JPH0619420B2 - テストシステム - Google Patents
テストシステムInfo
- Publication number
- JPH0619420B2 JPH0619420B2 JP61186161A JP18616186A JPH0619420B2 JP H0619420 B2 JPH0619420 B2 JP H0619420B2 JP 61186161 A JP61186161 A JP 61186161A JP 18616186 A JP18616186 A JP 18616186A JP H0619420 B2 JPH0619420 B2 JP H0619420B2
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- signal
- test
- test system
- signal generator
- diagnosis
- Prior art date
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- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、信号発生部から被試験対象物（以下ＤＵＴと
いう）に試験信号を加えることにより被試験対象物から
送出される応答信号を信号測定部で測定するように構成
されたテストシステムに関するものであり、詳しくはシ
ステムの自己診断に関するものである。
いう）に試験信号を加えることにより被試験対象物から
送出される応答信号を信号測定部で測定するように構成
されたテストシステムに関するものであり、詳しくはシ
ステムの自己診断に関するものである。
［従来の技術］ 例えば、半導体集積回路の試験にあたっては、第２図に
示すように、信号発生部１からケーブル２を介してＤＵ
Ｔ３である半導体集積回路に所定の試験信号Ｓ１を加
え、この試験信号Ｓ１に応じてＤＵＴ３から送出される
応答信号Ｓ２をケーブル４を介して信号測定部５に加え
るように構成されたテストシステムが用いられている。
示すように、信号発生部１からケーブル２を介してＤＵ
Ｔ３である半導体集積回路に所定の試験信号Ｓ１を加
え、この試験信号Ｓ１に応じてＤＵＴ３から送出される
応答信号Ｓ２をケーブル４を介して信号測定部５に加え
るように構成されたテストシステムが用いられている。
ところで、このようなテストシステムにおいて、テスト
システムを構成する構成要素自体が故障すると、ＤＵＴ
３に対する正常な試験が行われないことになる。
システムを構成する構成要素自体が故障すると、ＤＵＴ
３に対する正常な試験が行われないことになる。
従って、定期的にあるいは必要に応じて不定期に、テス
トシステムそのものの状態を自己診断することが望まし
い。
トシステムそのものの状態を自己診断することが望まし
い。
そこで、従来、このようなテストシステムの自己診断に
あたっては、例えば第２図に破線で示すようにＤＵＴを
取り外してケーブル２，４の端部相互を接続し、信号発
生部１の試験信号Ｓ１を信号測定部５で直接測定測定す
ることが行われている。
あたっては、例えば第２図に破線で示すようにＤＵＴを
取り外してケーブル２，４の端部相互を接続し、信号発
生部１の試験信号Ｓ１を信号測定部５で直接測定測定す
ることが行われている。
すなわち、例えば信号発生部１から試験信号Ｓ１として
１Ｖの電圧を出力する。そして、信号測定部５での測定
結果も１Ｖの場合にはテストシステムは正常であると判
断し、１Ｖでない場合にはテストシステムは異常である
と判断する。
１Ｖの電圧を出力する。そして、信号測定部５での測定
結果も１Ｖの場合にはテストシステムは正常であると判
断し、１Ｖでない場合にはテストシステムは異常である
と判断する。
［発明が解決しようとする問題点］ しかし、このような従来の構成によれば、テストシステ
ムのどの部分が故障しているのかをテストシステム自体
で特定することはできず、故障部位の特定にあたっては
別途測定器を用いなければならない。
ムのどの部分が故障しているのかをテストシステム自体
で特定することはできず、故障部位の特定にあたっては
別途測定器を用いなければならない。
本発明は、このような点に着目してなされたものであ
り、その目的は、他の測定器を用いることなくテストシ
ステム自体で故障部位の特定ができるテストシステムを
提供することにある。
り、その目的は、他の測定器を用いることなくテストシ
ステム自体で故障部位の特定ができるテストシステムを
提供することにある。
［問題点を解決するための手段］ このような目的を達成する本発明は、 信号発生部から被試験対象物に試験信号を加えることに
より被試験対象物から送出される応答信号を信号測定部
で測定するように構成されたテトシステムにおいて、 信号発生部の内部には信号発生手段の出力信号を測定し
て自己診断を行う信号測定手段を設け、信号測定部の内
部には信号測定手段に所定の信号を加えて自己診断を行
う信号発生手段を設けたこと特徴とする。
より被試験対象物から送出される応答信号を信号測定部
で測定するように構成されたテトシステムにおいて、 信号発生部の内部には信号発生手段の出力信号を測定し
て自己診断を行う信号測定手段を設け、信号測定部の内
部には信号測定手段に所定の信号を加えて自己診断を行
う信号発生手段を設けたこと特徴とする。
［実施例］ 以下、図面を用いて本発明の実施例を詳細に説明する。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図であり、第
２図と同一部分には同一符号を付けている。第１図にお
いて、信号発生部１の内部には、ＤＵＴ３に試験信号Ｓ
１を送出する信号発生器１１が設けられるとともに、こ
の信号発生器１１から送出される試験信号Ｓ１を測定す
る信号測定器１２が設けられている。このような信号測
定器１２としては、例えば信号発生器１１が高周波信号
発生器の場合には出力の有無が確認できるものであれば
よく、ダイオード検波器などを用いることができる。一
方、信号測定部５の内部には、ＤＵＴ３から送出される
応答信号Ｓ２を測定する信号測定器５１が設けられると
ともに、信号測定器５１に応答信号Ｓ２に相当した所定
の信号を加えるための信号発生器５２が設けられてい
る。このような信号発生器５２としては、例えば信号測
定器５１が高周波測定器の場合には測定帯域内の任意の
周波数で測定可能な任意のレベルの高周波信号を発生で
きる簡単な発振器を用いればよい。
２図と同一部分には同一符号を付けている。第１図にお
いて、信号発生部１の内部には、ＤＵＴ３に試験信号Ｓ
１を送出する信号発生器１１が設けられるとともに、こ
の信号発生器１１から送出される試験信号Ｓ１を測定す
る信号測定器１２が設けられている。このような信号測
定器１２としては、例えば信号発生器１１が高周波信号
発生器の場合には出力の有無が確認できるものであれば
よく、ダイオード検波器などを用いることができる。一
方、信号測定部５の内部には、ＤＵＴ３から送出される
応答信号Ｓ２を測定する信号測定器５１が設けられると
ともに、信号測定器５１に応答信号Ｓ２に相当した所定
の信号を加えるための信号発生器５２が設けられてい
る。このような信号発生器５２としては、例えば信号測
定器５１が高周波測定器の場合には測定帯域内の任意の
周波数で測定可能な任意のレベルの高周波信号を発生で
きる簡単な発振器を用いればよい。
このように構成されたテストシステムの自己診断につい
て説明する。
て説明する。
自己診断にあたっては、従来と同様に、ケーブル２，４
の端部間からＤＵＴ３を取り外して端部間を第１図に破
線で示すように接続する。そして、信号発生部１につい
ての第１のテスト，信号測定部５についての第２のテス
トおよびシステム全体についての第３のテストを実行す
る。
の端部間からＤＵＴ３を取り外して端部間を第１図に破
線で示すように接続する。そして、信号発生部１につい
ての第１のテスト，信号測定部５についての第２のテス
トおよびシステム全体についての第３のテストを実行す
る。
まず、第１のテストにあたっては、信号発生部１内の信
号発生器１１の出力信号を信号発生部１内の信号測定器
１２で測定する。このテストにより、信号発生器１１お
よび信号測定器１２の故障の有無を検出することができ
る。
号発生器１１の出力信号を信号発生部１内の信号測定器
１２で測定する。このテストにより、信号発生器１１お
よび信号測定器１２の故障の有無を検出することができ
る。
次に、第２のテストにあたっては、信号測定部５内の信
号発生器５２の出力信号を信号測定部５内の信号測定器
５１で測定する。このテストにより、信号発生器５２お
よび信号測定器５１の故障の有無を検出することができ
る。
号発生器５２の出力信号を信号測定部５内の信号測定器
５１で測定する。このテストにより、信号発生器５２お
よび信号測定器５１の故障の有無を検出することができ
る。
そして、第３のテストにあたっては、信号発生部１内の
信号発生器１１の出力信号を信号測定部５内の信号測定
器５１で測定する。このテストにより、ケーブル２，４
を含む信号伝送系統の故障の有無が検出できるととも
に、信号発生部１内および信号測定部５内の故障部位を
特定することができる。すなわち、第１のテストで故障
が検出されたものの第３のテストでは故障が検出されな
い場合には信号発生部１に設けられている信号測定器１
２の故障と判断でき、第２のテストで故障が検出された
ものの第３のテストでは故障が検出されない場合には信
号測定部５に設けられている信号発生器５２の故障と判
断できる。
信号発生器１１の出力信号を信号測定部５内の信号測定
器５１で測定する。このテストにより、ケーブル２，４
を含む信号伝送系統の故障の有無が検出できるととも
に、信号発生部１内および信号測定部５内の故障部位を
特定することができる。すなわち、第１のテストで故障
が検出されたものの第３のテストでは故障が検出されな
い場合には信号発生部１に設けられている信号測定器１
２の故障と判断でき、第２のテストで故障が検出された
ものの第３のテストでは故障が検出されない場合には信
号測定部５に設けられている信号発生器５２の故障と判
断できる。
このように構成することにより、従来のような特別な測
定器を用いることなく、テストシステム自体で故障部位
を特定することができる。
定器を用いることなく、テストシステム自体で故障部位
を特定することができる。
なお、上記実施例では、アナログ信号系統のテストシス
テムの自己診断の例について説明したが、デジタル信号
系統のテストシステムの自己診断についても適用できる
ものである。
テムの自己診断の例について説明したが、デジタル信号
系統のテストシステムの自己診断についても適用できる
ものである。
［発明の効果］ 以上説明したように、本発明によれば、他の測定器を用
いることなくテストシステム自体で故障部位の特定がで
きるテストシステムが実現でき、実用上の効果は大き
い。
いることなくテストシステム自体で故障部位の特定がで
きるテストシステムが実現でき、実用上の効果は大き
い。
第１図は本発明の一実施例を示すブロック図、第２図は
従来のテストシステムの一例を示すブロック図である。 １……信号発生部、１１……信号発生器、１２……信号
測定器、２，４……ケーブル、３……ＤＵＴ、５……信
号測定部、５１……信号測定器、５２……信号発生器。
従来のテストシステムの一例を示すブロック図である。 １……信号発生部、１１……信号発生器、１２……信号
測定器、２，４……ケーブル、３……ＤＵＴ、５……信
号測定部、５１……信号測定器、５２……信号発生器。
Claims (1)
- 【請求項１】信号発生部から被試験対象物に試験信号を
加えることにより被試験対象物から送出される応答信号
を信号測定部で測定するように構成されたテトシステム
において、 信号発生部の内部には信号発生手段の出力信号を測定し
て自己診断を行う信号測定手段を設け、信号測定部の内
部には信号測定手段に所定の信号を加えて自己診断を行
う信号発生手段を設けたこと特徴とするテストシステ
ム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61186161A JPH0619420B2 (ja) | 1986-08-08 | 1986-08-08 | テストシステム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61186161A JPH0619420B2 (ja) | 1986-08-08 | 1986-08-08 | テストシステム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6342487A JPS6342487A (ja) | 1988-02-23 |
| JPH0619420B2 true JPH0619420B2 (ja) | 1994-03-16 |
Family
ID=16183452
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61186161A Expired - Fee Related JPH0619420B2 (ja) | 1986-08-08 | 1986-08-08 | テストシステム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0619420B2 (ja) |
-
1986
- 1986-08-08 JP JP61186161A patent/JPH0619420B2/ja not_active Expired - Fee Related
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6342487A (ja) | 1988-02-23 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |