JPH061299B2 - 顕微鏡の試料保温装置 - Google Patents
顕微鏡の試料保温装置Info
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- JPH061299B2 JPH061299B2 JP6177084A JP6177084A JPH061299B2 JP H061299 B2 JPH061299 B2 JP H061299B2 JP 6177084 A JP6177084 A JP 6177084A JP 6177084 A JP6177084 A JP 6177084A JP H061299 B2 JPH061299 B2 JP H061299B2
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- 238000001816 cooling Methods 0.000 claims description 5
- 230000004044 response Effects 0.000 claims description 2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B21/00—Microscopes
- G02B21/24—Base structure
- G02B21/30—Base structure with heating device
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- Microscoopes, Condenser (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は、顕微鏡の載物台上に配設された試料の特に観
察部分を所定温度に制御するようにした顕微鏡の試料保
温装置に関する。
察部分を所定温度に制御するようにした顕微鏡の試料保
温装置に関する。
従来技術 従来、この種顕微鏡の試料保温装置としては、例えば実
公昭５７−４１７７４号公報によるものが知られてお
り、これは温度センサーが試料の近傍で且つ顕微鏡によ
る観察の妨げにならないような位置に設けられていて、
この温度センサーからの出力信号により制御装置が試料
を所定温度に保温するようになつている。しかしなが
ら、例えば培養細胞を顕微鏡により観察する場合、一般
に使用されている培養観察容器は、観察視野に比べてか
なり大きいので、該培養観察容器のすぐ傍に温度センサ
ーを配設しても観察位置との検出位置との間に大きな温
度差が生じてしまい、従つて正確な温度制御を行なうこ
とが困難であり、また観察位置の近傍の温度を検出する
ために温度センサーを培養観察容器内に設けることは、
該温度セサーによる培養観察容器内への雑菌の混入の危
険性があり而も観察の度に該温度センサーの洗浄及び滅
菌が必要になる等、非常に問題があり好ましくない。
公昭５７−４１７７４号公報によるものが知られてお
り、これは温度センサーが試料の近傍で且つ顕微鏡によ
る観察の妨げにならないような位置に設けられていて、
この温度センサーからの出力信号により制御装置が試料
を所定温度に保温するようになつている。しかしなが
ら、例えば培養細胞を顕微鏡により観察する場合、一般
に使用されている培養観察容器は、観察視野に比べてか
なり大きいので、該培養観察容器のすぐ傍に温度センサ
ーを配設しても観察位置との検出位置との間に大きな温
度差が生じてしまい、従つて正確な温度制御を行なうこ
とが困難であり、また観察位置の近傍の温度を検出する
ために温度センサーを培養観察容器内に設けることは、
該温度セサーによる培養観察容器内への雑菌の混入の危
険性があり而も観察の度に該温度センサーの洗浄及び滅
菌が必要になる等、非常に問題があり好ましくない。
目的 本発明は、以上の点に鑑み、顕微鏡を載物台上に配設さ
れた試料に影響を及ぼすことなく該試料を所定温度に正
確に制御し得るようにした顕微鏡の試料保温装置を提供
することを目的としている。
れた試料に影響を及ぼすことなく該試料を所定温度に正
確に制御し得るようにした顕微鏡の試料保温装置を提供
することを目的としている。
概要 この目的は、載物台上に配設された試料の観察部分の近
傍位置即ち第一の位置における第一の温度と該第一の位
置とは異なり而も前記試料の観察部分の温度の影響下に
在る第二の位置における第二の温度との間の相関データ
が前以て記憶されている制御装置と、該第二の温度を検
出するための第一の温度センサーとを含んでおり、該第
一の温度センサーからの出力信号により前記相関データ
に基づき該制御装置が試料特にその観察部分を所定温度
に制御するように加熱手段または冷却手段を温度制御す
るようにしたことを特徴とする、顕微鏡の試料保温装置
により解決される。
傍位置即ち第一の位置における第一の温度と該第一の位
置とは異なり而も前記試料の観察部分の温度の影響下に
在る第二の位置における第二の温度との間の相関データ
が前以て記憶されている制御装置と、該第二の温度を検
出するための第一の温度センサーとを含んでおり、該第
一の温度センサーからの出力信号により前記相関データ
に基づき該制御装置が試料特にその観察部分を所定温度
に制御するように加熱手段または冷却手段を温度制御す
るようにしたことを特徴とする、顕微鏡の試料保温装置
により解決される。
さらに本発明により顕微鏡の試料保温装置は好ましくは
第一及び第二の位置とは異なる第三の位置における顕微
鏡の周囲温度を検出するための第二の温度センサーを含
んでいて、第一及び第二の温度センサーからの出力信号
に対応して制御装置が相関データに基づき加熱手段また
は冷却手段を温度制御するように構成されている。
第一及び第二の位置とは異なる第三の位置における顕微
鏡の周囲温度を検出するための第二の温度センサーを含
んでいて、第一及び第二の温度センサーからの出力信号
に対応して制御装置が相関データに基づき加熱手段また
は冷却手段を温度制御するように構成されている。
実施例 以下図面に示した実施例に基づき本発明を説明すれば、
第１図及び第２図は倒立型顕微鏡に本発明を適用した場
合の実施例であり、１は倒立型顕微鏡の載物台、２は載
物台の一部として構成されまたはこれに取付けられた発
熱部、３は倒立型顕微鏡の対物レンズ、４は載物台１の
発熱部２の上面に載置された培養観察容器で、中には観
察すべき培養細胞等の試料が入つている。５は観察前に
培養観察容器４内の試料の観察部分の近傍位置即ち第一
の位置に設けられていて且つ該第一の位置の温度を検出
する基準温度センサー、６は該第一の位置とは異なり而
も前記試料の観察部分の温度即ち基準送度センサー５に
より検出される温度の影響下にある第二の位置（この実
施例の場合には発熱部２の上面）に設けられていて且つ
該第二の位置の温度を検出する第一の温度センサー、７
は例えば前記試料の観察部分の温度即ち基準温度センサ
ー５により検出される温度の影響を受けない第三の位置
（この実施例の場合には載物台１の下方）に設けられて
いて且つ該第三の位置の温度即ち顕微鏡の周囲温度例え
ば照明光源付近の温度等を検出するための第二の温度セ
ンサーである。
第１図及び第２図は倒立型顕微鏡に本発明を適用した場
合の実施例であり、１は倒立型顕微鏡の載物台、２は載
物台の一部として構成されまたはこれに取付けられた発
熱部、３は倒立型顕微鏡の対物レンズ、４は載物台１の
発熱部２の上面に載置された培養観察容器で、中には観
察すべき培養細胞等の試料が入つている。５は観察前に
培養観察容器４内の試料の観察部分の近傍位置即ち第一
の位置に設けられていて且つ該第一の位置の温度を検出
する基準温度センサー、６は該第一の位置とは異なり而
も前記試料の観察部分の温度即ち基準送度センサー５に
より検出される温度の影響下にある第二の位置（この実
施例の場合には発熱部２の上面）に設けられていて且つ
該第二の位置の温度を検出する第一の温度センサー、７
は例えば前記試料の観察部分の温度即ち基準温度センサ
ー５により検出される温度の影響を受けない第三の位置
（この実施例の場合には載物台１の下方）に設けられて
いて且つ該第三の位置の温度即ち顕微鏡の周囲温度例え
ば照明光源付近の温度等を検出するための第二の温度セ
ンサーである。
第３図は発熱部２の温度制御を行なう制御装置の一例の
ブロツク図であり、８は後述する制御回路により切換え
られるスイツチS1及び各温度センサー５，６，７に接続
されたアナログスイッチAG1，AG2，AG3とから成る選択
回路、９は温度設定回路、１０はコンパレータ、１１は
アンプ、１２は発熱部２の温度制御を行なうための制御
回路、１３は記憶回路、１４は各温度センサーにより検
出された温度を表示し得る表示装置、１５はA/Dコンバ
ータである。
ブロツク図であり、８は後述する制御回路により切換え
られるスイツチS1及び各温度センサー５，６，７に接続
されたアナログスイッチAG1，AG2，AG3とから成る選択
回路、９は温度設定回路、１０はコンパレータ、１１は
アンプ、１２は発熱部２の温度制御を行なうための制御
回路、１３は記憶回路、１４は各温度センサーにより検
出された温度を表示し得る表示装置、１５はA/Dコンバ
ータである。
本発明実施例は以上のように構成されているから、先づ
温度制御の初期設定を行なう場合には、第２図に示され
ているように載物台１の発熱部２の上面に試料例えば培
養細胞の入つている培養観察容器４を載置し、培養観察
容器４内の試料の観察部分の近傍位置即ち第一の位置に
基準温度センサー５を設置して、第一の位置における第
一の温度と第二の位置における第二の温度との間の相関
データの記録を行なうが、これは選択回路８のスイツチ
S1を切換えて基準温度センサー５の出力がコンパレータ
１０の一方の入力端子に入力されるようにし且つスイツ
チS2をコンパレータ１０側の端子ａに切換え温度設定回
路９により所定温度を設定して制御回路１２により発熱
部２を温度制御し、該基準温度センサー５により検出さ
れる第一の温度が前記所定温度に達したことを表示装置
１４で確認したとき、この温度が記憶回路13に入力さ
れ、その後選択回路８のスイツチS1を第一の温度センサ
ー６側に切換えてこのときの該温度センサー６により検
出される第二の温度が表示装置１４に表示されると共に
記憶回路１３に入力され、前記所定温度における第一の
温度と第二の温度との間の相関データが記憶装置１３内
に記憶され、さらに所定温度を種々に変更することによ
り、第一の温度と第二の温度との間の相関データが記憶
装置１３内に記憶されることになる。以上で温度制御の
初期設定が完了するが、次に試料の観察を行なう場合に
は、基準温度センサー５は培養観察容器４内から取除か
れていて、従って顕微鏡の観察視野内には観察すべき試
料のみが存在することになり、また選択回路８のスイッ
チＳ１を切換えて第一の温度センサー６の出力がコンパ
レータ１０の一方の入力端子及びＡ／Ｄコンバータ１５
に入力されるようにし、温度設定回路９を制御しようと
する所定温度即ち第一の温度に対応する位置に設定し且
つスイッチＳ２を制御回路１２側の端子ｂに切換える。
これにより第一の温度センサー６の出力は選択回路８を
介してＡ／Ｄコンバータ１５によりデジタル値に変換さ
れて制御回路１２に入力され、また、温度設定回路９か
らの電圧は制御回路１２に印加され該制御回路１２内の
図示しないＡ／Ｄコンバータによりデジタル値に変換さ
れ制御回路１２はこのデジタル値に基づき、前記第一の
温度に対応する第二の温度を記憶装置１３から読出し、
そのデジタル値とＡ／Ｄコンバータ１５から入力された
デジタル値とを該制御回路１２内の図示しない比較回路
で比較し、この比較データを発熱部２に出力することに
より、発熱部２の上面の第二の位置の温度を所定温度に
対応する第二の温度に制御することによつて、培養観察
容器４内の試料の観察部分の近傍位置即ち第一の位置を
所定温度に制御する。尚、同一の培養観察容器及び所定
量の試料を使用して観察する場合には、基準温度センサ
ー５を再び設置することなく、記憶された前記送関デー
タに基づき本実施例により適正な温度制御が行なわれ得
る。
温度制御の初期設定を行なう場合には、第２図に示され
ているように載物台１の発熱部２の上面に試料例えば培
養細胞の入つている培養観察容器４を載置し、培養観察
容器４内の試料の観察部分の近傍位置即ち第一の位置に
基準温度センサー５を設置して、第一の位置における第
一の温度と第二の位置における第二の温度との間の相関
データの記録を行なうが、これは選択回路８のスイツチ
S1を切換えて基準温度センサー５の出力がコンパレータ
１０の一方の入力端子に入力されるようにし且つスイツ
チS2をコンパレータ１０側の端子ａに切換え温度設定回
路９により所定温度を設定して制御回路１２により発熱
部２を温度制御し、該基準温度センサー５により検出さ
れる第一の温度が前記所定温度に達したことを表示装置
１４で確認したとき、この温度が記憶回路13に入力さ
れ、その後選択回路８のスイツチS1を第一の温度センサ
ー６側に切換えてこのときの該温度センサー６により検
出される第二の温度が表示装置１４に表示されると共に
記憶回路１３に入力され、前記所定温度における第一の
温度と第二の温度との間の相関データが記憶装置１３内
に記憶され、さらに所定温度を種々に変更することによ
り、第一の温度と第二の温度との間の相関データが記憶
装置１３内に記憶されることになる。以上で温度制御の
初期設定が完了するが、次に試料の観察を行なう場合に
は、基準温度センサー５は培養観察容器４内から取除か
れていて、従って顕微鏡の観察視野内には観察すべき試
料のみが存在することになり、また選択回路８のスイッ
チＳ１を切換えて第一の温度センサー６の出力がコンパ
レータ１０の一方の入力端子及びＡ／Ｄコンバータ１５
に入力されるようにし、温度設定回路９を制御しようと
する所定温度即ち第一の温度に対応する位置に設定し且
つスイッチＳ２を制御回路１２側の端子ｂに切換える。
これにより第一の温度センサー６の出力は選択回路８を
介してＡ／Ｄコンバータ１５によりデジタル値に変換さ
れて制御回路１２に入力され、また、温度設定回路９か
らの電圧は制御回路１２に印加され該制御回路１２内の
図示しないＡ／Ｄコンバータによりデジタル値に変換さ
れ制御回路１２はこのデジタル値に基づき、前記第一の
温度に対応する第二の温度を記憶装置１３から読出し、
そのデジタル値とＡ／Ｄコンバータ１５から入力された
デジタル値とを該制御回路１２内の図示しない比較回路
で比較し、この比較データを発熱部２に出力することに
より、発熱部２の上面の第二の位置の温度を所定温度に
対応する第二の温度に制御することによつて、培養観察
容器４内の試料の観察部分の近傍位置即ち第一の位置を
所定温度に制御する。尚、同一の培養観察容器及び所定
量の試料を使用して観察する場合には、基準温度センサ
ー５を再び設置することなく、記憶された前記送関デー
タに基づき本実施例により適正な温度制御が行なわれ得
る。
また、第二の温度センサー７により検出された顕微鏡の
周囲温度を利用して、基準温度センサー５及び第一の温
度センサー６により検出された第一の温度及び第二の温
度を前記周囲温度との温度偏差として制御を行なうよう
にすれば、該周囲温度の影響を受けないより適正な温度
制御が行なわれ得る。
周囲温度を利用して、基準温度センサー５及び第一の温
度センサー６により検出された第一の温度及び第二の温
度を前記周囲温度との温度偏差として制御を行なうよう
にすれば、該周囲温度の影響を受けないより適正な温度
制御が行なわれ得る。
第４図は培養観察容器としてマイクロテストプレート２
０を使用した場合を示していて、この場合、基準温度セ
ンサー５はマイクロテストプレート２０の観察位置にあ
るセル２０ａ内に配設され、また第一の温度センサー６
はセル２０ａ以外のセル（第４図の場合セル２０ａの隣
りのセル）20b内に配設されており、その制御は第１図
乃至第３図の実施例と同様である。
０を使用した場合を示していて、この場合、基準温度セ
ンサー５はマイクロテストプレート２０の観察位置にあ
るセル２０ａ内に配設され、また第一の温度センサー６
はセル２０ａ以外のセル（第４図の場合セル２０ａの隣
りのセル）20b内に配設されており、その制御は第１図
乃至第３図の実施例と同様である。
尚、以上の説明では顕微鏡の載物台の一部を発熱部とし
て構成した場合について説明したが、載物台の上面に保
温室を形成し該保温室内の空気を加温する保温装置の場
合にも、また以上のような加熱手段の代りに冷却手段を
備えている場合にも、本発明を適用することができ、ま
た試料は培養細胞に限らず細菌類や金属試料等であつて
もよい。また温度センサーは各々他の位置に配設しても
よく、さらに多数の温度センサーを配設し且つ発熱部を
分割制御し得るようにして観察視野内の温度分布を任意
に制御することもできる。さらにまた第２図の制御装置
は一例を示したもので、他の構成の制御装置でもよく、
特にマイクロコンピユータを組込んだ場合には複雑なプ
ログラム制御機能を実行することも可能になる。
て構成した場合について説明したが、載物台の上面に保
温室を形成し該保温室内の空気を加温する保温装置の場
合にも、また以上のような加熱手段の代りに冷却手段を
備えている場合にも、本発明を適用することができ、ま
た試料は培養細胞に限らず細菌類や金属試料等であつて
もよい。また温度センサーは各々他の位置に配設しても
よく、さらに多数の温度センサーを配設し且つ発熱部を
分割制御し得るようにして観察視野内の温度分布を任意
に制御することもできる。さらにまた第２図の制御装置
は一例を示したもので、他の構成の制御装置でもよく、
特にマイクロコンピユータを組込んだ場合には複雑なプ
ログラム制御機能を実行することも可能になる。
発明の効果 以上述べたように本発明によれば、載物台上に配設され
た試料の観察部分の近傍位置即ち第一の位置における第
一の温度と該第一の位置とは異なり而も前記試料の観察
部分の温度の影響下に存る第二の位置における第二の温
度との間の送関データが前以て記憶されているから、観
察時に温度センサーが顕微鏡の載物台上に配設された試
料に影響を及ぼすことなく該試料を所定温度に正確に制
御することができ、極めて効果的である。
た試料の観察部分の近傍位置即ち第一の位置における第
一の温度と該第一の位置とは異なり而も前記試料の観察
部分の温度の影響下に存る第二の位置における第二の温
度との間の送関データが前以て記憶されているから、観
察時に温度センサーが顕微鏡の載物台上に配設された試
料に影響を及ぼすことなく該試料を所定温度に正確に制
御することができ、極めて効果的である。
第１図は本発明を適用した倒立型顕微鏡の側面図、第２
図は本発明による顕微鏡の試料保温装置の一実施例を示
す概略断面図、第３図は第１図の実施例のための制御装
置の一例を示すブロツク図、第４図はマイクロテストプ
レートを使用する場合の本発明実施例を示す概略断面図
である。 １…倒立型顕微鏡の載物台、２…発熱部、３…対物レン
ズ、４…培養観察容器、５…基準温度センサー、６，７
…温度センサー、８…選択回路、９…温度設定回路、１
０…コンパレータ、１１…アンプ、１２…制御回路、１
３…記憶回路、１４…表示装置、１５…Ａ／Ｄコンバー
タ、２０…マイクロテストプレート。
図は本発明による顕微鏡の試料保温装置の一実施例を示
す概略断面図、第３図は第１図の実施例のための制御装
置の一例を示すブロツク図、第４図はマイクロテストプ
レートを使用する場合の本発明実施例を示す概略断面図
である。 １…倒立型顕微鏡の載物台、２…発熱部、３…対物レン
ズ、４…培養観察容器、５…基準温度センサー、６，７
…温度センサー、８…選択回路、９…温度設定回路、１
０…コンパレータ、１１…アンプ、１２…制御回路、１
３…記憶回路、１４…表示装置、１５…Ａ／Ｄコンバー
タ、２０…マイクロテストプレート。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 遠藤 到 東京都渋谷区幡ヶ谷２の43の２ オリンパ ス光学工業株式会社内 (72)発明者 島田 佳弘 東京都渋谷区幡ヶ谷２の43の２ オリンパ ス光学工業株式会社内
Claims (2)
- 【請求項１】載物台上に配設された試料の観察部分の近
傍位置即ち第一の位置における第一の温度と該第一の位
置とは異なり而も前記試料の観察部分の温度の影響下に
在る第二の位置における第二の温度との間の相関データ
が前以て記憶されている制御装置と、該第二の温度を検
出するための第一の温度センサーとを含んでおり、該第
一の温度センサーからの出力信号により前記相関データ
に基づき該制御装置が試料特にその観察部分を所定温度
に制御するように加熱手段または冷却手段を温度制御す
るようにしたことを特徴とする、顕微鏡の試料保温装
置。 - 【請求項２】第一及び第二の位置とは異なる第三の位置
における顕微鏡を周囲温度を検出するための第二の温度
センサーを含んでいて、第一及び第二の温度センサーか
らの出力信号に対応して制御装置が相関データに基づき
加熱手段または冷却手段を温度制御するようにしたこと
を特徴とする、特許請求の範囲(1)に記載の顕微鏡の試
料保温装置。
Priority Applications (3)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6177084A JPH061299B2 (ja) | 1984-03-29 | 1984-03-29 | 顕微鏡の試料保温装置 |
| US06/671,732 US4629862A (en) | 1984-03-28 | 1984-11-15 | Sample heater for use in microscopes |
| DE19853511165 DE3511165A1 (de) | 1984-03-28 | 1985-03-27 | Probenheizeinrichtung fuer mikroskope |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6177084A JPH061299B2 (ja) | 1984-03-29 | 1984-03-29 | 顕微鏡の試料保温装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60205410A JPS60205410A (ja) | 1985-10-17 |
| JPH061299B2 true JPH061299B2 (ja) | 1994-01-05 |
Family
ID=13180670
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6177084A Expired - Lifetime JPH061299B2 (ja) | 1984-03-28 | 1984-03-29 | 顕微鏡の試料保温装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH061299B2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002168569A (ja) * | 2000-12-04 | 2002-06-14 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 黒鉛化電気炉の温度制御方法および温度制御装置 |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS62135803A (ja) * | 1985-12-09 | 1987-06-18 | Inoue Tamotsu | 顕微鏡観察用加温装置 |
| JP2666840B2 (ja) * | 1987-05-12 | 1997-10-22 | オリンパス光学工業株式会社 | 高温顕微鏡 |
-
1984
- 1984-03-29 JP JP6177084A patent/JPH061299B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002168569A (ja) * | 2000-12-04 | 2002-06-14 | Ishikawajima Harima Heavy Ind Co Ltd | 黒鉛化電気炉の温度制御方法および温度制御装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS60205410A (ja) | 1985-10-17 |
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