JPH06230084A - シリアルパターン発生器 - Google Patents

シリアルパターン発生器

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Publication number
JPH06230084A
JPH06230084A JP5013216A JP1321693A JPH06230084A JP H06230084 A JPH06230084 A JP H06230084A JP 5013216 A JP5013216 A JP 5013216A JP 1321693 A JP1321693 A JP 1321693A JP H06230084 A JPH06230084 A JP H06230084A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
data
storage unit
parallel
serial
bit length
Prior art date
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Pending
Application number
JP5013216A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenji Uda
憲司 宇田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Yokogawa Electric Corp
Original Assignee
Yokogawa Electric Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Yokogawa Electric Corp filed Critical Yokogawa Electric Corp
Priority to JP5013216A priority Critical patent/JPH06230084A/ja
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 シリアルデータをパラレルデータとして記憶
部への書き込みが容易で、異なるビット長のパラレルデ
ータに対応してシリアルデータを送出することができる
シリアルパターン発生器を実現することを目的にする。 【構成】 本発明は、異なるビット長のパラレルデータ
を記憶する第1の記憶部と、この第1の記憶部に記憶さ
れているパラレルデータに対応するビット長データを記
憶する第2の記憶部と、第1の記憶部から読みだされた
パラレルデータをシリアルデータに変換し出力するパラ
レル/シリアル変換部と、第2の記憶部からビット長デ
ータを受け取り、ビット長データに対応する第1の記憶
部に記憶されているパラレルデータを、ビット長に区切
り、パラレル/シリアル変換部の出力する次のデータの
アドレスを第1の記憶部と第2の記憶部とに与えるアド
レス指示部と、を有することを特徴とするものである。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、D/A(デジタル/ア
ナログ)変換機能を含んで構成されるLSIなどの試験
対象の試験を行う試験装置のシリアルパターン発生器に
関し、更に詳しくは、試験対象に与えるデータの発生を
操作性よく行えるようにしたシリアルパターン発生器に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、D/A変換機能を含むLSIの試
験を行うLSIテスタのメモリは、例えば、図3に示す
ようにLSIに与えるデータであるDSP(デジタルシ
グナルプロセッサ)で演算処理されたデータを格納して
いる。図において、メモリは、1つのアドレスに対し8
ビット格納することができる。そして、メモリは、5ビ
ットで1コードのデータを連続的に格納している。この
1コードのデータをD/A変換器の試験のためのデジタ
ルデータとする。これらのデータ群によりD/A変換を
行うと、例えば図4に示すような波形を形成する。ここ
で、×はデジタルデータが波形のどの部分を形成してい
るかを示す。
【0003】上記のようなデータを格納するメモリか
ら、D/A変換機能を有するLSIに被試験信号として
のデータを与える場合、データをパラレルデータからシ
リアルデータへ変換する必要がある。このような場合、
従来はセレクタによりパラレル/シリアル変換を行って
いた。このため、DSPは、出力データをどのようにメ
モリに配置するかを長い時間かけて検討する必要があっ
た。以上の対策として、LSIに送出するデータの1コ
ードのビット長と同一の記憶部を設ける構成が考えられ
る。しかし、LSIに制御データと波形を形成するため
のデジタルデータとを送出するとき、制御データとデジ
タルデータとのビット長が異なる場合があり、上記の対
策がとれないという問題点があった。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明の目的は、シリ
アルデータをパラレルデータとして記憶部への書き込み
が容易で、異なるビット長のパラレルデータに対応して
シリアルデータを送出することができるシリアルパター
ン発生器を実現することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、異なるビット
長のパラレルデータを記憶する第1の記憶部と、この第
1の記憶部に記憶されているパラレルデータに対応する
ビット長データを記憶する第2の記憶部と、前記第1の
記憶部から読みだされたパラレルデータをシリアルデー
タに変換し出力するパラレル/シリアル変換部と、前記
第2の記憶部からビット長データを受け取り、ビット長
データに対応する前記第1の記憶部に記憶されているパ
ラレルデータを、ビット長に区切り、前記パラレル/シ
リアル変換部の出力する次のデータのアドレスを第1の
記憶部と第2の記憶部とに与えるアドレス指示部と、を
有することを特徴とするものである。
【0006】
【作用】このような本発明では、アドレス指示部は、第
1の記憶部の記憶するパラレルデータに対応するビット
長データを記憶する第2の記憶部からビット長データを
読み込む。そして、パラレル/シリアル変換部にシリア
ルデータとして変換を行い送出する第1の記憶部のパラ
レルデータを与えるため、アドレスを第1の記憶部と第
2の記憶部とに与える。
【0007】
【実施例】以下図面を用いて本発明を説明する。図1は
本発明の一実施例を示した構成図である。図において、
1は第1の記憶部で、異なるビット長のパラレルデータ
(あるいはパターンデータともいう)を記憶する。2は
第2の記憶部で、第1の記憶部1に記憶されているパラ
レルデータに対応するビット長データを記憶する。例え
ば、第1の記憶部1と第2の記憶部2のアドレスが0の
内容は、それぞれ16ビットのパラレルデータと、”1
5”とである。アドレスが1の内容は、それそれ4ビッ
トのパラレルデータと、”3”とである。つまり、第1
の記憶部1における1つのアドレスに記憶される有効デ
ータのビット数が、第2の記憶部2における第1の記憶
部1と同じアドレスに記憶される数である。上記の例
で、”15”はビット長”16”を意味し、”3”はビ
ット長”4”を意味する。3はパラレル/シリアル変換
部で、第1の記憶部1から読みだされたパラレルデータ
をシリアルデータに変換し出力する。4はアドレス指示
部で、第2の記憶部2からビット長データを受け取り、
ビット長データに対応する第1の記憶部1に記憶されて
いるパラレルデータを、ビット長に区切る。そして、パ
ラレル/シリアル変換部3の出力する次のデータのアド
レスを第1の記憶部1と第2の記憶部2とに与える。ア
ドレス指示部4において、41はカウンタで、第2の記
憶部2からビット長データを受け取り、ビット長データ
分のダウンカウントを行うとともにパラレル/シリアル
変換部3にカウント値を出力する。そして、カウント値
が”0”のときはカウントクロックを出力する。42は
アドレスジェネレータで、カウンタ41からのカウント
クロックを受け取り、パラレル/シリアル変換部3が出
力する次のデータのアドレスを第1の記憶部1と第2の
記憶部2とに与える。
【0008】このような装置の動作を以下で説明する。
図2は図1の装置の動作を示したタイムチャートであ
る。図において、(a)はクロック、(b)はカウンタ
41のカウント値、(c)はカウンタ41が出力するカ
ウントクロック、(d)は第1の記憶部1と第2の記憶
部2とに与えるアドレスデータ、(e)は第1の記憶部
1から読みだされるパラレルデータであるパターンデー
タ、(f)は発生器が出力するシリアルデータである。
カウンタ41にクロックが入力され、カウント値が”
0”になると、カウントクロックが立ち上がる。そし
て、カウントクロックにより、アドレスジェネレータ4
2は、アドレスを1つ進めて、第1の記憶部1と第2の
記憶部2とに送出する。このとき、アドレスデータをn
(n:整数)になる。第1の記憶部1は、有効データが
4ビットのパターンデータを送出する。第2の記憶部2
は、ビット長データ”3”を送出する。カウンタ41は
次のクロックで、カウント値”3”からカウントを開始
し、カウント値”3”をパラレル/シリアル変換部3に
送出する。パラレル/シリアル変換部3はカウント値”
3”を受け取って、パターンデータの3ビット目のデー
タ”D3”を送出する。そして、次のクロックで、カウ
ンタ41はダウンカウントし、カウント値を”2”とす
る。パラレル/シリアル変換部3はカウント値”2”を
受け取って、パターンデータの2ビット目のデータ”D
2”を送出する。これらの動作をカウント値”1,0”
と行い、カウント値”0”のとき、カウントクロックが
立ち上がる。そして、カウントクロックにより、アドレ
スジェネレータ42は、アドレスを1つ進めて、第1の
記憶部1と第2の記憶部2とに送出する。以上の動作を
繰り返す。このように、異なるビット長のパラレルデー
タに対応するビット長データを記憶する記憶部を設けた
ので、異なるビット長のパラレルデータに対応してシリ
アルデータを送出することができる。
【0009】なお、本発明はこれに限定されるものでは
なく、パラレル/シリアル変換部は、クロックでパラレ
ルデータを順番にシリアルデータとして送出する構成に
してもよい。その場合、アドレス指示部を、パラレル/
シリアル変換部にカウント値を与える代わりに、パラレ
ル/シリアル変換部が次に送出するパラレルデータを読
み込む信号であるロード信号を与える構成にすればよ
い。
【0010】
【発明の効果】本発明によれば、以下のような効果があ
る。異なるビット長のパラレルデータに対応するビット
長データを記憶する記憶部を設けたので、異なるビット
長のパラレルデータに対応してシリアルデータを送出す
ることができる。また、異なるビット長のパラレルデー
タに対応してシリアルデータを送出できるので、記憶部
の1つのアドレスに1つのデータを記憶できる。つま
り、アドレス1つに対して、1つのデータを記憶部に格
納するので、記憶部へのデータの書き込みが容易に行え
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施例を示した構成図である。
【図2】図1の装置の動作を示したタイムチャートであ
る。
【図3】従来の装置のメモリの構成図である。
【図4】D/A変換器による波形図である。
【符号の説明】
1 第1の記憶部 2 第2の記憶部 3 パラレル/シリアル変換部 4 アドレス指示部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 異なるビット長のパラレルデータを記憶
    する第1の記憶部と、 この第1の記憶部に記憶されているパラレルデータに対
    応するビット長データを記憶する第2の記憶部と、 前記第1の記憶部から読みだされたパラレルデータをシ
    リアルデータに変換し出力するパラレル/シリアル変換
    部と、 前記第2の記憶部からビット長データを受け取り、ビッ
    ト長データに対応する前記第1の記憶部に記憶されてい
    るパラレルデータを、ビット長に区切り、前記パラレル
    /シリアル変換部の出力する次のデータのアドレスを第
    1の記憶部と第2の記憶部とに与えるアドレス指示部
    と、を有することを特徴とするシリアルパターン発生
    器。
JP5013216A 1993-01-29 1993-01-29 シリアルパターン発生器 Pending JPH06230084A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5013216A JPH06230084A (ja) 1993-01-29 1993-01-29 シリアルパターン発生器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP5013216A JPH06230084A (ja) 1993-01-29 1993-01-29 シリアルパターン発生器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH06230084A true JPH06230084A (ja) 1994-08-19

Family

ID=11826969

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP5013216A Pending JPH06230084A (ja) 1993-01-29 1993-01-29 シリアルパターン発生器

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JP (1) JPH06230084A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2006022087A1 (ja) * 2004-08-23 2006-03-02 Advantest Corporation 試験装置及び試験方法
JP2011015145A (ja) * 2009-07-01 2011-01-20 Tektronix Internatl Sales Gmbh データ生成装置

Cited By (3)

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US7500148B2 (en) 2004-08-23 2009-03-03 Advantest Corporation Test apparatus and testing method
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