JPH0612721B2 - チツプ抵抗器用基板 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 （産業上の利用分野） 本発明は、電子回路に一般的に使用されるチップ抵抗器
用の基板に関するものである。

（従来の技術） 従来のチップ抵抗器用基板について第４図および第５図
により説明する。

第４図において、チップ抵抗器用基板は、縦溝１と横溝
２によって区画された絶縁基板３の個々の区画の表面に
それぞれ、横溝２を介して隣接する区画と共通になった
相対向する一対の電極４および５を形成し、この一対の
電極４および５に接触する状態で低抗体６を設けたもの
である。

第５図は第４図の一部を拡大した平面図で、各区画の電
極４および５にそれぞれプローブ７を接触させて抵抗を
測定する。

（発明が解決しようとする問題点） このような従来の構成では、プローブ７の先端部が接触
する電極４および５の面積が小さく、４端子測定を行う
ためには、プローブ７の形状を加工することが難しく、
また強度にも難点であり、やむなく２端子測定が採用さ
れていた。しかしながら、２端子測定では接触抵抗およ
び線抵抗を除去できず真値を得ることができないという
問題があり、特に低抵抗の場合に顕著であった。

また、使用者から全抵抗値域で高精度化するよう強い要
望が出されていることも、上記の問題点がクローズアッ
プされる背景にある。

本発明は上記の問題点を解決するもので、４端子測定が
行え、抵抗値の高精度測定が可能なチップ抵抗器用基板
を提供しようとするものである。

（問題点を解決するための手段） 上記の問題点を解決するために、本発明は相対向する電
極のうち一方が縦溝を介して隣接する区画の電極と、他
の一方が逆方向の縦溝を介して隣接する区画の電極とそ
れぞれ共通にし、このような一対の電極に接触する低抗
体を設けるものである。

（作用） 上記の構成によって、抵抗体１個に対する電極面積を従
来の２倍強にすることができ、４端子測定が可能とな
り、抵抗値を高精度で測定できるようにするものであ
る。

（実施例） 本発明の実施例を第１図ないし第３図により説明する。

第１図は本発明によるチップ抵抗器用基板の平面図で、
チップ抵抗器用基板は、縦溝１と横溝２によって区画さ
れた絶縁基板３の個々の区画の表面にそれぞれ、縦溝１
を介して逆方向に相隣接する区画と共通の相対向する一
対の電極８および９を形成し、この一対の電極８および
９に接触するように低抗体６を設けたものである。

第２図は第１図の一部を拡大した平面図で、相対向する
電極８および９が、その区画を形成する両側の縦溝１を
介し、それぞれ逆方向に隣接する区画と共通の電極とな
っている。

第３図は抵抗器を４端子測定する場合の具体例を示した
もので、低抗体6aの抵抗値を測定する場合は、隣接する
区画と共通の電極8aおよび9aにそれぞれ接触しているプ
ローブ７の測定端子7aと7b、および7cと7dで測定する。
プローブ７は従来と同じものを使用する。

（発明の効果） 本発明によれば、電極の面積が大きいために、４端子測
定が可能となり、抵抗値の測定精度が向上する。特に、
低抵抗領域での測定精度の向上に著しい効果があり、使
用者の要望を満足させ、製品への信頼度を向上する著し
い効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるチップ抵抗器用基板の平面図、第
２図は第１図の部分拡大平面図、第３図は本発明のチッ
プ抵抗器用基板を４端子測定する場合の電極とプローブ
端子の位置関係を示す平面図、第４図は従来のチップ抵
抗器用基板の平面図、第５図は第４図を一部を拡大し、
電極とプローブの位置関係を示した平面図である。 １……縦溝、２……横溝、３……絶縁基板、４，５，
８，8a，９，9a……電極、６，6a……低抗体、７……プ
ローブ、7a,7b,7c,7d……測定端子。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】絶縁基板上に切離し用の縦溝および横溝に
   よって区画された個々の区画上に相対向する電極を形成
   し、これに接触する低抗体を設けたチップ抵抗器用基板
   において、一方の電極は縦溝を介して隣接する区画と共
   通の電極に、他方の電極は逆方向の縦溝を介して隣接す
   る区画と共通の電極になっており、横溝を挟んでそれぞ
   れ独立していることを特徴とするチップ抵抗器用基板。