JPH0619998A - クリティカルパスチェック方法 - Google Patents
クリティカルパスチェック方法Info
- Publication number
- JPH0619998A JPH0619998A JP4178420A JP17842092A JPH0619998A JP H0619998 A JPH0619998 A JP H0619998A JP 4178420 A JP4178420 A JP 4178420A JP 17842092 A JP17842092 A JP 17842092A JP H0619998 A JPH0619998 A JP H0619998A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- clock
- cell
- cells
- circuit
- list
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 半導体集積回路の設計の動作シミュレーショ
ンにおいて、クロックに同期しているセル間のパスの遅
延時間を算出することなくクリティカルパスのチェック
を行なう。 【構成】 クロックに同期して動作する回路内のセルの
クロックに対するセットアップタイム・ホールドタイム
をロジックシミュレーションの結果より算出し(ステッ
プ5)、その算出結果が許容値内であるかを判定する。
これをクロックに同期して動作する回路内のセル(リス
ト内のセル)の全てについて行う。 【効果】 比較的簡単なアルゴリズムでプログラムを作
成できる。
ンにおいて、クロックに同期しているセル間のパスの遅
延時間を算出することなくクリティカルパスのチェック
を行なう。 【構成】 クロックに同期して動作する回路内のセルの
クロックに対するセットアップタイム・ホールドタイム
をロジックシミュレーションの結果より算出し(ステッ
プ5)、その算出結果が許容値内であるかを判定する。
これをクロックに同期して動作する回路内のセル(リス
ト内のセル)の全てについて行う。 【効果】 比較的簡単なアルゴリズムでプログラムを作
成できる。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】この発明は、半導体集積回路の設
計における動作シミュレーション方法の一つであるクリ
ティカルパスチェック方法に関するものである。
計における動作シミュレーション方法の一つであるクリ
ティカルパスチェック方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体集積回路の大規模化,微細
化が急速に進んでいる。それにともない回路の設計段階
における正確な動作確認が半導体集積回路の早期開発に
必要不可欠なものとなってきている。この動作確認の方
法の一つにクリティカルパスチェックがある。
化が急速に進んでいる。それにともない回路の設計段階
における正確な動作確認が半導体集積回路の早期開発に
必要不可欠なものとなってきている。この動作確認の方
法の一つにクリティカルパスチェックがある。
【0003】以下に従来のクリティカルパスチェック方
法について説明する。図2は従来のクリティカルパスチ
ェック方法のフローチャートを示したものである。図2
において、11〜17は各ステップである。この従来の
クリティカルパスチェック方法は、まずステップ11に
おいて、回路内のクロックに同期しているセル(セル
(a) とする)を1つサーチする。次にステップ12にお
いて、セル(a) の出力に接続されている他のセル(セル
(b) とする)をサーチし、ステップ13においてセル
(b) がクロックに同期しているかどうかを判断する。も
し、セル(b) が同期してない場合は、そのセルの遅延時
間を記憶しておく(ステップ14)。そして、また、セ
ル(b) の出力に接続されているセル(c) のサーチを行
い、セル(c) がクロックに同期していない場合はセル
(c) の遅延時間をこれまでの累積遅延時間に加算する
(ステップ12〜14)。このステップ12〜14の処
理をクロックに同期しているセルが見つかるまで行う。
法について説明する。図2は従来のクリティカルパスチ
ェック方法のフローチャートを示したものである。図2
において、11〜17は各ステップである。この従来の
クリティカルパスチェック方法は、まずステップ11に
おいて、回路内のクロックに同期しているセル(セル
(a) とする)を1つサーチする。次にステップ12にお
いて、セル(a) の出力に接続されている他のセル(セル
(b) とする)をサーチし、ステップ13においてセル
(b) がクロックに同期しているかどうかを判断する。も
し、セル(b) が同期してない場合は、そのセルの遅延時
間を記憶しておく(ステップ14)。そして、また、セ
ル(b) の出力に接続されているセル(c) のサーチを行
い、セル(c) がクロックに同期していない場合はセル
(c) の遅延時間をこれまでの累積遅延時間に加算する
(ステップ12〜14)。このステップ12〜14の処
理をクロックに同期しているセルが見つかるまで行う。
【0004】そしてステップ13において、クロックに
同期しているセルが見つかったら、ステップ14におい
て算出した累積遅延時間が許容値内であるかをステップ
15において判断する。そして、もし累積遅延時間が許
容値を越えていた場合、ステップ16において累積遅延
時間を出力表示する。ステップ17において、他にクリ
ティカルパスチェックの対象になるパスが回路内にない
かを判断し、回路内の全パスに対する処理の実行が終了
するまでステップ11〜17の処理を繰り返す。
同期しているセルが見つかったら、ステップ14におい
て算出した累積遅延時間が許容値内であるかをステップ
15において判断する。そして、もし累積遅延時間が許
容値を越えていた場合、ステップ16において累積遅延
時間を出力表示する。ステップ17において、他にクリ
ティカルパスチェックの対象になるパスが回路内にない
かを判断し、回路内の全パスに対する処理の実行が終了
するまでステップ11〜17の処理を繰り返す。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】回路設計の段階で使用
するセルは、出力ピンの数が複数存在する場合がある。
したがって、上記従来のような構成では、クロックに同
期しているセルから次のクロックに同期しているセルま
で回路をたどってゆく間にパスが多数分かれてゆく場合
があり、回路内のすべてのパスをチェックするために
は、かなり複雑なアルゴリズムのプログラムを開発しな
ければならない。
するセルは、出力ピンの数が複数存在する場合がある。
したがって、上記従来のような構成では、クロックに同
期しているセルから次のクロックに同期しているセルま
で回路をたどってゆく間にパスが多数分かれてゆく場合
があり、回路内のすべてのパスをチェックするために
は、かなり複雑なアルゴリズムのプログラムを開発しな
ければならない。
【0006】この発明は、上記従来の課題を解決するも
ので、クロックに同期しているセルの間のパスの遅延時
間をチェックせずにクリティカルパスのチェックを行う
ことができるクリティカルパスチェック方法を提供する
ことを目的とする。
ので、クロックに同期しているセルの間のパスの遅延時
間をチェックせずにクリティカルパスのチェックを行う
ことができるクリティカルパスチェック方法を提供する
ことを目的とする。
【0007】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
にこの発明のクリティカルパスチェック方法は、クロッ
クに同期して動作する回路内のセルのリストを作成する
第1の処理と、リスト内のセルのクロックに対するセッ
トアップタイム・ホールドタイムをロジックシミュレー
ションの結果より算出する第2の処理と、この第2の処
理の算出結果が許容値内であるかを判定する第3の処理
と、この第3の処理の判定結果がエラーの場合に算出結
果を出力表示する第4の処理とを含んでいる。
にこの発明のクリティカルパスチェック方法は、クロッ
クに同期して動作する回路内のセルのリストを作成する
第1の処理と、リスト内のセルのクロックに対するセッ
トアップタイム・ホールドタイムをロジックシミュレー
ションの結果より算出する第2の処理と、この第2の処
理の算出結果が許容値内であるかを判定する第3の処理
と、この第3の処理の判定結果がエラーの場合に算出結
果を出力表示する第4の処理とを含んでいる。
【0008】
【作用】この発明の構成によれば、クロックに同期して
動作する回路内のセルのクロックに対するセットアップ
タイム・ホールドタイムをロジックシミュレーションの
結果より算出し、その算出結果が許容値内であるかを判
定する。これをクロックに同期して動作する回路内のセ
ル(リスト内のセル)の全てについて行うことにより、
クロックに同期しているセル間のパスをチェックせずに
クリティカルパスのチェックを行うことができ、比較的
簡単なアルゴリズムでプログラムを作成することができ
る。
動作する回路内のセルのクロックに対するセットアップ
タイム・ホールドタイムをロジックシミュレーションの
結果より算出し、その算出結果が許容値内であるかを判
定する。これをクロックに同期して動作する回路内のセ
ル(リスト内のセル)の全てについて行うことにより、
クロックに同期しているセル間のパスをチェックせずに
クリティカルパスのチェックを行うことができ、比較的
簡単なアルゴリズムでプログラムを作成することができ
る。
【0009】
【実施例】以下この発明の一実施例について図面を参照
しながら説明する。図1はこの発明の一実施例における
クリティカルパスチェック方法のフローチャートであ
る。図1において、1〜8は各ステップである。このク
リティカルパスチェック方法は、まず、ステップ1にお
いて、ロジックシミュレーションを行い、その実行結果
をテキストデータの形式で読み込む(ステップ2)。ま
た、ステップ3では、回路内のクロックに同期している
セルのリストを作成する。このリストは、同一クロック
に接続されているセルをサーチすることで容易に作成す
ることができる。
しながら説明する。図1はこの発明の一実施例における
クリティカルパスチェック方法のフローチャートであ
る。図1において、1〜8は各ステップである。このク
リティカルパスチェック方法は、まず、ステップ1にお
いて、ロジックシミュレーションを行い、その実行結果
をテキストデータの形式で読み込む(ステップ2)。ま
た、ステップ3では、回路内のクロックに同期している
セルのリストを作成する。このリストは、同一クロック
に接続されているセルをサーチすることで容易に作成す
ることができる。
【0010】次に、ステップ3で作成したリスト内のセ
ルを1つ選択し、この選択したセル(以下「選択セル」
という)が回路内のどこにあるかをサーチする(ステッ
プ4)。そして、ステップ5において、ステップ2で読
み込んだロジックシミュレーションのデータをもとに選
択セルのセットアップタイム,ホールドタイムを算出す
る。セットアップタイムはデータがクロックよりどれだ
け先に入力されたかによって算出し、ホールドタイムは
データがクロック入力後どれだけ保持されたかによって
算出する。
ルを1つ選択し、この選択したセル(以下「選択セル」
という)が回路内のどこにあるかをサーチする(ステッ
プ4)。そして、ステップ5において、ステップ2で読
み込んだロジックシミュレーションのデータをもとに選
択セルのセットアップタイム,ホールドタイムを算出す
る。セットアップタイムはデータがクロックよりどれだ
け先に入力されたかによって算出し、ホールドタイムは
データがクロック入力後どれだけ保持されたかによって
算出する。
【0011】そして、ステップ6において、セットアッ
プタイム,ホールドタイムの算出結果の判定を行い、も
し算出結果が設計者が考えている許容値を満たしていな
い場合は、選択セルの固有の名前および算出結果を出力
表示する(ステップ7)。そしてステップ8において、
リスト内の全セルの処理を行なったかの判定を行い、リ
スト内のすべてのセルについての処理が終了していない
と判断した場合は、ステップ4〜7の処理を繰り返し、
リスト内の全セルについてチェックを行なう。
プタイム,ホールドタイムの算出結果の判定を行い、も
し算出結果が設計者が考えている許容値を満たしていな
い場合は、選択セルの固有の名前および算出結果を出力
表示する(ステップ7)。そしてステップ8において、
リスト内の全セルの処理を行なったかの判定を行い、リ
スト内のすべてのセルについての処理が終了していない
と判断した場合は、ステップ4〜7の処理を繰り返し、
リスト内の全セルについてチェックを行なう。
【0012】なお、ステップ6において、セットアップ
タイム,ホールドタイムが許容値を満たしていればクロ
ックに対してF.F.(フリップフロップ)は正常に動
作すると判断できる。このようにこの実施例によれば、
クロックに同期しているセルの間のパスの遅延時間をチ
ェックせずにクリティカルパスのチェックを行うことが
でき、比較的簡単なアルゴリズムでプログラムを作成す
ることができる。
タイム,ホールドタイムが許容値を満たしていればクロ
ックに対してF.F.(フリップフロップ)は正常に動
作すると判断できる。このようにこの実施例によれば、
クロックに同期しているセルの間のパスの遅延時間をチ
ェックせずにクリティカルパスのチェックを行うことが
でき、比較的簡単なアルゴリズムでプログラムを作成す
ることができる。
【0013】
【発明の効果】この発明のクリティカルパスチェック方
法は、クロックに同期して動作する回路内のセルのクロ
ックに対するセットアップタイム・ホールドタイムをロ
ジックシミュレーションの結果より算出し、その算出結
果が許容値内であるかを判定する。これをクロックに同
期して動作する回路内のセル(リスト内のセル)の全て
について行うことにより、クロックに同期しているセル
間のパスをチェックせずにクリティカルパスのチェック
を行うことができ、比較的簡単なアルゴリズムでプログ
ラムを作成することができる。
法は、クロックに同期して動作する回路内のセルのクロ
ックに対するセットアップタイム・ホールドタイムをロ
ジックシミュレーションの結果より算出し、その算出結
果が許容値内であるかを判定する。これをクロックに同
期して動作する回路内のセル(リスト内のセル)の全て
について行うことにより、クロックに同期しているセル
間のパスをチェックせずにクリティカルパスのチェック
を行うことができ、比較的簡単なアルゴリズムでプログ
ラムを作成することができる。
【図1】この発明の一実施例のクリティカルパスチェッ
ク方法のフローチャート。
ク方法のフローチャート。
【図2】従来のクリティカルパスチェック方法のフロー
チャート。
チャート。
1 ロジックシミュレーションの実行ステップ 2 ロジックシミュレーションの実行結果の読み込み
ステップ 3 回路内のクロックに同期しているセルのリスト作
成ステップ 4 リスト内のセルを回路内でサーチするステップ 5 セルのセットアップタイム・ホールドタイムの算
出ステップ 6 ステップ5における算出結果の判定ステップ 7 セットアップタイム・ホールドタイムのエラー表
示ステップ 8 リスト内の全セルの処理を行なったかを判定する
ステップ
ステップ 3 回路内のクロックに同期しているセルのリスト作
成ステップ 4 リスト内のセルを回路内でサーチするステップ 5 セルのセットアップタイム・ホールドタイムの算
出ステップ 6 ステップ5における算出結果の判定ステップ 7 セットアップタイム・ホールドタイムのエラー表
示ステップ 8 リスト内の全セルの処理を行なったかを判定する
ステップ
Claims (1)
- 【請求項1】 クロックに同期して動作する回路内のセ
ルのリストを作成する第1の処理と、前記リスト内のセ
ルのクロックに対するセットアップタイム・ホールドタ
イムをロジックシミュレーションの結果より算出する第
2の処理と、この第2の処理の算出結果が許容値内であ
るかを判定する第3の処理と、この第3の処理の判定結
果がエラーの場合に前記算出結果を出力表示する第4の
処理とを含むクリティカルパスチェック方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4178420A JPH0619998A (ja) | 1992-07-06 | 1992-07-06 | クリティカルパスチェック方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4178420A JPH0619998A (ja) | 1992-07-06 | 1992-07-06 | クリティカルパスチェック方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0619998A true JPH0619998A (ja) | 1994-01-28 |
Family
ID=16048193
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4178420A Pending JPH0619998A (ja) | 1992-07-06 | 1992-07-06 | クリティカルパスチェック方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0619998A (ja) |
-
1992
- 1992-07-06 JP JP4178420A patent/JPH0619998A/ja active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR100521289B1 (ko) | 트랜지스터 회로의 타이밍 특성 추출 방법, 타이밍 특성라이브러리를 기억한 기억 매체, lsi의 설계 방법, 및게이트 추출 방법 | |
| CN107844678B (zh) | 包含IP/Memory时序路径的spice仿真方法 | |
| JPH10283394A (ja) | 故障シミュレーション方法 | |
| JPH06274568A (ja) | 階層図形データの展開方法 | |
| CN110941932B (zh) | 一种面向硬件逻辑设计的需求建模与验证方法 | |
| JPH0619998A (ja) | クリティカルパスチェック方法 | |
| JP2001229211A (ja) | 非同期回路の検証方法 | |
| JP3654941B2 (ja) | 論理シミュレーション方法及び論理シミュレータ | |
| JPWO2006025412A1 (ja) | 論理検証方法、論理モジュールデータ、デバイスデータおよび論理検証装置 | |
| JP2996153B2 (ja) | Asic検証方法 | |
| JP2000187064A (ja) | テストグループ作成装置及びその作成方法 | |
| US7290231B2 (en) | Method for reducing standard delay format file size | |
| JP2567985B2 (ja) | ディジタル回路のパス自動選択方法及びディジタル回路のパス自動選択装置 | |
| JP2830579B2 (ja) | 論理シミュレーション装置 | |
| JPH05250434A (ja) | 同期式順序回路のテストパターン生成方法 | |
| JP2001067383A (ja) | 静的タイミング解析方法におけるフォールスパス検出方法およびフォールスパス検査方法 | |
| JPH1139377A (ja) | 半導体集積回路の検証方法、半導体集積回路の検証装置、及び、半導体集積回路の検証プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 | |
| JP2624151B2 (ja) | スキャンパス設計装置及びスキャンパス試験装置 | |
| JP3033749B1 (ja) | Ramマクロを内蔵したasic、及び検証方法 | |
| JPH02224070A (ja) | 論理回路の遅延時間解析装置 | |
| JPH04178575A (ja) | スキャンアドレスの導出方法 | |
| JP2003162561A (ja) | タイミング解析方法 | |
| JPH07210583A (ja) | 回路規則検証装置及び回路規則検証方法 | |
| JP2008129921A (ja) | 論理機能検証装置及び論理機能検証方法 | |
| JP2003337842A (ja) | 半導体集積回路のシミュレーション装置 |