JPH06294931A - アクティブaf装置 - Google Patents

アクティブaf装置

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JPH06294931A
JPH06294931A JP10492793A JP10492793A JPH06294931A JP H06294931 A JPH06294931 A JP H06294931A JP 10492793 A JP10492793 A JP 10492793A JP 10492793 A JP10492793 A JP 10492793A JP H06294931 A JPH06294931 A JP H06294931A
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JP
Japan
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output
level
light
operational amplifier
circuit
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Application number
JP10492793A
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Inventor
Ryoichi Suzuki
良一 鈴木
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Canon Inc
Original Assignee
Canon Inc
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 外光レベルの誤検出を防止し、AF用受光素
子の出力信号が入力される演算増幅器の飽和を防ぐため
の帰還抵抗の切換えを精度良く行う。 【構成】 演算増幅器20の出力レベルを基準電圧と比
較するレベル比較器28と、該レベル比較器の出力をラ
ッチするラッチ回路29と、該ラッチ回路の出力に応じ
て、帰還抵抗21,22,25,26の抵抗値を切換え
る切換回路23,27とを設け、AF用の受光素子の出
力信号が入力される演算増幅器の出力レベルの高低に応
じて、帰還抵抗の抵抗値を切換えるようにしている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、被写体に対して光を投
射し、その被写体での反射光を受光して被写体までの距
離を算出する、カメラに配置されるアクティブAF装置
の改良に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来、カメラにおけるアクティブAF装
置では、投光素子と受光素子を基線長方向に隔てて配置
し、投光素子の投射光の被写体での反射光をPSD(半
導体位置検出装置)等の受光素子で受光し、その受光出
力から被写体までの距離を算出している。また、上記P
SD等の受光出力から被写体距離を算出する方法は、通
常はPSDからの2つの出力電流を電流−電圧変換回路
により電圧信号に変換し、その2つの電圧信号の差/和
を電気的に演算することにより得ている。
【0003】前記電流−電圧変換回路はオペアンプ(演
算増幅器)とフィードバック抵抗により構成されるが、
電流−電圧変換回路自体のS/N比を良くする為には、
このフィードバック抵抗の抵抗値は高い方が望ましい。
その理由は、フィードバック抵抗の抵抗値が高いとこの
抵抗から発生する熱雑音を低く押えることができるから
である。
【0004】つまり、S/N比を向上させ、被写体の測
距精度を上げる観点からは、フィードバック抵抗の抵抗
値を上げたいところであるが、一方それは逆に以下の不
都合をもたらすことになる。
【0005】PSD等の受光素子には、投光素子よりの
投射光の被写体での反射光(信号光)のみでなく、被写
体での外光(太陽光、室内光等)の反射光も入射する。
通常、室外ではこの外光成分の方が信号光成分より非常
に大きいので、フィードバック抵抗値を上げると、前記
オペアンプが簡単に飽和するという問題が発生してしま
うものである。
【0006】そこで、この欠点を解決するものとして、
特開平2−12215号が提案されている。これによれ
ば、カメラの露出制御に用いる測光素子の出力により外
光状態を検出し、外光レベルが高い場合には前記フィー
ドバック抵抗を低い値に切換え、前記オペアンプの飽和
を防ぐ様にしている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この提
案のカメラにおいても、以下の問題点を有していた。
【0008】つまり、露出制御用の測光素子の検出出力
は、アクティブAF装置に用いるPSD等の受光素子の
出力とは一致しないことである。
【0009】具体的に言うと、第1には、AF用の受光
素子には被写体からの反射光が受光レンズを介して入射
するのでこの受光素子に入射する外光は被写体の一部か
らの反射光に限定されているのに対し、露出制御用の測
光素子へは通常ほぼカメラの撮影画面全体からの反射光
が入射するのでこの不一致が生じる。
【0010】ここで、図4(a),(b)を用いてこれ
について詳述する。
【0011】図4(a)はAF用受光光学系を示すもの
であり、図中101は受光レンズ、102は受光素子
(PSD)である。
【0012】この状態では、受光素子102に入射する
外光は立体角αに含まれる被写体からの反射光に限定さ
れる。
【0013】図4(b)は露出制御用の測光光学系の一
例を示すものであり、図中103及び104はカメラ本
体の外枠構成部材、105は測光素子である。
【0014】この状態では、受光レンズがないので測光
素子105には立体角βに含まれる広い範囲の被写体か
らの反射光が入射する。
【0015】つまり、AF用の受光素子102と露出制
御用の測光素子105とでは、撮影画面に対して見てい
る範囲が異なり、測光素子105の方が通常かなり広い
ので、該測光素子105の出力レベルが高い時に必ずし
もAF用受光素子102の出力レベルが高いとは限ら
ず、又、逆の場合も考えられる。
【0016】第2には、アクティブAFでは通常、赤外
発光ダイオード(IRED)を用いるので、AF用受光
素子はこの赤外領域にも感度を持つ様に構成されてい
る。一方、露出制御用の測光素子は写真の要求からして
可視光領域のみに感度を持つ様に構成されている。よっ
て、この分光感度の違いによっても、両者の検出レベル
に違いが生じてくる。
【0017】このように、上記特開平2−12215号
に開示されているカメラにおいては、その目的を達成す
るのには不完全であり、充分満足できる結果を得られな
いものである。
【0018】(発明の目的)本発明の目的は、外光レベ
ルの誤検出を防止し、AF用受光素子の出力信号が入力
される演算増幅器の飽和を防ぐための帰還抵抗の切換え
を精度良く行うことのできるアクティブAF装置を提供
することである。
【0019】
【課題を解決するための手段】本発明は、演算増幅器の
出力レベルを基準電圧と比較するレベル比較器と、該レ
ベル比較器の出力をラッチするラッチ回路と、該ラッチ
回路の出力に応じて、帰還抵抗の抵抗値を切換える切換
回路とを設け、AF用の受光素子の出力信号が入力され
る演算増幅器の出力レベルの高低に応じて、帰還抵抗の
抵抗値を切換えるようにしている。
【0020】
【実施例】以下、本発明を図示の実施例に基づいて詳細
に説明する。
【0021】図1は本発明の第1の実施例におけるアク
ティブAF装置の構成を示す回路図であり、図中、11
は電源電池、12は電源スイッチング用のトランジス
タ、13はそのベース抵抗、14はカメラのレリーズボ
タンの第1ストロークで閉成するスイッチ、15は電源
コンデンサ、16は電源投入時の初期リセット信号(P
UC信号)を発生するPUC信号発生回路、17は2つ
の基準電圧Vc1及びVc2(Vc2>Vc1)を発生する基準
電圧発生回路である。
【0022】18はAF用の受光レンズ、19はAF用
の受光素子(以下、PSDと記す)で、信号A,Bを出
力する。20はオペアンプで、その非反転入力端子には
基準電圧Vc1が印加され、反転入力端子は前記PSD1
9からの信号Aが入力されている。21及び22はフィ
ードバック抵抗で、フィードバック抵抗22はアナログ
スイッチ23と直列に接続され、該アナログスイッチ2
3は前記オペアンプ20の負帰還ループに接続されてい
る。24はオペアンプで、その非反転入力端子には基準
電圧Vc1が印加され、反転入力端子は前記PSD19か
らの信号Bが入力されている。25及び26はフィード
バック抵抗で、フィードバック抵抗26はアナログスイ
ッチ27と直列に接続され、該アナログスイッチ27は
前記オペアンプ24の負帰還ループに接続されている。
【0023】28はコンパレータで、その非反転入力は
前記オペアンプ20の出力が入力され、反転入力には前
記基準電圧Vc2が印加されている。29はRSフリップ
フロップ回路で、その入力端子Sは前記コンパレータ2
8の出力が入力され、入力端子Rには前記PUC信号発
生回路16よりのPUC信号が入力され、又その出力端
子Qは前記アナログスイッチ23,27の制御端子に接
続されている。30及び31は各々前記オペアンプ20
と24の出力側に接続された直流カット用のコンデン
サ、32は公知のAF処理回路である。
【0024】以上の様に構成されたアクティブAF装置
の動作について説明する。
【0025】レリーズボタンの第1ストロークによりス
イッチ14が閉成すると、電源トランジスタ12がオン
し、初期リセット信号(PUC信号)がPUC信号発生
回路16より出力されると共に基準電圧Vc1及びVc2
基準電圧発生回路17から出力される。上記PUC信号
によりRSフリップフロップ回路29はリセットされ、
その出力端子Qよりの出力はローレベルにリセットされ
る。よって、アナログスイッチ23及び27はオフ状態
を保持し、フィードバック抵抗21及び25のみが各々
オペアンプ20及び24の負帰還ループに接続される。
【0026】次に、この状態でPSD19に入射する外
光成分が多い場合を考える。
【0027】この場合は、オペアンプ20及び24の直
流出力レベルが上昇し、このレベルが基準電圧Vc2のレ
ベルより上昇すると、コンパレータ28の出力がハイレ
ベルに反転し、RSフリップフロップ回路29をセット
する。よって、その出力端子Qの出力はハイレベルに反
転保持され、アナログスイッチ23及び27はオンす
る。その為、この場合はオペアンプ20のフィードバッ
ク抵抗値は抵抗21,22の並列抵抗値に、又、オペア
ンプ24のフィードバック抵抗値は抵抗25と2626
の並列抵抗値になり、各々ともフィードバック抵抗値が
減少する。
【0028】以上の様にこの第1の実施例では、外光レ
ベルが高い場合には、初段のオペアンプ20,24のフ
ィードバック抵抗の値を自動的に低くするようにしてい
るため、これらオペアンプ20,24の飽和現象を未然
に防ぐことが可能となる。
【0029】また、PSD19に入射する外光成分が少
ない場合は、コンパレータ28の出力はハイレベルには
反転しないので、RSフリップフロップ回路29はセッ
トされず、上記の抵抗値の切換えは行われない。
【0030】(第2の実施例)図2は本発明の第2の実
施例におけるアクティブAF装置の構成を示す回路図で
あり、図1と同じ部分は同一符号を付してある。
【0031】図2において、33はコンパレータで、そ
の反転入力には基準電圧Vc2が印加さ、非反転入力は前
記オペアンプ24の出力が入力されている。34は2入
力のオアオアゲートで、その2入力は各々前記コンパレ
ータ28及び33の出力が入力されている。
【0032】35及び36はDフリップフロップ回路
で、Dフリップフロップ回路35の入力端子Dには前記
オアゲート34の出力が、又そのリセット端子RにはP
UC信号が、それぞれ入力されている。又、Dフリップ
フロップ回路36の入力端子Dには前記Dフリップフロ
ップ回路37の出力端子Qの出力が、又そのリセット端
子RにはPUC信号が、それぞれ入力されている。
【0033】37は2入力のアンドゲートで、Dフリッ
プフロップ回路35及び36の出力端子Qの出力がそれ
ぞれ入力されており、その出力は前記アナログスイッチ
23及び27の制御端子へ印加される。
【0034】38はマイクロコンピュータ(又はシーケ
ンスコントローラ)で、その出力ポートPO1は電源スイ
ッチング用トランジスタ12のベース抵抗13に接続さ
れ、又、出力ポートPO2は前記Dフリップフロップ回路
35及び36のクロック入力端子に接続されている。更
に、出力ポートPO3は公知のAF処理回路32のイネー
ブル端子及びIRED駆動回路39と接続されている。
また、入力ポートPI1はレリーズボタンの第1ストロー
クで閉成する前記スイッチ14と接続されている。
【0035】40は前記IRED駆動回路39によって
駆動される投光素子であるところのIRED(赤外発光
ダイオード)、41は投光レンズである。
【0036】又、AF処理回路32及びIRED駆動回
路39には、マイクロコンピュータ38からクロック信
号CLKが入力されている。
【0037】ここで、この第2の実施例において、上記
の第1の実施例と異なるのは、以下の3点である。
【0038】1)PSD19の2つの出力信号A,Bの
初段オペアンプ20,24の出力レベルを検知して、い
ずれかが所定値を越えたらフィードバック抵抗の抵抗値
を切換える様にしている。
【0039】2)所定のタイミングで初段オペアンプ2
0,24の出力レベルを検知するようにし、その後に公
知のAF処理回路32の動作を行わしめる様にしてい
る。これにより、AF処理回路32の動作中の外光輝度
レベル変化によっ て、フィードバック抵抗の値が切
換わるのを防止し、該AF処理回路32 の動作の安
定化を図っている。
【0040】3)初段オペアンプ20,24の出力レベ
ルの検知回路(コンパレータ28,33)に、外来ノイ
ズ等によって誤検知しない様に誤検知防止回路(Dフリ
ップフロップ回路35,36)を設けている。
【0041】以上の特長を持つアクティブAF装置の動
作について、以下に説明する。
【0042】まず、レリーズボタンの第1ストロークで
スイッチ14がオンすると、マイクロコンピュータ38
の出力ポートPO1がローレベルに反転し、ベース抵抗1
3を介して電源トランジスタ12がオンし、PUC信号
がPUC信号発生回路16から発生する。このPUC信
号によりDフリップフロップ35及び36は初期リセッ
トされ、それぞれの出力端子Qの出力はローレベルに保
持され、アナログスイッチ23及び27はオフの状態に
保持される。
【0043】その後、図3のタイミングチャートに示す
様に、スイッチ14がオンしてから所定期間(T1 )後
に、マイクロコンピュータ38の出力ポートPO2から2
個のパルスが発生するが、1個目のパルスが発生した時
点で、PSD19への外光入射量が多く、オペアンプ2
0又は24の直流出力レベルが所定値を越え、コンパレ
ータ28又は33の出力のいずれかが(又は両方が)ハ
イレベルに反転していると、2入力オアゲート34の出
力はハイレベルになるので、Dフリップフロップ35は
それをラッチして、その出力端子Qからはハイレベルが
出力されるようになる。次に2個目のパルスが発生した
時点でも未だ外光入射量が多く、オアゲート34の出力
がハイレベルであると、Dフリップフロップ35のみで
なくDフリップフロップ36の出力もハイレベルにラッ
チされる。
【0044】よって、アンドゲート37の出力はハイレ
ベルに反転し、アナログスイッチ23及び27はオン
し、初段オペアンプ20,24のフィードバック抵抗値
は低い値に切換わる。
【0045】マイクロコンピュータ38の出力ポートP
O2から2個目のパルスが発生してから更に所定期間(T
2 )後には、該マイクロコンピュータ38の出力ポート
O3がハイレベルに反転し、これにより、IRED駆動
回路39が、前記マイクロコンピュータ38からのクロ
ック信号CLKを受けて動作を開始し、IRED40は
そのクロック信号により点滅駆動し、被写体へ向けて光
が投射される。又、上記出力ポートPO3のハイレベルへ
の反転により、AF処理回路32も動作を開始し、被写
体から反射してPSD19に入射した信号光によるオペ
アンプ20及び24の信号電圧を、マイクロコンピュー
タ38からのクロック信号CLKに基づいて同期処理を
する。
【0046】この第2の実施例において、図3に示され
た期間T1 は電源トランジスタ12がオンしてから電源
電圧及び各アンプ等の回路の動作が安定するに足る期間
以上に設定される。同じく期間T2 は初段オペアンプ2
0,24のフィードバック抵抗値が切換わってからこの
アンプの出力が安定化するに足る期間以上に設定され
る。
【0047】以上の実施例は、前記した様に以下の3点
の特長を持っている。
【0048】1)受光素子であるところのPSD19の
2つの直流出力レベル(A,B)をそれぞれを検知し
て、初段オペアンプ20,24のフィードバック抵抗値
を切換える構成になっているので、被写体にコントラン
トがあって、片方 の出力レベルのみ高い場合でも検
知ミスを生じることがない。
【0049】2)PSD19の直流出力レベルの検知タ
イミングを、AF処理演算を行う前の所定のタイミング
(出力ポートPO2からの2発のパルスが発生時)に限定
しているので、AF処理演算中に外光変化やノイズ等で
初段オペアンプ20,24のフィードバック抵抗値が切
換わり、回路の不安定動作をする のを未然に防止す
ることができる。つまり、AF処理演算中にフィードバ
ック抵抗値が切換わると、初段オペアンプ20,2
4の直流出力レベルが 変化するので、直流カット用
コンデンサ30及び31を介して入力される 交流信
号電圧が不安定になってしまうが、それを防止でき、そ
の効果は絶 大である。
【0050】3)PSD19の直流出力レベルの検知を
外来ノイズ等で誤動作するのを防止する為に、Dフリッ
プフロップ回路35,36で構成する誤動作防止回路を
設けている。つまり、この回路の働きにより、マイクロ
コンピュータ3 8の出力ポートPO2からの2つのパ
ルス発生の期間、外光レベルが高い場 合のみ検出さ
れ、それより短いノイズ等では誤検知しない様になって
いる 。
【0051】以上の各実施例によれば、AF用の受光素
子であるPSD19への外光入射量が多い時のみ、初段
オペアンプ20,24のフィードバック抵抗値を下げる
様にしているので、それ以外の通常輝度範囲では、フィ
ードバック抵抗値を高くして測距精度を上げ、かつ、外
光による初段アンプの飽和現象を防止することができ
る。
【0052】また、PSD19自体の出力レベルから外
光レベルを検知しているので、特開平2−12215号
にて開示されるもの様に、検出素子の被写体に対する見
込み範囲の違いや、分光感度の違いによる誤検知の問題
を一切有せず、よって目的に対する完成度及び効果は絶
大なるものがある。
【0053】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
演算増幅器の出力レベルを基準電圧と比較するレベル比
較器と、該レベル比較器の出力をラッチするラッチ回路
と、該ラッチ回路の出力に応じて、帰還抵抗の抵抗値を
切換える切換回路とを設け、AF用の受光素子の出力信
号が入力される演算増幅器の出力レベルの高低に応じ
て、帰還抵抗の抵抗値を切換えるようにしている。
【0054】よって、外光レベルの誤検出を防止でき、
AF用受光素子の出力信号が入力される演算増幅器の飽
和を防ぐための帰還抵抗の切換えを精度良く行うことが
可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施例におけるアクティブAF
装置の構成を示す回路図である。
【図2】本発明の第2の実施例におけるアクティブAF
装置の構成を示す回路図である。
【図3】図2の動作説明を助けるためのタイミングチャ
ートである。
【図4】一般的なAF用受光光学系と露出制御用測光光
学系の配置を示す図である。
【符号の説明】
19 PSD 20,24 オペアンプ 21,22,25,26 フィードバック抵抗 23,27 アナログスイッチ 28,33 コンパレータ 29 RSフリップフロップ 35,36 Dフリップフロップ 38 マイクロコンピュータ 39 IRED駆動回路 40 IRED

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被写体へ向けて光を投射する投光素子
    と、該投光素子と基線長方向に隔てて配置される受光素
    子と、該受光素子の出力信号が入力される演算増幅器
    と、該演算増幅器の負帰還路に配置される帰還抵抗とを
    備えたアクティブAF装置において、前記演算増幅器の
    出力レベルを基準電圧と比較するレベル比較器と、該レ
    ベル比較器の出力をラッチするラッチ回路と、該ラッチ
    回路の出力に応じて、前記帰還抵抗の抵抗値を切換える
    切換回路とを設けたことを特徴とするアクティブAF装
    置。
  2. 【請求項2】 ラッチ回路の動作を制御するタイミング
    信号発生回路を具備した請求項1記載のアクティブAF
    装置。
JP10492793A 1993-04-08 1993-04-08 アクティブaf装置 Pending JPH06294931A (ja)

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