JPH06208479A - 情報処理装置の診断方式 - Google Patents
情報処理装置の診断方式Info
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- JPH06208479A JPH06208479A JP4247005A JP24700592A JPH06208479A JP H06208479 A JPH06208479 A JP H06208479A JP 4247005 A JP4247005 A JP 4247005A JP 24700592 A JP24700592 A JP 24700592A JP H06208479 A JPH06208479 A JP H06208479A
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- Maintenance And Management Of Digital Transmission (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】情報処理装置の含む複数のサブユニットを,シ
フトパスを使って同時に診断することを可能とする。 【構成】シフト制御部1Aのサブユニット選択回路10
1及び制御回路102により,サブユニット(0)2か
らサブユニット(n)5までのすべてのサブユニットに
シフトクロック及びシフトデータを供給する。比較器1
03は全てのサブユニットのシフトアウトデータを比較
し,その比較結果によりエラー検出回路104がエラー
の有無を検出する。またサブユニット検出回路105
は,全てのサブユニットのシフトアウトデータとパス1
1のシフトアウトデータの期待値とを受けて,期待値と
異なるシフトアウトデータを出力するサブユニットを検
出,かくして全てのサブユニットの同時診断を可能とす
る。
フトパスを使って同時に診断することを可能とする。 【構成】シフト制御部1Aのサブユニット選択回路10
1及び制御回路102により,サブユニット(0)2か
らサブユニット(n)5までのすべてのサブユニットに
シフトクロック及びシフトデータを供給する。比較器1
03は全てのサブユニットのシフトアウトデータを比較
し,その比較結果によりエラー検出回路104がエラー
の有無を検出する。またサブユニット検出回路105
は,全てのサブユニットのシフトアウトデータとパス1
1のシフトアウトデータの期待値とを受けて,期待値と
異なるシフトアウトデータを出力するサブユニットを検
出,かくして全てのサブユニットの同時診断を可能とす
る。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は情報処理装置の診断方式
に関し,特にシフトパスを使った診断機能を有し,同じ
ハードウェアで構成されるサブユニットを複数有する情
報処理装置のサブユニットの不具合の有無を診断する情
報処理装置の診断方式に関する。
に関し,特にシフトパスを使った診断機能を有し,同じ
ハードウェアで構成されるサブユニットを複数有する情
報処理装置のサブユニットの不具合の有無を診断する情
報処理装置の診断方式に関する。
【0002】
【従来の技術】情報処理装置の診断を実行する場合,従
来の情報処理装置は,外部の診断装置から指定されたサ
ブユニットについてシフトパスを使ってシフト動作を実
行し,シフトアウトデータを診断装置へ渡すのみであっ
た。そして診断は外部の診断装置がデータチェックを行
なうことで実行していた。
来の情報処理装置は,外部の診断装置から指定されたサ
ブユニットについてシフトパスを使ってシフト動作を実
行し,シフトアウトデータを診断装置へ渡すのみであっ
た。そして診断は外部の診断装置がデータチェックを行
なうことで実行していた。
【0003】また複数のサブユニットの診断を実行する
際は,各サブユニットの診断を順次実行していた。
際は,各サブユニットの診断を順次実行していた。
【0004】図2は,同じハードウェアで構成されてい
る2つのサブユニット(0)2及びサブユニット(1)
3を有する情報処理装置に対して,図外の外部診断装置
からの指示でシフト制御部1Bがサブユニット(0)2
及びサブユニット(1)3の診断を実施する場合を例と
している。
る2つのサブユニット(0)2及びサブユニット(1)
3を有する情報処理装置に対して,図外の外部診断装置
からの指示でシフト制御部1Bがサブユニット(0)2
及びサブユニット(1)3の診断を実施する場合を例と
している。
【0005】図2において,シフト制御部1Bのサブユ
ニット選択回路101は,図外の外部診断装置から与え
られるサブユニットアドレスをデータパス7で受けて,
シフト動作を実行するサブユニットを制御回路102及
びセレクタ106へ指示する回路,制御回路102は図
外の外部診断装置からのシフト指示をパス6で受けて,
サブユニット選択回路101から指示されたサブユニッ
トにパス21またはパス31を使ってシフトクロックを
供給する回路,パス8は図外の外部診断装置から与えら
れるシフトインデータをサブユニット(0)2及びサブ
ユニット(1)3へ書き込むパス,セレクタ106はサ
ブユニット選択回路101からの指示によりサブユニッ
ト(0)2のシフトアウトデータかサブユニット(1)
3のシフトアウトデータかのいずれかを選択し,シフト
アウトデータをパス13へ出力させるセレクタである。
ニット選択回路101は,図外の外部診断装置から与え
られるサブユニットアドレスをデータパス7で受けて,
シフト動作を実行するサブユニットを制御回路102及
びセレクタ106へ指示する回路,制御回路102は図
外の外部診断装置からのシフト指示をパス6で受けて,
サブユニット選択回路101から指示されたサブユニッ
トにパス21またはパス31を使ってシフトクロックを
供給する回路,パス8は図外の外部診断装置から与えら
れるシフトインデータをサブユニット(0)2及びサブ
ユニット(1)3へ書き込むパス,セレクタ106はサ
ブユニット選択回路101からの指示によりサブユニッ
ト(0)2のシフトアウトデータかサブユニット(1)
3のシフトアウトデータかのいずれかを選択し,シフト
アウトデータをパス13へ出力させるセレクタである。
【0006】次に,動作について説明する。
【0007】まず最初に,図外の外部診断装置は,サブ
ユニット(0)2を示すサブユニットアドレス(例えば
アドレス“0”)をデータパス7上に乗せ,サブユニッ
ト(0)2へ書き込むシフトインデータをパスSに乗せ
る。
ユニット(0)2を示すサブユニットアドレス(例えば
アドレス“0”)をデータパス7上に乗せ,サブユニッ
ト(0)2へ書き込むシフトインデータをパスSに乗せ
る。
【0008】シフト制御部1Bにおいて,サブユニット
選択回路101は,データパス7上のサブユニットアド
レスを受けて解読し,サブユニット(0)2が選択され
たことを制御回路102及びセレクタ106へ指示す
る。
選択回路101は,データパス7上のサブユニットアド
レスを受けて解読し,サブユニット(0)2が選択され
たことを制御回路102及びセレクタ106へ指示す
る。
【0009】制御回路102は,サブユニット選択回路
101の指示を受けると,図外の外部診断装置からのパ
ス6のシフト指示を待ち,シフト指示が来るとパス21
を介してサブユニット(0)2へシフトクロックを出
す。この時,サブユニット(0)2では,パス21から
シフトクロックを受けるとパス8上のシフトインデータ
をサブユニット内部に書き込み,シフトアウトデータを
パス22に出力する。
101の指示を受けると,図外の外部診断装置からのパ
ス6のシフト指示を待ち,シフト指示が来るとパス21
を介してサブユニット(0)2へシフトクロックを出
す。この時,サブユニット(0)2では,パス21から
シフトクロックを受けるとパス8上のシフトインデータ
をサブユニット内部に書き込み,シフトアウトデータを
パス22に出力する。
【0010】さらに,シフト制御部1Bにおいて,セレ
クタ106はサブユニット選択回路101からの指示に
よりパス22上のサブユニット(0)2のシフトアウト
データをパス13へ出力する。
クタ106はサブユニット選択回路101からの指示に
よりパス22上のサブユニット(0)2のシフトアウト
データをパス13へ出力する。
【0011】パス13へサブユニット(0)2のシフト
アウトデータが出力されると,図外の外部診断装置がこ
れを取り込み,データパス7上にサブユニット(0)2
のサブユニットアドレス及びパス8に次のシフトインデ
ータを乗せてシフト指示をパス6に出す。
アウトデータが出力されると,図外の外部診断装置がこ
れを取り込み,データパス7上にサブユニット(0)2
のサブユニットアドレス及びパス8に次のシフトインデ
ータを乗せてシフト指示をパス6に出す。
【0012】シフト制御部1Bにおいて,パス6のシフ
ト指示を受けると,前述の動作と同様にしてサブユニッ
ト(0)2へシフトクロックを出し,シフトアウトデー
タをセレクタ106からパス13へ出力する。
ト指示を受けると,前述の動作と同様にしてサブユニッ
ト(0)2へシフトクロックを出し,シフトアウトデー
タをセレクタ106からパス13へ出力する。
【0013】以下同様にして,図外の外部診断装置は,
サブユニット(0)2の全てのハードウェアデータをシ
フトアウトのパス13から読みだすまでシフト指示を出
し,読み出したサブユニット(0)2のデータをチェッ
クし診断を行なう。
サブユニット(0)2の全てのハードウェアデータをシ
フトアウトのパス13から読みだすまでシフト指示を出
し,読み出したサブユニット(0)2のデータをチェッ
クし診断を行なう。
【0014】さらに,サブユニット(0)2の診断が終
了すると,サブユニット(1)3のサブユニットアドレ
スをデータパス7に乗せ,サブユニット(1)3へ書き
込むシフトインデータをパス8へ乗せて前述した動作を
繰り返してサブユニット(1)3のデータを読み出した
後,サブユニット(1)3の診断を行なう。
了すると,サブユニット(1)3のサブユニットアドレ
スをデータパス7に乗せ,サブユニット(1)3へ書き
込むシフトインデータをパス8へ乗せて前述した動作を
繰り返してサブユニット(1)3のデータを読み出した
後,サブユニット(1)3の診断を行なう。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の情報処
理装置の診断方式では,シフトパスを使ってサブユニッ
ト単位でしかハードウェアのデータの読出し/書込みが
できないため,シフトパスを使った診断はサブユニット
毎にハードウェアのデータを外部診断装置に読み出し
て,外部診断装置自身がデータチェックを行なってい
た。
理装置の診断方式では,シフトパスを使ってサブユニッ
ト単位でしかハードウェアのデータの読出し/書込みが
できないため,シフトパスを使った診断はサブユニット
毎にハードウェアのデータを外部診断装置に読み出し
て,外部診断装置自身がデータチェックを行なってい
た。
【0016】このため,情報処理装置内にあるサブユニ
ット数に比例して診断実行時間が長くなるという問題点
があった。
ット数に比例して診断実行時間が長くなるという問題点
があった。
【0017】また,診断の実行時間が長くなると,限ら
れた保守時間の中で診断に要する時間の割合が大きくな
り,情報処理装置の他の保守項目を実施する時間が短く
なるという問題点があった。
れた保守時間の中で診断に要する時間の割合が大きくな
り,情報処理装置の他の保守項目を実施する時間が短く
なるという問題点があった。
【0018】さらに情報処理装置の診断時間が長くなる
と,他の装置との接続確認の時間も短くなり,システム
全体の保守信頼性の低下を招くという問題点があった。
と,他の装置との接続確認の時間も短くなり,システム
全体の保守信頼性の低下を招くという問題点があった。
【0019】本発明の目的は上述した問題点を解決し,
サブユニット数に比例して診断実行時間を要せず,従っ
て保守時間に含む他の保守項目の実施を圧縮することな
く,システム全体の保守信頼性の低下を著しく改善しう
る情報処理装置の診断方式を提供することにある。
サブユニット数に比例して診断実行時間を要せず,従っ
て保守時間に含む他の保守項目の実施を圧縮することな
く,システム全体の保守信頼性の低下を著しく改善しう
る情報処理装置の診断方式を提供することにある。
【0020】
【課題を解決するための手段】本発明の方式は,装置内
に複数のサブユニットを有し,外部診断装置からサブユ
ニットのアドレスを指定することによりサブユニット単
位にシフトパスを使ってハードウェアのデータを読出し
書込み可能であり,かつ前記サブユニットの全てが同じ
ハードウェアから構成されている情報処理装置の前記サ
ブユニットの不具合の有無を診断する情報処理装置の診
断方式において,外部診断装置からシフト動作を実行す
る少なくとも1つのサブユニットを指定するサブユニッ
トアドレスを受けてシフト動作を実行するサブユニット
全数を対象として指定することを可能とするサブユニッ
ト選択手段と,外部診断装置からのシフト指示を受けて
前記サブユニット選択手段で指定されたサブユニットへ
シフトクロックを供給する制御手段と,全てのサブユニ
ットのシフトアウトデータを比較する比較手段と,前記
比較手段の比較結果及び外部診断装置からの比較結果の
マスク指示を受けてエラーを外部診断装置へ通知するエ
ラー検出手段と,外部診断装置からシフトアウトデータ
の期待値を受けて全てのサブユニットのシフトアウトデ
ータの中からデータの値が前記期待値と異なるサブユニ
ットを検出するサブユニット検出手段とを有し,全ての
サブユニットを指定するように予め定められたサブユニ
ットアドレスを前記サブユニット選択手段で受け全ての
サブユニットへ前記制御手段が同時にシフトクロックを
供給することにより全てのサブユニットへ外部診断装置
から与えられるシフトインデータを書き込み,シフトア
ウトデータを前記比較手段及び前記サブユニット検出手
段に読みだすことにより,前記比較手段でシフトアウト
データの比較をすると同時に前記サブユニット検出手段
で前記期待値と異なるシフトアウトデータを持つサブユ
ニットを検出して比較不一致時に障害サブユニットを検
出する構成を有する。
に複数のサブユニットを有し,外部診断装置からサブユ
ニットのアドレスを指定することによりサブユニット単
位にシフトパスを使ってハードウェアのデータを読出し
書込み可能であり,かつ前記サブユニットの全てが同じ
ハードウェアから構成されている情報処理装置の前記サ
ブユニットの不具合の有無を診断する情報処理装置の診
断方式において,外部診断装置からシフト動作を実行す
る少なくとも1つのサブユニットを指定するサブユニッ
トアドレスを受けてシフト動作を実行するサブユニット
全数を対象として指定することを可能とするサブユニッ
ト選択手段と,外部診断装置からのシフト指示を受けて
前記サブユニット選択手段で指定されたサブユニットへ
シフトクロックを供給する制御手段と,全てのサブユニ
ットのシフトアウトデータを比較する比較手段と,前記
比較手段の比較結果及び外部診断装置からの比較結果の
マスク指示を受けてエラーを外部診断装置へ通知するエ
ラー検出手段と,外部診断装置からシフトアウトデータ
の期待値を受けて全てのサブユニットのシフトアウトデ
ータの中からデータの値が前記期待値と異なるサブユニ
ットを検出するサブユニット検出手段とを有し,全ての
サブユニットを指定するように予め定められたサブユニ
ットアドレスを前記サブユニット選択手段で受け全ての
サブユニットへ前記制御手段が同時にシフトクロックを
供給することにより全てのサブユニットへ外部診断装置
から与えられるシフトインデータを書き込み,シフトア
ウトデータを前記比較手段及び前記サブユニット検出手
段に読みだすことにより,前記比較手段でシフトアウト
データの比較をすると同時に前記サブユニット検出手段
で前記期待値と異なるシフトアウトデータを持つサブユ
ニットを検出して比較不一致時に障害サブユニットを検
出する構成を有する。
【0021】
【実施例】次に,本発明について図面を参照して説明す
る。
る。
【0022】図1は,本発明の一実施例の情報処理装置
の診断方式の構成を示すブロック図である。図1に示す
実施例は,サブユニット(0)2,サブユニット(1)
3,サブユニット(2)4及びサブユニット(n)5の
n+1個のサブユニットを持ち,サブユニット(0)2
からサブユニット(n)5までのn+1個のサブユニッ
トが同じハードウェアから構成されている情報処理装置
に対して,図外の外部診断装置からの指示でシフト制御
部1Aが全てのサブユニットの診断を行なう場合を例と
している。
の診断方式の構成を示すブロック図である。図1に示す
実施例は,サブユニット(0)2,サブユニット(1)
3,サブユニット(2)4及びサブユニット(n)5の
n+1個のサブユニットを持ち,サブユニット(0)2
からサブユニット(n)5までのn+1個のサブユニッ
トが同じハードウェアから構成されている情報処理装置
に対して,図外の外部診断装置からの指示でシフト制御
部1Aが全てのサブユニットの診断を行なう場合を例と
している。
【0023】シフト制御部1Aは,図外の外部診断装置
からの指示で,サブユニット(0)2からサブユニット
(n)5までのシフト動作を制御する。サブユニット
(0)2,サブユニット(1)3,サブユニット(2)
4及びサブユニット(n)5は同じハードウェアから構
成される。パス6は図外の外部診断装置が出すシフト指
示をシフト制御部1Aに通知するパスである。パス7は
図外の外部診断装置が出すサブユニットアドレスをシフ
ト制御部1Aに通知するデータパスである。パス8は図
外の外部診断装置が出すシフトインデータをシフト制御
部1Aを介してサブユニット(0)2からサブユニット
(n)5までのn+1個のサブユニットへ書き込むパス
である。パス9は図外の外部診断装置の出すシフトデー
タのマスク値をシフト制御部1Aへ通知するパスであ
る。パス10はシフト制御部1Aの出すエラー検出信号
を図外の外部診断装置へ通知するパスである。パス11
は図外の外部診断装置が出すシフトアウトデータの期待
値をシフト制御部1Aへ通知するパスである。パス12
はシフト制御部1Aの出すサブユニット番号を図外の外
部診断装置へ通知するデータパスである。
からの指示で,サブユニット(0)2からサブユニット
(n)5までのシフト動作を制御する。サブユニット
(0)2,サブユニット(1)3,サブユニット(2)
4及びサブユニット(n)5は同じハードウェアから構
成される。パス6は図外の外部診断装置が出すシフト指
示をシフト制御部1Aに通知するパスである。パス7は
図外の外部診断装置が出すサブユニットアドレスをシフ
ト制御部1Aに通知するデータパスである。パス8は図
外の外部診断装置が出すシフトインデータをシフト制御
部1Aを介してサブユニット(0)2からサブユニット
(n)5までのn+1個のサブユニットへ書き込むパス
である。パス9は図外の外部診断装置の出すシフトデー
タのマスク値をシフト制御部1Aへ通知するパスであ
る。パス10はシフト制御部1Aの出すエラー検出信号
を図外の外部診断装置へ通知するパスである。パス11
は図外の外部診断装置が出すシフトアウトデータの期待
値をシフト制御部1Aへ通知するパスである。パス12
はシフト制御部1Aの出すサブユニット番号を図外の外
部診断装置へ通知するデータパスである。
【0024】また,シフト制御部1Aにおいて,サブユ
ニット選択回路101はデータパス7上のサブユニット
アドレスを受けてシフト動作を実行するサブユニットを
制御回路102へ指示する。
ニット選択回路101はデータパス7上のサブユニット
アドレスを受けてシフト動作を実行するサブユニットを
制御回路102へ指示する。
【0025】また制御回路102は,サブユニット選択
回路101からの指示を受けてパス6で提供されるシフ
ト指示にもとづき,シフトクロックをパス21,パス3
1,パス41,…,及びパス51を介してサブユニット
(0)2,サブユニット(1)3,サブユニット(2)
4,…,及びサブユニット(n)5へ供給する。
回路101からの指示を受けてパス6で提供されるシフ
ト指示にもとづき,シフトクロックをパス21,パス3
1,パス41,…,及びパス51を介してサブユニット
(0)2,サブユニット(1)3,サブユニット(2)
4,…,及びサブユニット(n)5へ供給する。
【0026】また比較器103は,サブユニット(0)
2からサブユニット(n)5までの全てのサブユニット
のシフトアウトデータを比較し比較結果をエラー検出回
路104へ出力する。
2からサブユニット(n)5までの全てのサブユニット
のシフトアウトデータを比較し比較結果をエラー検出回
路104へ出力する。
【0027】また,エラー検出回路104は比較器10
3の比較結果とパス9のシフトアウトデータのマスク値
とを受けてエラーを検出し,エラー検出信号をパス10
へ出力する。
3の比較結果とパス9のシフトアウトデータのマスク値
とを受けてエラーを検出し,エラー検出信号をパス10
へ出力する。
【0028】さらに,サブユニット検出回路105は,
サブユニット(0)2からサブユニット(n)5までの
全てのサブユニットのシフトアウトデータと,パス11
を介して提供されるシフトアウトデータの期待値とを受
けて,全てのサブユニットのシフトアウトデータの中か
らパス11の期待値と異なるサブユニットの番号を不具
合なサブユニットを指定するものとしてデータパス12
へ出力する。
サブユニット(0)2からサブユニット(n)5までの
全てのサブユニットのシフトアウトデータと,パス11
を介して提供されるシフトアウトデータの期待値とを受
けて,全てのサブユニットのシフトアウトデータの中か
らパス11の期待値と異なるサブユニットの番号を不具
合なサブユニットを指定するものとしてデータパス12
へ出力する。
【0029】なお,パス21は,制御回路102の出力
するシフトクロックをサブユニット(0)2へ供給し,
パス22はサブユニット(0)2のシフトアウトデータ
を比較器103及びサブユニット検出回路105へ出力
し,同様にパス31は制御回路102の出力するシフト
クロックをサブユニット(1)3へ供給し,パス32は
サブユニット(1)3のシフトアウトデータを比較器1
03及びサブユニット検出回路105へ出力し,パス4
1は制御回路102の出力するシフトクロックをサブユ
ニット(2)4へ供給し,パス42はサブユニット
(2)4のシフトアウトデータを比較器103及びサブ
ユニット検出回路105へ出力し,パス51は制御回路
102の出力するシフトクロックをサブユニット(n)
5へ供給し,パス52はサブユニット(n)5のシフト
アウトデータを比較器103及びサブユニット検出回路
105へ出力する。
するシフトクロックをサブユニット(0)2へ供給し,
パス22はサブユニット(0)2のシフトアウトデータ
を比較器103及びサブユニット検出回路105へ出力
し,同様にパス31は制御回路102の出力するシフト
クロックをサブユニット(1)3へ供給し,パス32は
サブユニット(1)3のシフトアウトデータを比較器1
03及びサブユニット検出回路105へ出力し,パス4
1は制御回路102の出力するシフトクロックをサブユ
ニット(2)4へ供給し,パス42はサブユニット
(2)4のシフトアウトデータを比較器103及びサブ
ユニット検出回路105へ出力し,パス51は制御回路
102の出力するシフトクロックをサブユニット(n)
5へ供給し,パス52はサブユニット(n)5のシフト
アウトデータを比較器103及びサブユニット検出回路
105へ出力する。
【0030】次に,図1の実施例の動作について説明す
る。
る。
【0031】まず,最初に,図外の外部診断装置が,サ
ブユニット(0)2,サブユニットット(1)3,サブ
ユニット(2)4及びサブユニット(n)5のn+1個
のサブユニットを指定するアドレス,例えばALL1
を,データバス7に出力し,パス8上にシフトインデー
タ,パス9上にシフトインデータのマスク値,パス11
にシフトデータの期待値をセットした後,パス6にシフ
ト指示を出力する。
ブユニット(0)2,サブユニットット(1)3,サブ
ユニット(2)4及びサブユニット(n)5のn+1個
のサブユニットを指定するアドレス,例えばALL1
を,データバス7に出力し,パス8上にシフトインデー
タ,パス9上にシフトインデータのマスク値,パス11
にシフトデータの期待値をセットした後,パス6にシフ
ト指示を出力する。
【0032】シフト制御部1Aにおいて,サブユニット
選択回路101は,データパス7上のサブユニットアド
レスのALL1のデータを受けとると,サブユニット
(0)2からサブユニット(n)5までのn+1個の全
てのサブユニットが同時に選択されたことを制御回路1
02へ通知する。
選択回路101は,データパス7上のサブユニットアド
レスのALL1のデータを受けとると,サブユニット
(0)2からサブユニット(n)5までのn+1個の全
てのサブユニットが同時に選択されたことを制御回路1
02へ通知する。
【0033】制御回路102は,サブユニット選択回路
101の通知を受け取ると,パス6で提供されるシフト
指示により,シフトクロックをパス21,パス31,パ
ス41及びパス51を介してサブユニット(0)2,サ
ブユニット(1)3,サブユニット(2)4及びサブユ
ニット(n)5へ供給する。
101の通知を受け取ると,パス6で提供されるシフト
指示により,シフトクロックをパス21,パス31,パ
ス41及びパス51を介してサブユニット(0)2,サ
ブユニット(1)3,サブユニット(2)4及びサブユ
ニット(n)5へ供給する。
【0034】この時,サブユニット(0)2では,パス
21を介して供給されるシフトクロックによってシフト
動作が行なわれ,そのシフトアウトデータがパス22上
に送出される。
21を介して供給されるシフトクロックによってシフト
動作が行なわれ,そのシフトアウトデータがパス22上
に送出される。
【0035】また同様にして,パス31に供給されるシ
フトクロックによってサブユニット(1)3のシフトア
ウトデータがパス32上に送出され,パス41に供給さ
れるシフトクロックによってサブユニット(2)4のシ
フトアウトデータがバス42上に送出され,さらにパス
51に供給されるシフトクロックによってサブユニット
(n)5のシフトアウトデータがパス52上に送出され
る。
フトクロックによってサブユニット(1)3のシフトア
ウトデータがパス32上に送出され,パス41に供給さ
れるシフトクロックによってサブユニット(2)4のシ
フトアウトデータがバス42上に送出され,さらにパス
51に供給されるシフトクロックによってサブユニット
(n)5のシフトアウトデータがパス52上に送出され
る。
【0036】比較器103は,サブユニット(0)2の
シフトアウトデータ,サブユニット(1)3のシフトア
ウトデータ,サブユニット(2)4のシフトアウトデー
タ及びサブユニット(n)5のシフトアウトデータを比
較し,比較結果をエラー検出回路104へ出力する。
シフトアウトデータ,サブユニット(1)3のシフトア
ウトデータ,サブユニット(2)4のシフトアウトデー
タ及びサブユニット(n)5のシフトアウトデータを比
較し,比較結果をエラー検出回路104へ出力する。
【0037】エラー検出回路104は,バス9上のシフ
トインデータのマスク値がオフであり,比較器103の
比較結果が不一致ならばエラー検出を示すべくエラー検
出信号を1としてパス10上に出力する。
トインデータのマスク値がオフであり,比較器103の
比較結果が不一致ならばエラー検出を示すべくエラー検
出信号を1としてパス10上に出力する。
【0038】図外の外部診断装置は,パス10上のエラ
ー検出信号のオン/オフにもとづいて診断でエラーが発
生したか否かを知り,パス10上のデータがオフの場合
にはエラー発生なしとしてパス8上に次のシフトインデ
ータ,パス9上にシフトアウトデータのマスク値,パス
11上にシフトアウトデータの期待値を乗せて,シフト
指示をパス6に出力し診断を実行する。
ー検出信号のオン/オフにもとづいて診断でエラーが発
生したか否かを知り,パス10上のデータがオフの場合
にはエラー発生なしとしてパス8上に次のシフトインデ
ータ,パス9上にシフトアウトデータのマスク値,パス
11上にシフトアウトデータの期待値を乗せて,シフト
指示をパス6に出力し診断を実行する。
【0039】同様にして,サブユニット(0)2,サブ
ユニット(1)3,サブユニット(2)4及びサブユニ
ット(n)5の全てのハードウェアデータを比較器10
3で比較するまでシフトクロックを出した後に,パス1
0のエラー検出信号がオフであれば診断を終了する。
ユニット(1)3,サブユニット(2)4及びサブユニ
ット(n)5の全てのハードウェアデータを比較器10
3で比較するまでシフトクロックを出した後に,パス1
0のエラー検出信号がオフであれば診断を終了する。
【0040】また,シフト制御部1Aにおいて,パス1
0のエラー検出信号がオンとなったとき,サブユニット
検出回路105は,サブユニット(0)2からサブユニ
ット(n)5までのn+1個のシフトアウトデータの中
からパス11上のシフトアウトデータの期待値と異なる
データ,例えばサブユニット(0)2のシフトデータが
期待値と異なる場合にはこれを検出し,そのサブユニッ
ト番号(0)をデータパス12上に出力する。
0のエラー検出信号がオンとなったとき,サブユニット
検出回路105は,サブユニット(0)2からサブユニ
ット(n)5までのn+1個のシフトアウトデータの中
からパス11上のシフトアウトデータの期待値と異なる
データ,例えばサブユニット(0)2のシフトデータが
期待値と異なる場合にはこれを検出し,そのサブユニッ
ト番号(0)をデータパス12上に出力する。
【0041】図外の外部診断装置は,パス12上のサブ
ユニット番号を取り込み,サブユニット(0)でエラー
が発生したことを知る。
ユニット番号を取り込み,サブユニット(0)でエラー
が発生したことを知る。
【0042】こうして,すへてのサブユニットの診断を
同時処理することができる。
同時処理することができる。
【0043】
【発明の効果】以上説明したように本発明は,予め定め
られたサブユニットアドレスが情報処理装置の全てのサ
ブユニットに与えられ,これらサブユニットに同時にシ
フトクロックを供給し,このシフトクロックによる全て
のサブユニットのシフトアウトデータの比較結果及び外
部診断装置からの比較結果のマスク指示にもとづいてエ
ラーの検出し,外部診断装置へエラーを通知することに
より,情報処理装置内の全てのサブユニットの診断を同
時に実行することができ,情報処理装置の診断を高速化
できる効果がある。
られたサブユニットアドレスが情報処理装置の全てのサ
ブユニットに与えられ,これらサブユニットに同時にシ
フトクロックを供給し,このシフトクロックによる全て
のサブユニットのシフトアウトデータの比較結果及び外
部診断装置からの比較結果のマスク指示にもとづいてエ
ラーの検出し,外部診断装置へエラーを通知することに
より,情報処理装置内の全てのサブユニットの診断を同
時に実行することができ,情報処理装置の診断を高速化
できる効果がある。
【0044】また,外部診断装置からシフトアウトデー
タの期待値を受けて,全てのシフトアウトデータの中か
らデータの値が期待値と異なるサブユニットを検出する
ことにより,シフトアウトデータの値が期待値と異なる
サブユニットを検出して,比較結果が不一致の場合に障
害サブユニットを特定することができる効果がある。
タの期待値を受けて,全てのシフトアウトデータの中か
らデータの値が期待値と異なるサブユニットを検出する
ことにより,シフトアウトデータの値が期待値と異なる
サブユニットを検出して,比較結果が不一致の場合に障
害サブユニットを特定することができる効果がある。
【0045】さらに,診断時間を短縮できることによ
り,保守時間内に他の保守項目を実施する時間や,他の
装置との接続確認を実施する時間が長くとれ,保守時間
に実施する保守項目が増すことで,システムの保守信頼
性を著しく高めることができるという効果がある。
り,保守時間内に他の保守項目を実施する時間や,他の
装置との接続確認を実施する時間が長くとれ,保守時間
に実施する保守項目が増すことで,システムの保守信頼
性を著しく高めることができるという効果がある。
【図1】本発明の一実施例の情報処理装置の診断方式の
構成を示すブロック図である。
構成を示すブロック図である。
【図2】従来の情報処理装置の診断方式の構成を示すブ
ロック図である。
ロック図である。
1A,1B シフト制御部 2 サブユニット(0) 3 サブユニット(1) 4 サブユニット(2) 5 サブユニット(n) 6,8,9,10,11,13 パス 7,12 データパス 21,22,31,32,41,42,51,52
パス 101 サブユニット選択回路 102 制御回路 103 比較器 104 エラー検出回路 105 サブユニット検出回路 106 セレクタ
パス 101 サブユニット選択回路 102 制御回路 103 比較器 104 エラー検出回路 105 サブユニット検出回路 106 セレクタ
Claims (1)
- 【請求項1】 装置内に複数のサブユニットを有し,外
部診断装置からサブユニットのアドレスを指定すること
によりサブユニット単位にシフトパスを使ってハードウ
ェアのデータを読出し書込み可能であり,かつ前記サブ
ユニットの全てが同じハードウェアから構成されている
情報処理装置の前記サブユニットの不具合の有無を診断
する情報処理装置の診断方式において,外部診断装置か
らシフト動作を実行する少なくとも1つのサブユニット
を指定するサブユニットアドレスを受けてシフト動作を
実行するサブユニット全数を対象として指定することを
可能とするサブユニット選択手段と,外部診断装置から
のシフト指示を受けて前記サブユニット選択手段で指定
されたサブユニットへシフトクロックを供給する制御手
段と,全てのサブユニットのシフトアウトデータを比較
する比較手段と,前記比較手段の比較結果及び外部診断
装置からの比較結果のマスク指示を受けてエラーを外部
診断装置へ通知するエラー検出手段と,外部診断装置か
らシフトアウトデータの期待値を受けて全てのサブユニ
ットのシフトアウトデータの中からデータの値が前記期
待値と異なるサブユニットを検出するサブユニット検出
手段とを有し,全てのサブユニットを指定するように予
め定められたサブユニットアドレスを前記サブユニット
選択手段で受け全てのサブユニットへ前記制御手段が同
時にシフトクロックを供給することにより全てのサブユ
ニットへ外部診断装置から与えられるシフトインデータ
を書き込み,シフトアウトデータを前記比較手段及び前
記サブユニット検出手段に読みだすことにより,前記比
較手段でシフトアウトデータの比較をすると同時に前記
サブユニット検出手段で前記期待値と異なるシフトアウ
トデータを持つサブユニットを検出して比較不一致時に
障害サブユニットを検出することを特徴とする情報処理
装置の診断方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4247005A JPH06208479A (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | 情報処理装置の診断方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4247005A JPH06208479A (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | 情報処理装置の診断方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06208479A true JPH06208479A (ja) | 1994-07-26 |
Family
ID=17156971
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4247005A Withdrawn JPH06208479A (ja) | 1992-09-17 | 1992-09-17 | 情報処理装置の診断方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06208479A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008053709A1 (fr) * | 2006-11-02 | 2008-05-08 | Nec Corporation | Dispositif et procédé de test de sélection de circuit intégré semi-conducteur |
-
1992
- 1992-09-17 JP JP4247005A patent/JPH06208479A/ja not_active Withdrawn
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2008053709A1 (fr) * | 2006-11-02 | 2008-05-08 | Nec Corporation | Dispositif et procédé de test de sélection de circuit intégré semi-conducteur |
| US8301936B2 (en) | 2006-11-02 | 2012-10-30 | Nec Corporation | Apparatus and method for performing a screening test of semiconductor integrated circuits |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
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