JPH06282993A - 卓越したシグナルソースを有するプログラム可能なメモリ用センス増幅器 - Google Patents

卓越したシグナルソースを有するプログラム可能なメモリ用センス増幅器

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JPH06282993A
JPH06282993A JP21857892A JP21857892A JPH06282993A JP H06282993 A JPH06282993 A JP H06282993A JP 21857892 A JP21857892 A JP 21857892A JP 21857892 A JP21857892 A JP 21857892A JP H06282993 A JPH06282993 A JP H06282993A
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circuit
sense
signal
output node
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JP21857892A
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Luigi Pascucci
ルイジ・パスクッチ
Marco Olivo
マルコ・オリヴォ
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STMicroelectronics SRL
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STMicroelectronics SRL
SGS Thomson Microelectronics SRL
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    • G11C7/065Differential amplifiers of latching type
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
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    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/26Sensing or reading circuits; Data output circuits
    • G11C16/28Sensing or reading circuits; Data output circuits using differential sensing or reference cells, e.g. dummy cells

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Abstract

(57)【要約】 【目的】 マトリクスラインとビットライン間のシグナ
ルのアンバランスを識別し、読出サイクルの識別フェー
ズ間の入力差動シグナルのレベルを増加させて高感度を
与えることのできるセンス回路と、該回路を使用する識
別方法、更に必要に応じて反オーバーシュート回路を提
供する。 【構成】 第1のコントロールシグナル(φEN)によ
り駆動され、コントロール回路のそれぞれの出力ノード
(CM及びCR)と回路のグラウンドレール間に接続さ
れ、前記シグナルのスタンバイ状態へ戻る遷移後に前記
出力ノードをグラウンドポテンシャルにすることのでき
るトランジスタ(TBM及びTBR)と、前記コントロール
回路の出力ノードを通して存在する差動シグナルのレプ
リカを合計して差動増幅器の入力を通して存在する差動
シグナルとするための前記出力ノードと、前記センス差
動増幅器の入力トランジスタ対の一方及び他方のソース
ノード間の接続を含むセンス増幅器回路。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、センス増幅器を使用す
る差動センスシステムに従って、例えばROM又はEP
ROMタイプメモリのようなプログラムできるスタチッ
クメモリのセルに記憶された情報を読み出すための回路
に関する。
【0002】
【従来技術】集積半導体デバイスの充填密度が増加する
につれ、スタチックメモリアレイの単一セルのサイズの
減少、それに伴う動作電流レベルの減少及び集積構造の
パラシチックな電気的因子の結果的な大きな影響が、高
速を確保したまま卓越した正確性と信頼性を有する読出
回路の使用を課している。差動センス増幅器の使用は、
コモンモードの寄与として「プロセスの広がり」、温度
及びサプライ電圧の変動に起因する効果を補償する。更
に変調電流オフセット型及び電流アンバランス型センス
増幅器はサプライ電圧が達することのある最大電圧から
センス挙動を自由にすることを許容し、更に択一的な負
荷アンバランスシステムに対してセンス増幅器を形成す
るトランジスタのディメンジョンの決定を簡略にする。
【0003】一般に高利得差動センス増幅器の出力コモ
ンモードの必要なコントロールは抽出された(読出され
又は感知された)データが記憶された出力ラッチを使用
して都合良く実行される。更に出力ラッチの抽出された
データの増幅ステップ及び記憶ステップがすぐに続く第
1の識別ステップを通して記憶されるデータを評価する
前に、読出サイクルの第1の予備フェーズの間に回路の
サプライレール間の種々の電流経路を遮断することによ
りかつセンス回路の正確なバイアス条件を再設定するこ
とにより、スタンバイの間の電力消費を防止することが
通常の手法である。選択されたメモリ中に記憶されたデ
ータ用の完全な読出サイクルの固有のフェーズは複数の
タイミングシグナルによりコントロールされる。これら
の特性を有するセンス増幅器は比較的複雑でノイズの影
響を受けやすい。本出願人の出願に係わる平成4年5月
11日出願の特願平4−144910号には、改良されたセンス
増幅器が開示され、抽出されたデータを記憶するための
出力ラッチ回路も形成するために、センス差動増幅器の
入力ネットワークの2本のラインの負荷が差動増幅器の
入力トランジスタ対にクロスカップルされている。該先
行出願の対象であるセンス増幅器では基本的に、センス
差動増幅器の入力ネットワークの入力ブランチ又はライ
ンの同じ負荷エレメントは同一で差動増幅器の入力トラ
ンジスタ対の負荷も構成し、かつ差動増幅器の同じ入力
トランジスタ対とともに抽出データを記憶するための出
力ラッチ回路を構成するためにそこにクロスカップルさ
れている。
【0004】該回路は3種のタイミングシグナルでコン
トロールされ、それぞれが2種の入力と1種の出力を有
し好ましくはカスコード回路の形態である2種のコント
ロール回路(NORゲート)を利用する。差動増幅器の
入力ネットワークのそれぞれのライン上に存在するシグ
ナルはこれらのカスコードタイプのコントロール回路の
入力に供給され、一方他の入力には前記コントロールシ
グナルの第1のシグナルが供給されて前記カスコード回
路を使用可能にし前記第1の入力に存在するシグナルの
増幅されたレプリカを出力ノード上に発生させる。該カ
スコード回路の出力シグナルは前記入力ネットワークの
それぞれのラインを通して電流経路を予備チャージ及び
/又はチャージして使用可能及び/又は不能にするため
に利用される。任意のセンス増幅器は限定された感度を
有し、従ってその値未満ではセンス増幅器が消去された
セルとプログラムされたセル間の識別を行えない差動シ
グナルの下限がある。望ましいのは、センス増幅器(差
動増幅器又はコンパレータとも呼ばれる)が、レベルの
識別を高信頼性で行いその後に出力を通して抽出された
情報の生成するために差動シグナルを増幅することを許
容する十分に高増幅度の差動入力シグナルである。
【0005】従来技術の他の問題点はオーバーシュート
である。任意のキャパシタンスチャージプログラムの場
合のように、信頼できる比較ステップを実行するために
適した条件はトランジェント現象が減退した後にのみ到
達される。例えば迅速な予備チャージフェーズは回復時
間が続き、この間に電流経路をコントロールするカスコ
ード回路の出力ノードで発生するポテンシャルだけでな
く、例えば選択されたビットラインと対応する負荷の間
の接続ノード上のコンパレーターの入力ノード上のポテ
ンシャルの最終的な発振のオーバーシュート又は減衰の
減退が起こる。例えば予備チャージフェーズの初期トラ
ンジェント間のグラウンドポテンシャルに向かうカスコ
ード回路の出力ノード上のポテンシャルの過度の降下で
あるこれらのオーバーシュートは負荷トランジスタのカ
ットオフを生じさせることがあり、引き続く回復時間が
十分に短くないとコンパレーターによるデータの誤った
評価が起こることがある。このような参照システムの安
定な条件の達成のためのトランジェント回復フェーズは
可能なかぎり短くして読出サイクルを完了するために必
要な時間を減少させなければならない。
【0006】
【発明の目的及び概要】センス増幅器の入力ネットワー
クの予備チャージ及びチャージ電流経路を使用可能/使
用不能にするために専用に使用される2個のコントロー
ル回路の出力ノード間にポテンシャル差の存在を利用す
ることにより、読出サイクルの臨界的識別フェーズ間の
差動増幅器の入力ノードを横切って利用できる入力差動
出力のレベルを事実上増加できることが可能であり、ポ
テンシャル差は幾分かはセンス増幅器の入力ノード、従
って回路の第2の入力に供給されるコントロールシグナ
ルにより使用可能又は使用不能にされる2個の経路のコ
ントロール回路の第1の入力ノードをを横切って存在す
る実際のポテンシャルのレプリカであることが見出され
た。これは、2個のコントロール回路の出力ノードを差
動増幅器の入力トランジスタ対を形成する2個のトラン
ジスタのそれぞれのソースに機能的に接続することによ
り達成される。
【0007】これにより、センス差動増幅器の入力ノー
ドに一般に印加される差動シグナルの事実上の「ダブル
ソース」として定義されるものが、臨界的比較フェーズ
及び結果としての出力シグナル発生の間にセンス差動増
幅器の2個の入力ブランチに異なった事実上のグラウン
ド参照ポテンシャルを与えることにより実行される。そ
の後センス増幅器回路の模範的に正確な参照グラウンド
ポテンシャルがスタンバイピリオドの間に、前記コント
ロールシグナルにより駆動されるパス−トランジスタに
より前記2個のコントロール回路の出力ノードを回路の
真のグラウンドポテンシャルとすることにより再設定さ
れる。該センス増幅器の感度及び速度が、該センス差動
増幅器により最終的に増幅される差動シグナルの事実上
の第2のソースを意図するこの回路配置により顕著に増
加する。
【0008】図示の全ての実施例において、センス増幅
器の構造は、差動センス増幅器の入力ネットワークの2
本のライン用でありかつ抽出データを記憶するための出
力ラッチ回路の形成用に機能的に使用されるために「ク
ロス−カップリング」されている同一負荷の利用により
特徴付けられ、これらの同じエレメントは入力ネットワ
ークのセルの2本のラインの負荷としてだけでなく、セ
ンス増幅器の入力差動段のトランジスタ対用負荷として
も動作する。上記利点は前記特願平4−144910号の先行
出願により詳細に述べられ、その適切な説明の内容をこ
こで参照して本明細書中に組み入れる。勿論これは本発
明の範囲を限定するものでなく、当業者に明らかである
ように、引用した先行出願の日前に部分的に知られてい
る多くの異なったセンス増幅器回路の文脈中で有用に利
用される。
【0009】本発明の代替実施例はオーバーシュート回
路エレメントを含む。ある実施例によると、読出サイク
ルのキャパシタンスの迅速な予備チャージフェーズ間に
トランジェントに伴うオーバーシュート現象を減少でき
る簡単で効果的な回路が見出された。基本的には本発明
の代替実施例の回路は、それぞれの選択されたビットラ
インに向かう電流経路の各コントロール回路の出力ノー
ドとセンスネットワークのそれぞれの出力ノード間に接
続された比較的高いインピーダンス(実質的に無限のイ
ンピーダンス)又は比較的低いインピーダンスの状態の
そのコントロールターミナルに供給される駆動出力によ
り駆動される付加的な可変インピーダンスエレメントか
ら成っている。好ましくは該可変インピーダンスエレメ
ントは、深いカットオフ条件(非常に高いインピーダン
ス)に通常は維持される好適な電気特性を有するトラン
ジスタから成る。このトランジスタは、コントロール回
路のゲインを従ってセンスシステムの迅速な予備チャー
ジフェーズに伴うトランジェント間のオーバーシュート
現象を減少させるために前記出力ノード間に無限でない
インピーダンスを有する電気経路を実現するための導電
状態に、コントロールシグナルにより駆動される。勿論
実際の識別(読出)フェーズ間のこの付加トランジスタ
のOFF状態は臨界的識別ステップ間のセンス増幅器の
適切な機能を確保する。本発明の異なった特徴オーバー
シュート利点が添付図面を参照して行う引き続くいくつ
かの実施例の詳細な説明により更に明らかになるであろ
う。
【0010】図1は、本発明の第1実施例によるセンス
増幅器回路の機能的回路ダイアグラムである。図2は、
図1のセンス回路の異なったシグナルと臨界的ノードの
ポテンシャルが読出サイクルの間にどのように経時変化
をするかを示すダイアグラムである。図3は、本発明の
他の実施例のセンス増幅器の回路ダイアグラムである。
図4は、図3の回路の例である。図5は、図4を更に修
正した例である。図6は、センス差動増幅器の入力ネッ
トワークの2本のラインの負荷の同一性を維持しながら
電流オフセットタイプの参照システムを形成するために
修正された、図1に示された回路に類似する本発明の他
の実施例のセンス増幅器の回路ダイアグラムである。図
7は、本発明の代替例の反オーバーシュートデバイスを
有するセンス回路の部分図である。図8は、本発明の代
替例の反オーバーシュートデバイスを有する差動タイプ
のセンス増幅器回路のより完全な構造を示す。図9は、
本発明の代替例のデバイスが存在しあるいは存在しない
場合の時間の関数としてセンス増幅器の回路の臨界的ノ
ードのポテンシャルの代替例を示す比較ダイアグラムで
ある。
【0011】
【詳細な説明】本発明の第1実施例は、いわゆる変調電
流オフセットタイプのセンス増幅器を示す図1の回路で
ある。該センス増幅器は、周知であるため図示を省略し
たメモリマトリクス中のメモリセルに選択的に結合され
ている。メモリマトリクスの個々に選択できるセルの行
(ワードライン)及び列(ビットライン)のセルの周知
の組織の例も同様に省略する。マトリクスサイドからは
異なった列(ビットライン)は列選択用母線又は他の既
知技術を使用して駆動されるマルチプレクサにより個々
に選択することができる。
【0012】図1に概略的に示すように、第1の参照ビ
ットラインRBLは、メモリマトリクスの他のビットラ
インの選択されたメモリセルの状態を読み出すための比
較エレメントとして機能するバージンメモリセルを含ん
でいる。読出用に選択されたマトリクスのビットライン
は図中でMBLとして示されている。センス増幅器のシ
ステムの全体の構造は、スイッチTBM及びTBRにより使
用可能及び使用不能にされる入力トランジスタ対TDR
びTDMにより形成される単一段のセンス差動増幅器の利
用を示している。図示の例ではp−チャンネルトランジ
スタTLR及びTLMであるそれぞれの負荷エレメントはク
ロスカップルして差動増幅器の入力トランジスタTDR
びTDMとともに、センス増幅器の回路の出力ノードOU
TR及びOUTMを横切って存在するシグナルにより代
表される抽出された情報を記憶するための出力ラッチ回
路を構成する。重要なことに、出力ラッチ回路の同じ負
荷エレメントTLR及びTLMも、読出用に選択されたセル
を含む、差動増幅器の入力ネットワークの参照ブランチ
又はライン(参照ビットライン)及びマトリクスサイド
のブランチ又はライン(マトリクスのビットライン)の
それぞれの負荷エレメントを構成する。
【0013】それぞれがカスコード回路により構成され
かつそれぞれマトリクスサイド用のトランジスタ対TPM
及びTNM及び参照サイドの回路用のトランジスタ対TPR
及びTNRにより形成される2個の同一のNORゲート
は、コントロールシグナルφPCにより使用可能にされ
るトランジスタTPCによりトランジスタTRM及びTRR
通しての入力ネットワークの2本のラインの迅速な予備
チャージ、パストランジスタTCM及びTCRを通して負荷
LR及びTLMをそれぞれのラインに電気的に接続するこ
との確立、及び同じパストランジスタTCR及びTCMの分
離機能によりそれぞれの入力ラインからの出力ノードO
UTM及びOUTRの静電デカップリング、を統轄する
ことによりセンス増幅器のノードの正確なバイアス条件
の達成をコントロールする。
【0014】第1のタイミングシグナルφENは前記2
種のそれぞれのカスコードタイプのコントロール回路
(NORゲート)の一方の入力に印加される。2種の回
路の第2の入力ノードは、それぞれ負荷TLM及びTLR
び2本のラインMBL及びRBL間の接続ノードである
センス差動増幅器の入力ノードINM及びINRにそれ
ぞれ一致している。評価ビットラインである1個のTES
を横切って機能的に接続された等化トランジスタ、2個
のカスコード回路の出力ノードCM及びCRを横切る第
2の1個のTEC及び出力ノードを横切る第3の1個のT
ELが図1のセンス増幅器の回路を完結させる。
【0015】コントロールシグナル:C1の回路を動作
するために3種類のタイミングシグナル、つまりφE
N、φPC及びφEQが使用される。 φEN(使用可能):この第1のタイミングシグナルは
トランジスタTBM、TBR及びTBPを通して2個のカスコ
ードカスコードの出力ノードCM及びCR上に存在する
参照ポテンシャルにより決定され、これは3種類の基礎
的な機能を有している。 a)レベル「0」では識別用の適切なバイアス条件の達
成を許容する。 b)「0−1」の遷移状態では、サプライ電圧レベルV
CC−GNDで抽出されたデータのデジタル化を行う。 c)レベル「1」では電力消費なしにスタンバイ状態に
センス増幅器を自動的にセットする。
【0016】φPC(予備チャージ):この第2のタイ
ミングシグナルは、 a)レベル「1」でトランジスタTESにより評価ライン
ノードでポテンシャルの等化を行う。 b)レベル「1」ではトランジスタTPCを通して予備チ
ャージ電流経路をアクチベートする。 c)「1−0」遷移状態で前記予備チャージ電流経路を
遮断することにより識別プロセスを開始する、ことによ
り統轄される。 φEQ(等化):この第3のタイミングシグナルは、 a)レベル「0」でトランジスタTELを通る負荷におい
てポテンシャルを等化する。 b)レベル「0」でトランジスタTECにより2個のコン
トロールカスコードの出力ノードを等化する。 c)「1−0」遷移状態で前記等化経路を遮断すること
により前記差動増幅器の増幅機能をアクチベートする。
【0017】回路の動作:電力消費がないことが特徴で
あるスタンバイ条件は、前記3種類の全てのコントロー
ルシグナルφEN、φPC及びφEQが高い論理レベル
(「1」)であるときに決定される。これはそれから新
しい読出サイクルが開始し記憶されたデータを抽出した
後にシステムを展開される自然な状態である。このスタ
ンバイフェーズでは、2種のカスコードの出力ノードC
M及びCRは、導電状態に維持されているトランジスタ
BM及びTBRに作用する第1のコントロールシグナルφ
ENによりグラウンドポテンシャルにされる。出力ノー
ドOUTM及びOUTRは、センス増幅器により抽出さ
れたデータの論理値に応じて、それぞれ「1」及び
「0」、又はその逆の反対の論理状態にある。カスコー
ドの出力ノードCM及びCRをグラウンドポテンシャル
に維持することによりφENそしてφEQがサプライレ
ールVCC−GND間の可能な電流経路の遮断を決定す
るため、スタンバイフェーズでは電力消費は起こらな
い。
【0018】読出サイクルはコントロールシグナルφE
N及びφEQが遷移状態「1−0」のときに開始する。
これらのことは、センス増幅器カスコードの設計作動点
までカスコードがビットラインMBL及びRBLに接続
されたキャパシタンスの全てをじゆうすに迅速に予備チ
ャージすることを可能にし、かつ同時にコントロールカ
スコードの出力ノード(CM及びCR)の及びビットラ
イン(MBL−RBL)の負荷(ノードOUTM及びO
UTR)の「レベル」でシステムを等化する。このよう
な予備チャージフェーズの終了時には、良好に等化され
たノードOUTM及びOUTRは、図2の適切なダイア
グラムに見られるように、マトリクスサイド及び参照サ
イドの選択されたセルにより引かれる電流の合計を負荷
LM及びTLRを通して機能的に供給するために適したポ
テンシャルを取る。このフェーズでは、OFF条件に維
持されているトランジスタTDM及びTDRはセンスネット
ワークの電流経路に影響を与えない。
【0019】システムを通るシグナルの伝達が完全かつ
安全に完了したと思われるとすぐに、コントロールシグ
ナルφPCのスイッチング「1−0」により第1の予備
チャージフェーズが終了し、選択されたセルの状態の予
備評価又は識別フェーズが開始され、図2のダイアグラ
ム中で見られるように、ビットライン(MBL及びRB
L)でのポテンシャル変化効果を最小にするために、こ
の特殊なセンス増幅器回路により許容されるセンス回路
の素子のサイズ決定の顕著な設計の自由度により、極度
に短い時間の間にノードCM及びCRだけでなくノード
OUTM及びOUTRにも僅かなポテンシャル変化のみ
を生成する。読出フェーズは、コントロールシグナルφ
PCの前記遷移状態後にすぐに起こるコントロールシグ
ナルφEQの「0−1」遷移を通して完了する。これが
起こると、OUTM及びOUTRノードで発生した僅か
なポテンシャルの差異が第1に漸近腺VCC−(VBL
−VBR)に向かって迅速に増加し、次いでVCC−G
NDに向かって増加し、第1のコントロールシグナルφ
ENの「スイッチングバック」が続きこれはフェーズφ
EQの前記「0−1」スイッチングのすぐ後におこりか
つ出力ラッチ中の抽出データをデジタル化し記憶するこ
とに加えて図2のダイアグラムの最後の部分に見られる
ように、これは消費のないスタンバイ条件へシステムを
自動的にリセットする。
【0020】これらの全ては極度に迅速な順序で起こり
極めて短い読出時間を決定する。予備チャージフェーズ
の最後にシステムで引かれる電流は負荷TLM及びTLR
通して全体的に供給され、これによりシステムの全電流
シグナルが負荷を通して効果的に集中する。特に好まし
い図示の例では、引用した先行出願の特徴である負荷の
クロスカップリングは、他のカスケードの増幅段を必要
とすることなく単一段差動増幅器の増幅性能を高める正
のフィードバックを提供する。更に負荷TLM及びTLR
差動増幅器のトランジスタTDM及びTDRとの組み合わせ
で、出力データ記憶機能を提供しシステムの反ノイズ特
性を高めるラッチ回路を構成する。
【0021】図2の適切なダイアグラムに見られるよう
に、2個のコントロールカスコード回路の出力ノードC
M及びCR間に存在するポテンシャル差は、出力ノード
OUTM及びOUTRで最終的に生成されるポテンシャ
ルのアンバランスと同じになり、本発明によりこれはセ
ンス差動増幅器の感度を改良するために有用に利用され
る。実際に臨界的識別フェーズ間に、センス差動増幅器
の入力トランジスタ対TDR及びTDMは共通ソースノード
ポテンシャル(従来の回路で一般的であったように)を
共有しないが、それらのソースノードに類似しない事実
上の参照ポテンシャルが個々に提供され、そしてこの事
実上の参照ポテンシャルの差は、図2のノードCM及び
CRの電圧ポテンシャル及びTDR及びTDMのソースポテ
ンシャルをそれぞれ見ることにより判るように、増幅器
の入力ノード存在する差動シグナルに差動的寄与を積極
的に加える。実際2個のカスコードの2個の出力ノード
CM及びCRをグラウンドポテンシャルにに戻すコント
ロールシグナルφENの「0−1」スイッチングにより
抽出データの記憶用に使用される出力ラッチ構造用の参
照グラウンドポテンシャルを再設定した後に、出力ノー
ドCM及びCRのそれぞれのポテンシャルは、グラウン
ドポテンシャルに向かう互いに異なった「軌跡(traject
ory)を実際に伴い、センス差動増幅器の入力ノードに存
在する差動シグナルに同じサインの前記事実上の差動シ
グナル寄与を与える。この事実は出力ノードOUTM及
びOUTRに移動している情報の質の向上に有利に反映
される。
【0022】ノードOUTM及びOUTRにより取られ
る論理状態は評価ラインを流れる電流の機能である。そ
れぞれラインMBL及びRBL上に存在する一般に異な
った電流はパストランジスタTCM及びTCRを通してそれ
ぞれの負荷TLM及びTLRにそれぞれ向かい、出力ノード
OUTM及びOUTRの異なった動的な挙動を決定す
る。特にIM=マトリクスサイドのセンシングラインM
BL中の電流、及びIR=参照ラインRBL中の電流と
すると、条件IM>IRはOUTM=0及びOUTR=
1という増幅器のコンフィギュレーションに相当し、そ
して条件IR>IMはOUTM=1及びOUTR=0と
いう増幅器のコンフィギュレーションに相当する。
【0023】図1に示された本発明の実施例のセンス増
幅器回路の利点の中で、次のことを述べることができ
る。 a)選択されたラインの負荷を通って生成しかつセンス
増幅器に意図的に印加される事実上の参照ポテンシャル
により提供される差動シグナルの事実上の二重のソース
のために達成される顕著な感度と速度特性。 b)回路が2個の電力消費構造、つまり読出サイクルの
臨界的識別ステップで使用不能にされる2個のカスコー
ド回路のみを使用する。 c)負荷が評価構造及び出力ラッチ構造の両者の重要な
部分であり、従ってノイズに対する卓越した不感性を与
える。そして読出インターバルの後は、 d)臨界的識別ステップでビットライン及びマルチプレ
クサ(セルへのアドレス経路を選択する機能を有する構
造)の大きなキャパシタンスからセンス増幅器を迅速に
デカップリングする。 e)望ましくない飽和現象を防止することにより、電流
レベルの比較的大きな変化を特徴とするシステム中で動
作できる回路のデザインを比較的簡単にすることができ
る。 f)評価ライン中の比較的高いバイアスレベルを要求す
るシステムでも機能できる良好な適合性がある。 g)抽出データの記憶機能も行うことができるにもかか
わらず、最小数の素子及び段のみしか必要としない。
【0024】本発明の回路の他の実施例が図3に示され
ている。該回路は実質的に図1の回路のコンフィギュレ
ーションと類でのコンフィギュレーションを有してい
る。この第2の実施例では2個の付加的なトランジスタ
AM及びTARが存在し前記回路に反オーバーシュート特
性を与えている。実際に、2個のカスコード回路のゲイ
ンを減少させることにより、前記2個の付加的トランジ
スタは予備チャージのトランジェント間に評価ラインM
BL及びRBLが正確なバイアスポテンシャルを越え、
負荷TLM及びTLRがそれぞれの評価ラインから「遮断」
されてしまうことを防止する。これは読出サイクルの初
期に正確なバイアス条件をより迅速に達成することを許
容し、負荷が選択されたメモリセルに向けてそれぞれの
電流経路中に常に接続されることを確保する。修正され
た迅速な予備チャージ電流経路(トランジスタTRM及び
RRを通る)を有する本発明の他の実施例が図4に示さ
れている。この実施例は予備チャージトランジェントに
対する更に改良されたコントロールを与え、以前の望ま
しくないオーバーシュートの効果を更に効果的に防止す
るよう作用する。2個のトランジスタTRM及びTRRは正
確なバイアス条件の達成前には自己排除(カットオフ)
され、従って実際の動作バイアス条件は最終的には負荷
LM及びTLRの単独の作用を通して達成され、これによ
りオーバーシュートのない「平らになった」指数関数曲
線が得られる。図3及び図4の反オーバーシュート配置
を意図する本発明の回路の更に他の実施例が図5に示さ
れている。
【0025】本発明のセンス増幅器の他の実施例が図6
に示されている。この実施例では、2本のブランチTP
C−TCM’及びTCR’を付け加えることにより、電
気的及び幾何的に異なった負荷(TLM及びTLR' )を利
用することなくいわゆる電流オフセットタイプの参照シ
ステムを生成でき、前記異なった負荷は前述の特願平4
−144910号以前に知られていた技術に従って電流オフセ
ット参照システムを実行するために通常行われ、かつ出
力ラッチ構造を実行するためのセンス差動増幅器の入力
トランジスタ対の負荷エレメントと同じ負荷エレメント
を利用する可能性と矛盾していた。図6の回路の動作も
当業者には容易に理解できるであろう。予備チャージフ
ェーズの終期つまりコントロールシグナルφPCがグラ
ウンドポテンシャル「0」とされたときに、TPC−T
CM’を通る電流経路は遮断される。臨界的識別段の間
のこの条件では、マトリクスサイドから選択されたライ
ンMBLにより引かれた電流が負荷TLM単独で供給さ
れ、一方参照サイドからは負荷トランジスタTLR及びト
ランジスタTCR' に並列に供給され、これによりそれを
通して情報の評価及び記憶が行われる回路素子の完全な
同一性(対称性)の望ましい条件を放棄することなくデ
ータの識別用の電流オフセット参照システムを生成する
ことを許容する。都合の良いことに特に負荷TLM及びT
LRはトランジスタTCM及びTCRと同じように厳格な同一
性を維持する。
【0026】一般にトランジスタTCM、TCM' 、TCR
びTCR' は互いに等しく従って評価段の間はILRはI
CR’に等しい。勿論その2個のブランチ間の完全な対
称性により特徴付けられるセンス増幅器回路を非対称性
に基づく識別参照システム中で動作するよう適合させる
ことを許容するこれらの2個の付加的なブランチを、必
要に応じて図3、4及び5で述べた他の回路に導入して
も良い。図7を参照すると、読出用に選択されたプログ
ラムできるメモリセルのマトリクスのライン(ビットラ
イン)がBLで示され、概略的に示したように通常の構
造を有している(このビットラインBLは図1〜6のマ
トリクスビットラインMBLに対応している)。p−チ
ャンネルトランジスタTLは、選択されたラインBLを
通して電流シグナルをセンシングネットワークの出力ノ
ードOUT上の電圧シグナルに変換できる負荷エレメン
トを示している。次いでこの電圧シグナルはプログラム
できるメモリ用のセンス増幅器の回路の典型的なコンフ
ィギュレーションに従って非対称又は差動増幅器(コン
パレーター、図8のSA)の入力に供給される。好まし
い態様では、このセンス増幅器SAは図1又は図3〜6
の他のSAで示したセンス増幅器である。それぞれの正
確なバイアス条件にある回路のノードの予備配置はライ
ンBLの選択されたセル中に記憶されたデータを高信頼
性で迅速に認識するために執拗な条件である。正確なバ
イアス条件のこの予備配置は、選択されたラインに伴う
キャパシタンスをチャージするための予備チャージ/チ
ャージ電流経路を使用可能/使用不能にすることのでき
る回路により通常コントロールされる。図示の回路はト
ランジスタ対TCP及びTCNにより形成されるカスコード
回路から成っている。このカスコード回路の出力ノード
はCで示され、選択されたビットラインBLに向かうサ
プライレールからそれぞれの電流経路をコントロールす
る2個のパストランジスタTPC及びTC のコントロール
ターミナルに接続されている。
【0027】差動センス増幅器システムの場合、図1に
例示されたセンス回路は他のブランチ用として例えば図
3に示したようにコピーすることができ、識別用の比較
は、選択されたビットラインBLと一般に選択されたバ
ージンセルを含む参照ラインBLrのそれぞれの導電性
間で行われる。図7〜9のこのビットラインBLは図1
〜6のマトリクスビットラインMBLに類似し、一方B
Lrは参照ビットラインRBLに類似し、OUT及びO
UT’シグナルはそれぞれセンス増幅器MBL及びRB
Lへの入力に相当する。
【0028】反オーバーシュート回路は、付加トランジ
スタTA (図7)及び2個の付加トランジスタTA 及び
A'(図8)により図7及び図8に示された回路中に形
成される。基本的に付加トランジスタは、チャージ電流
の使用可能−使用不能をコントロールするカスコード回
路の出力ノードC(図8の場合はC及びC’)とセンス
回路の出力ノードOUT間に機能的に接続される。該付
加トランジスタTA (又はTA 及びTA')はセンス回路
の予備チャージ及び/又はチャージフェーズ間の比較的
低いインピーダンスの状態で一時的に駆動されることの
ある可変インピーダンスエレメントを構成する機能を有
し、カスコード回路のゲインを実質的に減少させ、これ
によりセンス回路ノードの正確なバイアスを達成しかつ
記憶されたデータの信頼できる評価を確保するための選
択されたラインを伴うキャパシタンスの予備チャージ及
び/又はチャージフェーズのトランジェントにともゅて
うオーバーシュートを防止しあるいは実質的に減少させ
る。従って付加トランジェントTA (又はTA 及び
A')は深いカットオフ状態つまり高い又は実質的に無
限のインピーダンスの状態に通常維持され、そして予備
チャージフェーズの間のみにこのトランジスタは図中に
φで示されたコントロールシグナルにより導電性に導か
れる。勿論可変インピーダンストランジスタT
A (TA')は、トランジスタのコントロールターミナル
に印加されるコントロールシグナルφのある電圧レベル
用に、オーバーシュートの効果的な減少を決定するため
にデザインされたインピーダンスが得られるようにデザ
インされ、これにより可能な限り短い時間で回路のノー
ドの正確なバイアス電圧が達成され(トランジェントレ
カバリフェーズの終期に)、読出サイクルを完了するた
めに必要な時間が減少する。
【0029】図9のダイアグラムに示された2組の曲線
は、センス回路の代表的なノードつまりメモリの選択さ
れたビットライン(VBL)への接続ノード、カスコー
ド回路の出力ノード(VC)及びセンシングネットワー
クの出力ノードつまり負荷TL(VOUT)への接続ノ
ードの動的な電圧スイング間の迅速な比較を、付加トラ
ンジスタTA (図8に示された回路の場合はTA 及びT
A')から成る本発明の反オーバーシュートデバイスを使
用してあるいは使用せずに、可能にする。図9では、図
7及び図8の本発明の反オーバーシュートデバイスのな
い回路のセンシングネットワークのノードVBL、VC
及びVOUTの動的特性が点線で示され、一方本発明の
反オーバーシュートデバイスが装着された同じ回路の同
じ特性が実線で示されている。容易に判るように本発明
の回路のない従来の回路の場合は、グラウンドポテンシ
ャルに向かう過度に大きなポテンシャルVCの降下が予
備チャージフェーズ間に起こる。リカバリー時間が逆に
増加することに加えて、それぞれの負荷トランジスタT
Lの「カットオフ」が生じ、データの誤った評価を決定
する。逆にこのことは、全ての環境下で電気的負荷/セ
ル接続の連続性を確保する本発明の回路により積極的に
防止される。
【0030】電流経路をコントロールするために使用さ
れるカスコード段のゲインの減少は実質的に正確なバイ
アス条件を達成するために必要な時間を短縮し、従って
完全な読出サイクルに必要な時間を短縮する。更に、そ
れぞれのC及びOUTノード間に存在する電圧差に依存
する負荷(TA )及び対応予備チャージパストランジス
タ(TCP)間の可能な電流交換を通して、読出用に選択
されたセルの実際の電気導電性に関係なく、互いに関連
しているバイアス条件が、選択されたビットライン、経
路コントロール回路及び負荷から成る複雑なセンス構造
によりどんな場合にも達成されることを確保され、前記
回路は絶対値の異なることもあるバイアス条件に達す
る。図7〜9の他の実施例の特性が図1のセンス増幅器
に組み込まれた1個の回路が図3の他の実施例に示され
ている。図3のトランジスタTAM及びTARが参照でき
る。図7〜9の機能的な説明は図3にも適用でき、この
特性を組み入れた他の回路もオーバーシュートを防止す
ることができる。本発明の図7〜9の他の実施例のデバ
イスをセンス回路の意図的に示した本質的な構造を例示
したが、本発明の回路は、既知の技術に従って迅速な予
備チャージ、チャージ及びデータ昇華及び記憶電流経路
を使用可能/使用不能にするための多数のコントロール
シグナルを使用して、異なったそして更に比較的複雑な
構造を有するセンス回路中で有利に利用できることも明
らかである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1実施例によるセンス増幅器回路の
機能的回路ダイアグラム。
【図2】図1のセンス回路の異なったシグナルと臨界的
ノードのポテンシャルが読出サイクルの間にどのように
経時変化をするかを示すダイアグラム。
【図3】本発明の他の実施例のセンス増幅器の回路ダイ
アグラム。
【図4】図3の回路の例。
【図5】図4を更に修正した例。
【図6】センス差動増幅器の入力ネットワークの2本の
ラインの負荷の同一性を維持しながら電流オフセットタ
イプの参照システムを形成するために修正された、図1
に示された回路に類似する本発明の他の実施例のセンス
増幅器の回路ダイアグラム。
【図7】本発明の代替例の反オーバーシュートデバイス
を有するセンス回路の部分図。
【図8】本発明の代替例の反オーバーシュートデバイス
を有する差動タイプのセンス増幅器回路のより完全な構
造。
【図9】本発明の代替例のデバイスが存在しあるいは存
在しない場合の時間の関数としてセンス増幅器の回路の
臨界的ノードのポテンシャルの代替例を示す比較ダイア
グラム。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 マルコ・オリヴォ イタリア国 ベルガモ 24100 ビィア・ トレマナ13/ディ

Claims (12)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 選択できる参照セルを含むラインを通っ
    て流れる電流と2個の入力ノードを有するセンス差動増
    幅器の入力ネットワークの読出用に選択されたメモリセ
    ルを含む他のラインを通って流れる電流間のアンバラン
    スの識別用であって、前記入力ノードのそれぞれが、前
    記入力ノードの一方に接続された第1の入力、このコン
    トロール回路を使用可能/使用不能にするための第1の
    コントロールシグナルが供給される第2の入力及びこの
    コントロール回路が使用可能にされたときにそれを通し
    て前記第1の入力に存在するシグナルの増幅されたシグ
    ナルレプリカが生成される出力ノードを有する前記コン
    トロール回路によりコントロールされるパストランジス
    タを通してそれぞれのラインに機能的に接続された負荷
    に接続されているセンス増幅器回路において、 前記第1のコントロールシグナルにより駆動されかつ前
    記それぞれのコントロール回路の出力ノードと回路のグ
    ラウンドレール間に機能的に接続され、前記第1のコン
    トロールシグナルのスタンバイ状態へ戻る遷移後に前記
    出力ノードをグラウンドポテンシャルにすることのでき
    るトランジスタと、 臨界的識別フェーズ間に前記コントロール回路の出力ノ
    ードを通して存在する同じ差動シグナルのレプリカを事
    実上合計して差動増幅器の入力を横切って存在する差動
    シグナルとするために、前記それぞれのコントロール回
    路出力ノードと、前記センス差動増幅器の入力トランジ
    スタ対の一方及び他方のソースノード間の接続を、 含んで成ることを特徴とするセンス増幅器回路。
  2. 【請求項2】 前記2種のコントロール回路のそれぞれ
    がカスコード段である請求項1に記載の回路。
  3. 【請求項3】 第2のコントロールシグナルによりコン
    トロールされ、トランジェントオーバーシュートを減少
    させるために読出サイクルの第1の予備チャージフェー
    ズ間の前記コントロール回路のゲインを減少させること
    のできる手段を含んで成る請求項1に記載の回路。
  4. 【請求項4】 ゲインを減少させる手段が、それぞれが
    出力ノードと前記コントロール回路の前記第1の入力間
    に機能的に接続されている2個のトランジスタから成っ
    ている請求項3に記載の回路。
  5. 【請求項5】 ラインキャパシタンス予備チャージ電流
    経路が、入力ネットワークの正確なバイアス条件達成前
    に遮断され、実際の正確なバイアス条件が前記負荷飲み
    を通る他の電流を通して達成される請求項1に記載のセ
    ンス増幅器回路。
  6. 【請求項6】 前記負荷が同一で、前記差動増幅器の前
    記入力トランジスタ対の付加としてだけでなく、前記2
    本のラインの付加としても機能しかつ前記トランジスタ
    対とともに抽出データの記憶用の出力ラッチ回路を構成
    する前記入力トランジスタ対とクロスカップリングして
    いる請求項1に記載のセンス増幅器回路。
  7. 【請求項7】 前記入力ノードとサプライレール間の2
    本の付加的接続経路を更に含んで成り、該2本の付加的
    経路のそれぞれが前記コントロール回路の1個の出力ノ
    ード上に存在する出力により駆動されるスイッチを含ん
    で成り、読出用に選択された前記メモリセルを含むライ
    ンに接続された入力ノードをサプライレールに接続する
    付加的経路に前記第2のコントロールシグナルにより駆
    動される他のスイッチが装着され、前記負荷を互いに同
    一に維持しながら電流オフセットタイプの参照システム
    を形成するようにした請求項6に記載のセンス増幅器回
    路。
  8. 【請求項8】 更に、前記コントロール回路の前記出力
    ノードと前記センス回路の前記出力ノード間に機能的に
    接続された可変インピーダンス手段を含み、 前記可変インピーダンス手段が高インピーダンス条件で
    かつ比較的低いインピーダンス状態で、前記可変インピ
    ーダンス手段のコントロールターミナルに供給されるシ
    グナルにより駆動され、 前記可変インピーダンス手段が、センス回路の予備チャ
    ージフェーズ間に比較的低いインピーダンスの状態で駆
    動され、前記予備チャージフェーズのトランジェントの
    間に前記コントロール回路のゲインとオーバーシュート
    現象を減少させるようにした請求項1に記載の回路。
  9. 【請求項9】 前記可変インピーダンス手段がトランジ
    スタである請求項1に記載の回路。
  10. 【請求項10】 選択できる参照セルを含む第1のライン
    を通って流れる電流と2個の入力ノードを有するセンス
    差動増幅器の入力ネットワークの読出用に選択されたメ
    モリセルを含む第2のラインを通って流れる電流間のア
    ンバランスの識別用であって、前記入力ノードが、前記
    それぞれの負荷に接続された入力、コントロール回路を
    使用可能/使用不能にするための第1のコントロールシ
    グナルが供給される第2の入力及びこのコントロール回
    路が使用可能にされたときにそれを通して入力ネットワ
    ークのそれそれのライン負荷に存在するシグナルの増幅
    されたシグナルレプリカが生成される出力ノードを有す
    る前記コントロール回路によりコントロールされるパス
    トランジスタを通してそれぞれの負荷及びそれぞれのラ
    インに機能的に接続された負荷に接続されている方法に
    おいて、 前記センス差動増幅器の入力ノードとクロスカップリン
    グする前記入力ネットワークの前記ラインの負荷上に存
    在するシグナルの前記増幅シグナルレプリカを、読出サ
    イクルの識別フェーズ間の前記差動増幅の入力トランジ
    スタ対のソースノード用の事実上の参照ポテンシャルと
    して利用し、同じ入力差動シグナルの予備増幅されたレ
    プリカを縦に合計して前記差動増幅器に供給される利用
    可能な入力差動シグナルとし、 完全な読出サイクルの他のフェーズ間及び読出サイクル
    間のスタンバイインターバル間の差動増幅器回路の独自
    の参照ポテンシャルとして回路の実際のグラウンドポテ
    ンシャルを再設定することを特徴とする識別方法。
  11. 【請求項11】 選択できる参照セルを含むラインを通っ
    て流れる電流と2個の入力ノードを有するセンス差動増
    幅器の読出用に選択されたメモリセルを含む他のライン
    を通って流れる電流間のアンバランスの識別用であっ
    て、前記入力ノードのそれぞれが、前記入力ノードの一
    方に接続された第1の入力、このコントロール回路を使
    用可能/使用不能にするための第1のコントロールシグ
    ナルが供給される第2の入力及びこのコントロール回路
    が使用可能にされたときにそれを通して前記第1の入力
    に存在するシグナルの増幅されたシグナルレプリカが生
    成される出力ノードを有する該コントロール回路により
    コントロールされるパストランジスタを通してそれぞれ
    のラインに機能的に接続された負荷に接続されているセ
    ンス増幅器回路の識別方法において、 そのコントロールターミナルが前記対の他の入力トラン
    ジスタの及び他のコントロール回路の入力ノードに接続
    されあるいはその逆に接続された前記差動増幅器の入力
    トランジスタのソースノードに前記コントロール回路の
    一方出力ノードを接続し、前記第1のコントロールシグ
    ナルがスタンバイ論理状態へ戻るスイッチングを伴うト
    ランジェントの間に前記入力ノード上に存在する予備増
    幅されたシグナルを別個に縦に合計し、 前記第1のコントロールシグナルにより駆動されるスイ
    ッチにより前記コントロール回路の前記出力ノードをグ
    ラウンドに接続し、読出サイクル間のスタンバイインタ
    ーバル間の差動増幅器の入力トランジスタ対を参照して
    正確なグラウンドポテンシャルを再設定することを特徴
    とする方法。
  12. 【請求項12】 出力ノード上にコントロールシグナルを
    発生させることのできるその導電性の状態を決定するこ
    とにより読出される選択できるセル及び前記発生したコ
    ントロールシグナルにより駆動される少なくとも1個の
    スイッチにより前記選択されたラインに機能的に接続で
    きる負荷を含む前記メモリの選択されたラインに伴うキ
    ャパシタンス用の予備チャージ及び/又はチャージ電流
    経路を使用可能/使用不能にするための少なくとも1個
    の回路を含んで成り、前記負荷の前記ラインへの接続ノ
    ードがセンス回路の出力ノードを構成するプログラムで
    きるメモリ用のセンス回路において、 前記コントロール回路の前記出力ノードと前記センス回
    路の前記出力ノード間に機能的に接続された可変インピ
    ーダンス手段を含んで成り、 前記可変インピーダンス手段が高インピーダンス条件で
    かつ比較的低いインピーダンス状態で、前記可変インピ
    ーダンス手段のコントロールターミナルに供給されるシ
    グナルにより駆動され、 前記可変インピーダンス手段が、センス回路の予備チャ
    ージフェーズ間に比較的低いインピーダンスの状態で駆
    動され、前記予備チャージフェーズのトランジェントの
    間に前記コントロール回路のゲインとオーバーシュート
    現象を減少させるようにしたことを特徴とするセンス回
    路。
JP21857892A 1991-07-25 1992-07-25 卓越したシグナルソースを有するプログラム可能なメモリ用センス増幅器 Pending JPH06282993A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08227586A (ja) * 1994-11-15 1996-09-03 Sgs Thomson Microelectron Ltd 集積回路メモリ装置

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2752324B1 (fr) * 1996-08-08 1998-09-18 Sgs Thomson Microelectronics Memoire non volatile en circuit-integre a lecture rapide
US6219278B1 (en) * 1999-05-19 2001-04-17 Lucent Technologies Inc. Sense amplifier for memory
FR2809526B1 (fr) * 2000-05-24 2003-07-25 St Microelectronics Sa Memoire rom de taille reduite
US6538922B1 (en) 2000-09-27 2003-03-25 Sandisk Corporation Writable tracking cells
KR100406555B1 (ko) 2001-06-29 2003-11-20 주식회사 하이닉스반도체 반도체 메모리 장치 및 그 테스트 방법
US7237074B2 (en) * 2003-06-13 2007-06-26 Sandisk Corporation Tracking cells for a memory system
US7301807B2 (en) 2003-10-23 2007-11-27 Sandisk Corporation Writable tracking cells
US7782695B2 (en) * 2007-01-12 2010-08-24 Atmel Corporation Compensated current offset in a sensing circuit
US10658048B2 (en) * 2018-08-16 2020-05-19 Stmicroelectronics S.R.L. Floating boosted pre-charge scheme for sense amplifiers

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4130897A (en) * 1977-08-03 1978-12-19 Sperry Rand Corporation MNOS FET memory retention characterization test circuit with enhanced sensitivity and power conservation
US4162416A (en) * 1978-01-16 1979-07-24 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Dynamic sense-refresh detector amplifier
US4280070A (en) * 1978-10-20 1981-07-21 Texas Instruments Incorporated Balanced input buffer circuit for semiconductor memory
US4274013A (en) * 1979-02-09 1981-06-16 Bell Telephone Laboratories, Incorporated Sense amplifier
US4670675A (en) * 1986-02-07 1987-06-02 Advanced Micro Devices, Inc. High gain sense amplifier for small current differential
US4716320A (en) * 1986-06-20 1987-12-29 Texas Instruments Incorporated CMOS sense amplifier with isolated sensing nodes
US5097157A (en) * 1990-11-01 1992-03-17 Hewlett-Packard Company Fast cmos bus receiver for detecting low voltage swings

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08227586A (ja) * 1994-11-15 1996-09-03 Sgs Thomson Microelectron Ltd 集積回路メモリ装置
US5764572A (en) * 1994-11-15 1998-06-09 Sgs-Thomson Microelectronics Limited Integrated circuit memory device

Also Published As

Publication number Publication date
EP0526427B1 (en) 1997-10-15
EP0526427A3 (ja) 1994-03-23
US5408148A (en) 1995-04-18
EP0526427A2 (en) 1993-02-03
DE69222712T2 (de) 1998-02-12
DE69222712D1 (de) 1997-11-20

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