JPH0575406A - 波形整形回路及びクロツク回路 - Google Patents

波形整形回路及びクロツク回路

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JPH0575406A
JPH0575406A JP3231846A JP23184691A JPH0575406A JP H0575406 A JPH0575406 A JP H0575406A JP 3231846 A JP3231846 A JP 3231846A JP 23184691 A JP23184691 A JP 23184691A JP H0575406 A JPH0575406 A JP H0575406A
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JP
Japan
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transistor
transistors
low
input
clock
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JP3231846A
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Inventor
Kazuki Ninomiya
和貴 二宮
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 HIGHの期間とLOWの期間とが等しくな
るようにクロックの波形を整形する。 【構成】 pチャネル型の第1及び第2のトランジスタ
1,2並びにnチャネル型の第3及び第4のトランジス
タ3,4をそれぞれ直列に接続し、第1及び第4のトラ
ンジスタのソースをそれぞれ電源電位及び接地電位に接
続し、第2及び第3のトランジスタのドレインを互いに
接続し、この接続部にローパスフィルタ9と第1及び第
2のインバータ7,8とを接続し、ローパスフィルタ9
の出力を第1及び第4のトランジスタのゲートに帰還す
る。外部クロックФを第2及び第3のトランジスタのゲ
ートに入力し、ローパスフィルタ9の出力電圧によって
第1及び第4のトランジスタのオン抵抗を制御すること
により、インバータ8からHIGHとLOWの期間が等
しくなるように整形したクロックを出力する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は波形整形回路及びこの波
形整形回路を備えたクロック回路に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、マイクロプロセッサには高速な動
作が要求されるようになってきている。これに伴い、マ
イクロプロセッサに100MHz以上の高周波数のクロ
ックを外部から供給することが必要となってきている。
ところが、外部から供給されるクロックの周波数が高く
なると、CPUボードの配線抵抗、配線容量等の影響に
よってクロックの波形の変形等が著しくなり、HIGH
の期間とLOWの期間とが等しいクロックを供給するこ
とが困難となってきている。このように変形した波形を
有する周波数の高いクロックを用いると、マイクロプロ
セッサを高速で安定に動作させることができない。
【0003】図8は従来の二相クロックを発生させるク
ロック回路の回路図を示すものである。このクロック回
路は、外部クロックΦが直接入力される第1のNAND
ゲート71と、第3のインバータ73を介して入力され
る第2のNANDゲート72と、第1のNANDゲート
71の出力が入力される第1の遅延回路74と、第1の
遅延回路74の出力を反転して出力する第1のインバー
タ76と、第2のNANDゲート72の出力が入力され
る第2の遅延回路75と、第2の遅延回路75の出力を
反転して出力する第2のインバータ77とを有し、第1
の遅延回路74の出力は第2のNANDゲート72に入
力され、第2の遅延回路75の出力は第1のNANDゲ
ート71に入力されている。第1のインバータ76から
はクロックΦ1が出力され、第2のインバータ77から
はクロックΦ2が出力される。
【0004】以上の構成を有するクロック回路の動作に
ついて説明する。図9はこのクロック回路のタイミング
を示している。まず、外部より入力信号ΦのLOWが入
力されると、図9の矢印aに示すように、第1のNAN
Dゲート71の出力AがHIGHになる。第1のNAN
Dゲート71の出力AがHIGHになると、図9の矢印
bに示すように、第1の遅延回路74の出力Bは第1の
NANDゲート71の出力Aより遅れてHIGHにな
る。第1の遅延回路74の出力BがHIGHになると、
第1のインバータ76の出力がLOWになり、図9の矢
印cに示すように、クロックΦ1がLOWになる。
【0005】また、LOWの入力信号Φは第3のインバ
ータ73にも入力され第3のインバータ73の出力はH
IGHとなっているので、第1の遅延回路74の出力B
がHIGHになると、図9の矢印dに示すように、第2
のNANDゲート72の出力CはLOWになる。第2の
NANDゲート72の出力CがLOWになると、図9の
矢印eに示すように、第2の遅延回路75の出力Dは第
2のNANDゲート72の出力Cより遅れてLOWにな
る。第2の遅延回路75の出力DがLOWになると第2
のインバータ77の出力がHIGHになり、図9の矢印
fに示すように、クロックΦ2がHIGHとなる。
【0006】次に、外部クロックΦがHIGHになると
第3のインバータ73の出力がLOWになり、図9の矢
印gに示すように、第2のNANDゲート72の出力C
がHIGHになる。第2のNANDゲート72の出力C
がHIGHになると、図9の矢印hに示すように、第2
の遅延回路75の出力Dは第2のNANDゲート72の
出力Cより遅れてHIGHになる。第2の遅延回路75
の出力DがHIGHになると第2のインバータ77の出
力がLOWになり、図9の矢印iに示すように、クロッ
クΦ2がLOWになる。また、第2の遅延回路75の出
力DがHIGHになると、図9の矢印jに示すように、
第1のNANDゲート71の出力AがLOWとなる。第
1のNANDゲート71の出力AがLOWとなると、図
9の矢印kに示すように、第1の遅延回路74の出力B
は第1のNANDゲート71の出力Aより遅れてLOW
となる。第1の遅延回路74の出力BがLOWになる
と、第1のインバータ76の出力がHIGHとなり、図
9の矢印lに示すように、クロックΦ1がHIGHとな
る。
【0007】上記のような動作により、図9に示すよう
に、HIGHの期間、即ちパルス幅が互いに重ならない
二相クロックΦ1、Φ2を発生させることができる。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
ような構成では、外部クロックΦのパルス幅が変化した
場合、図10に示すようにΦ1のパルス幅t1とΦ2の
パルス幅t2とが等しくならない。t1のようにパルス
幅が短くなると、例えばメモリにデータの書き込みを行
うことができなくなるという問題点を生じる。また、パ
ルスの間のLOWの期間が短くなると、プリチャージの
時間が不足し誤動作するという問題点を生じる。
【0009】本発明は上記問題点に鑑み、外部クロック
のHIGHの期間とLOWの期間との比が変化しても、
HIGHの期間の長さとLOWの期間の長さとが等しく
なるように整形を行う波形整形回路と、この波形整形回
路を用いることにより、外部クロックのHIGHの期間
とLOWの期間との比が変化しても、パルス幅が互いに
等しい二相クロックを発生する回路を提供することを目
的とする。
【0010】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項1の発明は、それぞれのソースとドレインと
が直列に接続された少なくとも2つのトランジスタによ
り構成される第1及び第2のトランジスタ列を設け、第
1及び第2のトランジスタ列の一端に位置するトランジ
スタのソースをそれぞれ第1及び第2の電位に接続し、
第1及び第2のトランジスタ列の他端に位置するトラン
ジスタのそれぞれのドレインを互いに接続すると共にこ
れらの第1及び第2のトランジスタのうちの少なくとも
1つずつのトランジスタのゲートに外部クロックを入力
し、これらのドレインにローパスフィルタと2つの直列
に接続したインバータとを接続し、このローパスフィル
タの出力電圧によって第1及び第2のトランジスタ列の
前記ローパスフィルターの出力に接続されているトラン
ジスタのオン抵抗を制御して2つのインバータからHI
GHの期間とLOWの期間とが等しくなるように整形し
たクロックを出力するものである。
【0011】具体的に請求項1の発明が講じた解決手段
は、それぞれのソースとドレインとが直列に接続された
少なくとも2つのトランジスタにより構成され一端に位
置するトランジスタのソースが第1の電位に接続され前
記少なくとも2つのトランジスタのうちの何れかのトラ
ンジスタのゲートに外部クロックが入力される第1のト
ランジスタ列と、それぞれのソースとドレインとが直列
に接続された少なくとも2つのトランジスタにより構成
され一端に位置するトランジスタのソースが第2の電位
に接続され他端に位置するトランジスタのドレインが前
記第1のトランジスタ列の他端に位置するトランジスタ
のドレインに接続され前記少なくとも2つのトランジス
タのうちの何れかのトランジスタのゲートに外部クロッ
クが入力される第2のトランジスタ列と、前記第1及び
第2のトランジスタ列のそれぞれの他端に位置するトラ
ンジスタのそれぞれのドレインからの信号が入力され前
記第1及び第2のトランジスタ列の前記外部クロックが
入力されるトランジスタ以外のトランジスタの少なくと
も1つのゲートに信号を出力するローパスフィルタと、
前記第1及び第2のトランジスタ列のそれぞれの他端に
位置するトランジスタのそれぞれのドレインからの信号
が入力されクロックを出力する互いに直列に接続された
第1及び第2のインバータとを備えた構成とするもので
ある。
【0012】また、請求項2の発明は、請求項1の発明
におけるローパスフィルタの出力をソースとドレインと
を直列に接続した第1の帰還用トランジスタ及び第2の
帰還用トランジスタのそれぞれのゲートに入力し、これ
らのトランジスタのソースをそれぞれ第3及び第4の電
位に接続すると共に、これらのトランジスタのドレイン
を互いに接続することによってローパスフィルタの出力
を更に増幅し、この増幅した信号によって第1及び第2
のトランジスタ列の前記外部クロックを入力とするトラ
ンジスタ以外のトランジスタのそれぞれのオン抵抗を制
御して2つのインバータからHIGHの期間とLOWの
期間とが等しくなるように整形したクロックを出力する
ものである。
【0013】具体的に請求項2の発明が講じた解決手段
は、それぞれのソースとドレインとが直列に接続された
少なくとも2つのトランジスタにより構成され一端に位
置するトランジスタのソースが第1の電位に接続され前
記少なくとも2つのトランジスタのうちの何れかのトラ
ンジスタのゲートに外部クロックが入力される第1のト
ランジスタ列と、それぞれソースとドレインとが直列に
接続された少なくとも2つのトランジスタにより構成さ
れ一端に位置するトランジスタのソースが第2の電位に
接続され他端に位置するトランジスタのドレインが前記
第1のトランジスタ列の他端に位置するトランジスタの
ドレインに接続され前記少なくとも2つのトランジスタ
のうちの何れかのトランジスタのゲートに外部クロック
が入力される第2のトランジスタ列と、前記第1及び第
2のトランジスタ列のそれぞれの他端に位置するトラン
ジスタのそれぞれのドレインからの信号が入力されるロ
ーパスフィルタと、該ローパスフィルタからの出力信号
が入力されるゲートと第3の電位に接続されたソースと
前記第1及び第2のトランジスタ列の前記外部クロック
が入力されるトランジスタ以外のトランジスタの少なく
とも1つのゲートに接続されたドレインとを有する第1
の帰還用トランジスタと、前記ローパスフィルタからの
出力信号が入力されるゲートと第4の電位に接続された
ソースと前記第1の帰還用トランジスタのドレイン並び
に前記第1及び第2のトランジスタ列の前記外部クロッ
クが入力されるトランジスタ以外のトランジスタの少な
くとも1つのゲートに接続されたドレインとを有する第
2の帰還用トランジスタと、前記第1及び第2のトラン
ジスタ列のそれぞれの他端に位置するトランジスタのそ
れぞれのドレインからの信号が入力されクロックを出力
する互いに直列に接続された第1及び第2のインバータ
とを備えた構成とするものである。
【0014】また、請求項3の発明は、請求項1又は2
の発明に係る波形整形回路を備えたクロック回路であっ
て、該波形整形回路からのクロックに基づいて互いにパ
ルス幅の等しい二相クロックが出力される構成とするも
のである。
【0015】
【作用】請求項1の発明の構成により、第1及び第2の
トランジスタ列のそれぞれの他端に位置するトランジス
タのそれぞれのドレインからの信号が入力され、かつ第
1及び第2のトランジスタ列の外部クロックを入力とす
るトランジスタ以外のトランジスタのそれぞれ少なくと
も1つのゲートに信号を出力するローパスフィルタを設
けたので、第1及び第2のトランジスタ列のそれぞれの
他端に位置するトランジスタのそれぞれのゲートに入力
される外部クロックのHIGHの期間がLOWの期間よ
り長い場合にはローパスフィルタからの出力電圧が下が
り、LOWの期間がHIGHの期間より長い場合には上
がることにより、ローパスフィルタを構成する容量素子
の両端電圧の変動が一定になるようにフィードバックが
行われ、容量素子の両端におけるクロックの波形は、H
IGHの期間とLOWの期間が等しくなるように整形さ
れる。
【0016】また、請求項2の発明の構成により、ソー
スとドレインとが直列に接続されそれぞれのソースが第
3及び第4の電位に接続されると共にそれぞれドレイン
が互いに接続された第1の帰還用トランジスタ及び第2
の帰還用トランジスタを設けたので、ローパスフィルタ
の出力をこれらのトランジスタに入力して増幅し、この
増幅された信号によって第1及び第2のトランジスタ列
の一端に位置するトランジスタのオン抵抗が制御され、
2つのインバータから出力されるクロックの波形はHI
GHの期間のとLOWの期間とが等しくなるように整形
される。
【0017】更に、請求項3の発明の構成により、請求
項1又は2の波形整形回路によってHIGHの期間とL
OWの期間とが等しくなるように外部クロックが整形さ
れ、この整形されたクロックから互いにパルス幅が等し
くなるように整形された二相クロックが生成される。
【0018】
【実施例】以下、本発明の実施例について、図面を参照
しながら説明する。図1は本発明の第1の実施例に係る
波形整形回路を示している。本実施例の波形整形回路
は、pチャネルトランジスタである第1及び第2のトラ
ンジスタ1,2からなる第1のトランジスタ列21と、
nチャネルトランジスタである第3及び第4のトランジ
スタ3,4からなる第2のトランジスタ列22と、抵抗
素子5及び容量素子6からなるローパスフィルタ9と、
直列に接続された第1及び第2のインバータ7,8とを
有している。
【0019】第1のトランジスタ列21では第1のトラ
ンジスタ1のドレインと第2のトランジスタ2のソース
とが互いに接続され、第1のトランジスタ列21の一端
に位置する第1のトランジスタ1のソースは第1の電位
としての電源電位に接続されている。また、第2のトラ
ンジスタ列22では第4のトランジスタ4のドレインと
第3のトランジスタ3のソースとが互いに接続され、第
2のトランジスタ列22の一端に位置する第4のトラン
ジスタ4のソースは第2の電位としての接地電位に接続
されている。更に、第1のトランジスタ列21の他端に
位置する第2のトランジスタ2のドレインと、第2のト
ランジスタ列22の他端に位置する第3のトランジスタ
3のドレインとは互いに接続されている。
【0020】第2のトランジスタ2のゲートと第3のト
ランジスタ3のゲートには外部クロックΦが入力されて
いる。また、第2のトランジスタ2のドレインと第3の
トランジスタ3のドレインとはローパスフィルタ9を構
成する抵抗素子5の一端に接続されと共に、第1のイン
バータ7の入力に接続されている。抵抗素子5の他端に
はローパスフィルタ9を構成する容量素子6の一端が接
続され、容量素子6の他端は接地電位に接続されてい
る。また、抵抗素子5の出力は第1のトランジスタ1の
ゲートと第4のトランジスタ4のゲートに帰還されてい
る。第1のインバータ7の出力は第2のインバータ8に
入力され、第2のインバータ8からはこの波形整形回路
の出力cとしてクロックが出力される。
【0021】本実施例の波形整形回路の出力は、入力信
号の論理を反転したものとなっている。また、本実施例
では電源電圧の1/2を第1〜第4のトランジスタのゲ
ートのしきい値電圧として設定してある。従って、電源
電圧の1/2を境として各トランジスタの出力がHIG
HとLOWの何れかに変化する。また、第1のトランジ
スタ1と第4のトランジスタ4、及び第2のトランジス
タ2と第3のトランジスタ3は、得られるクロックのH
IGHとLOWの期間を等しくするためにそれぞれ互い
に等しい駆動能力を有している。
【0022】以上のように構成された波形整形回路の動
作について説明する。図2〜図4は、それぞれ図1にお
けるa点、b点及び第2のインバータ8の出力における
回路シュミレーションの結果を示している。まず、外部
クロックΦの電源電圧の1/2の電圧よりも電圧が高い
期間(以下、「HIGHの期間」という)が短い場合に
ついて説明する。ここでは、1サイクルが30nsで、
HIGHの期間が10ns場合について説明する。外部
クロックΦのHIGHの期間が短い場合、第2のトラン
ジスタ2のオン状態の時間が長くなり、図2の点線Xに
示すように、図1のa点の平均電位は電源電圧の1/2
よりも上がることになる。
【0023】図1のa点の電位の変動を抵抗素子5及び
容量素子6によって構成されるローパスフィルタ9を通
すことにより、図1のb点の電位は図3の破線Yのよう
に平滑化される。このとき、図1のb点の電位は電源電
圧の1/2よりも高くなり、図1のb点にゲートが接続
されている第1のトランジスタ1がpチャネルトランジ
スタであるためにそのオン抵抗は高くなる一方、第4の
トランジスタ4がnチャネルトランジスタであるために
そのオン抵抗は低くなる。このため、図1のa点の電圧
は上がり難くなり、同じ電位に上がるまで時間を要す
る。従って、図1のa点の電圧のHIGHの期間は、図
2に示したフィードバック前の期間(1)では19.0
nsであるのに対して、数サイクル後のフィードバック
後の期間(2)では20.4nsと長くなる。その結
果、図4の点線Xの反転信号を考えると、フィードバッ
ク前においては出力信号のHIGHの期間が10ns、
電源電圧の1/2より低い期間(以下、「LOWの期
間」という)が20nsであったものが、フィードバッ
ク後においてはHIGHの期間が11.8ns、LOW
の期間が18.2nsとなり、本実施例の波形整形回路
がHIGHの期間とLOWの期間とが等しくなるように
機能していることが分かる。更に回路定数を最適化する
ことによりHIGHの期間とLOWの期間を等しくする
ことができる。
【0024】次に、HIGHの期間とLOWの期間とが
共に15nsと等しい外部クロックΦを入力した場合に
ついて説明する。HIGHの期間とLOWの期間が等し
ければ、図1のa点の電位の平均値は、図2の期間
(1)及び期間(2)における破線Yに示すように、フ
ィードバックの前後でほぼ電源電圧の1/2となってい
る。そのため、図1のb点の電位も同様に図3の破線Y
のようにほぼ電源電圧の1/2となり、第1のトランジ
スタ1と第4のトランジスタ4のオン抵抗も等しくな
り、フィードバック後も図1のa点の電位の変化せず、
図4の破線Yのように出力信号のHIGHとLOWの期
間はほぼ等しい状態に保たれる。
【0025】次に、HIGHの期間が20ns、LOW
の期間が10nsである外部クロックを入力した場合に
ついて説明する。このように外部クロックΦのHIGH
の期間が長い場合、nチャネルトランジスタである第3
のトランジスタ3のオン状態の時間が長くなり、結果と
して図2の実線Zに示すように、図1のa点の平均電位
は下がることになる。この結果、外部クロックΦのHI
GHの期間が短い場合とは逆に、図1のb点の電圧は、
図3の実線Zに示すように、電源電圧の1/2よりも低
くなる。このため、図1のb点に接続されているpチャ
ネルトランジスタである第1のトランジスタ1のオン抵
抗は低くなり、nチャネルトランジスタである第4のト
ランジスタ4のオン抵抗は高くなる。その結果、図1の
a点の電圧は下がり難くなり、同じ電位に下がるまで時
間を要する。従って、図4のフィードバック前の期間
(1)におけるHIGHの期間が20ns、LOWの期
間が10nsであるのに対して、図4のフィードバック
後の期間(2)におけるHIGHの期間は17ns、L
OWの期間は13nsとなる。このように、本実施例の
波形整形回路は出力信号のHIGHの期間とLOWの期
間とが等しくなるように機能していることが分かる。更
に回路定数を最適化することによりHIGHの期間とL
OWの期間を等しくすることができる。
【0026】以上のように本実施例の波形整形回路で
は、第2及び第3のトランジスタ2,3のそれぞれのド
レインからの信号がローパスフィルタ9に入力され、こ
のローパスフィルタ9からの出力が第1及び第4のトラ
ンジスタ1,4のゲートに入力されるので、外部クロッ
クのHIGHの期間がLOWの期間より長い場合にはロ
ーパスフィルタ9からの出力電圧が下がることにより、
LOWの期間がHIGHの期間より長い場合は上がるこ
とにより、第1及び第4のトランジスタ1,4のオン抵
抗は、出力cのクロックのHIGHの期間とLOWの期
間が等しくなるように制御される。
【0027】本実施例の波形整形回路では、温度や電圧
が変動しても図1のb点の電位が電源電圧の1/2にな
るように機能するため、温度や電圧の変化に対しても安
定な動作が可能である。
【0028】なお、本実施例ではHIGHの期間とLO
Wの期間とを等しくするために、第1のトランジスタ1
と第2のトランジスタ4の駆動能力を互いに等しくし、
且つ第2のトランジスタ2と第3のトランジスタ3の駆
動能力を互いに等しくしたが、これらのトランジスタの
駆動能力を変化させることにより、HIGHの期間とL
OWの期間との比を変えることが可能である。
【0029】また、本実施例において、抵抗素子5とし
てポリシリコンによる抵抗、半導体の拡散抵抗、トラン
ジスタのオン抵抗等を用いることができる。更に、本実
施例ではローパスフィルタ9としてL形RC回路を用い
たが、LC回路でも同様の効果が得られ、またπ形ある
いは梯子型の回路でも同様の効果が得られる。
【0030】図6は本発明の第2の実施例に係る波形整
形回路を示すものである。本実施例では、図1の回路構
成に加えて、帰還用nチャネルトランジスタ10と帰還
用pチャネルトランジスタ11とを有している。図6の
図1に対応する部分には図1と同じ番号を付してある。
帰還用nチャネルトランジスタ10のソースは第3の電
位としての電源電位に接続され、帰還用pチャネルトラ
ンジスタ11のソースは第4の電位としての接地電位に
接続されている。また、帰還用nチャネルトランジスタ
10のゲートと帰還用pチャネルトランジスタ11のゲ
ートには、図1のローパスフィルタ9の出力が接続され
ている。更に、帰還用nチャネルトランジスタ10のド
レインと帰還用pチャネルトランジスタ11のドレイン
とは互いに接続され、第1のトランジスタのゲートと第
4のトランジスタのゲートとに接続されている。
【0031】図6の波形整形回路では、図1の回路にお
けるローパスフィルタ9の出力電位の脈動が帰還用nチ
ャネルトランジスタ10と帰還用pチャネルトランジス
タ11とによって更に増幅されて、第1のトランジスタ
1及び第4のトランジスタ4のゲートに入力される。即
ち、帰還用nチャネルトランジスタ10と帰還用pチャ
ネルトランジスタ11とを用いて帰還の効果を大きくす
ることにより、出力のHIGHの期間とLOWの期間と
を等しくする効果を高めたものである。
【0032】なお、本実施例でも、ローパスフィルタ9
としてL形RC回路を用いたが、第1の実施例と同様に
他の構成としても同様の効果が得られる。更に、本実施
例では外部クロックФを第2のトランジスタ2と第3の
トランジスタ3に入力したが、これに代えて第1のトラ
ンジスタ1と第4のトランジスタ4に入力しても同様の
効果が得られる。また、第2の実施例では帰還用nチャ
ネルトランジスタ10を電源電位に、帰還用pチャネル
トランジスタ11を接地電位に接続したが、他の電圧に
する事によりフィードバック効果を調整することが可能
である。
【0033】更に、上記の第1及び第2の実施例では、
第1及び第2のトランジスタ列21,22をそれぞれ2
つのトランジスタによって構成したが、3つ以上のトラ
ンジスタで構成することも可能である。この場合には、
トランジスタ列の両端以外のトランジスタの入力に外部
の制御信号を入力することにより、フィードバック効果
を調整することが可能である。
【0034】また、複数の第1又は第2の実施例の波形
整形回路を直列に接続することにより、HIGHの期間
とLOWの期間とをさらに等しくするように外部クロッ
クを整形することが可能である。図5は図1に示す第1
の実施例の波形整形回路を2つ直列に接続した場合の出
力波形を示している。外部から入力されるクロックの1
サイクルが30nsでHIGHの期間が10nsの場
合、図4に示すように第1の実施例の波形整形回路が1
つでは18.2nsであった出力信号のLOWの期間
が、この波形整形回路を2つ直列に接続した場合には、
図5に示すように17.6nsとなり、さらにHIGH
の期間とLOWの期間とを等しくする効果があることが
分かる。
【0035】図7は本発明の第3の実施例に係るクロッ
ク回路を示したものである。このクロック回路は、図8
の従来のクロック回路の外部クロックの入力部に本発明
の波形整形回路78を接続したものである。即ち、図7
のクロック回路における第1及び第2のNANDゲート
71,72、第1、第2及び第3のインバータ76,7
7,73、第1及び第2の遅延回路74,75は、図8
の従来のクロック回路におけるものと同様である。この
波形整形回路78によってHIGHの期間とLOWの期
間とが等しくなるように整形された信号が従来の構成の
クロック回路に入力される。このように整形されたクロ
ックを用いることにより、外部クロックФのHIGHの
期間とLOWの期間とが異なる場合でも、互いにパルス
幅が等しくなるように整形された二相クロックを供給す
ることが可能となる。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1の発明に
係る波形整形回路は、第1及び第2のトランジスタ列の
それぞれの他端に位置するトランジスタのそれぞれのド
レインからの信号が入力され、かつ第1及び第2のトラ
ンジスタ列の少なくとも1つのトランジスタのそれぞれ
のゲートに信号を出力するローパスフィルタを有してい
るので、第1及び第2のトランジスタ列のそれぞれの他
端に位置するトランジスタのそれぞれのゲートに入力さ
れる外部クロックのHIGHの期間がLOWの期間より
長い場合にはローパスフィルタからの出力電圧が下がる
ことにより、LOWの期間がHIGHの期間より長い場
合は上がることにより、ローパスフィルタを構成する容
量素子の両端電圧の変動が一定になるようにフィードバ
ックが行われ、容量素子の両端におけるクロックのHI
GHの期間とLOWの期間が等しくなるようにクロック
の波形が整形される。従って、このような小さな波形整
形回路をクロック回路に備えるだけで、マイクロプロセ
ッサを高速で安定に動作させることができるクロックを
供給することができる。
【0037】また、請求項2の発明に係る波形整形回路
は、ソースとドレインとを直列に接続しそれぞれのソー
スを第3及び第4の電位に接続すると共にそれぞれドレ
インを互いに接続した第1の帰還用トランジスタ及び第
2の帰還用トランジスタを有しているので、ローパスフ
ィルタの出力はこれらのトランジスタによって増幅さ
れ、この増幅された信号によって第1及び第2のトラン
ジスタ列の少なくとも1つのそれぞれのトランジスタの
オン抵抗が制御され、2つのインバータから出力される
クロックのHIGHの期間のとLOWの期間とが等しく
なるように整形される。従って、このような小さな波形
整形回路をクロック回路に備えるだけで、マイクロプロ
セッサを高速で安定に動作させることができるクロック
を供給することができる。
【0038】更に、請求項3の発明に係るクロック回路
では、請求項1又は2の波形整形回路によってHIGH
の期間とLOWの期間とが等しくなるように外部クロッ
クが整形され、この整形されたクロックから二相クロッ
クが生成されるので、このクロック回路から出力される
二相クロックのパルス幅は互いに等しくなるように整形
される。従って、このクロック回路から発生されるクロ
ックをマイクロプロセッサに供給することにより、マイ
クロプロセッサを高速で安定に動作させることができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例に係る波形整形回路を示
す図である。
【図2】図1の回路のa点における回路シミュレーショ
ンの結果を示す波形図である。
【図3】図1の回路のb点における回路シミュレーショ
ンの結果を示す波形図である。
【図4】図1の回路の回路シミュレーションによる出力
cを示す波形図である。
【図5】本発明の第1の実施例に係る2つの波形整形回
路を直列に接続した場合の回路シミュレーションによる
出力cを示す波形図である。
【図6】本発明の第2の実施例に係る波形整形回路を示
す図である。
【図7】本発明の第3の実施例に係るクロック回路を示
す図である。
【図8】従来のクロック回路を示す図である。
【図9】従来のクロックを発生するクロック回路のタイ
ミング図である。
【図10】従来のクロック回路にHIGHの期間が短い
外部クロックを入力した場合の出力のタイミング図であ
る。
【符号の説明】
1 第1のトランジスタ 2 第2のトランジスタ 3 第3のトランジスタ 4 第4のトランジスタ 5 抵抗素子 6 容量素子 7 第1のインバータ 8 第2のインバータ 9 ローパスフィルタ 10 帰還用nチャネルトランジスタ(第1の帰還用ト
ランジスタ) 11 帰還用pチャネルトランジスタ(第2の帰還用ト
ランジスタ) 21 第1のトランジスタ列 22 第2のトランジスタ列

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 それぞれのソースとドレインとが直列に
    接続された少なくとも2つのトランジスタにより構成さ
    れ一端に位置するトランジスタのソースが第1の電位に
    接続され前記少なくとも2つのトランジスタのうちの何
    れかのトランジスタのゲートに外部クロックが入力され
    る第1のトランジスタ列と、 それぞれのソースとドレインとが直列に接続された少な
    くとも2つのトランジスタにより構成され一端に位置す
    るトランジスタのソースが第2の電位に接続され他端に
    位置するトランジスタのドレインが前記第1のトランジ
    スタ列の他端に位置するトランジスタのドレインに接続
    され前記少なくとも2つのトランジスタのうちの何れか
    のトランジスタのゲートに外部クロックが入力される第
    2のトランジスタ列と、 前記第1及び第2のトランジスタ列のそれぞれの他端に
    位置するトランジスタのそれぞれのドレインからの信号
    が入力され前記第1及び第2のトランジスタ列の前記外
    部クロックが入力されるトランジスタ以外のトランジス
    タの少なくとも1つのゲートに信号を出力するローパス
    フィルタと、 前記第1及び第2のトランジスタ列のそれぞれの他端に
    位置するトランジスタのそれぞれのドレインからの信号
    が入力されクロックを出力する互いに直列に接続された
    第1及び第2のインバータとを備えたことを特徴とする
    波形整形回路。
  2. 【請求項2】 それぞれのソースとドレインとが直列に
    接続された少なくとも2つのトランジスタにより構成さ
    れ一端に位置するトランジスタのソースが第1の電位に
    接続され前記少なくとも2つのトランジスタのうちの何
    れかのトランジスタのゲートに外部クロックが入力され
    る第1のトランジスタ列と、 それぞれソースとドレインとが直列に接続された少なく
    とも2つのトランジスタにより構成され一端に位置する
    トランジスタのソースが第2の電位に接続され他端に位
    置するトランジスタのドレインが前記第1のトランジス
    タ列の他端に位置するトランジスタのドレインに接続さ
    れ前記少なくとも2つのトランジスタのうちの何れかの
    トランジスタのゲートに外部クロックが入力される第2
    のトランジスタ列と、 前記第1及び第2のトランジスタ列のそれぞれの他端に
    位置するトランジスタのそれぞれのドレインからの信号
    が入力されるローパスフィルタと、 該ローパスフィルタからの出力信号が入力されるゲート
    と第3の電位に接続されたソースと前記第1及び第2の
    トランジスタ列の前記外部クロックが入力されるトラン
    ジスタ以外のトランジスタの少なくとも1つのゲートに
    接続されたドレインとを有する第1の帰還用トランジス
    タと、 前記ローパスフィルタからの出力信号が入力されるゲー
    トと第4の電位に接続されたソースと前記第1の帰還用
    トランジスタのドレイン並びに前記第1及び第2のトラ
    ンジスタ列の前記外部クロックが入力されるトランジス
    タ以外のトランジスタの少なくとも1つのゲートに接続
    されたドレインとを有する第2の帰還用トランジスタ
    と、 前記第1及び第2のトランジスタ列のそれぞれの他端に
    位置するトランジスタのそれぞれのドレインからの信号
    が入力されクロックを出力する互いに直列に接続された
    第1及び第2のインバータとを備えたことを特徴とする
    波形整形回路。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2記載の波形整形回路を備
    え、該波形整形回路より出力されるクロックから互いに
    パルス幅が等しくなるように整形された二相クロックを
    生成することを特徴とするクロック回路。
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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5990716A (en) * 1996-06-27 1999-11-23 Lsi Logic Corporation Method and system for recovering digital data from a transmitted balanced signal

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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