JPH06249746A - 光線路試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 複数試験の並列実行を可能として試験時間の
短縮化を図れる光線路試験装置を提供すること。 【構成】 光線路１を構成する各光ファイバ２に光カプ
ラ４を挿入し、各光カプラ４に複数入・出力の光マトリ
クススイッチ５を介して複数の光試験部６を接続すると
共に、光マトリクススイッチ５及び各光試験部６を制御
し複数試験を時分割処理で実行可能な試験制御部７を設
けているので、複数の光ファイバ２に対して試験を並列
して実行でき、試験時間の大幅短縮を実現できる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】本発明は、光通信分野に属する光
ファイバの試験装置に関し、特に複数の光ファイバで構
成された光線路に有用な試験装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】光通信方式の適用拡大に伴ない、複数の
光ファイバで構成された光線路に対する試験装置の確立
が必要とされ検討が進められている。

【０００３】図３はこの種従来の試験装置を示すもの
で、図において２１は複数の光ファイバ２２で構成され
た光線路、２３は各光ファイバ２２の両端に設けられた
発光または受光の信号伝送部、２４は各光ファイバ２２
に挿入された光カプラ、２５は入・出力が１対Ｎ（Ｎは
光ファイバ数）の光スイッチ、２６は光パルス試験器等
から成る光試験部、２７は光スイッチ２５及び光試験部
２６の制御を行う試験制御部、２８は試験制御部２７と
光スイッチ２５及びパルス試験器２６を結ぶ制御線、２
９はキーボード及びＣＲＴ等を備えた遠隔操作部、３０
は遠隔操作部２９と試験制御部２７を結ぶ情報転送系で
ある。

【０００４】上述の試験装置は以下のように動作し所定
の光ファイバ２２の劣化状態の監視や故障位置の探索等
を行う。即ち、遠隔操作部２９で試験指示が入力され、
情報転送系３０を通じて試験制御部２７に指示情報が転
送されると、試験制御部２７で指示情報から試験実行に
必要な情報が読み出され、制御線２８を通じて光スイッ
チ２５及び光試験部２６が駆動制御され、所定の光ファ
イバ２２に試験光が入射されて試験が実行される。試験
終了後、試験データは光試験部２６から制御線２８を通
じて試験制御部２７に転送され、さらに情報転送系３０
を通じて遠隔操作部２７に転送され試験結果が表示され
る。

【０００５】

【発明が解決しようとする課題】しかし、上記従来の試
験装置では、試験制御部２７のソフトウェアが１つの処
理（実験）しか実行できず、また光スイッチ２５及び光
試験部２６を複数の光ファイバ２２に対し並列して制御
できないため、１つの光ファイバ２２に試験が実行され
ているときはその試験が終了するまで他の光ファイバ２
２に試験を行えうことができず、複数の試験依頼等があ
る場合には試験実行に相当の時間が必要とする欠点があ
った。

【０００６】本発明は上記事情に鑑みてなされたもの
で、その目的とするところは、複数試験の並列実行を可
能として試験時間の短縮化を図れる光線路試験装置を提
供することにある。

【０００７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明では、複数の光ファイバで構成された光線路
の試験を行う光線路試験装置において、各光ファイバに
光カプラを挿入し、各光カプラに複数入・出力の光マト
リクススイッチを介して複数の光試験手段を接続すると
共に、光マトリクススイッチ及び各光試験手段を制御し
複数試験を時分割処理で実行可能な試験制御手段を設け
ている。

【０００８】

【作用】本発明によれば、複数入・出力の光マトリクス
スイッチの切替制御によって光ファイバと光試験部との
相互接続を任意に行うことができ、また各光試験部を動
作させ時分割処理により複数試験を並列して実行するこ
とができる。

【０００９】

【実施例】以下、図１乃至図３を参照して本発明の一実
施例を詳細に説明する。図１は光線路試験装置の全体構
成を示すもので、同図において１は複数の光ファイバ２
で構成された光線路、３は各光ファイバ２の両端に設け
られた発光または受光の信号伝送部、４は各光ファイバ
２に挿入された光カプラであり、これら構成は従来のも
のと変わりない。

【００１０】５は入・出力がＭ対Ｎ（Ｍは光試験機部
数，Ｎは光ファイバ数）の光マトリクススイッチ、６は
パルス試験器，試験光光源，受光器等から成る複数の光
試験部であり、各光試験部６は光マトリクススイッチ５
を介して上記の光カプラ４に接続されている。

【００１１】７は光マトリクススイッチ５及び光試験部
６の制御を行う試験制御部、８は試験制御部７と光マト
リクススイッチ５及び光試験部６を結ぶ制御線、９は遠
隔地から試験指示を行う遠隔操作部でキーボード及びＣ
ＲＴ等を備えている。１０は遠隔操作部９と試験制御部
７を結ぶ情報転送系である。

【００１２】上記試験制御部７は時分割処理（タイムシ
ュアリング方式）により並列して複数試験を実行可能な
ＣＰＵを備えたコンピュータから成り、キーボード，Ｃ
ＲＴ及びハードディスク等を備え、モジュール化された
ソフトウェア（プログラム）に基づいて複数試験の並列
実行とデータ管理等を行う。

【００１３】ここで試験制御部７のソフトウェア構成を
図２を参照して説明する。同図において、７ａはアクセ
ス管理モジュール、７ｂは遠隔アクセス管理モジュー
ル、７ｃはコマンド実行モジュール、７ｄは試験実行管
理モジュール、７ｅは試験部制御モジュール、７ｆはス
イッチ制御モジュール、７ｇは共通モジュールである。
図中の矢印はモジュール間通信で全てメッセージ交換用
共有メモリを介してメッセージの交換を行う。また、図
中の太線はモジュールの呼び出しである。

【００１４】アクセス管理モジュール７ａは試験制御部
８からの試験指示の受け付けや試験結果の出力を管理す
るもので、遠隔アクセス管理モジュール７ｂは遠隔操作
部９からの試験指示の受け付けや試験結果の出力を管理
する。コマンド実行モジュール７ｃは試験指示側と試験
実行側に試験開始，実行，終了のメッセージを送出する
もので、試験指示側と試験実行側とのインターフェース
機能を有する。試験実行管理モジュール７ｄは指示内容
に応じた試験の実行を管理するものである。試験部制御
モジュール７ｅは各光試験部６の条件設定や動作を制御
をするもので、スイッチ制御モジュール７ｆは光マトリ
クススイッチ５の切り替えを制御する。共通モジュール
７ｇは試験条件，手順や試験データ等を管理するもの
で、各モジュールからの呼び出しにより実行される。

【００１５】以下に、上述の試験装置で光線路１の一光
ファイバ２に対し試験を実行する場合の動作例を説明す
る。

【００１６】試験制御部７または遠隔操作部９のキーボ
ードに試験指示が入力されると、アクセス管理手段７ａ
または遠隔アクセス管理手段７ｂからコマンド実行モジ
ュール７ｃに試験開始メッセージが送信され、コマンド
実行モジュール７ｃから試験実行管理モジュール７ｄに
同メッセージが送信される。

【００１７】試験開始メッセージを受信した試験実行管
理モジュール７ｄは共通モジュール７ｇを呼び出して試
験に必要な情報（試験条件，手順等）を準備し、試験部
制御モジュール７ｅに試験準備メッセージを送信し、ま
たスイッチ制御モジュール７ｆにスイッチ動作メッセー
ジを送信する。

【００１８】試験準備メッセージを受信した試験部制御
モジュール７ｅは各試験部６の試験条件の設定を行い、
試験準備が終了したところで試験実行管理モジュール７
ｄに準備終了メッセージを送信する。また、スイッチ動
作メッセージを受信したスイッチ制御モジュール７ｆは
光マトリクススイッチ５を切り替えて試験対象となる光
ファイバ２と所定の光試験部６とを接続し、切替動作を
終了したところで試験実行管理モジュール７ｄに動作終
了メッセージを送信する。

【００１９】準備終了・動作終了メッセージを受信した
試験管理モジュール７ｄは試験部制御モジュール７ｅに
試験開始メッセージを送信し、これにより試験対象とな
る光ファイバ２に試験光が入射されて試験が実行され
る。

【００２０】試験終了後、試験部制御モジュール７ｅは
試験データを光試験部６から取り出しこれをメモリに書
き込むと共に、試験実行管理モジュール７ｄに試験終了
メッセージを送信し試験終了を知らせる。

【００２１】試験終了メッセージを受信した試験実行管
理モジュール７ｄは共通モジュール７ｇからデータ保存
のためのモジュールを呼び出し、該モジュールを用いて
メモリ上の試験データをハードディスクに保存した後、
コマンド実行モジュール７ｃに試験終了メッセージを送
信する。試験終了メッセージを受信したコマンド実行モ
ジュールは終了処理をし、試験依頼のあったアクセス管
理モジュール７ａまたは遠隔アクセス管理モジュール７
ｂに試験終了メッセージを送信する。

【００２２】試験終了メッセージを受信したアクセス管
理モジュール７ａまたは遠隔アクセス管理モジュール７
ｂは、これを試験制御部７または遠隔操作部９のＣＲＴ
に出力してオペレータに試験終了を知らせる。試験デー
タは試験終了メッセージと共にＣＲＴに出力する他、検
索指示により必要に応じてハードディスクから読み出し
表示することもできる。

【００２３】上記の動作説明から理解できるように、一
光ファイバ２の試験が実行中でも役割を終了した各モジ
ュールはその時点でアイドリング状態もしくは次の試験
に対応した動作を開始するので、新たな試験指示を入力
すれば該モジュールを起動させて光試験部６の台数分の
試験を並列実行することができる。

【００２４】また、全ての光試験部６が動作している最
中に緊急の試験が必要になった場合でも、該試験に対応
したモジュールのみを中断させることで同試験を実行す
ることができる。同様に、各種試験が実行中であっても
試験データの検索やデータの登録等の各種データの管理
業務を行うことも可能である。

【００２５】さらに、ソフトウェアがモジュール化され
ているので、光マトリクススイッチ５や光試験部６の機
種変更や追加があった場合でも、モジュール単位の変
更，追加だけでこれに対応できる。

【００２６】

【発明の効果】以上詳述したように、本発明によれば、
光線路を構成する複数の光ファイバに対し試験を並列し
て実行でき、試験時間の大幅短縮を実現できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る光線路試験装置の構成図

【図２】本発明に係る試験制御部のソフトウェア構成図

【図３】従来例を示す光線路試験装置の構成図

【符号の説明】

１…光線路、２…光ファイバ、３…信号伝送部、４…光
カプラ、５…光マトリクススイッチ、６…光試験部、７
…試験制御部、７ａ…アクセス管理モジュール、７ｂ…
遠隔アクセス管理モジュール、７ｃ…コマンド実行モジ
ュール、７ｄ…試験実行モジュール、７ｅ…試験部制御
モジュール、７ｆ…スイッチ制御モジュール、７ｇ…共
通モジュール、９…遠隔操作部。

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 小山田 弥平 東京都千代田区内幸町１丁目１番６号 日 本電信電話株式会社内

Claims (3)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 複数の光ファイバで構成された光線路の
   試験を行う光線路試験装置において、 各光ファイバに光カプラを挿入し、 各光カプラに複数入・出力の光マトリクススイッチを介
   して複数の光試験手段を接続すると共に、 光マトリクススイッチ及び各光試験手段を制御し複数試
   験を時分割処理で実行可能な試験制御手段を設けた、 ことを特徴とする光線路試験装置。
2. 【請求項２】 試験制御手段が、試験指示の受け付け等
   を管理するアクセス管理モジュールと、試験指示側と試
   験実行側とのインターフェース機能を有するコマンド実
   行モジュールと、指示内容に応じた試験の実行を管理す
   る試験実行管理モジュールと、各光試験手段の条件設定
   や動作を制御する試験部制御モジュールと、光マトリク
   ススイッチの切り替えを制御するスイッチ制御モジュー
   ルとを具備する、 ことを特徴とする請求項１記載の光線路試験装置。
3. 【請求項３】 試験制御手段が、モジュール間のメッセ
   ージ交換を行うメッセージ交換用供給メモリを有する、 ことを特徴とする請求項２記載の光線路試験装置。