JPH06162447A - 薄膜磁気ヘッド - Google Patents

薄膜磁気ヘッド

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JPH06162447A
JPH06162447A JP31693092A JP31693092A JPH06162447A JP H06162447 A JPH06162447 A JP H06162447A JP 31693092 A JP31693092 A JP 31693092A JP 31693092 A JP31693092 A JP 31693092A JP H06162447 A JPH06162447 A JP H06162447A
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JP
Japan
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thin film
core
magnetic head
bias conductor
film core
Prior art date
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Pending
Application number
JP31693092A
Other languages
English (en)
Inventor
Seiji Yokota
省二 横田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sharp Corp
Original Assignee
Sharp Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sharp Corp filed Critical Sharp Corp
Priority to JP31693092A priority Critical patent/JPH06162447A/ja
Publication of JPH06162447A publication Critical patent/JPH06162447A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/127Structure or manufacture of heads, e.g. inductive
    • G11B5/33Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only
    • G11B5/39Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects
    • G11B5/3903Structure or manufacture of flux-sensitive heads, i.e. for reproduction only; Combination of such heads with means for recording or erasing only using magneto-resistive devices or effects using magnetic thin film layers or their effects, the films being part of integrated structures
    • G11B5/3906Details related to the use of magnetic thin film layers or to their effects
    • G11B5/3916Arrangements in which the active read-out elements are coupled to the magnetic flux of the track by at least one magnetic thin film flux guide
    • G11B5/3919Arrangements in which the active read-out elements are coupled to the magnetic flux of the track by at least one magnetic thin film flux guide the guide being interposed in the flux path
    • G11B5/3922Arrangements in which the active read-out elements are coupled to the magnetic flux of the track by at least one magnetic thin film flux guide the guide being interposed in the flux path the read-out elements being disposed in magnetic shunt relative to at least two parts of the flux guide structure
    • G11B5/3925Arrangements in which the active read-out elements are coupled to the magnetic flux of the track by at least one magnetic thin film flux guide the guide being interposed in the flux path the read-out elements being disposed in magnetic shunt relative to at least two parts of the flux guide structure the two parts being thin films
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/40Protective measures on heads, e.g. against excessive temperature 

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  • Magnetic Heads (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【目的】 磁気ギャップ部の静電気によってMR素子が
破壊されることのない高信頼性の薄膜磁気ヘッドを提供
する。 【構成】 第1の薄膜コア1及びバイアス導体3間の距
離を、第1の薄膜コア及びMR素子12間の距離よりも
小としてなることを特徴とする。また、バイアス導体4
の一端を記録媒体の対向面10に露出させてなることを
特徴とする。また、バイアス導体4の一部をGNDに接
続してなることを特徴とする。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は磁気抵抗効果型の薄膜磁
気ヘッドの構造に関する。
【0002】
【従来の技術】従来の技術について、図4を参照して説
明する。図4は従来例によるヨーク型磁気抵抗効果薄膜
磁気ヘッドの断面図である。
【0003】従来は図4に示すように情報記録媒体の対
向面10に、磁気ギャップ11を有し、磁気抵抗効果素
子(MR素子以下、単にMR素子と記す)12に信号磁
束を導びく薄膜コア(上部コア)13が配され、MR素
子12の下側には、上部コア13及び下部コアとなる基
板15と鎖交する様バイアス導体14が設けられてい
る。ここで基板15の材料は、Mn−Znフェライト、
Ni−Znフェライト等の強磁性基板である。また、上
部コア13は第1の薄膜コア1及び第2の薄膜コア2と
から構成されている。また、この例では、MR素子12
と上部コア13、バイアス導体14と上部コア13、バ
イアス導体14とMR素子12とはそれぞれ絶縁層16
で絶縁されている。
【0004】それぞれの距離は例えば、MR素子12−
上部コア13間 0.2μm、バイアス導体14−上部
コア13間 2μm、バイアス導体14−MR素子12
は1.8μm程度である。また、バイアス導体14と情
報記録媒体の対向面10間の距離は15μm程度であ
る。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】従来の薄膜磁気再生ヘ
ッドは、MR素子12と上部コア13間の距離が短か
く、情報記録媒体など磁気ギャップ部11に接する、ま
たは近接する物体の静電気が放電する際、MR素子12
がその通り道となりMR素子12が破壊する事があっ
た。
【0006】そこで本発明の目的は、従来技術の欠点を
解消できる高信頼性の薄膜磁気ヘッドを提供することに
ある。
【0007】
【課題を解決するための手段】前記目的を達成するため
に本発明は、記録媒体側に配置される第1の薄膜コアと
該第1の薄膜コアから離間配置される第2の薄膜コアと
からなる上部コアと、前記第1の薄膜コアより磁気ギャ
ップを介して配置される下部コアとを有し、前記両コア
間に絶縁部を介して配置される磁気抵抗効果素子とバイ
アス導体とを設けてなるヨーク型の薄膜磁気ヘッドにお
いて、前記第1の薄膜コア及び前記バイアス導体間の距
離を前記第1の薄膜コア及び前記磁気抵抗効果素子間の
距離よりも小としてなることを特徴とする。
【0008】また、記録媒体側に配置される第1の薄膜
コアと該第1の薄膜コアから離間配置される第2の薄膜
コアとからなる上部コアと、前記第1の薄膜コアより磁
気ギャップを介して配置される下部コアとを有し、前記
両コア間に絶縁部を介して配置される磁気抵抗効果素子
とバイアス導体とを設けてなるヨーク型の薄膜磁気ヘッ
ドにおいて、前記バイアス導体の一端を前記記録媒体の
対向面に露出させてなることを特徴とする。
【0009】また、前記バイアス導体の一部をGNDに
接続してなることを特徴とする。
【0010】
【作用】本発明は以上のように、第1の薄膜コア及びバ
イアス導体間の距離を第1の薄膜コア及び磁気抵抗素子
間の距離よりも小としているので、磁気ギャップ部の静
電気は第1の薄膜コア→バイアス導体→再生回路のルー
トで放電され、磁気抵抗効果素子(MR素子)には流れ
ない。これによりMR素子の静電気破壊を防止でき、高
信頼性の薄膜磁気ヘッドを提供できる。
【0011】また、バイアス導体の一端を記録媒体との
接触面に露出させることにより、磁気ギャップ部の静電
気は直接、バイアス導体→再生回路のルートで放電され
るので、より高い静電気耐量の薄膜磁気ヘッドを提供で
きる。
【0012】また、前記バイアス導体の一部をGNDに
接続することにより、ノイズレベルの静電気がMR素子
に流れることも防止でき、より信頼性の向上を図れる。
【0013】
【実施例】本発明の一実施例について、図1を参照して
説明する。図1は本実施例によるヨーク型磁気抵抗効果
型薄膜磁気ヘッド(以下、単に薄膜磁気ヘッドと記す)
の断面図である。
【0014】ここでは、図4の従来例と異なる点につい
てのみ説明する。なお、図4と同一機能部分には同一記
号を付している。
【0015】本実施例による薄膜磁気ヘッドは、図1に
示すように、バイアス導体3が第1の薄膜コア1の下部
にまで延びる構造とするとともに、MR素子12と第1
の薄膜コア1、第2薄膜コア2との間の距離aが、MR
素子12とバイアス導体3との間の距離bよりも大きく
なるような構造としている。ここでb≧0である。
【0016】このような構造とすることにより、バイア
ス導体3−第1の薄膜コア1間の絶縁耐圧の方が、MR
素子12−第1の薄膜コア1間の絶縁耐圧より小さくな
る。このため、磁気ギャップ11に接する、または近接
する物体の静電気は、従来は第1の薄膜コア1→MR素
子12→再生回路(図示せず)のルートで放電され、M
R素子12が破壊される事があったが、本実施例では第
1の薄膜コア1→バイアス導体3→再生回路のルートで
放電させる事になり、MR素子12の破壊を防ぐ事がで
きる。
【0017】バイアス導体3はMR素子12に比較し、
膜厚も厚く導体抵抗も低い事より静電気の放電電流の耐
量はMR素子12に比較しはるかに大きいため、このよ
うに高静電気耐量の薄膜磁気ヘッドを実現できる。
【0018】図2は本発明の他の実施例による薄膜磁気
ヘッドの断面図である。
【0019】図2に示すように、本実施例の薄膜磁気ヘ
ッドは、バイアス導体4を第1の薄膜コア1の下部を通
って媒体対向面10に露出するようにしている。
【0020】本実施例の場合、静電気を放電させるルー
トは直接バイアス導体4から再生回路へ流れることにな
り、より高い静電気耐量の薄膜磁気ヘッドを提供でき
る。
【0021】図3は本発明のさらに他の実施例による薄
膜磁気ヘッドの再生回路の概略回路図である。
【0022】図1及び図2に示した薄膜磁気ヘッドの実
施例によれば、MR素子12の静電気破壊は防止できる
が、なおノイズとなる程度の静電気がMR素子12に流
れる可能性がある。
【0023】そこで、これを防止するために、図3に示
すように、再生回路のバイアス回路部において、バイア
ス導体3及び4の少なくとも一端子を再生回路のGND
に接続している。5はバイアス導体3,4に流れるバイ
アス電流を調整するためのボリュームである。
【0024】上記構造により、図1及び図2のそれぞれ
の実施例において、静電気の流れるルートは第1の薄膜
コア1→バイアス導体3→再生回路→GND及びバイア
ス導体4→再生回路→GNDとなり、静電気放電電流に
よるノイズがMR素子12の再生信号に乗らないように
できる。
【0025】以上、図1乃至図3に示した本発明による
薄膜磁気ヘッドは、MR素子の静電気破壊を防止でき、
耐ノイズ性も向上できる上、従来の薄膜プロセスに比較
し、工程も大幅に増やすことなく、高信頼性の薄膜磁気
再生ヘッドを提供できる。
【0026】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、ヘ
ッドギャップ部からの静電気によりMR素子が破壊され
ることのない高静電気耐量、高信頼性の薄膜磁気ヘッド
を提供できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例による薄膜磁気ヘッドの断面
図である。
【図2】本発明の他の実施例による薄膜磁気ヘッドの断
面図である。
【図3】本発明のさらに他の実施例による薄膜磁気ヘッ
ドの再生回路の概略回路図である。
【図4】従来例による薄膜磁気ヘッドの断面図である。
【符号の説明】
1 第1の薄膜コア(上部コア) 2 第2の薄膜コア(上部コア) 3,4 バイアス導体 10 記録媒体の対向面 11 磁気ギャップ 12 磁気抵抗効果素子 15 下部コア(基板) 16 絶縁層

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 記録媒体側に配置される第1の薄膜コア
    と該第1の薄膜コアから離間配置される第2の薄膜コア
    とからなる上部コアと、前記第1の薄膜コアより磁気ギ
    ャップを介して配置される下部コアとを有し、 前記両コア間に絶縁部を介して配置される磁気抵抗効果
    素子とバイアス導体とを設けてなるヨーク型の薄膜磁気
    ヘッドにおいて、 前記第1の薄膜コア及び前記バイアス導体間の距離を前
    記第1の薄膜コア及び前記磁気抵抗効果素子間の距離よ
    りも小としてなることを特徴とする薄膜磁気ヘッド。
  2. 【請求項2】 記録媒体側に配置される第1の薄膜コア
    と該第1の薄膜コアから離間配置される第2の薄膜コア
    とからなる上部コアと、前記第1の薄膜コアより磁気ギ
    ャップを介して配置される下部コアとを有し、 前記両コア間に絶縁部を介して配置される磁気抵抗効果
    素子とバイアス導体とを設けてなるヨーク型の薄膜磁気
    ヘッドにおいて、 前記バイアス導体の一端を前記記録媒体の対向面に露出
    させてなることを特徴とする薄膜磁気ヘッド。
  3. 【請求項3】 前記バイアス導体の一部をGNDに接続
    してなることを特徴とする特許請求の範囲第1項または
    第2項に記載の薄膜磁気ヘッド。
JP31693092A 1992-11-26 1992-11-26 薄膜磁気ヘッド Pending JPH06162447A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5644454A (en) * 1996-03-11 1997-07-01 International Business Machines Corporation Electrostatic discharge protection system for MR heads

Cited By (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5644454A (en) * 1996-03-11 1997-07-01 International Business Machines Corporation Electrostatic discharge protection system for MR heads
US5710682A (en) * 1996-03-11 1998-01-20 International Business Machines Corporation Electrostatic discharge protection system for MR heads

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