JPH06194690A - 液晶ライトバルブ及びそれを用いた投射型ディスプレイ - Google Patents
液晶ライトバルブ及びそれを用いた投射型ディスプレイInfo
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- JPH06194690A JPH06194690A JP25278393A JP25278393A JPH06194690A JP H06194690 A JPH06194690 A JP H06194690A JP 25278393 A JP25278393 A JP 25278393A JP 25278393 A JP25278393 A JP 25278393A JP H06194690 A JPH06194690 A JP H06194690A
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Abstract
信号書込みが可能な液晶ライトバルブを提供、高精細で
高品質の画像が表示可能な投射型ディスプレイを提供す
ること。 【構成】スイッチング素子領域を有する半導体基板上に
スリットで分割された金属層を3層設け、各層のスリッ
トを半導体基板と平行な方向にずらして配置し、半導体
基板を遮光した。半導体基板上にスリットで分割された
金属層を2層設け、スリットからの入射光が半導体基板
に達する場所に基準電位の半導体領域を設けた。スイッ
チング素子領域の基板電位領域及び保持容量領域に基板
電位を供給する基板給電線を前記金属層のいずれかで形
成した。前記基板給電線と映像信号線を互いに平行に配
置した。
Description
さを制御する液晶ディスプレイに係り、特に投射型ディ
スプレイに好適な液晶ライトバルブ及びそれを用いた投
射型ディスプレイに関する。
制御するアクティブ・マトリクス方式による液晶ディス
プレイにおいて、スイッチング素子として単結晶シリコ
ン基板に形成したMOS(Metal Oxide Semiconductor)
トランジスタを用いた液晶ディスプレイは、USP3,862,3
60及び、電子通信学会技術報告(1980)のIE80
−81に記載されている。
MOSトランジスタのソースとドレインを形成するPN
接合部に光電流が発生する。この光電流は表示部の液晶
画素に書き込まれた映像信号を変化させ、表示すべき所
定の画像を表示することができなくなってしまう。従っ
て、単結晶シリコン基板に形成したMOSトランジスタ
を用いた液晶ディスプレイでは、表示画面に影響がない
よう光電流を低減する必要がある。上記従来のディスプ
レイは、いずれもスイッチング素子で制御した画像を直
接みる方式であり、通常、室内で使用される。このた
め、ディスプレイパネル表面の照度が数万ルクスの光の
影響を防止するだけで十分であった。
学会技術報告では、MOSトランジスタのソース領域を
光の入射領域からできるだけ遠ざける配置にする、MO
Sトランジスタを形成するシリコン基板面を配線層2層
で覆う、ストッパ拡散層を設け、発生したキャリアを再
結合させるなどの方法が取られていた。
シリコンウェハーの制約などから約2インチと小さいた
め、このようなディスプレイの画素数は、この表示サイ
ズと認識できる解像度の点から4万程度であった。
晶シリコン基板に形成したMOSトランジスタを用いた
液晶ディスプレイは、直視型に限られていた。
ング素子と液晶を積層したパネルを液晶ライトバルブと
称し、このライトバルブで制御した画像をスクリーンに
拡大投影する。このため、ライトバルブに照射する光
は、スクリーンに拡大する分だけ強くなり、その明るさ
は数百万ルクスにもなる。さらに、ライトバルブで制御
する画素は拡大され画像が粗くなるため、ライトバルブ
の画素数は30万以上が要求される。
リコンなどの半導体基板に形成したトランジスタを用い
る液晶ライトバルブを用いた場合、液晶ライトバルブの
耐光性を高めることと、画素数の増加によって各画素に
より高速で映像信号を書き込むことが要求される。
ものであり、その目的は、シリコンなどの半導体基板を
用い、強力な照射光の影響を受けず耐光性に優れた液晶
ライトバルブを提供すること、高速で映像信号を書き込
むことが可能な液晶ライトバルブを提供すること、さら
にこのような液晶ライトバルブを用いて高精細で明る
い、高品質の画像を表示する投射型ディスプレイを提供
することにある。
め、本発明では液晶ライトバルブを以下のように構成し
た。
数個のスイッチング素子領域を有する半導体基板と、半
導体基板の一方の表面上に絶縁層を介して形成され、第
1のスリットで複数個に分割された第1の金属層と、第
1の金属層上に絶縁層を介して形成され、第2のスリッ
トで複数個に分割された第2の金属層と、第2の金属層
上に絶縁層を介して形成され、第3のスリットで複数個
に分割された第3の金属層と、一方の表面に対向電極を
有し、対向電極側が前記第3の金属層に間隙を有して対
向する対向基板と、対向電極と第3の金属層との間の間
隙に充填された液晶とからなり、対向基板側から入射し
た光が半導体基板に達するのを防止するよう、第1のス
リット,第2のスリット及び第3のスリットを半導体基
板の一方の表面と平行な方向に互いにずらして配置し
た。
れた複数個のスイッチング素子領域を有する半導体基板
と、半導体基板の一方の表面上に絶縁層を介して形成さ
れ、第1のスリットで複数個に分割された第1の金属層
と、第1の金属層上に絶縁層を介して形成され、第2の
スリットで複数個に分割された第2の金属層と、一方の
表面に対向電極を有し、対向電極側が第2の金属層に間
隙を有して対向する対向基板と、対向電極と第2の金属
層との間の間隙に充填された液晶とからなり、対向基板
側から第1のスリット及び第2のスリットを通して入射
した光が半導体基板に達する場所に基準電位に接続した
半導体領域を設けた。
ング素子領域の各々に対応して容量素子領域を設け、ス
イッチング素子領域の基板電位領域および容量素子領域
に基板電位を供給する基板給電線を金属層のいずれかで
形成した。
入力端子部に映像信号を供給する映像信号線を金属層の
いずれかで形成し、基板給電線と映像信号線を互いに平
行に配置した。
基板の一方の表面に入射する光を弱め、スイッチング素
子領域に流れる光電流を大幅に低減できる。
されて発生した光電流は、基準電位側の配線部に流れて
消費され、スイッチング素子領域には影響を及ぼさな
い。
し、両配線を互いに平行に配置することにより、これら
の配線のインピーダンスが低減され、各画素への映像信
号の書き込みを高速にできる。
射光の影響を受けず、映像信号書き込み速度の高速化に
より画素数を増やすことができるので、高精細で明る
い、高品質の画像を表示する投射型ディスプレイを提供
することができる。
トバルブの回路構成を示したものである。このライトバ
ルブは、画素回路1,サンプル回路2,水平走査回路
3,垂直走査回路4,ANDゲート5によって構成され
る。画素回路1は、複数の第1の信号線(走査信号線)
11,これと交差する複数の第2の信号線(映像信号
線)12,第2の信号線の隣に設けた第3の信号線(基
板給電線)13及び第1の信号線と第2,第3の信号線
の交差部に設けたMOSトランジスタ1a,保持容量1
b及び液晶容量1cからなっている。1組のMOSトラ
ンジスタ1a,保持容量1b,液晶容量1cは1つの画
素を形成し、全体として水平方向にM個,垂直方向にN
個,画素をマトリクス状に配列している。この画素配列
数のM×Nは1例として640×480である。このM
OSトランジスタ1aのゲート電極には第1の信号線1
1を介して走査信号Vg1〜VgNが、ドレイン電極に
は第2の信号線12を介して輝度信号Vd1〜VdM
が、またソース電極には保持容量1bの一方の電極及び
液晶容量1cの一方の電極(反射電極)が接続される。
さらに、保持容量1bの他方の電極は第3の信号線13
を介して基板電圧を給電する電圧VSSに接続されてい
る。液晶容量1cは、画素回路1を形成した基板とこれ
と対向して設けられる対向基板との間に液晶を充填して
形成される液晶素子の等価容量である。
スタート信号STAを入力してM相の多相信号PH1〜
PHMを出力する。サンプル回路2はMOSスイッチで
構成し、MOSスイッチのゲート電極は出力信号PH1
からPHMと、MOSスイッチのドレイン電極は極性の
異なる映像信号VI1又はVI2と接続して、MOSス
イッチのソース電極に輝度信号Vd1からVdMを出力
する。
スタート信号FSTを入力してN相の多相信号PV1〜
PVNを出力している。ANDゲート5は、多相信号P
V1〜PVNと制御信号CNTを入力し、走査信号Vg
1〜VgNを出力する。
6で、また垂直走査回路4とANDゲート5は遮光層7
でそれぞれ覆われ、遮光層6,7を前記対向電極の電圧
COMに接続している。
動作を、図2に示すタイミングチャートを用いて説明す
る。垂直走査回路4のスタート信号FSTは表示する映
像のフレーム先頭を示しており、クロック信号CKVは
走査線の切り替えタイミングを示している。垂直走査回
路7は、前記クロック信号CKVの立ち上がりのタイミ
ングでスタート信号FSTを取り込み、多相信号PV1
〜PVNを出力する。ANDゲート5は、多相信号PV
1〜PVNと制御信号CNTを入力して、画素回路の走
査信号Vg1〜VgNを出力する。ここで、1ライン毎
に走査する順次走査の時はCNTを“H”にすること
で、走査信号Vg1〜VgNを多相信号PV1〜PVN
と等して、マトリクス状に配置した画素回路1を垂直方
向に順次選択している。
走査の場合は、クロック信号CKVに2個連続パルスの
ダブルクロックを使用する。制御信号CNTはこのダブ
ルクロック期間だけ“L”にして多相信号を遮断するよ
うにしている。これは多相信号がダブルクロック期間に
一瞬だけ組み合わせが異なり、このとき保持容量に書き
込まれた電圧が変動するので制御信号CNTでこの変動
を防止している。
圧COMを基準に変化する信号であり、その極性は互い
に逆相でさらに、フレーム毎に反転している。
査線の先頭を示している。水平走査回路3は、垂直走査
回路4と同様にクロック信号CLKの立ち上がりのタイ
ミングでスタート信号STAを取り込み、多相信号PH
1〜PHMを出力する。
2を相信号PH1〜PHMのタイミングで順にサンプリ
ングし、輝度信号Vd1〜VdMを出力する。
に配置された画素回路1に列毎に入力される。このと
き、走査信号Vg1〜VgNで選択された画素回路1の
MOSトランジスタだけがオン状態なので選択された行
の画素回路の保持容量1bに輝度信号Vd1〜VdMが
書き込まれ、ホールドされる。保持容量1bにホールド
した電圧は液晶に印加されるので、液晶ライトバルブは
映像信号VI1,VI2に応じた映像を表示できる。
信号VI1からサンプル回路のMOSスイッチ,第2の信
号線12,画素回路のMOSトランジスタ1a,保持容
量1b,第3の信号線13を通って基板給電端子VSS
に流れる。この時の充電時間を速くするには、上記充電
経路に於ける直列抵抗,インダクタンス,配線の寄生容
量を小さくすることが効果的である。
説明する。保持容量1bにホールドした電圧は、走査信
号と輝度信号によるクロストークノイズ、MOSトラン
ジスタのオフ電流、液晶の抵抗によるリーク電流などに
よって変化する。このため、ホールド時間が長くなると
表示した画像にフリッカが生じる。通常、このフリッカ
を防止するため、スタート信号FSTの周期は1/60
秒に設定される。このとき、サンプル回路2のサンプリ
ング時間Tsは、水平方向の画素数をM,垂直方向の画
素数をNとすると概略次式で示される。
画素では約400nsであるのに対し、投射型ディスプ
レイに要求される30万画素では約50nsと短くなる
ことが分かる。
ィスプレイでは、第3の信号線13を特別には設けてお
らず、シリコン基板または拡散層を電流経路として用い
る構造になっていた。しかし、この部分のシート抵抗は
拡散抵抗でも数百Ωとなり、投射型ディスプレイ用液晶
ライトバルブの画素回路のピッチを約60μmとする
と、基板給電線の抵抗は数100kΩ以上となる。この
ため、従来の基板給電線では高速の書き込みが不可能で
あった。一方、本発明では後述するように、この基板給
電線(第3の信号線)に金属配線層を用いて、基板給電線
の抵抗を数100Ωに低減している。
回路と、その動作について説明する。図3は、液晶ライ
トバルブの水平,垂直走査回路の構成を示すものであ
る。この回路は、Dタイプのフリップ・フロップFF,
インバータINV,レベル変換回路LSから構成されて
いる。これらの回路は、水平走査回路がM段,垂直走査
回路がN段あり、FFを直列に接続することでシフトレ
ジスタを構成している。レベル変換回路LSは、ソース
をVDDに接続した2個のPMOSトランジスタ(MP
1,MP2)とソースをVSSに接続した2個のNMO
Sトランジスタ(MN1,MN2)で構成し、フリップ
・フロップFFの出力はMP1のゲートに接続するとと
もに、インバータINVで逆相にしてMP2のゲートに
接続している。MN1とMN2のゲートは互いに接続す
るとともに、MN1とMP1のドレインにも接続する。
さらに、MN2とMP2のドレインを互いに接続し、こ
の点を走査回路の出力PH(PV)としている。この構
成によって、FFの出力が“H”(VDD)のとき、M
P1とMN2がオフ,MP2がオンとなり、出力PH
(PV)はVDDとなる。一方、FFの出力が“L”
(GND)のとき、MP1とMN2はオン,MP2はオ
フとなり、出力PH(PV)はVSSとなる。この様に
してレベル変換回路LSは0−VDDの信号をVSS−
VDDの信号に変換している。
5V)−VSS(−15V)の電源で動作する高耐圧CM
OSトランジスタで構成され、FFとINVはVDD
(+5V)−0の電源で動作する低耐圧CMOSトラン
ジスタで構成されている。
ス構造を詳細に説明する。
る。液晶ライトバルブは単結晶シリコン板の一方の表面
に、エンハンスメント形のNMOSトランジスタで構成
されたMOSトランジスタ1a,MOS容量で構成され
た保持容量1b及び反射電極などから構成される画素回
路1を形成した第1の基板100と、ガラスなどの透明
な材料からなる対向基板301の一方の表面にITO
(Indium−tin−oxide)などの透明導電材料からなる対
向電極302を形成した第2の基板300との間に液晶
200を充填したものである。図1に示すサンプル回路
2,水平走査回路3,垂直走査回路4及びANDゲート
5も画素回路1と同じく第1の基板表面に形成される。
Sトランジスタ1aを構成するソース領域,ドレイン領
域及び保持容量1bの一方の電極となる領域を形成した
単結晶シリコン板111と、単結晶シリコン板111上
に選択的に形成されたポリシリコン層120と、ポリシ
リコン層120上に形成された第1の絶縁層130と、
第1の絶縁層130上に形成され第1の絶縁層130を
貫通して単結晶シリコン板111表面及びポリシリコン
層120にコンタクトする第1の金属層140と、第1
の金属層上に形成された第2の絶縁層150と、第2の
絶縁層上に形成された第2の金属層160から構成され
ている。第1の金属層140及び第2の金属層160は
例えばアルミニウムによって形成されている。
有し、一方の表面に隣接するn型半導体層111と、他
方の表面とn型半導体層111とに隣接するp型半導体
層112と、他方の表面からp型半導体層112内に延
びるように形成された複数対のn+ 領域113と、n+
領域113から離れた箇所において他方の表面からp型
半導体層112内に延びるように形成された複数個のn
領域114とから構成されている。複数対のn+ 領域1
13はそれぞれMOSトランジスタ1aのソース領域・
ドレイン領域となるもので、図5に示すように各単位画
素となる箇所(一点鎖線で示す)に一対ずつ設けられて
いる。また、複数個のn領域114は保持容量1bの一
方の電極となるもので、各単位画素となる箇所に一個ず
つ設けられている。
111の一方の表面上に酸化シリコン層115を介して
選択的に形成されている。具体的には、一対のn+ 領域
113間に露出するp型半導体層112上、n領域114
及びその近傍のp型半導体層112上に形成され、MO
Sトランジスタ1aのゲート電極や第1の信号線(走査
信号線)の一部を構成する部分123と、保持容量1b
の他方の電極となる部分124とを有している。保持容
量1bは、n領域114とポリシリコン層124及びこれ
らの間に介在された酸化シリコン層115によって構成
されている。
金属層140は、スリット144によって複数個に分割
され、MOSトランジスタ1aと保持容量1bとを接続
する配線141,第2の信号線142,第3の信号線1
43を構成している。配線141は第1の絶縁層130
に設けたコンタクトホール131を貫通して一対のn+
領域113の一方及びポリシリコン層124に、第2の
信号線142は第1の絶縁層130に設けたコンタクト
ホール131を貫通して一対のn+ 領域113の他方
に、それぞれコンタクトしている。また、第2の信号線
142は第1の絶縁層130に設けたコンタクトホール
131を貫通してp型半導体層112にもコンタクトし
ている。
で、各単位画素と略同形状を有し、各画素毎にスリット
162によって分離された複数個の画素電極161を構
成している。図には記載していないが、画素電極161
は第2の絶縁層150に設けたスルーホール151を介
して配線141とコンタクトしている(図7参照)。従
って、MOSトランジスタのn+ 領域113の一方
(ソース領域)は、コンタクトホール131及びスルー
ホール151により配線141を介して画素電極161
に接続され(図7参照)、画素電極161に与える電圧
をMOSトランジスタ1aによってスイッチングする。
対向基板300の側から液晶ライトバルブに照射される
光に対するMOSトランジスタ1aの遮光と、画素電極
の表面の凹凸を低減するため、共にパターン同士の間隔
を最小にしてその面積が極力大きくなるようレイアウト
している。すなわち、第1の金属層140及び画素電極
161間のスリットの面積をできるだけ小さくし、これ
らスリットから入射する光量を少なくして遮光効果を向
上している。また、第1の金属層140に設けたスリッ
ト144の幅を小さくすることにより、その上に塗布な
どによって形成される第1の絶縁層表面の凹凸、更にそ
の上に形成される第2の金属層表面の凹凸を共に小さく
する、と共に反射電極となる画素電極161の表面の凹
凸を低減する。これにより、液晶ライトバルブに光源か
ら照射された光は画素電極161で乱反射されず、有効
に利用されてスクリーンに投射されるため、明るい画像
を形成することができる。
実施例では、2μmの高耐圧プロセスを用い、各画素の
大きさを水平方向,垂直方向ともにそれぞれ64μmと
している。
された各種パターンの平面構造を示す。図5は、シリコ
ン基板110の表面に形成したMOSトランジスタの拡
散層113,保持容量の拡散層114などの拡散層、及
びその上に形成したポリシリコン層120の平面パター
ンを示す。また、図6は図5のパターンの上に第1の絶
縁層130及び第2の絶縁層150を介して形成された
第1の金属層140及び第2の金属層160の平面パタ
ーン、各金属層を電気的に接続するために第1の絶縁層
130及び第2の絶縁層150に形成されたコンタクト
ホール(CONT)131,スルーホール(TC)151の
レイアウトパターンを示す。コンタクトホール131は
拡散層又はポリシリコン層と第1の金属層を、またスル
ーホール151は第1の金属層と第2の金属層をそれぞ
れ接続する。前述の図4は、図5に示すIV−IV線に沿っ
た断面を示す。
2の信号線142,第3の信号線143はスリット14
4によって、また、第2の金属層で形成される複数の画
素電極(反射電極)161は同層に形成されたスリット
162によって互いに分離されている。
リシリコン層123を、第1の金属層で形成される第1
の信号線の金属層部145で互いに接続して形成され
る。両者の接続は、第1の絶縁膜に形成されたコンタク
トホール131を通じてなされる。
00側から照射される強力な光を画素電極161で反射
する反射型であり、この反射光の強さを液晶200の状
態で制御している。例えば、液晶200にポリマー分散
型液晶を使用すると、画素電極161の電圧によって、
液晶200は散乱状態から透明状態に変化する。このた
め、各画素の反射率は、液晶200が透明状態のときに
高く、散乱状態のときに低くなる。本ライトバルブは、
この液晶の状態を画素電極161の電圧で制御すること
で映像を表示している。
る。半導体のpn接合部に光が照射されると、光電流が
発生する。この光電流が問題となるのは、MOSトラン
ジスタの拡散層113のソース電極部である。このソー
ス電極部に光電流が流れると、保持容量1bに書き込ん
だ電圧が変化し、所定の表示画像が得られなくなる。こ
のため、MOSトランジスタ1aの拡散層113への光
を第1の金属層140と第2の金属層160で遮光して
いる。特に、図4及び図6に示すように、画素電極16
1の電極間スリット162を通過する光は、第3の信号
線143の配線幅を電極間スペースより十分広くとり、
これを電極間スペースの直下に配置することで遮光して
いる。
造で、MOSトランジスタ1aのソース電極部を垂直方
向に見たものである。画素電極161の電極間スリット
162を通過する光は、画素電極161と対応した配線1
41をスリット162の下まではみ出させるように配置
することで遮光している。
構造であり、第1の金属層140のスリット部を示す。
この領域には上述の第1の金属層140及び第2の金属
層160によっても遮光されず、第1の金属層に形成さ
れたスリット144と第2の金属層に形成されたスリッ
ト162を通過してシリコン基板110の表面に直接光
が照射される部分が含まれている。この直接光は、配線
141,第2の信号線142,第3の信号線143の各
パターン間のスリットを通り、その下のn+層116に
照射される。保持容量の拡散層114と第3の信号線1
43との接続は、オーミックコンタクトを確保するため
n+ 層116を介して行われる。照射光はn+ 層116
とp型のウェル層112のpn接合部で光電流に変換さ
れる。上述のように、このp型のウェル層112とn+
層116は共に第3の信号線(基板給電線)143に接
続され、最下位電圧(VSS)に給電されているので、
pn接合部で発生した光電流は、p型ウェル層を通じて
第3の信号線を流れ消費される。この結果、光電流は、
MOSトランジスタの拡散層113、特にソース領域に
は流れないので、保持容量1bに書き込んだ電圧を安定
にホールドでき、投射ディスプレイのように強力な光が
照射されても、画質の劣化がない。
150のうち少なくとも1層に光吸収性の絶縁層を用い
ることでも光電流を低減できる。この光吸収性の絶縁層
には、着色したポリイミドなどが使用できる。さらに、
第1の金属層であるアルミニウム層の表面や裏面、又は
第2の金属層であるアルミニウム層の裏面に黒色材料か
らなる層を設け、各配線層と同一形状にパターン化する
ことでも光電流を低減できる。この黒色材料には、酸化
クロム,タンタルオキサイド等が使用できる。次に、保
持容量1bへの充電速度について説明する。上述のよう
に、第2の信号線142はMOSトランジスタの拡散層
113のドレイン領域に、また第3の信号線143は保
持容量の拡散層114及びp型ウェル層112にそれぞ
れコンタクトホール131を介して接続されている。こ
のような素子構造により、保持容量1bに充電するとき
の電流経路は第2の信号線142→MOSトランジスタ
1a→保持容量1b→第3の信号線143となる。第2
の信号線142と第3の信号線143は、互いに平行に
なるように配置されている。従って、第2の信号線と第
3の信号線を流れる電流は互いに逆向きになるため、両
配線が外部に形成する磁界は互いに打ち消しあい、配線
のインダクタンスが小さくなる。また、第2の信号線と
第3の信号線に金属配線層を用いたことで配線抵抗が低
減される。以上のような構成により、充電時における配
線部のインピーダンスが小さくなり、保持容量への映像
信号の書き込みを高速にできる。
ライトバルブの他の実施例を説明する。図4〜図8に示
した実施例と異なるのは、金属層を3層構造にして、配
線141と反射電極となる画素電極の間に別の遮光層を
設けている点である。ただし、図5に示す画素回路の拡
散層とポリシリコン層のパターンは前の実施例と同じで
ある。
図である。本実施例では、第2の信号線142,第3の
信号線143,配線141を形成した第1の金属層14
0の上に第1の絶縁層150を介して遮光層163及び
中間電極164を形成した第2の金属層を設け、さらに
その上に第2の絶縁層170を介して画素電極(反射電
極)181を設けている。遮光層163と中間電極16
4はスリット162で、また画素電極同士はスリット1
82で互いに隔てられている。MOSトランジスタの拡
散層113のソース領域はスルーホール131によって
配線141と、配線141はスルーホール151によっ
て中間電極164と、そして中間電極164はスルーホ
ール171によって画素電極181とそれぞれ接続され
る。画素電極に与えられる電圧は、MOSトランジスタ
1aによってスイッチングされる。
層160及び第3の金属層180における各パターンの
平面構造を示す。図9は図10におけるIX−IX断面図で
ある。
第3の金属層180で形成された画素電極181の電極
間スリット182から入射する光は第2の金属層160
で形成された遮光層163で完全に遮断される。すなわ
ち、対向基板300側から見た場合、第3の金属層18
0に形成されたスリット182及び第2の金属層160に
形成されたスリット162は互いにオーバーラップする
ことなくずれて配置されているので、第2の基板300
側から入射した光は第3の金属層または第2の金属層の
いずれかで反射されてシリコン基板110には到達しな
い。
から入射する光を第1の基板の上層に設けた第2の金属
層及び第3の金属層で遮断した。入射光がシリコン基板
に達するのを防止するには、第1の金属層,第2の金属
層及び第3の金属層のそれぞれに形成されるスリット部
が互いにオーバーラップすることがないようずらせて配
置すればよい。
の絶縁層130,第2の絶縁層150,第3の絶縁層17
0のうち少なくとも1層に光吸収性の絶縁層を用いるこ
とでも光電流を低減できる。この光吸収性の絶縁層に
は、着色したポリイミドなどが使用できる。さらに、第
1の金属層140,第2の金属層160,第3の金属層
180の少なくとも1層の裏面又は表面に黒色材料の層
を設け、各金属層と同一の形状にパターン化することで
も光電流を低減できる。この黒色の材料には、酸化クロ
ム,タンタルオキサイド等が使用できる。
ついて説明する。図11と図12はセラミック基板上に
実装した液晶ライトバルブの平面構造と断面構造の一例
を示している。
路,水平走査回路,垂直走査回路などを形成した第1の
基板100は、回路部を上にして導電性ペーストでセラ
ミック基板500に接着される。第1の基板100と、
これと対向して設けた第2の基板300との間には液晶
200を挾持する。液晶200はその周辺部に設けたシ
ール材510によってシールされ、外界の湿度などから
保護される。
ワイヤボンデングでセラミック基板上に形成した配線パ
ターンと接続される。また、第2の基板300の表面に
設けた対向電極302とセラミック基板上の配線パター
ンとの接続には導電性ペースト530を用いている。第
1の基板上のワイヤボンデング位置は、図11に示すよ
うに同基板の上辺部と左辺部とし、第2の基板表面の対
向電極とのコンタクト位置は右辺部としている。ワイヤ
ボンデング位置を2辺以下にすることで各基板とワイヤ
ボンデング部の距離を小さくできる。
40によってセラミック基板500の配線パターンと接
続され、液晶ライトバルブの制御信号を供給する。
した投射型ディスプレイの構成を示す。本投射型ディス
プレイは、光源700,第1のレンズ710,ミラー7
20,第2のレンズ730,液晶ライトバルブ740,
投射レンズ750,スクリーン760で構成される。光
源700からの光は第1のレンズ710でミラー720の
位置に集光される。この光は第1のレンズ730で平行
光とされ、液晶ライトバルブ740に照射される。液晶
ライトバルブでは照射された光の反射状態を各液晶画素
に印加する電圧によって制御し、液晶ライトバルブから
の反射光を第1のレンズ730と投射レンズ750を介
して、スクリーン760に拡大投影して画像を形成す
る。
の光束に分解し、それぞれの光束に対して液晶ライトバ
ルブを設け、3つの液晶ライトバルブからの反射光を再
び合成、拡大投射することによりカラー表示の投射型デ
ィスプレイを得ることができる。光の3原色への分解、
3つの液晶ライトバルブからの反射光の合成は、例えば
ダイクロイックミラーを用いて同時に行うことができ
る。
イトバルブ、及びこれを用いた投射型ディスプレイにつ
いて説明したが、本発明は単結晶シリコン基板のかわり
に絶縁基板上に半導体層を形成した基板や化合物半導体
基板を用いても可能であることは言うまでもない。
ど能動素子を形成したシリコンなどの半導体基板を用い
た液晶ライトバルブ及びそれを用いた投射型ディスプレ
イにおいて、画素回路部の半導体表面を金属配線層によ
る信号線や画素電極など複数の遮光層で遮光し、さらに
金属配線層による信号線や画素電極などで遮光できない
光は基準電位に接続した半導体基板の拡散層に照射され
るように配置したので、画素回路部の能動素子に流れる
光電流を大幅に低減できる。さらに、各画素に映像信号
を供給する信号線と基板給電線に金属配線を用い、これ
らを互いに平行に配置したので、信号線のインピーダン
スを低減でき画素への信号の書き込みを高速にできる。
これらの結果、光輝度で、高精細な投射型ディスプレイ
に適用可能な液晶ライトバルブ、及びこれを用いた投射
型ディスプレイが実現できる。
ートである。
路を示す図である。
断面図(図5,図6のIV−IV断面図)である。
画素回路の拡散層及びポリシリコン層のレイアウト図で
ある。
画素回路の第1の金属層,第2の金属層のレイアウト図
である。
る断面図(図10のIX−IX断面図)である。
ける画素回路の第1の金属層,第2の金属層及び第3の
金属層のレイアウト図である。
ブの平面構造を示す図である。
ブの断面構造を示す図である。
レイの構成を示す図である。
容量、1c…液晶容量、2…サンプル回路、3…水平走
査回路、4…垂直走査回路、5…ANDゲート、6,7
…遮光層、100…第1の基板、110…シリコン基
板、120…ポリシリコン層、130…第1の絶縁層、
140…第1の金属層、150…第2の絶縁層、160
…第2の金属層、170…第3の絶縁層、180…第3
の金属層、200…液晶、300…第2の基板。
Claims (15)
- 【請求項1】一方の表面にマトリクス状に形成された複
数個のスイッチング素子領域を有する半導体基板と、 前記半導体基板の一方の表面上に絶縁層を介して形成さ
れ、第1のスリットで複数個に分割された第1の金属層
と、 前記第1の金属層上に絶縁層を介して形成され、第2の
スリットで複数個に分割された第2の金属層と、 前記第2の金属層上に絶縁層を介して形成され、第3の
スリットで複数個に分割された第3の金属層と、 一方の表面に対向電極を有し、前記対向電極側が前記第
3の金属層に間隙を有して対向する対向基板と、 前記対向電極と第3の金属層との間の間隙に充填された
液晶とからなり、 前記第1のスリット,第2のスリット及び第3のスリッ
トは前記対向基板側から入射した光が半導体基板に達す
るのを防止するために半導体基板の一方の表面と平行な
方向に互いにずれて配置されている液晶ライトバルブ。 - 【請求項2】一方の表面にマトリクス状に形成された複
数個のスイッチング素子領域を有する半導体基板と、 前記半導体基板の一方の表面上に絶縁層を介して形成さ
れ、第1のスリットで複数個に分割された第1の金属層
と、 前記第1の金属層上に絶縁層を介して形成され、第2の
スリットで複数個に分割された第2の金属層と、 一方の表面に対向電極を有し、前記対向電極側が前記第
2の金属層に間隙を有して対向する対向基板と、 前記対向電極と第2の金属層との間の間隙に充填された
液晶とからなり、 前記対向基板側から第1のスリット及び第2のスリット
を通して入射した光が半導体基板に達する場所に基準電
位に接続した半導体領域を設けた液晶ライトバルブ。 - 【請求項3】特許請求の範囲第1項または第2項におい
て、前記半導体基板の一方の表面に前記スイッチング素
子領域の各々に対応して容量素子領域を設け、前記スイ
ッチング素子領域の基板電位領域および前記容量素子領
域に基板電位を供給する基板給電線を前記金属層のいず
れかで形成した液晶ライトバルブ。 - 【請求項4】特許請求の範囲第3項において、前記スイ
ッチング素子領域の映像信号入力端子部に映像信号を供
給する映像信号線を前記金属層のいずれかで形成し、前
記基板給電線と映像信号線を互いに平行に配置した液晶
ライトバルブ。 - 【請求項5】特許請求の範囲第3項において、前記スイ
ッチング素子領域にMOSトランジスタ、前記容量素子
領域にMOS容量を形成した液晶ライトバルブ。 - 【請求項6】特許請求の範囲第1項または第2項におい
て、前記第1の金属層,第2の金属層または第3の金属
層の少なくとも一方の面に黒色層を設けた液晶ライトバ
ルブ。 - 【請求項7】特許請求の範囲第2項において、前記対向
基板側から第1のスリット及び第2のスリットを通して
入射した光が半導体基板に達する場所にN型領域及びこ
れと接するP型領域を設け、前記N型領域とP型領域を
共に基準電位に接続した液晶ライトバルブ。 - 【請求項8】特許請求の範囲第1項または第2項におい
て、前記半導体基板の一方の表面に前記複数個のスイッ
チング素子領域に信号を供給する信号回路の領域を設け
た液晶ライトバルブ。 - 【請求項9】特許請求の範囲第8項において、前記信号
回路は、前記複数個のスイッチング素子領域に映像信号
を供給する回路及びスイッチング素子の制御信号を供給
する回路である液晶ライトバルブ。 - 【請求項10】特許請求の範囲第8項において、前信号
回路は高耐圧CMOSトランジスタと低耐圧CMOSト
ランジスタで構成される液晶ライトバルブ。 - 【請求項11】特許請求の範囲第8項において、前記半
導体基板の一方の表面で、前記信号回路の領域の周辺部
に基板電位に接続した基板給電領域を設けた液晶ライト
バルブ。 - 【請求項12】一方の表面にマトリクス状に形成された
複数個のスイッチング素子領域を有する半導体基板と、 前記半導体基板の一方の表面上に絶縁層を介して形成さ
れ、第1のスリットで複数個に分割された第1の金属層
と、 前記第1の金属層上に絶縁層を介して形成され、第2の
スリットで複数個に分割された第2の金属層と、 前記第2の金属層上に絶縁層を介して形成され、第3の
スリットで複数個に分割された第3の金属層と、 一方の表面に対向電極を有し、前記対向電極側が前記第
3の金属層に間隙を有して対向する対向基板と、 前記対向電極と第3の金属層との間の間隙に充填された
液晶とからなり、 前記第1のスリット,第2のスリット及び第3のスリッ
トは前記対向基板側から入射した光が半導体基板に達す
るのを防止するために半導体基板の一方の表面と平行な
方向にずれて配置された液晶ライトバルブと、 前記液晶ライトバルブに前記対向基板側から照射される
光を供給する光源と、 前記液晶ライトバルブからの反射光を拡大投射する光学
系とを備えた投射型ディスプレイ。 - 【請求項13】一方の表面にマトリクス状に形成された
複数個のスイッチング素子領域を有する半導体基板と、 前記半導体基板の一方の表面上に絶縁層を介して形成さ
れ、第1のスリットで複数個に分割された第1の金属層
と、 前記第1の金属層上に絶縁層を介して形成され、第2の
スリットで複数個に分割された第2の金属層と、 一方の表面に対向電極を有し、前記対向電極側が前記第
2の金属層に間隙を有して対向する対向基板と、 前記対向電極と第2の金属層との間の間隙に充填された
液晶とからなり、 前記対向基板側から第1のスリット及び第2のスリット
を通して入射した光が半導体基板に達する場所に基準電
位に接続した半導体領域を設けた液晶ライトバルブと、 前記液晶ライトバルブに前記対向基板側から照射される
光を供給する光源と、 前記液晶ライトバルブからの反射光を拡大投射する光学
系とを備えた投射型ディスプレイ。 - 【請求項14】特許請求の範囲第12項または第13項
において、前記半導体基板の一方の表面に前記スイッチ
ング素子領域の各々に対応して容量素子領域を設け、前
記スイッチング素子領域の基板電位領域および前記容量
素子領域に基板電位を供給する基板給電線を前記金属層
のいずれかで形成した投射型ディスプレイ。 - 【請求項15】特許請求の範囲第12項または第13項
において、前記半導体基板の一方の表面に前記複数個の
スイッチング素子領域に信号を供給する信号回路の領域
を設けた投射型ディスプレイ。
Priority Applications (1)
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|---|---|---|---|
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| JP26996192 | 1992-10-08 | ||
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