ２上膜厚と基準変位棒４間の平均ギャッ
プｄｌからこのギャップｄ０を差引する事によって膜厚
ｄは次式により求まる。
（基準変位）ｄ０を求める操作により、測定ローラ２上
に膜が形成されていないときの測定ローラ２と基準変位
棒４間の平均ギャップｄ０が求められているので、前記
真の測定ローラ２上膜厚と基準変位棒４間の平均ギャッ
プｄｌからこのギャップｄ０を差引する事によって膜厚
ｄは次式により求まる。
【００１６】ｄ＝ｄ０−ｄｌ レーザ外形測定器１のスペースの都合で計測できない測
定ローラ２は第１図に示すように測定用ライダ・ローラ
２１にレーザ外形測定器１を取り付け、測定ローラ２に
接触させ計測すれば良い。
定ローラ２は第１図に示すように測定用ライダ・ローラ
２１にレーザ外形測定器１を取り付け、測定ローラ２に
接触させ計測すれば良い。
【００１７】
【発明の効果】このように本発明によるときはレーザ外
形測定器によりローラ表面に膜の存在しない状態で基準
変位棒の直径と、同基準棒とローラ間ギャップを計測
し、予め計測した前記基準変位棒の真の直径と前記各計
測値から真の前記基準変位棒と前記ローラ間ギャップを
求め、次いでローラ表面に膜が存在する状態で上記と同
手順で前記ギャップを求めこれらのギャップ差から膜厚
を求めたものであるから、平均回数或いはＡＤ変換の速
度をＵＰすることによってローラ偏芯の誤差をいくらで
も小さくする事ができ、又図１に示すようにレーザ外形
測定器、センサ取り付け治具及び計測対象ローラを一体
型とすることにより、ローラの振動及びセンサの振動が
同相で変化するので、機械振動の誤差を除去でき更に基
準変位を常に参照する事により、温度及び湿度が変化し
た場合の、センサのドリフト効果による誤差を除去する
事ができると共にレーザ外形測定器を用いた場合、ロー
ラの下地及び透明の膜厚でも正確に計測できる（通常の
レーザ変位計と計測原理が異なる故）等の効果を有す
る。
形測定器によりローラ表面に膜の存在しない状態で基準
変位棒の直径と、同基準棒とローラ間ギャップを計測
し、予め計測した前記基準変位棒の真の直径と前記各計
測値から真の前記基準変位棒と前記ローラ間ギャップを
求め、次いでローラ表面に膜が存在する状態で上記と同
手順で前記ギャップを求めこれらのギャップ差から膜厚
を求めたものであるから、平均回数或いはＡＤ変換の速
度をＵＰすることによってローラ偏芯の誤差をいくらで
も小さくする事ができ、又図１に示すようにレーザ外形
測定器、センサ取り付け治具及び計測対象ローラを一体
型とすることにより、ローラの振動及びセンサの振動が
同相で変化するので、機械振動の誤差を除去でき更に基
準変位を常に参照する事により、温度及び湿度が変化し
た場合の、センサのドリフト効果による誤差を除去する
事ができると共にレーザ外形測定器を用いた場合、ロー
ラの下地及び透明の膜厚でも正確に計測できる（通常の
レーザ変位計と計測原理が異なる故）等の効果を有す
る。
【図１】本発明の実施例に係わる膜厚計測の概略配置図
である。
である。
【図２】本発明の実施例に係わる膜厚計測器を示すもの
で（ａ）は側面図、（ｂ）は（ａ）図のＡ−Ａ線断面図
である。
で（ａ）は側面図、（ｂ）は（ａ）図のＡ−Ａ線断面図
である。
【図３】本発明の実施例に係わる膜厚計測の方法を示す
説明図である。
説明図である。
【図４】本発明の実施例に係わる膜厚計測の方法を示す
ブロック図である。
ブロック図である。
【図５】従来の膜厚計測の概略配置図である。
１ レーザ外形測定器 ２ 測定ローラ ３ センサ取付け治具 ４ 基準変位棒 ５ 光電スイッチ ８ コントローラ ９ ＡＤ変換器 １０ 演算装置
Claims (2)
- 【請求項１】 レーザ外形測定器により、ローラ表面に
膜の存在しない状態で基準変位棒の直径と、同基準変位
棒とローラ間ギャップを計測し、予め計測した前記基準
変位棒の真の直径と、前記各計測値から真の前記基準変
位棒と前記ローラ間ギャップを求め、次いでローラ表面
に膜が存在する状態で上記と同手順で前記ギャップを求
め、これらのギャップの差から膜厚を求めることを特徴
とするローラ表面の膜厚計測方法。 - 【請求項２】 ローラ表面の膜厚を測定すべくローラの
表面近傍に、同ローラの回転軸と平行に取付けられた基
準変位棒と、同基準変位棒と前記ローラ表面にレーザ光
を投射しかつ、前記ローラの回転軸方向に移動自在に取
付けられたレーザ外形測定器と、前記ローラの回転数検
出手段と、前記レーザ外形測定器とローラ回転検出手段
の信号から膜厚を演算する手段とから成るローラ表面の
膜厚計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23314491A JPH0571943A (ja) | 1991-09-12 | 1991-09-12 | ローラ表面の膜厚計測方法及びその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23314491A JPH0571943A (ja) | 1991-09-12 | 1991-09-12 | ローラ表面の膜厚計測方法及びその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0571943A true JPH0571943A (ja) | 1993-03-23 |
Family
ID=16950415
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23314491A Withdrawn JPH0571943A (ja) | 1991-09-12 | 1991-09-12 | ローラ表面の膜厚計測方法及びその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0571943A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08508229A (ja) * | 1994-02-28 | 1996-09-03 | クロネス・アーゲー・ヘルマン・クロンセデル・マシーネンファブリーク | 物品用ラベル貼付機 |
| JP2009264792A (ja) * | 2008-04-22 | 2009-11-12 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 横圧の測定方法 |
-
1991
- 1991-09-12 JP JP23314491A patent/JPH0571943A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH08508229A (ja) * | 1994-02-28 | 1996-09-03 | クロネス・アーゲー・ヘルマン・クロンセデル・マシーネンファブリーク | 物品用ラベル貼付機 |
| JP2009264792A (ja) * | 2008-04-22 | 2009-11-12 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 横圧の測定方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Withdrawal of application because of no request for examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 19981203 |