JPH0594017A - 感光性組成物 - Google Patents
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- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/004—Photosensitive materials
- G03F7/075—Silicon-containing compounds
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Abstract
(57)【要約】
【構成】 (a) 酸により分解し得る基を少なくとも1個
有し、アルカリ現像液中での溶解度が酸の作用により増
大する化合物0.5〜80wt%、(b) 下記一般式(I)で
示されるジスルホン化合物0.01〜20wt%、及び(c)
水不溶でアルカリ水に可溶な樹脂5〜99.49wt%から
なる組成物において、上記(a) の化合物が分子量2,000
以下の低分子化合物で、沸点が150℃以上であり、該
組成物の1μm の皮膜の光学濃度が248nmで1.4以下
であり、且つ248nm光照射により248nmの光学濃度
が未照射時の値よりも低下することを特徴とするポジ型
感光性組成物。 R1 −SO2 −SO2 −R2 (I) 式中R1 、R2 は同一でも相異していてもよく、置換又
は未置換のアルキル、アルケニル、又はアリール基を示
す。 【効果】 高感度であり、短波長光源に対する適性があ
り、解像力に優れている。
有し、アルカリ現像液中での溶解度が酸の作用により増
大する化合物0.5〜80wt%、(b) 下記一般式(I)で
示されるジスルホン化合物0.01〜20wt%、及び(c)
水不溶でアルカリ水に可溶な樹脂5〜99.49wt%から
なる組成物において、上記(a) の化合物が分子量2,000
以下の低分子化合物で、沸点が150℃以上であり、該
組成物の1μm の皮膜の光学濃度が248nmで1.4以下
であり、且つ248nm光照射により248nmの光学濃度
が未照射時の値よりも低下することを特徴とするポジ型
感光性組成物。 R1 −SO2 −SO2 −R2 (I) 式中R1 、R2 は同一でも相異していてもよく、置換又
は未置換のアルキル、アルケニル、又はアリール基を示
す。 【効果】 高感度であり、短波長光源に対する適性があ
り、解像力に優れている。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明はアルカリ可溶性樹脂、酸
により分解しアルカリ可溶性になる化合物、及び活性光
線又は放射線の照射により酸を発生する、特定の酸発生
剤からなる紫外線、遠紫外線、X線、電子線、分子線、
γ線、シンクロトロン放射線等の輻射線に感応する感光
性樹脂組成物に関するものである。就中フォトレジスト
に関するものであり、特に高い解像力と感度、更に良好
な保存安定性をそなえた微細加工用フォトレジスト組成
物に関するものである。本発明によるフォトレジストは
半導体ウエハー、またはガラス、セラミックス、金属等
の基板上にスピン塗布法またはローラー塗布法で0.5〜
3μm の厚みに塗布される。その後、加熱、乾燥し、露
光マスクを介して回路パターン等を紫外線照射などによ
り焼き付け、現像してポジ画像が得られる。更にこのポ
ジ画像をマスクとしてエッチングする事により基板にパ
ターン状の加工を施す事ができる。代表的な応用分野に
はICなどの半導体製造工程、液晶、サーマルヘッドな
どの回路基板の製造、更にその他のフォトファブリケー
ション工程などがある。
により分解しアルカリ可溶性になる化合物、及び活性光
線又は放射線の照射により酸を発生する、特定の酸発生
剤からなる紫外線、遠紫外線、X線、電子線、分子線、
γ線、シンクロトロン放射線等の輻射線に感応する感光
性樹脂組成物に関するものである。就中フォトレジスト
に関するものであり、特に高い解像力と感度、更に良好
な保存安定性をそなえた微細加工用フォトレジスト組成
物に関するものである。本発明によるフォトレジストは
半導体ウエハー、またはガラス、セラミックス、金属等
の基板上にスピン塗布法またはローラー塗布法で0.5〜
3μm の厚みに塗布される。その後、加熱、乾燥し、露
光マスクを介して回路パターン等を紫外線照射などによ
り焼き付け、現像してポジ画像が得られる。更にこのポ
ジ画像をマスクとしてエッチングする事により基板にパ
ターン状の加工を施す事ができる。代表的な応用分野に
はICなどの半導体製造工程、液晶、サーマルヘッドな
どの回路基板の製造、更にその他のフォトファブリケー
ション工程などがある。
【0002】
【従来の技術】ポジ型フォトレジスト組成物としては、
一般にアルカリ可溶性樹脂と感光物としてのナフトキノ
ンジアジド化合物とを含む組成物が用いられている。例
えば、「ノボラック型フェノール樹脂/ナフトキノンジ
アジド置換化合物」として米国特許第3666473
号、米国特許第4115128号及び米国特許第417
3470号等に、また最も典型的な組成物として「クレ
ゾール−ホルムアルデヒドより成るノボラック樹脂/ト
リヒドロキシベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジ
アジドスルホン酸エステル」の例がトンプソン「イント
ロダクション・トウー・マイクロリソグラフィー」(L.
F. Thompson「Introduction to Microlithography」)
(ACS出版、No. 2 19号、p112〜121)に
記載されている。
一般にアルカリ可溶性樹脂と感光物としてのナフトキノ
ンジアジド化合物とを含む組成物が用いられている。例
えば、「ノボラック型フェノール樹脂/ナフトキノンジ
アジド置換化合物」として米国特許第3666473
号、米国特許第4115128号及び米国特許第417
3470号等に、また最も典型的な組成物として「クレ
ゾール−ホルムアルデヒドより成るノボラック樹脂/ト
リヒドロキシベンゾフェノン−1,2−ナフトキノンジ
アジドスルホン酸エステル」の例がトンプソン「イント
ロダクション・トウー・マイクロリソグラフィー」(L.
F. Thompson「Introduction to Microlithography」)
(ACS出版、No. 2 19号、p112〜121)に
記載されている。
【0003】結合剤としてのノボラック樹脂は、膨潤す
ることなくアルカリ水溶液に溶解可能であり、また生成
した画像をエッチングのマスクとして使用する際に特に
プラズマエッチングに対して高い耐性を与えるが故に本
用途に特に有用である。また、感光物に用いるナフトキ
ノンジアジド化合物は、それ自身ノボラック樹脂のアル
カリ溶解性を低下せしめる溶解阻止剤として作用する
が、光照射を受けて分解するとアルカリ可溶性物質を生
じてむしろノボラック樹脂のアルカリ溶解度を高める働
きをする点で特異であり、この光に対する大きな性質変
化の故にポジ型フォトレジストの感光物として特に有用
である。
ることなくアルカリ水溶液に溶解可能であり、また生成
した画像をエッチングのマスクとして使用する際に特に
プラズマエッチングに対して高い耐性を与えるが故に本
用途に特に有用である。また、感光物に用いるナフトキ
ノンジアジド化合物は、それ自身ノボラック樹脂のアル
カリ溶解性を低下せしめる溶解阻止剤として作用する
が、光照射を受けて分解するとアルカリ可溶性物質を生
じてむしろノボラック樹脂のアルカリ溶解度を高める働
きをする点で特異であり、この光に対する大きな性質変
化の故にポジ型フォトレジストの感光物として特に有用
である。
【0004】これまで、かかる観点からノボラック樹脂
とナフトキノンジアジド系感光物を含有する数多くのポ
ジ型フォトレジストが開発、実用化され、1.5μm 〜
2μm 程度までの線幅加工に於ては充分な成果をおさめ
てきた。しかし、集積回路はその集積度を益々高めてお
り、超LSIなどの半導体基板の製造に於ては1μm 以
下の線幅から成る超微細パターンの加工が必要とされる
様になってきている。かかる用途に於ては、特に高い解
像力、露光マスクの形状を正確に写しとる高いパターン
形状再現精度及び高生産性の観点からの高感度を有し更
に保存安定性に優れたフォトレジストが要求されてい
る。
とナフトキノンジアジド系感光物を含有する数多くのポ
ジ型フォトレジストが開発、実用化され、1.5μm 〜
2μm 程度までの線幅加工に於ては充分な成果をおさめ
てきた。しかし、集積回路はその集積度を益々高めてお
り、超LSIなどの半導体基板の製造に於ては1μm 以
下の線幅から成る超微細パターンの加工が必要とされる
様になってきている。かかる用途に於ては、特に高い解
像力、露光マスクの形状を正確に写しとる高いパターン
形状再現精度及び高生産性の観点からの高感度を有し更
に保存安定性に優れたフォトレジストが要求されてい
る。
【0005】高い解像度を達成するためにキノンジアジ
ド感光基の含量を高める試みがなされている。例えば特
開昭60−158440号には高トリエステル含量の感
光物を用いる方法が記載されている。また特開昭61−
118744号には感光物1分子中に含まれるキノンジ
アジド感光基の個数を高める試みもなされている。しか
しこれらの感光物は通常用いられる溶剤に不溶性であっ
たり、また溶解した場合においてもフォトレジスト組成
物の保存中に、析出物が生成しフォトファブリケーショ
ン工程やデバイス製造工程において故障の原因となり、
得率が悪化する問題があった。このような感光物の析出
を防止するために特開昭61−260239号には溶解
性パラメータ11〜12の有機溶剤を添加する方法が記
載されている。しかしジメチルスルホキシド等の溶剤を
使用しているためにレジスト組成物の保存安定性が悪
く、感度や解像力が経過日数に従って大きく変化する欠
点を有している。
ド感光基の含量を高める試みがなされている。例えば特
開昭60−158440号には高トリエステル含量の感
光物を用いる方法が記載されている。また特開昭61−
118744号には感光物1分子中に含まれるキノンジ
アジド感光基の個数を高める試みもなされている。しか
しこれらの感光物は通常用いられる溶剤に不溶性であっ
たり、また溶解した場合においてもフォトレジスト組成
物の保存中に、析出物が生成しフォトファブリケーショ
ン工程やデバイス製造工程において故障の原因となり、
得率が悪化する問題があった。このような感光物の析出
を防止するために特開昭61−260239号には溶解
性パラメータ11〜12の有機溶剤を添加する方法が記
載されている。しかしジメチルスルホキシド等の溶剤を
使用しているためにレジスト組成物の保存安定性が悪
く、感度や解像力が経過日数に従って大きく変化する欠
点を有している。
【0006】また高い解像度を達成する為に、使用する
光源の短波長化が考えられている。即ち、従来のg線
(436nm)、i線(365nm)からDeep-UV 光(20
0〜300nm)、KrF エキシマ−レーザー(248nm)
の使用が検討されているが、良好な形状のレジストパタ
ーンを形成する上で上記波長に対応する為には、この波
長領域での吸収が小さく、且つ露光の際、露光波長にお
けるブリーチ性が大きいことが必要となる。しかし、従
来のナフトキノンジアジド感光物の場合、Deep-UV 領域
での吸収が大きく、ブリーチ性も小さい為、光源の短波
長化の要望に対応し得ないのが実状であった。
光源の短波長化が考えられている。即ち、従来のg線
(436nm)、i線(365nm)からDeep-UV 光(20
0〜300nm)、KrF エキシマ−レーザー(248nm)
の使用が検討されているが、良好な形状のレジストパタ
ーンを形成する上で上記波長に対応する為には、この波
長領域での吸収が小さく、且つ露光の際、露光波長にお
けるブリーチ性が大きいことが必要となる。しかし、従
来のナフトキノンジアジド感光物の場合、Deep-UV 領域
での吸収が大きく、ブリーチ性も小さい為、光源の短波
長化の要望に対応し得ないのが実状であった。
【0007】更にこれらのキノンジアジド化合物は、活
性光線の照射により分解を起こして5員環のカルボン酸
を生じ、アルカリ可溶性となる性質が利用されるもので
あるが、いずれも感光性が不十分であるという欠点を有
する。これは、キノンジアジド化合物の場合、本質的に
量子収率が1を越えないということに由来するものであ
る。
性光線の照射により分解を起こして5員環のカルボン酸
を生じ、アルカリ可溶性となる性質が利用されるもので
あるが、いずれも感光性が不十分であるという欠点を有
する。これは、キノンジアジド化合物の場合、本質的に
量子収率が1を越えないということに由来するものであ
る。
【0008】キノンジアジド化合物を含む感光性組成物
の感光性を高める方法については、今までいろいろと試
みられてきたが、現像時の現像許容性を保持したまま感
光性を高めることは非常に困難であった。一方、キノン
ジアジド化合物を用いずにポジチブに作用させる感光性
組成物に関して、いくつかの提案がされている。その1
つとして、例えば特公昭56−2696号に記載されて
いるオルトニトロカルビノールエステル基を有するポリ
マー化合物が挙げられる。しかし、この場合も、キノン
ジアジドの場合と同じ理由で感光性が十分とは言えな
い。また、これとは別に接触作用により活性化される感
光系を使用し、感光性を高める方法として、光分解で生
成する酸によって第2の反応を生起させ、それにより露
光域を可溶化する公知の原理が適用されている。
の感光性を高める方法については、今までいろいろと試
みられてきたが、現像時の現像許容性を保持したまま感
光性を高めることは非常に困難であった。一方、キノン
ジアジド化合物を用いずにポジチブに作用させる感光性
組成物に関して、いくつかの提案がされている。その1
つとして、例えば特公昭56−2696号に記載されて
いるオルトニトロカルビノールエステル基を有するポリ
マー化合物が挙げられる。しかし、この場合も、キノン
ジアジドの場合と同じ理由で感光性が十分とは言えな
い。また、これとは別に接触作用により活性化される感
光系を使用し、感光性を高める方法として、光分解で生
成する酸によって第2の反応を生起させ、それにより露
光域を可溶化する公知の原理が適用されている。
【0009】このような例として、例えば光分解により
酸を発生する化合物と、アセタール又はO、N−アセタ
ール化合物との組合せ(特開昭48−89003号)、
オルトエステル又はアミドアセタール化合物との組合せ
(特開昭51−120714号)、主鎖にアセタール又
はケタール基を有するポリマーとの組合せ(特開昭53
−133429号)、エノールエーテル化合物との組合
せ(特開昭55−12995号)、N−アシルイミノ炭
酸化合物との組合せ(特開昭55−126236号)、
主鎖にオルトエステル基を有するポリマーとの組合せ
(特開昭56−17345号)、シリルエステル化合物
との組合せ(特開昭60−10247号)及びシリルエ
ーテル化合物との組合せ(特開昭60−37549号、
特開昭60−121446号)などを挙げることができ
る。これらは原理的に量子収率が1を越える為、高い感
光性を示す。同様に室温下経時では安定であるが、酸存
在下加熱することにより分解し、アルカリ可溶化する系
として、例えば、特開昭59−45439号、同60−
3625号、同62−229242号、同63−362
40号、 Polym. Eng. Sci. ,23巻、1012頁(1
983)、 ACS. Sym.242巻、11頁(1984)、
Semiconductor World 1987年、11月号、91
頁、 Macromolecules ,21巻、1475頁(198
8)、 SPIE ,920巻、42頁(1988)、などに
記載されている露光により酸を発生する化合物と、第3
級又は2級炭素(例えばt−ブチル、2−シクロヘキセ
ニルなど)のエステル又は炭酸エステル化合物との組合
せ系が挙げられる。これらの系も、高感度を有し、且つ
ナフトキノンジアジド/ノボラック樹脂系と比べて、De
ep-UV領域での吸収が小さいことから、前記の光源短波
長化に有効な系となり得るが、一方で併用する酸発生剤
が光ブリーチしない為、良好な形状のレジストパターン
を得るには十分ではなかった。特定の酸発生剤としてジ
スルホン化合物の使用については、特開昭61−166
544号並びに西独特許第3804533号に、シリル
エーテル化合物との組合せ系が記載されているが、前者
においては、Deep-UV 領域での吸収が大きく、後者では
露光部のアルカリ現像性、及び未露光部の現像液に対す
る溶解阻止性が十分ではないという問題点があった。
酸を発生する化合物と、アセタール又はO、N−アセタ
ール化合物との組合せ(特開昭48−89003号)、
オルトエステル又はアミドアセタール化合物との組合せ
(特開昭51−120714号)、主鎖にアセタール又
はケタール基を有するポリマーとの組合せ(特開昭53
−133429号)、エノールエーテル化合物との組合
せ(特開昭55−12995号)、N−アシルイミノ炭
酸化合物との組合せ(特開昭55−126236号)、
主鎖にオルトエステル基を有するポリマーとの組合せ
(特開昭56−17345号)、シリルエステル化合物
との組合せ(特開昭60−10247号)及びシリルエ
ーテル化合物との組合せ(特開昭60−37549号、
特開昭60−121446号)などを挙げることができ
る。これらは原理的に量子収率が1を越える為、高い感
光性を示す。同様に室温下経時では安定であるが、酸存
在下加熱することにより分解し、アルカリ可溶化する系
として、例えば、特開昭59−45439号、同60−
3625号、同62−229242号、同63−362
40号、 Polym. Eng. Sci. ,23巻、1012頁(1
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Semiconductor World 1987年、11月号、91
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8)、 SPIE ,920巻、42頁(1988)、などに
記載されている露光により酸を発生する化合物と、第3
級又は2級炭素(例えばt−ブチル、2−シクロヘキセ
ニルなど)のエステル又は炭酸エステル化合物との組合
せ系が挙げられる。これらの系も、高感度を有し、且つ
ナフトキノンジアジド/ノボラック樹脂系と比べて、De
ep-UV領域での吸収が小さいことから、前記の光源短波
長化に有効な系となり得るが、一方で併用する酸発生剤
が光ブリーチしない為、良好な形状のレジストパターン
を得るには十分ではなかった。特定の酸発生剤としてジ
スルホン化合物の使用については、特開昭61−166
544号並びに西独特許第3804533号に、シリル
エーテル化合物との組合せ系が記載されているが、前者
においては、Deep-UV 領域での吸収が大きく、後者では
露光部のアルカリ現像性、及び未露光部の現像液に対す
る溶解阻止性が十分ではないという問題点があった。
【0010】
【発明が解決しようとする課題】本発明は、上記問題点
を解決し、特に半導体デバイスの製造において、高感度
で且つ高い解像力を有するフォトレジスト組成物を提供
することを目的とする。更に詳しくはDeep-UV 領域での
吸収が小さく、更にこの領域での光ブリーチ性が大き
い、短波長光源に対応し得るフォトレジスト組成物を提
供することを目的とする。
を解決し、特に半導体デバイスの製造において、高感度
で且つ高い解像力を有するフォトレジスト組成物を提供
することを目的とする。更に詳しくはDeep-UV 領域での
吸収が小さく、更にこの領域での光ブリーチ性が大き
い、短波長光源に対応し得るフォトレジスト組成物を提
供することを目的とする。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明者等は、上記諸特
性に留意し、鋭意検討した結果、本発明を完成させるに
至った。即ち、本発明は、(a) 酸により分解し得る基を
少なくとも1個有し、アルカリ現像液中での溶解度が酸
の作用により増大する化合物0.5〜80wt%、(b) 下記
一般式で示されるジスルホン化合物0.01〜20wt%、
及び(c) 水不溶でアルカリ水に可溶な樹脂5〜99.49
wt%からなる組成物において、上記(a) の化合物が分子
量2,000 以下の低分子化合物で沸点が150℃以上であ
り、該組成物の1μm の皮膜の光学濃度が248nmで1.
4以下であり、且つ248nm光照射により248nmの光
学濃度が未照射時の値よりも低下することを特徴とする
ポジ型感光性組成物を提供するものである。
性に留意し、鋭意検討した結果、本発明を完成させるに
至った。即ち、本発明は、(a) 酸により分解し得る基を
少なくとも1個有し、アルカリ現像液中での溶解度が酸
の作用により増大する化合物0.5〜80wt%、(b) 下記
一般式で示されるジスルホン化合物0.01〜20wt%、
及び(c) 水不溶でアルカリ水に可溶な樹脂5〜99.49
wt%からなる組成物において、上記(a) の化合物が分子
量2,000 以下の低分子化合物で沸点が150℃以上であ
り、該組成物の1μm の皮膜の光学濃度が248nmで1.
4以下であり、且つ248nm光照射により248nmの光
学濃度が未照射時の値よりも低下することを特徴とする
ポジ型感光性組成物を提供するものである。
【0012】 R1 −SO2 −SO2 −R2 (I) 式中R1 、R2 は同一でも相異していてもよく、置換又
は未置換のアルキル、アルケニル、又はアリール基を示
す。以下、本発明の感光性組成物の各成分について説明
する。成分(a) (酸により分解し得る化合物) 本発明の成分(a) は、酸により分解し得る基を少なくと
も1個有し、アルカリ現像液中での溶解度が酸の作用に
より増大する化合物である。
は未置換のアルキル、アルケニル、又はアリール基を示
す。以下、本発明の感光性組成物の各成分について説明
する。成分(a) (酸により分解し得る化合物) 本発明の成分(a) は、酸により分解し得る基を少なくと
も1個有し、アルカリ現像液中での溶解度が酸の作用に
より増大する化合物である。
【0013】本発明の好ましい実施態様においては、酸
により分解し得る基としては、 −COO−A、又は
−Ar−O−Bで示される基が挙げられる。ここでAは
-C(R3)(R4)(R5)、 -Si(R3)(R4)(R5) 又は -C(R6)
(R7)-OR8 基を示す。BはA又は−CO−O−A基を示
し、Yは単結合又は二価の芳香族基を示す。R3 、
R4 、R5 、R6 及びR7 は、それぞれ同一でも相異し
ていてもよく、水素原子、アルキル、シクロアルキル、
アルケニル、又はアリール基を示し、R8 はアルキル、
又はアリール基を示す。但し、R3 〜R5 のうち、少な
くとも2つは水素原子以外の基であり、またR3 〜
R5 、及びR6 〜R8 のうちの2つの基が結合して環を
形成してもよい。−Ar−は単環、又は多環の2価の芳
香族基を示す。
により分解し得る基としては、 −COO−A、又は
−Ar−O−Bで示される基が挙げられる。ここでAは
-C(R3)(R4)(R5)、 -Si(R3)(R4)(R5) 又は -C(R6)
(R7)-OR8 基を示す。BはA又は−CO−O−A基を示
し、Yは単結合又は二価の芳香族基を示す。R3 、
R4 、R5 、R6 及びR7 は、それぞれ同一でも相異し
ていてもよく、水素原子、アルキル、シクロアルキル、
アルケニル、又はアリール基を示し、R8 はアルキル、
又はアリール基を示す。但し、R3 〜R5 のうち、少な
くとも2つは水素原子以外の基であり、またR3 〜
R5 、及びR6 〜R8 のうちの2つの基が結合して環を
形成してもよい。−Ar−は単環、又は多環の2価の芳
香族基を示す。
【0014】好ましくは、シリルエーテル基、クミルエ
ステル基、アセタール基、エノールエーテル基、エノー
ルエステル基、第3級のアルキルエーテル基、第3級の
アルキルエステル基、第3級のアルキルカーボネート基
などである。更に該化合物(a) の分子量は2,000 以下、
好ましくは1,200 以下であり、且つ沸点が150℃以上
の化合物である。
ステル基、アセタール基、エノールエーテル基、エノー
ルエステル基、第3級のアルキルエーテル基、第3級の
アルキルエステル基、第3級のアルキルカーボネート基
などである。更に該化合物(a) の分子量は2,000 以下、
好ましくは1,200 以下であり、且つ沸点が150℃以上
の化合物である。
【0015】具体的には特開昭60−37549号、特
開平1−106038号記載のシリルエーテル化合物、
特開昭51−120714号、特開平1−106040
号、並びに特開平1−106041号記載のアセタール
化合物、特開昭60−3625号記載のクミルエステル
化合物、特開昭55−12995号記載のエノールエー
テル化合物、特開昭62−27827号記載のt−ブチ
ルエーテル、t−ブチルエステル、並びにt−ブチルカ
ーボネート化合物が挙げられる。
開平1−106038号記載のシリルエーテル化合物、
特開昭51−120714号、特開平1−106040
号、並びに特開平1−106041号記載のアセタール
化合物、特開昭60−3625号記載のクミルエステル
化合物、特開昭55−12995号記載のエノールエー
テル化合物、特開昭62−27827号記載のt−ブチ
ルエーテル、t−ブチルエステル、並びにt−ブチルカ
ーボネート化合物が挙げられる。
【0016】この他、特開平2−177031号記載の
β−ジカルボニル化合物のモノケタール体、特開平2−
181150号記載のβ−ケト酸エステル化合物、特開
平2−181151号記載のマロン酸エステル化合物、
特開平3−107163号記載のスピロオルソカーボネ
ート化合物、特開平3−153257号記載のカルバメ
ート化合物、ヨーロッパ特許412457号記載のアン
モニウム塩基を有する化合物、ヨーロッパ特許4241
24号記載のテロラヒドロピラニルエーテル化合物並び
に特開平3−17653号記載の化合物なども本発明の
酸分解性基を有する化合物(a) として使用できる。
β−ジカルボニル化合物のモノケタール体、特開平2−
181150号記載のβ−ケト酸エステル化合物、特開
平2−181151号記載のマロン酸エステル化合物、
特開平3−107163号記載のスピロオルソカーボネ
ート化合物、特開平3−153257号記載のカルバメ
ート化合物、ヨーロッパ特許412457号記載のアン
モニウム塩基を有する化合物、ヨーロッパ特許4241
24号記載のテロラヒドロピラニルエーテル化合物並び
に特開平3−17653号記載の化合物なども本発明の
酸分解性基を有する化合物(a) として使用できる。
【0017】本発明の成分(a) の好ましい化合物例を以
下に示すが、本発明の化合物がこれに限定されるもので
はない。
下に示すが、本発明の化合物がこれに限定されるもので
はない。
【0018】
【化1】
【0019】
【化2】
【0020】
【化3】
【0021】
【化4】
【0022】
【化5】
【0023】
【化6】
【0024】
【化7】
【0025】
【化8】
【0026】
【化9】
【0027】また、本発明の感光性組成物における成分
(a) の含有量は、固型分で0.5 〜80wt%、好ましくは
3〜70wt%、更に好ましくは5〜50wt%である。成分(b) (ジスルホン化合物) 本発明に使用される成分(b) は一般式(I)で表わされ
るジスルホン化合物である。この一般式(I)におい
て、アルキル基としては直鎖、分枝または環状のもので
あり、好ましくは炭素原子数が約1ないし約10のもの
である。具体的には、例えばメチル基、エチル基、プロ
ピル基、ブチル基、ヘキシル基、オクチル基、デシル
基、イソプロピル基、イソブチル基、tert−ブチル基、
2−エチルヘキシル基、シクロヘキシル基などが含まれ
る。また、置換アルキル基は、上記のようなアルキル基
に例えば塩素原子のようなハロゲン原子、例えばメトキ
シ基のような炭素原子数1〜6個のアルコキシ基、例え
ばフェニル基のようなアリール基、例えばフェノキシ基
のようなアリールオキシ基などの置換したものが含ま
れ、具体的にはモノクロロメチル基、ジクロロメチル
基、トリクロロメチル基、ブロモメチル基、2−クロロ
エチル基、2′−ブロモエチル基、2−メトキシエチル
基、2−エトキシエチル基、フェニルメチル基、ナフチ
ルメチル基、フェノキシメチル基などが挙げられる。
(a) の含有量は、固型分で0.5 〜80wt%、好ましくは
3〜70wt%、更に好ましくは5〜50wt%である。成分(b) (ジスルホン化合物) 本発明に使用される成分(b) は一般式(I)で表わされ
るジスルホン化合物である。この一般式(I)におい
て、アルキル基としては直鎖、分枝または環状のもので
あり、好ましくは炭素原子数が約1ないし約10のもの
である。具体的には、例えばメチル基、エチル基、プロ
ピル基、ブチル基、ヘキシル基、オクチル基、デシル
基、イソプロピル基、イソブチル基、tert−ブチル基、
2−エチルヘキシル基、シクロヘキシル基などが含まれ
る。また、置換アルキル基は、上記のようなアルキル基
に例えば塩素原子のようなハロゲン原子、例えばメトキ
シ基のような炭素原子数1〜6個のアルコキシ基、例え
ばフェニル基のようなアリール基、例えばフェノキシ基
のようなアリールオキシ基などの置換したものが含ま
れ、具体的にはモノクロロメチル基、ジクロロメチル
基、トリクロロメチル基、ブロモメチル基、2−クロロ
エチル基、2′−ブロモエチル基、2−メトキシエチル
基、2−エトキシエチル基、フェニルメチル基、ナフチ
ルメチル基、フェノキシメチル基などが挙げられる。
【0028】アルケニル基は例えばビニル基であり、置
換アルケニル基は、ビニル基に例えばメチル基のような
アルキル基、例えばフェニル基のようなアリール基など
の置換したものが含まれ、具体的には1−メチルビニル
基、2−メチルビニル基、1,2−ジメチルビニル基、
2−フェニルビニル基、2−(p−メチルフェニル)ビ
ニル基、2−(p−メトキシフェニル)ビニル基、2−
(p−クロロフェニル)ビニル基、2−(o−クロロフ
ェニル)ビニル基などが挙げられる。
換アルケニル基は、ビニル基に例えばメチル基のような
アルキル基、例えばフェニル基のようなアリール基など
の置換したものが含まれ、具体的には1−メチルビニル
基、2−メチルビニル基、1,2−ジメチルビニル基、
2−フェニルビニル基、2−(p−メチルフェニル)ビ
ニル基、2−(p−メトキシフェニル)ビニル基、2−
(p−クロロフェニル)ビニル基、2−(o−クロロフ
ェニル)ビニル基などが挙げられる。
【0029】また、アリール基は単環あるいは2環のも
のが好ましく、例えばフェニル基、α−ナフチル基、β
−ナフチル基などが挙げられる。置換アリール基は上記
のようなアリール基に、例えばメチル基、エチル基など
の炭素原子数1〜6個のアルキル基、例えばメトキシ
基、エトキシ基などの炭素原子数1〜6個のアルコキシ
基、例えば塩素原子などのハロゲン原子、ニトロ基、フ
ェニル基、カルボキシ基、ヒドロキシ基、アミド基、イ
ミド基、シアノ基などが置換したものが含まれ、具体的
には4−クロロフェニル基、2−クロロフェニル基、4
−ブロモフェニル基、4−ニトロフェニル基、4−ヒド
ロキシフェニル基、4−フェニルフェニル基、4−メチ
ルフェニル基、2−メチルフェニル基、4−エチルフェ
ニル基、4−メトキシフェニル基、2−メトキシフェニ
ル基、4−エトキシフェニル基、2−カルボキシフェニ
ル基、4−シアノフェニル基、4−メチル−1−ナフチ
ル基、4−クロロ−1−ナフチル基、5−ニトロ−1−
ナフチル基、5−ヒドロキシ−1−ナフチル基、6−ク
ロロ−2−ナフチル基、4−ブロモ−2−ナフチル基、
5−ヒドロキシ−2−ナフチル基などがあげられる。
のが好ましく、例えばフェニル基、α−ナフチル基、β
−ナフチル基などが挙げられる。置換アリール基は上記
のようなアリール基に、例えばメチル基、エチル基など
の炭素原子数1〜6個のアルキル基、例えばメトキシ
基、エトキシ基などの炭素原子数1〜6個のアルコキシ
基、例えば塩素原子などのハロゲン原子、ニトロ基、フ
ェニル基、カルボキシ基、ヒドロキシ基、アミド基、イ
ミド基、シアノ基などが置換したものが含まれ、具体的
には4−クロロフェニル基、2−クロロフェニル基、4
−ブロモフェニル基、4−ニトロフェニル基、4−ヒド
ロキシフェニル基、4−フェニルフェニル基、4−メチ
ルフェニル基、2−メチルフェニル基、4−エチルフェ
ニル基、4−メトキシフェニル基、2−メトキシフェニ
ル基、4−エトキシフェニル基、2−カルボキシフェニ
ル基、4−シアノフェニル基、4−メチル−1−ナフチ
ル基、4−クロロ−1−ナフチル基、5−ニトロ−1−
ナフチル基、5−ヒドロキシ−1−ナフチル基、6−ク
ロロ−2−ナフチル基、4−ブロモ−2−ナフチル基、
5−ヒドロキシ−2−ナフチル基などがあげられる。
【0030】本発明で用いられる一般式(I)で表わさ
れるジスルホン化合物は、ジー.シー.デンサー,ジュ
ニア.ら著「ジャーナル オブ オルガニックケミスト
リー」(G. C. Denser, Jr ら著、「Journal of Organ
ic Chemistry」)31、3418〜3419(196
6)記載の方法、テー.ピー.ヒルドイッチ著「ジャー
ナル オブ ザ ケミカル ソサイアテイ」(T. P. Hi
lditch著「Journal of the Chemical Society 」)9
3、1524〜1527(1908)記載の方法、ある
いはオー.ヒンズベルク著「ベリヒテ デア ドイチエ
ン ヘミシエ ゲゼルシヤフト」(O. Hinsberg 著、
「Berichte der Deutschen Chemischen Gesellschaf
t」)49、2593〜2594(1916)記載の方
法等にしたがい合成できる。すなわち、硫酸水溶液中に
おいて、硫酸コバルトを用い、一般式(II)で示される
スルフィン酸より合成する方法、キサントゲン酸エチル
を用い、一般式(III)で示されるスルホン酸クロリドよ
り合成する方法、あるいは塩基性条件下、一般式(II)
で示されるスルフィン酸と一般式(III)で示されるスル
ホン酸クロリドとを反応させ合成する方法等が挙げられ
る。
れるジスルホン化合物は、ジー.シー.デンサー,ジュ
ニア.ら著「ジャーナル オブ オルガニックケミスト
リー」(G. C. Denser, Jr ら著、「Journal of Organ
ic Chemistry」)31、3418〜3419(196
6)記載の方法、テー.ピー.ヒルドイッチ著「ジャー
ナル オブ ザ ケミカル ソサイアテイ」(T. P. Hi
lditch著「Journal of the Chemical Society 」)9
3、1524〜1527(1908)記載の方法、ある
いはオー.ヒンズベルク著「ベリヒテ デア ドイチエ
ン ヘミシエ ゲゼルシヤフト」(O. Hinsberg 著、
「Berichte der Deutschen Chemischen Gesellschaf
t」)49、2593〜2594(1916)記載の方
法等にしたがい合成できる。すなわち、硫酸水溶液中に
おいて、硫酸コバルトを用い、一般式(II)で示される
スルフィン酸より合成する方法、キサントゲン酸エチル
を用い、一般式(III)で示されるスルホン酸クロリドよ
り合成する方法、あるいは塩基性条件下、一般式(II)
で示されるスルフィン酸と一般式(III)で示されるスル
ホン酸クロリドとを反応させ合成する方法等が挙げられ
る。
【0031】 R1 −SO2 H (II) R2 −SO2 Cl (III) (ここで、R1 およびR2 は一般式(I)で定義された
R1 およびR2 と同一の意味である。) 以下に本発明に使用される一般式(I)で示される具体
的な化合物を例示する。
R1 およびR2 と同一の意味である。) 以下に本発明に使用される一般式(I)で示される具体
的な化合物を例示する。
【0032】
【化10】
【0033】
【化11】
【0034】
【化12】
【0035】
【化13】
【0036】
【化14】
【0037】
【化15】
【0038】
【化16】
【0039】
【化17】
【0040】
【化18】
【0041】
【化19】
【0042】
【化20】
【0043】本発明の感光性組成物における、一般式
(I)のジスルホン化合物の含有量は固型分で0.01〜
20wt%、好ましくは0.5〜15wt%、更に好ましく
は1〜10wt%である。成分(c) (アルカリ可溶性樹脂) 本発明のポジ型感光性組成物に使用されるアルカリ可溶
性樹脂は、好ましくはフェノール性水酸基、カルボン酸
基、スルホン酸基、イミド基、スルホンアミド基、N−
スルホニルアミド基、N−スルホニルウレタン基、活性
メチレン基等のpKa 11以下の酸性水素原子を有するポ
リマーである。好適なアルカリ可溶性ポリマーとして
は、ノボラック型フェノール樹脂、具体的にはフェノー
ルホルムアルデヒド樹脂、o−クレゾール−ホルムアル
デヒド樹脂、m−クレゾール−ホルムアルデヒド樹脂、
p−クレゾール−ホルムアルデヒド樹脂、キシレノール
−ホルムアルデヒド樹脂、またこれらの共縮合物などが
ある。更に特開昭50−125806号公報に記されて
いる様に上記のようなフェノール樹脂と共に、t−ブチ
ルフェノールホルムアルデヒド樹脂のような炭素数3〜
8のアルキル基で置換されたフェノールまたはクレゾー
ルとホルムアルデヒドとの縮合物とを併用してもよい。
またN−(4−ヒドロキシフェニル)メタクリルアミド
のようなフェノール性ヒドロキシ基含有モノマーを共重
合成分とするポリマー、p−ヒドロキシスチレン、o−
ヒドロキシスチレン、m−イソプロペニルフェノール、
p−イソプロペニルフェノール等の単独又は共重合のポ
リマー、更にまたはこれらのポリマーを部分エーテル
化、部分エステル化したポリマーも使用できる。
(I)のジスルホン化合物の含有量は固型分で0.01〜
20wt%、好ましくは0.5〜15wt%、更に好ましく
は1〜10wt%である。成分(c) (アルカリ可溶性樹脂) 本発明のポジ型感光性組成物に使用されるアルカリ可溶
性樹脂は、好ましくはフェノール性水酸基、カルボン酸
基、スルホン酸基、イミド基、スルホンアミド基、N−
スルホニルアミド基、N−スルホニルウレタン基、活性
メチレン基等のpKa 11以下の酸性水素原子を有するポ
リマーである。好適なアルカリ可溶性ポリマーとして
は、ノボラック型フェノール樹脂、具体的にはフェノー
ルホルムアルデヒド樹脂、o−クレゾール−ホルムアル
デヒド樹脂、m−クレゾール−ホルムアルデヒド樹脂、
p−クレゾール−ホルムアルデヒド樹脂、キシレノール
−ホルムアルデヒド樹脂、またこれらの共縮合物などが
ある。更に特開昭50−125806号公報に記されて
いる様に上記のようなフェノール樹脂と共に、t−ブチ
ルフェノールホルムアルデヒド樹脂のような炭素数3〜
8のアルキル基で置換されたフェノールまたはクレゾー
ルとホルムアルデヒドとの縮合物とを併用してもよい。
またN−(4−ヒドロキシフェニル)メタクリルアミド
のようなフェノール性ヒドロキシ基含有モノマーを共重
合成分とするポリマー、p−ヒドロキシスチレン、o−
ヒドロキシスチレン、m−イソプロペニルフェノール、
p−イソプロペニルフェノール等の単独又は共重合のポ
リマー、更にまたはこれらのポリマーを部分エーテル
化、部分エステル化したポリマーも使用できる。
【0044】更に、アクリル酸、メタクリル酸等のカル
ボキシル基含有モノマーを共重合成分とするポリマー、
特開昭61−267042号公報記載のカルボキシル基
含有ポリビニルアセタール樹脂、特開昭63−1240
47号公報記載のカルボキシル基含有ポリウレタン樹脂
も好適に使用される。更にまた、N−(4−スルファモ
イルフェニル)メタクリルアミド、N−フェニルスルホ
ニルメタクリルアミド、マレイミドを共重合成分とする
ポリマー、特開昭63−127237号公報記載の活性
メチレン基含有モノマーも使用できる。
ボキシル基含有モノマーを共重合成分とするポリマー、
特開昭61−267042号公報記載のカルボキシル基
含有ポリビニルアセタール樹脂、特開昭63−1240
47号公報記載のカルボキシル基含有ポリウレタン樹脂
も好適に使用される。更にまた、N−(4−スルファモ
イルフェニル)メタクリルアミド、N−フェニルスルホ
ニルメタクリルアミド、マレイミドを共重合成分とする
ポリマー、特開昭63−127237号公報記載の活性
メチレン基含有モノマーも使用できる。
【0045】これらのアルカリ可溶性ポリマーは単一で
使用できるが、数種の混合物として使用してもよい。本
発明の感光性組成物における成分(c) の含有量は、感光
性組成物全固形分に対し、5 〜99.49wt%、好ましく
は10〜95wt%、更に好ましくは30〜90wt%の範
囲である。(a) 、(b) 、及び(c) の化合物からなる本発
明の感光性組成物は、上記(a) 、(b) 、及び(c) の含有
量の範囲で使用されるが、該組成物の1μm の皮膜の光
学濃度が、248nmで1.4以下、好ましくは1.3以
下、更に好ましくは1.0以下になるように組み合わさ
れ、且つ248nm光照射により248nmの光学濃度が未
照射時の値よりも低下することを特徴としている。(その他の好ましい成分) 本発明のポジ型感光性組成物
には必要に応じて、更に染料、顔料、可塑剤及び光分解
効率を増大させる化合物(所謂増感剤)などを含有させ
ることができる。
使用できるが、数種の混合物として使用してもよい。本
発明の感光性組成物における成分(c) の含有量は、感光
性組成物全固形分に対し、5 〜99.49wt%、好ましく
は10〜95wt%、更に好ましくは30〜90wt%の範
囲である。(a) 、(b) 、及び(c) の化合物からなる本発
明の感光性組成物は、上記(a) 、(b) 、及び(c) の含有
量の範囲で使用されるが、該組成物の1μm の皮膜の光
学濃度が、248nmで1.4以下、好ましくは1.3以
下、更に好ましくは1.0以下になるように組み合わさ
れ、且つ248nm光照射により248nmの光学濃度が未
照射時の値よりも低下することを特徴としている。(その他の好ましい成分) 本発明のポジ型感光性組成物
には必要に応じて、更に染料、顔料、可塑剤及び光分解
効率を増大させる化合物(所謂増感剤)などを含有させ
ることができる。
【0046】このような増感剤としては、ベンゾイン、
ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテ
ル、9−フルオレノン、2−クロロ−9−フルオレノ
ン、2−メチル−9−フルオレノン、9−アントロン、
2−ブロモ−9−アントロン、2−エチル−9−アント
ロン、9,10−アントラキノン、2−エチル−9,1
0−アントラキノン、2−t−ブチル−9,10−アン
トラキノン、2,6−ジクロロ−9,10−アントラキ
ノン、キサントン、2−メチルキサントン、2−メトキ
シキサントン、チオキサントン、ベンジル、ジベンザル
アセトン、p−(ジメチルアミノ)フェニルスチリルケ
トン、p−(ジメチルアミノ)フェニルp−メチルスチ
リルケトン、ベンゾフェノン、p−(ジメチルアミノ)
ベンゾフェノン(またはミヒラーケトン)、p−(ジエ
チルアミノ)ベンゾフェノン、ベンズアントロンなどを
あげることができる。これらの化合物のうち、ミヒラー
ケトンを用いた場合が特に好ましい。
ベンゾインメチルエーテル、ベンゾインエチルエーテ
ル、9−フルオレノン、2−クロロ−9−フルオレノ
ン、2−メチル−9−フルオレノン、9−アントロン、
2−ブロモ−9−アントロン、2−エチル−9−アント
ロン、9,10−アントラキノン、2−エチル−9,1
0−アントラキノン、2−t−ブチル−9,10−アン
トラキノン、2,6−ジクロロ−9,10−アントラキ
ノン、キサントン、2−メチルキサントン、2−メトキ
シキサントン、チオキサントン、ベンジル、ジベンザル
アセトン、p−(ジメチルアミノ)フェニルスチリルケ
トン、p−(ジメチルアミノ)フェニルp−メチルスチ
リルケトン、ベンゾフェノン、p−(ジメチルアミノ)
ベンゾフェノン(またはミヒラーケトン)、p−(ジエ
チルアミノ)ベンゾフェノン、ベンズアントロンなどを
あげることができる。これらの化合物のうち、ミヒラー
ケトンを用いた場合が特に好ましい。
【0047】さらに、本発明における好ましい増感剤と
しては、特公昭51−48516号公報中に記載されて
いる下記一般式(IV)で表わされる化合物があげられ
る。
しては、特公昭51−48516号公報中に記載されて
いる下記一般式(IV)で表わされる化合物があげられ
る。
【0048】
【化21】
【0049】式中、R3 はアルキル基(例えば、メチル
基、エチル基、プロピル基など)、または置換アルキル
基(例えば、2−ヒドロキシエチル基、2−メトキシエ
チル基、カルボキシメチル基、2−カルボキシエチル基
など)を表わす。R4 はアルキル基(例えば、メチル
基、エチル基など)、またはアリール基(例えば、フェ
ニル基、p−ヒドロキシフェニル基、ナフチル基、チエ
ニル基など)を表わす。
基、エチル基、プロピル基など)、または置換アルキル
基(例えば、2−ヒドロキシエチル基、2−メトキシエ
チル基、カルボキシメチル基、2−カルボキシエチル基
など)を表わす。R4 はアルキル基(例えば、メチル
基、エチル基など)、またはアリール基(例えば、フェ
ニル基、p−ヒドロキシフェニル基、ナフチル基、チエ
ニル基など)を表わす。
【0050】Dは通常シアニン色素で用いられる窒素を
含む複素環核を形成するのに必要な非金属原子群、例え
ば、ベンゾチアゾール類(ベンゾチアゾール、5−クロ
ロベンゾチアゾール、6−クロロベンゾチアゾールな
ど)、ナフトチアゾール類(α−ナフトチアゾール、β
−ナフトチアゾールなど)、ベンゾセレナゾール類(ベ
ンゾセレナゾール、5−クロロベンゾセレナゾール、6
−メトキシベンゾセレナゾールなど)、ナフトセレナゾ
ール類(α−ナフトセレナゾール、β−ナフトセレナゾ
ールなど)、ベンゾオキサゾール類(ベンゾオキサゾー
ル、5−メチルベンゾオキサゾール、5−フェニルベン
ゾオキサゾールなど)、ナフトオキサゾール類(α−ナ
フトオキサゾール、β−ナフトオキサゾールなど)を表
わす。
含む複素環核を形成するのに必要な非金属原子群、例え
ば、ベンゾチアゾール類(ベンゾチアゾール、5−クロ
ロベンゾチアゾール、6−クロロベンゾチアゾールな
ど)、ナフトチアゾール類(α−ナフトチアゾール、β
−ナフトチアゾールなど)、ベンゾセレナゾール類(ベ
ンゾセレナゾール、5−クロロベンゾセレナゾール、6
−メトキシベンゾセレナゾールなど)、ナフトセレナゾ
ール類(α−ナフトセレナゾール、β−ナフトセレナゾ
ールなど)、ベンゾオキサゾール類(ベンゾオキサゾー
ル、5−メチルベンゾオキサゾール、5−フェニルベン
ゾオキサゾールなど)、ナフトオキサゾール類(α−ナ
フトオキサゾール、β−ナフトオキサゾールなど)を表
わす。
【0051】一般式(IV)で表わされる化合物の具体例
としては、これらD、R3 およびR 4 を組合せた化学構
造を有するものであり、多くのものが公知物質として存
在する。従って、これら公知のものから適宜選択して使
用することができる。更に、本発明における好ましい増
感剤としては、米国特許第4,062,686 号記載の増感剤、
例えば、2−〔ビス(2−フロイル)メチレン〕−3−
メチルベンゾチアゾリン、2−〔ビス(2−チエノイ
ル)メチレン〕−3−メチルベンゾチアゾリン、2−
〔ビス(2−フロイル)メチレン〕−3−メチルナフト
〔1,2−d〕チアゾリンなどが挙げられる。
としては、これらD、R3 およびR 4 を組合せた化学構
造を有するものであり、多くのものが公知物質として存
在する。従って、これら公知のものから適宜選択して使
用することができる。更に、本発明における好ましい増
感剤としては、米国特許第4,062,686 号記載の増感剤、
例えば、2−〔ビス(2−フロイル)メチレン〕−3−
メチルベンゾチアゾリン、2−〔ビス(2−チエノイ
ル)メチレン〕−3−メチルベンゾチアゾリン、2−
〔ビス(2−フロイル)メチレン〕−3−メチルナフト
〔1,2−d〕チアゾリンなどが挙げられる。
【0052】また、着色剤として染料を用いることがで
きるが、好適な染料としては油溶性染料及び塩基性染料
がある。具体的には、オイルイエロー#101、オイル
イエロー#130、オイルピンク#312、オイルグリ
ーンBG、オイルブルーBOS、オイルブルー#60
3、オイルブラックBY、オイルブラックBS、オイル
ブラックT−505(以上、オリエント化学工業株式会
社製)クリスタルバイオレット(CI42555)、メチルバイ
オレット(CI42535)、ローダミンB(CI45170B)、マラ
カイトグリーン(CI42000)、メチレンブルー(CI52015)
などをあげることができる。
きるが、好適な染料としては油溶性染料及び塩基性染料
がある。具体的には、オイルイエロー#101、オイル
イエロー#130、オイルピンク#312、オイルグリ
ーンBG、オイルブルーBOS、オイルブルー#60
3、オイルブラックBY、オイルブラックBS、オイル
ブラックT−505(以上、オリエント化学工業株式会
社製)クリスタルバイオレット(CI42555)、メチルバイ
オレット(CI42535)、ローダミンB(CI45170B)、マラ
カイトグリーン(CI42000)、メチレンブルー(CI52015)
などをあげることができる。
【0053】本発明の組成物中には、更に感度を高める
ために環状酸無水物、露光後直ちに可視像を得るための
焼出し剤、その他のフィラーなどを加えることができ
る。環状酸無水物としては米国特許第4,115,128 号明細
書に記載されているように無水フタル酸、テトラヒドロ
無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、3,6−エ
ンドオキシ−Δ4 −テトラヒドロ無水フタル酸、テトラ
クロル無水フタル酸、無水マレイン酸、クロル無水マレ
イン酸、α−フェニル無水マレイン酸、無水コハク酸、
ピロメリット酸等がある。これらの環状酸無水物を全組
成物中の固形分に対して1から15重量%含有させるこ
とによって感度を最大3倍程度に高めることができる。
露光後直ちに可視像を得るための焼出し剤としては露光
によって酸を放出する感光性化合物と塩を形成し得る有
機染料の組合せを代表として挙げることができる。具体
的には特開昭50−36209号公報、特開昭53−8
128号公報に記載されているo−ナフトキノンジアジ
ド−4−スルホン酸ハロゲニドと塩形成有機染料の組合
せや特開昭53−36223号公報、特開昭54−74
728号公報に記載されているトリハロメチル化合物と
塩形成性有機染料の組合せを挙げることができる。(溶媒) 本発明のポジ型感光性組成物を、半導体等のレ
ジスト材料用として使用する場合は、溶媒に溶解したま
まで使用する。ここで使用する溶媒としては、エチレン
ジクロライド、シクロヘキサノン、メチルエチルケト
ン、メタノール、エタノール、プロパノール、エチレン
グリコールモノメチルエーテル、1−メトキシ−2−プ
ロパノール、エチレングリコールモノエチルエーテル、
2−メトキシエチルアセテート、2−エトキシエチルア
セテート、1−メトキシ−2−プロピルアセテート、ジ
メトキシエタン、乳酸メチル、乳酸エチル、N,N−ジ
メチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、
テトラメチルウレア、N−メチルピロリドン、ジメチル
スルホキシド、スルホラン、γ−ブチロラクトン、トル
エン、酢酸エチルなどがあり、これらの溶媒を単独ある
いは混合して使用する。そして上記成分中の濃度(添加
物を含む全固形分)は、2〜50重量%である。(活性光線又は放射線) 本発明の感光性組成物の露光に
用いられる活性光線の光源としては例えば、水銀灯、メ
タルハライドランプ、キセノンランプ、ケミカルラン
プ、カーボンアーク灯などがある。放射線としては電子
線、X線、イオンビーム、遠紫外線などがある。好まし
くはフォトレジスト用の光源として、g線、i線、Deep
-UV 光が使用される。また高密度エネルギービーム(レ
ーザービーム又は電子線)による走査又はパルス露光も
本発明の感光性組成物の露光に使用することができる。
このようなレーザービームとしてはヘリウム・ネオンレ
ーザー、アルゴンレーザー、クリプトンイオンレーザ
ー、ヘリウム・カドミウムレーザー、 KrFエキシマレー
ザーなどが挙げられる。(現像液) 本発明のポジ型感光性組成物に対する現像液
としては、珪酸ナトリウム、珪酸カリウム、水酸化ナト
リウム、水酸化カリウム、水酸化リチウム、第三リン酸
ナトリウム、第二リン酸ナトリウム、第三リン酸アンモ
ニウム、第二リン酸アンモニウム、メタ珪酸ナトリウ
ム、重炭酸ナトリウム、アンモニア水などのような無機
アルカリ剤及びテトラアルキルアンモニウムOH塩など
のような有機アルカリ剤の水溶液が適当であり、それら
の濃度が0.1〜10重量%、好ましくは0.5〜5重量%
になるように添加される。
ために環状酸無水物、露光後直ちに可視像を得るための
焼出し剤、その他のフィラーなどを加えることができ
る。環状酸無水物としては米国特許第4,115,128 号明細
書に記載されているように無水フタル酸、テトラヒドロ
無水フタル酸、ヘキサヒドロ無水フタル酸、3,6−エ
ンドオキシ−Δ4 −テトラヒドロ無水フタル酸、テトラ
クロル無水フタル酸、無水マレイン酸、クロル無水マレ
イン酸、α−フェニル無水マレイン酸、無水コハク酸、
ピロメリット酸等がある。これらの環状酸無水物を全組
成物中の固形分に対して1から15重量%含有させるこ
とによって感度を最大3倍程度に高めることができる。
露光後直ちに可視像を得るための焼出し剤としては露光
によって酸を放出する感光性化合物と塩を形成し得る有
機染料の組合せを代表として挙げることができる。具体
的には特開昭50−36209号公報、特開昭53−8
128号公報に記載されているo−ナフトキノンジアジ
ド−4−スルホン酸ハロゲニドと塩形成有機染料の組合
せや特開昭53−36223号公報、特開昭54−74
728号公報に記載されているトリハロメチル化合物と
塩形成性有機染料の組合せを挙げることができる。(溶媒) 本発明のポジ型感光性組成物を、半導体等のレ
ジスト材料用として使用する場合は、溶媒に溶解したま
まで使用する。ここで使用する溶媒としては、エチレン
ジクロライド、シクロヘキサノン、メチルエチルケト
ン、メタノール、エタノール、プロパノール、エチレン
グリコールモノメチルエーテル、1−メトキシ−2−プ
ロパノール、エチレングリコールモノエチルエーテル、
2−メトキシエチルアセテート、2−エトキシエチルア
セテート、1−メトキシ−2−プロピルアセテート、ジ
メトキシエタン、乳酸メチル、乳酸エチル、N,N−ジ
メチルアセトアミド、N,N−ジメチルホルムアミド、
テトラメチルウレア、N−メチルピロリドン、ジメチル
スルホキシド、スルホラン、γ−ブチロラクトン、トル
エン、酢酸エチルなどがあり、これらの溶媒を単独ある
いは混合して使用する。そして上記成分中の濃度(添加
物を含む全固形分)は、2〜50重量%である。(活性光線又は放射線) 本発明の感光性組成物の露光に
用いられる活性光線の光源としては例えば、水銀灯、メ
タルハライドランプ、キセノンランプ、ケミカルラン
プ、カーボンアーク灯などがある。放射線としては電子
線、X線、イオンビーム、遠紫外線などがある。好まし
くはフォトレジスト用の光源として、g線、i線、Deep
-UV 光が使用される。また高密度エネルギービーム(レ
ーザービーム又は電子線)による走査又はパルス露光も
本発明の感光性組成物の露光に使用することができる。
このようなレーザービームとしてはヘリウム・ネオンレ
ーザー、アルゴンレーザー、クリプトンイオンレーザ
ー、ヘリウム・カドミウムレーザー、 KrFエキシマレー
ザーなどが挙げられる。(現像液) 本発明のポジ型感光性組成物に対する現像液
としては、珪酸ナトリウム、珪酸カリウム、水酸化ナト
リウム、水酸化カリウム、水酸化リチウム、第三リン酸
ナトリウム、第二リン酸ナトリウム、第三リン酸アンモ
ニウム、第二リン酸アンモニウム、メタ珪酸ナトリウ
ム、重炭酸ナトリウム、アンモニア水などのような無機
アルカリ剤及びテトラアルキルアンモニウムOH塩など
のような有機アルカリ剤の水溶液が適当であり、それら
の濃度が0.1〜10重量%、好ましくは0.5〜5重量%
になるように添加される。
【0054】また、該アルカリ性水溶液には、必要に応
じ界面活性剤やアルコールなどのような有機溶媒を加え
ることもできる。
じ界面活性剤やアルコールなどのような有機溶媒を加え
ることもできる。
【0055】
【発明の効果】本発明のポジ型感光性組成物は、高感度
を有し、Deep-UV 硫酸の短波長光源に対する適性があ
り、解像力に優れている。
を有し、Deep-UV 硫酸の短波長光源に対する適性があ
り、解像力に優れている。
【0056】
【実施例】以下、本発明を実施例により更に詳細に説明
するが、本発明の内容がこれにより限定されるものでは
ない。 実施例1 分子量が3380でメタ/パラ(m/p)仕込比が50
/50であるメタ−パラクレゾールノボラック樹脂2g
とI−14で示される構造を有するジスルホン化合物0.
2gを6.0gのジメチルアセトアミド(以後DMAcと略
記する)に溶解したのち、0.4μm のポアサイズをもつ
メンブランフィルターで濾過し、感光性組成物を得た。
この組成物の光学濃度を測定したところ、248nmの波
長において未露光時は約1.2μm -1程度であるが、露光
後は約0.9μm -1に低下していた。前記感光性組成物を
ヘキサメチルジシラザン処理を施した3インチベアシリ
コン上に塗布し、100℃に保持したホットプレート上
で90秒間プリベークを行ない、約8000Åの膜厚を
有する塗膜を形成した。露光には低圧水銀灯を光源とし
254nmの波長の遠紫外光を透過するバンドパスフィル
ターを取り付けたキャノン製PLA501Fコンタクト
アライナを用いた。コンタクトモードで露光後、濃度が
約1.43%のテトラメチルアンモニウムハイドロオキサ
イド水溶液(以後TMAHと略記する)で60秒間パド
ル現像を行なった。この結果、残膜率が95%のポジ画
像が得られた。
するが、本発明の内容がこれにより限定されるものでは
ない。 実施例1 分子量が3380でメタ/パラ(m/p)仕込比が50
/50であるメタ−パラクレゾールノボラック樹脂2g
とI−14で示される構造を有するジスルホン化合物0.
2gを6.0gのジメチルアセトアミド(以後DMAcと略
記する)に溶解したのち、0.4μm のポアサイズをもつ
メンブランフィルターで濾過し、感光性組成物を得た。
この組成物の光学濃度を測定したところ、248nmの波
長において未露光時は約1.2μm -1程度であるが、露光
後は約0.9μm -1に低下していた。前記感光性組成物を
ヘキサメチルジシラザン処理を施した3インチベアシリ
コン上に塗布し、100℃に保持したホットプレート上
で90秒間プリベークを行ない、約8000Åの膜厚を
有する塗膜を形成した。露光には低圧水銀灯を光源とし
254nmの波長の遠紫外光を透過するバンドパスフィル
ターを取り付けたキャノン製PLA501Fコンタクト
アライナを用いた。コンタクトモードで露光後、濃度が
約1.43%のテトラメチルアンモニウムハイドロオキサ
イド水溶液(以後TMAHと略記する)で60秒間パド
ル現像を行なった。この結果、残膜率が95%のポジ画
像が得られた。
【0057】Eta感度はおよそ50mj/cm2 であり、解
像力は0.75μm L/Sであった。 実施例2 分子量が3400のm/p仕込比が50/50であるメ
タ−パラクレゾールノボラック樹脂と分子量約8000
の
像力は0.75μm L/Sであった。 実施例2 分子量が3400のm/p仕込比が50/50であるメ
タ−パラクレゾールノボラック樹脂と分子量約8000
の
【0058】
【化22】
【0059】なるアルカリ可溶性樹脂とを、60:40
の割合で混合し、(それぞれ、1.2g及び0.8g)、I
−7で示される構造を有するジスルホン化合物を0.2g
(樹脂に対し10%)添加した。溶剤には、7.9gのD
MAcを用いた。完全に溶解したのち実施例1と同様に0.
4μm のメンブランフィルターで濾過して感光性組成物
を得た。この組成物の光学濃度は、248nmの波長にお
いては、未露光時約1.0μm -1、露光後0.8μm -1に低
下した。実施例1と同様にしてシリコンウェハー上に約
8000Åの塗膜を形成した。露光後、濃度が1.19%
のTMAH水溶液を現像液として45秒のパドル現像を
行なった。この結果残膜率が約90%のポジ画像が得ら
れた。
の割合で混合し、(それぞれ、1.2g及び0.8g)、I
−7で示される構造を有するジスルホン化合物を0.2g
(樹脂に対し10%)添加した。溶剤には、7.9gのD
MAcを用いた。完全に溶解したのち実施例1と同様に0.
4μm のメンブランフィルターで濾過して感光性組成物
を得た。この組成物の光学濃度は、248nmの波長にお
いては、未露光時約1.0μm -1、露光後0.8μm -1に低
下した。実施例1と同様にしてシリコンウェハー上に約
8000Åの塗膜を形成した。露光後、濃度が1.19%
のTMAH水溶液を現像液として45秒のパドル現像を
行なった。この結果残膜率が約90%のポジ画像が得ら
れた。
【0060】解像力は0.75μm L/Sで、Eta感度は
約30mj/cm2 であった。 実施例3 分子量が約6000のm/p=60/40仕込比のメタ
−パラクレゾールノボラック樹脂1.8と、化合物例(a
−4)(A= -C(CH3)2(C6H5) )の化合物0.8g及びI
−16で示される構造を有するジスルホン化合物0.12
gを7.5gのDMAcに溶解し、0.4μm のメンブランフ
ィルターで濾過して感光性組成物を得た。この組成物の
光学濃度は248nmで未露光時約0.93μm-1露光時0.
81μm -1に減少した。実施例1と同様にして、シリコ
ンウェハー上に塗膜形成を行ない、8000Åの膜を得
た。実施例1で述べた露光装置を使い露光後、1.19%
のTMAH水溶液を現像液として45秒のパドル現像を
行なった。この結果残膜率が92%のポジ画像を得た。
0.7μm L/Sを解像した。Eta感度は25mj/cm 2 で
あった。 実施例4 実施例3で用いたジスルホン化合物I−16のかわりに
I−13で示される構造を有するジスルホン化合物を使
い、添加量を0.3gとして、感光性組成物を得た。24
8nmでの光学濃度を測定したところ、未露光時、約1.1
μm -1であったが、露光により0.92μm -1に減力し
た。
約30mj/cm2 であった。 実施例3 分子量が約6000のm/p=60/40仕込比のメタ
−パラクレゾールノボラック樹脂1.8と、化合物例(a
−4)(A= -C(CH3)2(C6H5) )の化合物0.8g及びI
−16で示される構造を有するジスルホン化合物0.12
gを7.5gのDMAcに溶解し、0.4μm のメンブランフ
ィルターで濾過して感光性組成物を得た。この組成物の
光学濃度は248nmで未露光時約0.93μm-1露光時0.
81μm -1に減少した。実施例1と同様にして、シリコ
ンウェハー上に塗膜形成を行ない、8000Åの膜を得
た。実施例1で述べた露光装置を使い露光後、1.19%
のTMAH水溶液を現像液として45秒のパドル現像を
行なった。この結果残膜率が92%のポジ画像を得た。
0.7μm L/Sを解像した。Eta感度は25mj/cm 2 で
あった。 実施例4 実施例3で用いたジスルホン化合物I−16のかわりに
I−13で示される構造を有するジスルホン化合物を使
い、添加量を0.3gとして、感光性組成物を得た。24
8nmでの光学濃度を測定したところ、未露光時、約1.1
μm -1であったが、露光により0.92μm -1に減力し
た。
【0061】画像形成能を、実施例1と同様の操作で1.
19%のTMAH水溶液を現像液として評価した。0.8
μm L/Sを解像しEta感度は75mj/cm2 であった。 実施例5〜10 化合物例(a−27)(B= -COO-C4H9 t ) の化合物
(B)を、表1に示すような組成で、m/pクレゾール
ノボラック樹脂(A)(m/p=50/50、重量平均
分子量=6000)及びジスルホン化合物(C)と混合
し感光性組成物を調製した。実施例1に示すような手順
で塗布、露光を行い、露光後90℃で90秒間ポストベ
ークを行った。更に実施例1と同様に現像を行ない画像
形成能を調べた。
19%のTMAH水溶液を現像液として評価した。0.8
μm L/Sを解像しEta感度は75mj/cm2 であった。 実施例5〜10 化合物例(a−27)(B= -COO-C4H9 t ) の化合物
(B)を、表1に示すような組成で、m/pクレゾール
ノボラック樹脂(A)(m/p=50/50、重量平均
分子量=6000)及びジスルホン化合物(C)と混合
し感光性組成物を調製した。実施例1に示すような手順
で塗布、露光を行い、露光後90℃で90秒間ポストベ
ークを行った。更に実施例1と同様に現像を行ない画像
形成能を調べた。
【0062】その結果下表に記すような結果が得られ
た。いずれの場合も、マスクの最小寸法0.7μm を解像
した。 ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 実施例 Eta(mj/cm2) 解像度(μm ) 残膜率(%) ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 5 20 0.7 91.0 6 35 0.7 92.0 7 40 0.7 93.0 8 25 0.7 89.0 9 30 0.7 89.0 10 35 0.7 91.0 ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 実 (C) 組成比 光学濃度μm -1 現 像 施 ジスルホン━━━━━━━━━━━━━━━━━ 現像液 時 間 例 化合物 (A)/(B) (B)/(C) 未露光 露光 (秒) ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 5 I−11 80/20 8/1 1.05 0.99 TMAH 2.38% 30 6 〃 70/30 〃 0.95 0.88 〃 30 7 〃 60/40 〃 0.88 0.78 〃 40 8 I−15 80/20 〃 1.07 1.01 TMAH 1.67% 30 9 〃 70/30 〃 0.99 0.90 〃 40 10 〃 60/40 〃 0.90 0.78 〃 40 ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
た。いずれの場合も、マスクの最小寸法0.7μm を解像
した。 ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 実施例 Eta(mj/cm2) 解像度(μm ) 残膜率(%) ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 5 20 0.7 91.0 6 35 0.7 92.0 7 40 0.7 93.0 8 25 0.7 89.0 9 30 0.7 89.0 10 35 0.7 91.0 ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 実 (C) 組成比 光学濃度μm -1 現 像 施 ジスルホン━━━━━━━━━━━━━━━━━ 現像液 時 間 例 化合物 (A)/(B) (B)/(C) 未露光 露光 (秒) ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━ 5 I−11 80/20 8/1 1.05 0.99 TMAH 2.38% 30 6 〃 70/30 〃 0.95 0.88 〃 30 7 〃 60/40 〃 0.88 0.78 〃 40 8 I−15 80/20 〃 1.07 1.01 TMAH 1.67% 30 9 〃 70/30 〃 0.99 0.90 〃 40 10 〃 60/40 〃 0.90 0.78 〃 40 ━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━━
Claims (2)
- 【請求項1】 (a) 酸により分解し得る基を少なくとも
1個有し、アルカリ現像液中での溶解度が酸の作用によ
り増大する化合物0.5〜80wt%、 (b) 下記一般式(I)で示されるジスルホン化合物0.0
1〜20wt%、及び (c) 水不溶でアルカリ水に可溶な樹脂5〜99.49wt%
からなる組成物において、 上記(a) の化合物が分子量2,000 以下の低分子化合物
で、沸点が150℃以上であり、 該組成物の1μm の皮膜の光学濃度が248nmで1.4以
下であり、且つ248nm光照射により248nmの光学濃
度が未照射時の値よりも低下することを特徴とするポジ
型感光性組成物。 R1 −SO2 −SO2 −R2 (I) 式中R1 、R2 は同一でも相異していてもよく、置換又
は未置換のアルキル、アルケニル、又はアリール基を示
す。 - 【請求項2】 上記化合物の酸分解性基が−COO−
A、又は −Ar−O−B基で示されることを特徴とす
る請求項(1) のポジ型感光性組成物。ここでAは -C(R
3)(R4)(R5)、 -Si(R3)(R4)(R5) 又は -C(R6)(R7)-OR8
基を示す。BはA又は−CO−O−A基を示し、Yは単
結合又は二価の芳香族基を示す。R3 、R4 、R5 、R
6 及びR7 は、それぞれ同一でも相異していてもよく、
水素原子、アルキル、シクロアルキル、アルケニル、又
はアリール基を示し、R8 はアルキル、又はアリール基
を示す。但し、R3 〜R5 のうち、少なくとも2つは水
素原子以外の基であり、またR3 〜R5 、及びR6 〜R
8 のうちの2つの基が結合して環を形成してもよい。−
Ar−は単環又は多環の2価の芳香族基を示す。
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