JPH0625017Y2 - Lsiパッケ−ジのリ−ド構造 - Google Patents

Lsiパッケ−ジのリ−ド構造

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JPH0625017Y2
JPH0625017Y2 JP1987107963U JP10796387U JPH0625017Y2 JP H0625017 Y2 JPH0625017 Y2 JP H0625017Y2 JP 1987107963 U JP1987107963 U JP 1987107963U JP 10796387 U JP10796387 U JP 10796387U JP H0625017 Y2 JPH0625017 Y2 JP H0625017Y2
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JP
Japan
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lead
plating
lsi package
solder
pad
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JP1987107963U
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JPS6413152U (ja
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光男 高本
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NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Publication date
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  • Structures For Mounting Electric Components On Printed Circuit Boards (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Description

【考案の詳細な説明】 産業上の利用分野 本考案は通信機,電子計算機等に使用されるLSIパッ
ケージの実装に関し、特にリード構造に関する。
従来の技術 装置の小型化に伴う電子部品の軽薄短小化と高く密度実
装への対応として、第3図に示すように電子回路等を構
成するプリント基板1の表面へLSIパッケージ2′を
直接接続する実装構造(以下表面実装という)が採用さ
れ、第5図に示すようにLSIパッケジ2′の基板3か
ら突出したリード4′をプリント基板1のパッド5の表
面に突き当て、半田6′にて接続して、LSIパッケー
ジ2′をプリント基板1上に実装している。
第4図にリード構造の詳細を示しており、リード4′は
素材7の表面全体に第1めっき8,その上に第2めっき
9′を行なっている。普通、素材7は銅合金材料が使用
され、第1めっきは素材からの銅の拡散を防止するため
に施するもので、ニッケルめっきが行なわれる。次に第
2めっきは半田付け性向上のために施すもので、金めっ
き又は半田めっきが行なわれている。また、半田付け表
面実装であるため、普通クリーム半田がパッド5上に塗
布され、その上にLSIパッケージ2′のリード4′を
接触させ、ペーパーリフロソルダリング(以下VPSと
いう)等の高温雰囲気で行なわれる。
考案が解決しようとする問題点 VPSでの半田付けの場合、リード4′の熱容量がパッ
ド5の熱容量に比較して小さいため、リード4′の方が
温度上昇が速くなる。
上述した従来のLSIパッケージのリード構造は、リー
ドの前面に第2めっきを施していること、及びリードの
方が温度上昇が速いことから、半田付けの仕上り形状は
第5図6′のように半田がリード4′に取られ、パッド
5の部分に半田が残らないという状態になり、半田付け
不良が多発し、信頼性を損なうという欠点がある。
問題点を解決するための手段 上述の問題点に鑑み、本願考案のLSIパッケージのリ
ード構造は、プリント基板上に表面実装されるLSIパ
ッケージのパッケージ基板から突出したリードの構造に
おいて、このリードの全表面に施された、半田付け性の
悪い第1のめっき層と、この第1のめっき層上のリード
先端部のみに施され、実装時には前記プリント基板上の
パッドに半田付けされる、半田付け性の良い第2のめっ
き層とを有する。
作用 上述したように従来のリード構造では、半田付けの仕上
りが第5図のようになって、パッド5に半田がよくのら
ない欠点がある。本考案のリード構造は、半田付けの際
熱容量の小さいリードがまず温度上昇するが、半田は半
田付け性のよいめっきの施された先端部で融け、この部
分にとどまる。その後熱容量の大きいパッド5の部分が
温度上昇するに及んで、半田はパッド5上で融け広が
り、リードとパッドは半田で完全に接続される。
実施例 次に本考案の実施例について図面を参照して説明する。
第1図は本考案の実施例の縦断面図である。リード4
は、素材7の全表面に半田付け性の悪い材料で第1めっ
き8を施し、その上に半田付け性の良い材料で第2めっ
き9を施して作られる。ただし第2めっき9は図に示す
ようにリードの先端部mのみに施される。普通、素材7
は銅合金材料が使用され、第1めっき8は素材からの銅
の拡散を防止するためにニッケルめっきが行なわれる。
次に第2めっき9は半田付け性向上のため金めっき又は
半田めっきが行なわれている。
このような表面処理が行なわれたリードをVPSで半田
付けした場合の半田付け状態を第2図に示す。パッド5
上に塗布したクリーム半田はVPSの高温雰囲気内で溶
融し、第1に温度上昇の速いリード側に引っぱられる。
しかし、溶融した半田は寸法lの所で止まる。寸法lは
第1図の寸法mに相当しており、第1めっき8はニッケ
ルめっきのため半田付け性が悪く半田が付きにくいため
である。次に溶融した半田はパッド側の温度が最適にな
ると、パッド側にも拡がり、良好な半田6のフィレット
が出来る。
考案の効果 以上に説明したように、本考案によれば、LSIパッケ
ージのリードの表面処理を素材の前面に第1めっきであ
る半田の付きにくいニッケルめっきを施し、次にその上
にリードの先端部のみ第2めっきである半田の付きやす
い金めっき又は半田めっきを施すことにより、表面実装
におけるVPS半田付けの場合に、リードとパッド間に
温度上昇の差があったとしても良好な半田付けが出来、
半田接合部の長期的信頼性を向上させる効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の実施例の縦断面図、第2図は本考案品
の使用状況を示す側面図、第3図は表面実装の全体を示
す斜視図、第4図は従来のリードの縦断面図、第5図は
その使用状況の側面図である。 1……プリント基板、2・2′……LSIパッケージ、
3……パッケージ基板、4,4′……リード、5……パ
ッド、6,6′……半田、7……素材、8……第1めっ
き、9,9′……第2めっき。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 【請求項1】プリント基板上に表面実装されるLSIパ
    ッケージのパッケージ基板から突出したリードの構造に
    おいて、 このリードの全表面に施された、半田付け性の悪い第1
    のめっき層と、 この第1のめっき層上のリード先端部のみに施され、実
    装時には前記プリント基板上のパッドに半田付けされ
    る、半田付け性の良い第2のめっき層とを有することを
    特徴とするLSIパッケージのリード構造。
JP1987107963U 1987-07-14 1987-07-14 Lsiパッケ−ジのリ−ド構造 Expired - Lifetime JPH0625017Y2 (ja)

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JPS6413152U JPS6413152U (ja) 1989-01-24
JPH0625017Y2 true JPH0625017Y2 (ja) 1994-06-29

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101098095B1 (ko) * 2004-05-14 2011-12-26 타이코 일렉트로닉스 저팬 지.케이. 기판 실장형 전기 커넥터

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JPS60154545A (ja) * 1984-01-23 1985-08-14 Nec Corp 半導体装置

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