JPH0622964U - コンタクトプローブ - Google Patents
コンタクトプローブInfo
- Publication number
- JPH0622964U JPH0622964U JP2962492U JP2962492U JPH0622964U JP H0622964 U JPH0622964 U JP H0622964U JP 2962492 U JP2962492 U JP 2962492U JP 2962492 U JP2962492 U JP 2962492U JP H0622964 U JPH0622964 U JP H0622964U
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- barrel
- socket
- contact probe
- plunger
- probe
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- Pending
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- Measuring Leads Or Probes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】回路検査用コンタクトプローブにおけるプラン
ジャトップの垂直精度の向上をはかり、検知誤差を少な
くすることと、取扱いの簡便化をはかる。 【構成】導電性バレル3を中空筒状のソケット4に嵌挿
保持したコンタクトプローブにおいて、前記ソケット4
の開口端近傍の内周に、前記バレル3の外周に当接する
内径を持ったリング状の突起部5を備えたことで、圧接
操作時にバレル3の振れ止めが可能でプランジャトップ
11 の垂直精度を大巾に向上させて、プローブの圧接抵
抗も小さく、より高い性能が得られ、ファインピッチ化
とパターンの微細化とにも容易に対応できる。
ジャトップの垂直精度の向上をはかり、検知誤差を少な
くすることと、取扱いの簡便化をはかる。 【構成】導電性バレル3を中空筒状のソケット4に嵌挿
保持したコンタクトプローブにおいて、前記ソケット4
の開口端近傍の内周に、前記バレル3の外周に当接する
内径を持ったリング状の突起部5を備えたことで、圧接
操作時にバレル3の振れ止めが可能でプランジャトップ
11 の垂直精度を大巾に向上させて、プローブの圧接抵
抗も小さく、より高い性能が得られ、ファインピッチ化
とパターンの微細化とにも容易に対応できる。
Description
【0001】
本考案は、ICチップ等に圧接させて電気的接続を得て、該回路網の断線、シ ョートや集積回路網の特定部分だけの抵抗値を測定したり、その他デバイスの有 無や装着方向等を検査するに適したコンタクトプローブに関するものである。
【0002】
従来のコンタクトプローブは、図4に示すようにコイルスプリングaと、この スプリングaにより押圧されるプランジャbとをバレルcに収納し、該バレルc をソケットdに嵌装したものが用いられている。そして、このソケットdの内周 部にカシメによって突設形成したダボeで、前記バレルcを嵌挿保持してあるが 、このバレルcをソケットdに組込みやすくするため、ソケットの内径とバレル の外径には0.05〜0.1mm程度のクリアランスを設けてある。
【0003】
ところが、この種のプローブにおいては、バレル外径とソケット内径とに僅か な隙間があると、ソケットにバレルを挿入してタボで保持しても、わずかな傾斜 ができてプランジャが垂直方向に作動せず、振れて基板上にある検査すべきポイ ントからプランジャの先端のプランジャトップが外れてしまって、精度上問題が あり、しかもピッチも大きなパターンしか検査できなくなって微細化されたパタ ーンには対応できない欠点があった。 本考案は、これら従来の欠点を適確に排除しようとするもので、圧接操作時に バレルの振れ止めが可能で、プランジャトップの垂直精度を大巾に向上させて、 プローブの圧接抵抗も小さく、より高い性能が得られ、ファインピッチ化とパタ ーンの微細化とにも容易に対応できるコンタクトプローブを構成簡単で安価な形 態で提供しようとするものである。
【0004】
【課題を解決するための手段】 本考案は、導電性プランジャがスプリングで一方向に付勢されて摺動自在に内 装されている導電性バレルを、中空筒状のソケットに嵌挿保持したコンタクトプ ローブにおいて、前記ソケットの開口端近傍の内周に、前記バレルの外周に当接 する内径を持ったリング状の突起部を備えたことを特徴とするコンタクトプロー ブである。
【0005】
導電性プランジャ1は、導電性バレル3内のスプリング2により伸縮自在に保 持されており、検査ポイントへの接触はプランジャトップ11 で行い、その圧力 やストロークはスプリング2によるものであって、しかもバレル3はソケット4 の開口端近傍にあるリング状突部5で、バレル3の外周壁に当接保持されていて 、芯狂いなく支持されていて、プランジャトップ1が検査ポイントから外れるこ となく正確にタッチでき、極めて高い垂直精度を維持し、低抵抗値でも精度よく 測定でき、回路網の断線やショートなどの検査も簡便に行え、しかもスプリング のバネ荷重も大巾に小さくできるので、回路基板の撓みを小さくできるほか、マ ルチピン化にも容易に適応できるものである。
【0006】
本考案の実施例を図1及び図2の例で説明すると、プランジャトップ11 のあ る導電性プランジャ1が、スプリング2で一方向に付勢されて摺動自在に内装さ れている導電性バレル3を、中空筒状のソケット4に嵌挿保持したコンタクトプ ローブであって、前記ソケット4の開口端近傍の内周に、前記バレル3の外周に 当接する内径を持ったリング状の突起部5を備えてコンタクトプローブとしてあ る。
【0007】 この場合、前記突起部5が、断面円弧状または三角状の山形の形状でパイプ状 ソケット4の外周からローラカシメで内方に突出される突起部であって、ソケッ ト開口端近傍位置と、この位置から離れた軸方向中間位置とに間隔をあけて配備 されている。
【0008】 そして、前記ソケット4には、その内周壁にダボ6或いはリング状突部と、バ レル3の後端を保持するストッパ7とを突設してあって、前記ソケット4のリン グ状突起部5で、バレル3の外径とソケット4の内径とにクリアランスを可及的 に少なくして垂直精度を向上させてあり、かつソケット4の外周にフランジ8を 設けて、コンタクトプローブのボードへの設置に便ならしめてある。
【0009】 図3の実施例では、ソケット4をパイプ加工でリング状の突起部5が、ソケッ ト4の先端開口近傍と、ソケット4の奥側でバレル3の後端を支承する位置とに 設けられていて、高い垂直精度を維持したものであって、プランジャ1には末端 にピストン部12 を設けてスプリング受座とし、プランジャ1の先端のプランジ ャトップ11 が芯狂いしないように摺動し、回路基板上のポイントの接触を精確 に行えるように考慮されている。
【0010】 なお、ソケット4をバルジ加工してリンク状の突起部5を内周壁に膨出成形し たり、ソケット外周から加工ローラで押すか、駒などで叩打して、凹条51 を形 成してそれに連続して内周に膨出するリング状突起部5を突設したものを用いる のがよい。
【0011】 また、前記ソケット4に嵌挿される導電性バレル3は、必要に応じ、接触圧力 やストロークを変えたい時は、ソケット4からバレルを引き抜いて、他の所望圧 力等を有するバレル3に差し換え交換すればよい。また、プランジャトップ11 の違ったプランジャ1の交換は、ソケット4からバレル3を取り出したのち、プ ランジャ1を抜き出して取り換えてもよい。
【0012】
本考案は、導電性バレルを中空筒状のソケットに嵌挿保持したコンタクトプロ ーブにおいて、前記ソケットの開口端近傍の内周に前記バレルの外周に当接する 内径を持ったリング状の突起部を備えたことにより、コンタクトの圧接操作時に バレルの振れ止めが可能で、プランジャトップの垂直精度を大巾に向上させて、 プローブの圧接抵抗も小さく、より高い性能が得られ、ファインピッチ化とパタ ーンの微細化とにも容易に対応できる。
【図1】本考案の実施例を示す縦断面図である。
【図2】実施例の接触子の拡大縦断面図である。
【図3】他の実施例の拡大縦断面図である。
【図4】従来例の縦断面図である。
1 プランジャ 11 プランジャトップ 2 スプリング 3 バレル 4 ソケット 5 突起部
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)考案者 丸田 寛 長野県上田市大字前山1番地 オルガン針 株式会社内
Claims (2)
- 【請求項1】 導電性プランジャがスプリングで一方向
に付勢されて摺動自在に内装されている導電性バレル
を、中空筒状のソケットに嵌挿保持したコンタクトプロ
ーブにおいて、前記ソケットの開口端近傍の内周に、前
記バレルの外周に当接する内径を持ったリング状の突起
部を備えたことを特徴とするコンタクトプローブ。 - 【請求項2】 前記突起部が、ソケットの外周からロー
ラカシメで内方に突出される突起部であって、ソケット
開口端近傍位置に設けた突起部から離れたバレルの軸方
向中間位置に間隔をあけて配備されている請求項1記載
のコンタクトプローブ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2962492U JPH0622964U (ja) | 1992-04-08 | 1992-04-08 | コンタクトプローブ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2962492U JPH0622964U (ja) | 1992-04-08 | 1992-04-08 | コンタクトプローブ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0622964U true JPH0622964U (ja) | 1994-03-25 |
Family
ID=12281248
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2962492U Pending JPH0622964U (ja) | 1992-04-08 | 1992-04-08 | コンタクトプローブ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0622964U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20220136686A (ko) * | 2021-04-01 | 2022-10-11 | (주)티에스이 | 테스트 소켓용 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6171664A (ja) * | 1984-09-14 | 1986-04-12 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法 |
| JPS6294688A (ja) * | 1985-10-18 | 1987-05-01 | 株式会社フジタ | 大深度竪坑構築法 |
-
1992
- 1992-04-08 JP JP2962492U patent/JPH0622964U/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6171664A (ja) * | 1984-09-14 | 1986-04-12 | Toshiba Corp | 半導体装置の製造方法 |
| JPS6294688A (ja) * | 1985-10-18 | 1987-05-01 | 株式会社フジタ | 大深度竪坑構築法 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR20220136686A (ko) * | 2021-04-01 | 2022-10-11 | (주)티에스이 | 테스트 소켓용 핀 및 이를 포함하는 테스트 소켓 |
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