JPH06295465A - 光ピックアップ装置 - Google Patents
光ピックアップ装置Info
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- JPH06295465A JPH06295465A JP5284928A JP28492893A JPH06295465A JP H06295465 A JPH06295465 A JP H06295465A JP 5284928 A JP5284928 A JP 5284928A JP 28492893 A JP28492893 A JP 28492893A JP H06295465 A JPH06295465 A JP H06295465A
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- light beam
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Abstract
(57)【要約】
【目的】 光学系の複雑化を避け、かつ高S/Nで信号
検出が可能となる光ピックアップを提供する。 【構成】 偏光光束を発する光源20と、対物レンズ2
3と、光源20から記録媒体24に至る光路中に配され
た第1及び第2のプリズム22a,22bからなるビー
ムスプリッター22’と、記録媒体24からの反射光束
を検出する検出手段28とを有し、光源20からの光束
を第1のプリズム22aを介して反射させ記録媒体24
に導くとともに、該記録媒体からの反射光束を第1及び
第2のプリズム22a,22bを透過させることによっ
て記録媒体24に照射される光束から前記反射光束を分
離し、第2のプリズム22bは前記反射光束を互いに偏
光方向が直交する第1及び第2の光束に分割する一軸性
結晶からなり、検出手段28は前記第1及び第2の光束
を各々検出する第1及び第2の検出器を有し、該第1及
び第2の検出器の検出出力を差分して情報信号を得る手
段を有する。
検出が可能となる光ピックアップを提供する。 【構成】 偏光光束を発する光源20と、対物レンズ2
3と、光源20から記録媒体24に至る光路中に配され
た第1及び第2のプリズム22a,22bからなるビー
ムスプリッター22’と、記録媒体24からの反射光束
を検出する検出手段28とを有し、光源20からの光束
を第1のプリズム22aを介して反射させ記録媒体24
に導くとともに、該記録媒体からの反射光束を第1及び
第2のプリズム22a,22bを透過させることによっ
て記録媒体24に照射される光束から前記反射光束を分
離し、第2のプリズム22bは前記反射光束を互いに偏
光方向が直交する第1及び第2の光束に分割する一軸性
結晶からなり、検出手段28は前記第1及び第2の光束
を各々検出する第1及び第2の検出器を有し、該第1及
び第2の検出器の検出出力を差分して情報信号を得る手
段を有する。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、情報担体の情報記録面
に光を照射し、情報の検出又は記録を行なう光ピックア
ップ装置に関し、特に小型・低コストで高S/N信号再
生が行なえる光ピックアップ装置に関するものである。
に光を照射し、情報の検出又は記録を行なう光ピックア
ップ装置に関し、特に小型・低コストで高S/N信号再
生が行なえる光ピックアップ装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術及び発明が解決しようとする課題】近年書
き換え可能な光ディスク記録媒体およびその媒体を利用
した光ディスク記録再生装置の研究、開発が盛んに行な
われている。このような光ディスク記録媒体の一つに光
磁気記録媒体がある。光磁気記録媒体(以下単に記録媒
体と称す)からの信号再生は、カー効果又はファラデー
効果と呼ばれる磁気−光学効果を利用して行なわれる。
すなわち記録媒体からの反射光又は透過光の偏光面は記
録媒体入射時の偏光面から僅かであるが回転しており、
その回転成分を偏光板等で強度変調に変換して信号検出
を行なう。
き換え可能な光ディスク記録媒体およびその媒体を利用
した光ディスク記録再生装置の研究、開発が盛んに行な
われている。このような光ディスク記録媒体の一つに光
磁気記録媒体がある。光磁気記録媒体(以下単に記録媒
体と称す)からの信号再生は、カー効果又はファラデー
効果と呼ばれる磁気−光学効果を利用して行なわれる。
すなわち記録媒体からの反射光又は透過光の偏光面は記
録媒体入射時の偏光面から僅かであるが回転しており、
その回転成分を偏光板等で強度変調に変換して信号検出
を行なう。
【0003】この偏光面の回転角は大略1°前後なの
で、検出される信号成分は微小となり、信号検出の光ピ
ックアップ装置には幾つかの工夫がなされている。
で、検出される信号成分は微小となり、信号検出の光ピ
ックアップ装置には幾つかの工夫がなされている。
【0004】図9は従来より用いられている光ピックア
ップ装置の概略図を示したものである。同図において半
導体レーザ(以下単にLDと称す)1から発せられた光
束はコリメータレンズ2で平行光束に変換される。平行
光束はその後ビームスプリッター3を通過し、対物レン
ズ4により記録媒体5上に大略φ1μmのスポットに集
光される。記録媒体5から反射された光束はカー効果及
びファラデー効果で偏光面変調を受け再び対物レンズ4
を通過し、ビームスプリッター3により入射光束と分離
される。分離された光束は、第2のビームスプリッター
6により一部反射され、レンズ系7を通り光センサ8に
入射する。レンズ系7は公知の方式、例えば非点収差
系、ナイフエッジ系、フーコプリズム系で構成されてお
り、記録媒体5と対物レンズ4との間隔の情報、即ちA
F誤差信号が得られる。またこれも公知のプッシュプル
法等で情報トラックとのズレ、即ちAT誤差信号も得ら
れる。これらの誤差信号を図示していない対物レンズの
駆動系(一般にはアクチュエータという)にフィードバ
ックして、正確な焦点位置で、正確にトラッキングを行
い、信号の検出又は記録を行なう。
ップ装置の概略図を示したものである。同図において半
導体レーザ(以下単にLDと称す)1から発せられた光
束はコリメータレンズ2で平行光束に変換される。平行
光束はその後ビームスプリッター3を通過し、対物レン
ズ4により記録媒体5上に大略φ1μmのスポットに集
光される。記録媒体5から反射された光束はカー効果及
びファラデー効果で偏光面変調を受け再び対物レンズ4
を通過し、ビームスプリッター3により入射光束と分離
される。分離された光束は、第2のビームスプリッター
6により一部反射され、レンズ系7を通り光センサ8に
入射する。レンズ系7は公知の方式、例えば非点収差
系、ナイフエッジ系、フーコプリズム系で構成されてお
り、記録媒体5と対物レンズ4との間隔の情報、即ちA
F誤差信号が得られる。またこれも公知のプッシュプル
法等で情報トラックとのズレ、即ちAT誤差信号も得ら
れる。これらの誤差信号を図示していない対物レンズの
駆動系(一般にはアクチュエータという)にフィードバ
ックして、正確な焦点位置で、正確にトラッキングを行
い、信号の検出又は記録を行なう。
【0005】第2のビームスプリッター6を通過する残
りの光束は、1/2波長板9を通り偏光ビームスプリッ
ター10にて2方向に分割される。1/2波長板9の光
学的結晶軸を入射光束の偏光軸に対し22.5°傾けて
配置すると、偏光ビームスプリッター10により2分割
される光量は等しく、かつ偏光板をそれぞれの光束に4
5°,−45°の透過軸を持たせて配置したものと等価
になる。2分割された光束はそれぞれセンサー集束レン
ズ11,12によって信号検出用センサー13,14に
集束され、該信号検出用センサー13,14からの電気
信号を差分する(差動検出)ことにより、記録媒体5上
の情報信号の検出が行なえる。
りの光束は、1/2波長板9を通り偏光ビームスプリッ
ター10にて2方向に分割される。1/2波長板9の光
学的結晶軸を入射光束の偏光軸に対し22.5°傾けて
配置すると、偏光ビームスプリッター10により2分割
される光量は等しく、かつ偏光板をそれぞれの光束に4
5°,−45°の透過軸を持たせて配置したものと等価
になる。2分割された光束はそれぞれセンサー集束レン
ズ11,12によって信号検出用センサー13,14に
集束され、該信号検出用センサー13,14からの電気
信号を差分する(差動検出)ことにより、記録媒体5上
の情報信号の検出が行なえる。
【0006】この差動検出法の利点を以下に説明する。
【0007】図10は、1/2波長板9から偏光ビーム
スプリッター10に至り、ここで分割されセンサー1
3,14に到達する信号振幅成分を模式的に示したもの
である。同図において縦軸を入射光束の偏光方向とする
と記録媒体5より反射された光束は光磁気パターンの磁
区の磁化の向き(上向きあるいは下向き)により、その
偏光面がθK あるいは−θK 回転する。1/2波長板9
と偏光ビームスプリッター10の組み合せは透過軸を4
5°傾けて偏光板を配置した系と等価であるから、仮想
の透過軸x,x′(それぞれ±45°傾けた破線の軸)
への投影成分の差S1 とS1 ′が信号振幅成分となる。
スプリッター10に至り、ここで分割されセンサー1
3,14に到達する信号振幅成分を模式的に示したもの
である。同図において縦軸を入射光束の偏光方向とする
と記録媒体5より反射された光束は光磁気パターンの磁
区の磁化の向き(上向きあるいは下向き)により、その
偏光面がθK あるいは−θK 回転する。1/2波長板9
と偏光ビームスプリッター10の組み合せは透過軸を4
5°傾けて偏光板を配置した系と等価であるから、仮想
の透過軸x,x′(それぞれ±45°傾けた破線の軸)
への投影成分の差S1 とS1 ′が信号振幅成分となる。
【0008】回転角度θK と−θK は光磁気パターンに
よって時間的に変化するため、信号検出用センサー1
3,14で受光された信号の信号強度変化は図11
(a),(b)に示すように分割された光束でそれぞれ
位相が180°ずれている。
よって時間的に変化するため、信号検出用センサー1
3,14で受光された信号の信号強度変化は図11
(a),(b)に示すように分割された光束でそれぞれ
位相が180°ずれている。
【0009】光磁気信号は以上の如く位相が反転する
が、通常ノイズ成分(記録媒体5からのノイズ、LD1
からの光のゆらぎノイズ等)はこれらの信号に乗りこの
ノイズ成分は同相となっている。
が、通常ノイズ成分(記録媒体5からのノイズ、LD1
からの光のゆらぎノイズ等)はこれらの信号に乗りこの
ノイズ成分は同相となっている。
【0010】従って、センサー13,14から得られる
信号の差動をとると信号成分は強め合い、ノイズ成分は
減少することになり、光学系の配置が正確に行なわれて
いればS1 2とS1 ′2 は等しく、又ノイズ振幅も等しい
ので信号は2倍となりノイズは0となる(図11(c)
図示)。
信号の差動をとると信号成分は強め合い、ノイズ成分は
減少することになり、光学系の配置が正確に行なわれて
いればS1 2とS1 ′2 は等しく、又ノイズ振幅も等しい
ので信号は2倍となりノイズは0となる(図11(c)
図示)。
【0011】このように図9に示したような差動検出法
はS/Nの良い信号が検出できる利点がある。
はS/Nの良い信号が検出できる利点がある。
【0012】しかしながら、上記のような光ピックアッ
プ装置においては、部品数が多く、また、各光学部品間
の位置調整が必要なことから、製品のコストアップや、
信頼性低下の原因となっていた。
プ装置においては、部品数が多く、また、各光学部品間
の位置調整が必要なことから、製品のコストアップや、
信頼性低下の原因となっていた。
【0013】これらの欠点を部分的に補う発明として、
図9図示の偏光ビームスプリッター10のかわりに、ウ
ォラストンプリズムを用いる構成の光ピックアップ装置
が提案されている。
図9図示の偏光ビームスプリッター10のかわりに、ウ
ォラストンプリズムを用いる構成の光ピックアップ装置
が提案されている。
【0014】図12は、そのような光ピックアップ装置
の概略図を示したものである。同図においてビームスプ
リッター6を透過した光束は、1/2波長板9を通った
後水晶、方解石等で作られたウォラストンプリズム15
に入射する。このプリズム15は、結晶軸の向きが相互
に直交した一組のプリズムより構成されており、入射光
束を相互に直交した振動面内で振動する一組の直線偏光
に分離し、夫々を光軸に対して微小な角度だけ偏向して
射出する働きを有している。
の概略図を示したものである。同図においてビームスプ
リッター6を透過した光束は、1/2波長板9を通った
後水晶、方解石等で作られたウォラストンプリズム15
に入射する。このプリズム15は、結晶軸の向きが相互
に直交した一組のプリズムより構成されており、入射光
束を相互に直交した振動面内で振動する一組の直線偏光
に分離し、夫々を光軸に対して微小な角度だけ偏向して
射出する働きを有している。
【0015】このため、センサー集光レンズ11の焦点
位置には、二つの光スポットが生じ、夫々光検出器1
6,17で検出され、差動検出が行なわれることとな
る。
位置には、二つの光スポットが生じ、夫々光検出器1
6,17で検出され、差動検出が行なわれることとな
る。
【0016】図12の光ピックアップ装置は、図9図示
の2つの偏光ビームスプリッターを使用する光ピックア
ップ装置と比較し、偏光ビームスプリッター10が不要
となることや、単一の基板上に作製された一組の光検出
器16,17を使用することから、電気的特性をそろえ
ることが可能で、差動検出が有効に行なえること、セン
サーレンズが1つだけとなるので、調整が容易となるこ
と等、多くの利点がある。
の2つの偏光ビームスプリッターを使用する光ピックア
ップ装置と比較し、偏光ビームスプリッター10が不要
となることや、単一の基板上に作製された一組の光検出
器16,17を使用することから、電気的特性をそろえ
ることが可能で、差動検出が有効に行なえること、セン
サーレンズが1つだけとなるので、調整が容易となるこ
と等、多くの利点がある。
【0017】しかしながら、本公知例においても、ビー
ムスプリッター6、センサー集光レンズ7、フォーカス
エラー、トラッキングエラー検出用光検出器8が必要と
なり、構成が複雑である欠点を有している。
ムスプリッター6、センサー集光レンズ7、フォーカス
エラー、トラッキングエラー検出用光検出器8が必要と
なり、構成が複雑である欠点を有している。
【0018】本発明の目的は、上記の従来例の欠点であ
った光学系の複雑化を避け、かつ高S/Nで信号検出が
可能となる光ピックアップを提供することにある。
った光学系の複雑化を避け、かつ高S/Nで信号検出が
可能となる光ピックアップを提供することにある。
【0019】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、以上の
如き目的を達成するものとして、所定の方向に偏光した
光束を発する光源と、該光源から発せられた光束を記録
媒体上に集光する対物レンズと、前記光源から前記記録
媒体に至る光路中に配された第1及び第2のプリズムか
らなるビームスプリッターと、情報に応じて偏光状態に
変調を受けた前記記録媒体からの反射光束を検出する検
出手段とを有し、前記光源からの光束を前記第1のプリ
ズムを介して反射させ前記記録媒体に導くとともに、該
記録媒体からの反射光束を前記第1及び第2のプリズム
を透過させることによって前記記録媒体に照射される光
束から前記反射光束を分離する光ピックアップ装置にお
いて、前記第2のプリズムは前記反射光束を互いに偏光
方向が直交する第1及び第2の光束に分割する一軸性結
晶からなり、前記検出手段は前記第1及び第2の光束を
各々検出する第1及び第2の検出器を有し、前記第1及
び第2の検出器の検出出力を差分して情報信号を得る手
段を有することを特徴とする光ピックアップ装置、が提
供される。
如き目的を達成するものとして、所定の方向に偏光した
光束を発する光源と、該光源から発せられた光束を記録
媒体上に集光する対物レンズと、前記光源から前記記録
媒体に至る光路中に配された第1及び第2のプリズムか
らなるビームスプリッターと、情報に応じて偏光状態に
変調を受けた前記記録媒体からの反射光束を検出する検
出手段とを有し、前記光源からの光束を前記第1のプリ
ズムを介して反射させ前記記録媒体に導くとともに、該
記録媒体からの反射光束を前記第1及び第2のプリズム
を透過させることによって前記記録媒体に照射される光
束から前記反射光束を分離する光ピックアップ装置にお
いて、前記第2のプリズムは前記反射光束を互いに偏光
方向が直交する第1及び第2の光束に分割する一軸性結
晶からなり、前記検出手段は前記第1及び第2の光束を
各々検出する第1及び第2の検出器を有し、前記第1及
び第2の検出器の検出出力を差分して情報信号を得る手
段を有することを特徴とする光ピックアップ装置、が提
供される。
【0020】
【実施例】以下、本発明の光ピックアップ装置について
詳細に説明する。
詳細に説明する。
【0021】図1は本発明の光ピックアップ装置の参考
例を示す概略構成図である。同図においてLD20より
発せられた光束はコリメーターレンズ21にて平行光束
となり、ビーム・スプリッター22を透過し、対物レン
ズ23により記録媒体24上に微小スポットで集光す
る。記録媒体24からの反射光束は再び対物レンズ23
を通り、ビーム・スプリッター22で反射されて1/2
波長板25を通過し、その偏光面方向を45°回転し、
ウォラストンプリズム26に入射する。この結果、光束
は、紙面内で振動する直線偏光と、紙面に垂直な面内で
振動する直線偏光とに分けられ、センサーレンズ27に
より集光される。
例を示す概略構成図である。同図においてLD20より
発せられた光束はコリメーターレンズ21にて平行光束
となり、ビーム・スプリッター22を透過し、対物レン
ズ23により記録媒体24上に微小スポットで集光す
る。記録媒体24からの反射光束は再び対物レンズ23
を通り、ビーム・スプリッター22で反射されて1/2
波長板25を通過し、その偏光面方向を45°回転し、
ウォラストンプリズム26に入射する。この結果、光束
は、紙面内で振動する直線偏光と、紙面に垂直な面内で
振動する直線偏光とに分けられ、センサーレンズ27に
より集光される。
【0022】図1(b)および図1(c)は、光検出器
28の受光部29の分割の例を示した図である。対物レ
ンズ23と記録媒体24との関係が合焦の位置にあると
き、光束は図1(b),(c)の斜線部で示す領域に広
がっている。いま、各受光面A〜Fからの信号出力をそ
れぞれIA ,IB ,IC ,ID ,IE ,IF とすると、
フォーカスエラー信号IAF1 は、 IAF1 =(IA +IB +IE +IF )−(IC +ID ) で与えられる。
28の受光部29の分割の例を示した図である。対物レ
ンズ23と記録媒体24との関係が合焦の位置にあると
き、光束は図1(b),(c)の斜線部で示す領域に広
がっている。いま、各受光面A〜Fからの信号出力をそ
れぞれIA ,IB ,IC ,ID ,IE ,IF とすると、
フォーカスエラー信号IAF1 は、 IAF1 =(IA +IB +IE +IF )−(IC +ID ) で与えられる。
【0023】いま、図1(b)において記録媒体24が
対物レンズ23に対して遠ざかった場合には、図1
(b)の破線に示すように光スポットが小さくなり、こ
の結果出力IC ,ID が大きくなってフォーカスエラー
信号IAF1 は負の値をとる。また、記録媒体24が近づ
いたときには、受光部29上の光スポットの大きさは大
きくなり、この結果フォーカスエラー信号IAF1 は正の
値をとる。
対物レンズ23に対して遠ざかった場合には、図1
(b)の破線に示すように光スポットが小さくなり、こ
の結果出力IC ,ID が大きくなってフォーカスエラー
信号IAF1 は負の値をとる。また、記録媒体24が近づ
いたときには、受光部29上の光スポットの大きさは大
きくなり、この結果フォーカスエラー信号IAF1 は正の
値をとる。
【0024】図1(c)に示す同心円形の受光部29を
用いた場合にも、外側の受光面と内側の受光面の出力の
差をとることにより、同様にフォーカスエラー信号検出
が可能となる。
用いた場合にも、外側の受光面と内側の受光面の出力の
差をとることにより、同様にフォーカスエラー信号検出
が可能となる。
【0025】一方、トラッキングエラー信号検出は、本
参考例においても、従来公知であるプッシュプル法で得
ることができる。すなわち、 IAT1 =(IA +IC +IE )−(IB +ID +IF ) を計算することにより、トラッキングエラー信号検出が
可能となる。
参考例においても、従来公知であるプッシュプル法で得
ることができる。すなわち、 IAT1 =(IA +IC +IE )−(IB +ID +IF ) を計算することにより、トラッキングエラー信号検出が
可能となる。
【0026】次に本参考例の光ピックアップ装置によっ
て光磁気による情報信号が差動検出できる理由を示す。
て光磁気による情報信号が差動検出できる理由を示す。
【0027】図1において、記録媒体24からの反射光
は磁気−光学効果によって、記録媒体24の磁気パター
ン(磁化の方向が上向きあるいは下向き)によってその
偏光面がθK あるいは−θK に回転した状態で1/2波
長板25に入射する。該1/2波長板25はその結晶軸
をウォラストンプリズム26の結晶軸に対し22.5°
の角度を持たせて配置する。ウォラストンプリズム26
は前記したように入射光束を相互に直交した振動面を有
する2つの直線偏光に分割するため、これらの光束を受
光部29で分離検出すると、図2に示すようにそれぞれ
位相が反転した信号として検出できる。
は磁気−光学効果によって、記録媒体24の磁気パター
ン(磁化の方向が上向きあるいは下向き)によってその
偏光面がθK あるいは−θK に回転した状態で1/2波
長板25に入射する。該1/2波長板25はその結晶軸
をウォラストンプリズム26の結晶軸に対し22.5°
の角度を持たせて配置する。ウォラストンプリズム26
は前記したように入射光束を相互に直交した振動面を有
する2つの直線偏光に分割するため、これらの光束を受
光部29で分離検出すると、図2に示すようにそれぞれ
位相が反転した信号として検出できる。
【0028】図2においてX軸はウォラストンプリズム
26の第1のプリズムの結晶軸、Y軸はこれに直交した
成分を示す軸である。磁気−光学効果で入射光の偏光面
からθK あるいは−θK の回転を受けた光束は(図2に
おいて破線が偏光面を示す)1/2波長板25によって
45°の偏光面回転を受ける。この後ウォラストンプリ
ズム26によって2分割されるため、その変動振幅(S
1 とS1 ′)は等しく、位相は反転した2光束となる。
従ってこれらの2光束をそれぞれ受光部29で検出すれ
ば記録媒体24の光磁気信号が得られる。すなわち、図
1(b)の光検出器28では光磁気情報信号IS は、 IS =(IA +IB +IC +ID +IE +IF )−(I
G +IH +II +IJ +IK +IL ) となり、図1(c)の光検出器28では IS =(IA +IB +IC +ID )−(IE +IF +I
G +IH ) で得ることができる。
26の第1のプリズムの結晶軸、Y軸はこれに直交した
成分を示す軸である。磁気−光学効果で入射光の偏光面
からθK あるいは−θK の回転を受けた光束は(図2に
おいて破線が偏光面を示す)1/2波長板25によって
45°の偏光面回転を受ける。この後ウォラストンプリ
ズム26によって2分割されるため、その変動振幅(S
1 とS1 ′)は等しく、位相は反転した2光束となる。
従ってこれらの2光束をそれぞれ受光部29で検出すれ
ば記録媒体24の光磁気信号が得られる。すなわち、図
1(b)の光検出器28では光磁気情報信号IS は、 IS =(IA +IB +IC +ID +IE +IF )−(I
G +IH +II +IJ +IK +IL ) となり、図1(c)の光検出器28では IS =(IA +IB +IC +ID )−(IE +IF +I
G +IH ) で得ることができる。
【0029】以上、本参考例を実施することにより従来
の光ヘッドでは3個も必要であったビームスプリッター
素子は1個しか必要ではなくなり、装置の小型軽量化
と、高信頼性化とが可能となった。また、光検出器28
は、同一基板上に差動検出を行なう一組の受光部29が
作製されていることから、使用温度変化等の外部変動に
強い差動検出を行なうことが可能となった。
の光ヘッドでは3個も必要であったビームスプリッター
素子は1個しか必要ではなくなり、装置の小型軽量化
と、高信頼性化とが可能となった。また、光検出器28
は、同一基板上に差動検出を行なう一組の受光部29が
作製されていることから、使用温度変化等の外部変動に
強い差動検出を行なうことが可能となった。
【0030】更に光検出器と同一基板上に一組の増幅回
路を形成すると、この回路間の周波数特性、温度特性も
良好に一致させることが出来、信号品質をより向上させ
ることが可能となる。また、前述のような差動検出を行
なう差動アンプを光検出器内に内蔵させることによっ
て、ノイズに強い検出が出来る。
路を形成すると、この回路間の周波数特性、温度特性も
良好に一致させることが出来、信号品質をより向上させ
ることが可能となる。また、前述のような差動検出を行
なう差動アンプを光検出器内に内蔵させることによっ
て、ノイズに強い検出が出来る。
【0031】なお、以上の説明では、光学系の配置およ
び微調整を容易にするため、1/2波長板25を配置し
た例について説明したが、プリズムの結晶軸方向を45
°に配置し、光検出器28をこれに対応した位置に配置
しても、同一の効果は得られる。
び微調整を容易にするため、1/2波長板25を配置し
た例について説明したが、プリズムの結晶軸方向を45
°に配置し、光検出器28をこれに対応した位置に配置
しても、同一の効果は得られる。
【0032】次に、他の参考例を図3に示す。同図にお
いてビームスプリッター22および1/2波長板25を
通過した光束(図3ではビームスプリッター22以前の
光学エレメントは省略している)は、集束レンズ27を
通って集束光束となり、その後、該集束光束は結晶軸の
向きが直交した2つのプリズム30a,30b(ウォラ
ストンプリズムを構成する)に加えてプリズム30bと
同じ結晶軸の向きをもつ偏光板30cを設けたことを特
徴とする偏光分離素子30に入射する。この偏光分離素
子30を透過した光束は、常光線と異常光線とで異る方
向に射出し、また、常光線と異常光線に対する屈折率N
oとNeの差により、等価的光学厚さが変わるため、常
光線と異常光線とでは集光位置が異ってくる。このため
光検出器28の受光部29は一方の偏光方向の光束に対
しては収束前の位置に、また、他方の光束に対しては収
束後の発散光束中に置かれることとなる。
いてビームスプリッター22および1/2波長板25を
通過した光束(図3ではビームスプリッター22以前の
光学エレメントは省略している)は、集束レンズ27を
通って集束光束となり、その後、該集束光束は結晶軸の
向きが直交した2つのプリズム30a,30b(ウォラ
ストンプリズムを構成する)に加えてプリズム30bと
同じ結晶軸の向きをもつ偏光板30cを設けたことを特
徴とする偏光分離素子30に入射する。この偏光分離素
子30を透過した光束は、常光線と異常光線とで異る方
向に射出し、また、常光線と異常光線に対する屈折率N
oとNeの差により、等価的光学厚さが変わるため、常
光線と異常光線とでは集光位置が異ってくる。このため
光検出器28の受光部29は一方の偏光方向の光束に対
しては収束前の位置に、また、他方の光束に対しては収
束後の発散光束中に置かれることとなる。
【0033】また図4(a)は、図3の参考例において
得られるフォーカスエラー信号を示したものである。図
4(b)、図4(c)はそれぞれ単独の同心円形光検出
器により得られたフォーカスエラー信号であるが、これ
らはいずれも本来のS字曲線に対し、好ましくないサイ
ドピークを有している。これに対し、図3の参考例では
収束光状態と発散光状態の光検出器とを組み合せて用い
ているため、図4(a)のように不要なピークは消去さ
れ、良好なS字のフォーカスエラー信号を得ることがで
きる。なお、図3において、ウォラストンプリズム(3
0a,30bのことをいう)を前後に動かすことによ
り、光検出器28上での二つの光スポットの間隔を微調
整することができる。
得られるフォーカスエラー信号を示したものである。図
4(b)、図4(c)はそれぞれ単独の同心円形光検出
器により得られたフォーカスエラー信号であるが、これ
らはいずれも本来のS字曲線に対し、好ましくないサイ
ドピークを有している。これに対し、図3の参考例では
収束光状態と発散光状態の光検出器とを組み合せて用い
ているため、図4(a)のように不要なピークは消去さ
れ、良好なS字のフォーカスエラー信号を得ることがで
きる。なお、図3において、ウォラストンプリズム(3
0a,30bのことをいう)を前後に動かすことによ
り、光検出器28上での二つの光スポットの間隔を微調
整することができる。
【0034】次に、他の参考例を図5に示す。本参考例
ではビームスプリッター(図5中には不図示)からの光
束は、結晶により作られたプリズム31により常光線と
異常光線とに分離された後、集束レンズ27により光検
出器28上に集光される。なお、このとき光検出器28
は光束に対して適当な角度だけ傾けて配置することも可
能である。
ではビームスプリッター(図5中には不図示)からの光
束は、結晶により作られたプリズム31により常光線と
異常光線とに分離された後、集束レンズ27により光検
出器28上に集光される。なお、このとき光検出器28
は光束に対して適当な角度だけ傾けて配置することも可
能である。
【0035】プリズムだけではなく、集光レンズ27も
結晶で作製することができる。図6にそのような参考例
を示す。同図において32で示される光学素子は、一面
はプリズム、他面はレンズになっており、この結果、光
検出器28上には入射光の偏光状態に応じて分離された
収束および発散の光束が得られる。
結晶で作製することができる。図6にそのような参考例
を示す。同図において32で示される光学素子は、一面
はプリズム、他面はレンズになっており、この結果、光
検出器28上には入射光の偏光状態に応じて分離された
収束および発散の光束が得られる。
【0036】さらに、図7はプリズム31に加え、集束
レンズ27をテレタイプの望遠レンズ33とした参考例
である。このような構成により、差動検出に必要な光束
の分離はさらに良好に行なえることとなる。
レンズ27をテレタイプの望遠レンズ33とした参考例
である。このような構成により、差動検出に必要な光束
の分離はさらに良好に行なえることとなる。
【0037】本発明は、第8図に示す様にビームスプリ
ッター22′を構成することを特徴としている。これに
つき、以下に説明する。図から分かる様に、ビームスプ
リッター22′は、第1のプリズム22aと第2のプリ
ズム22bとからなり、その境界面は反射機能を有す
る。
ッター22′を構成することを特徴としている。これに
つき、以下に説明する。図から分かる様に、ビームスプ
リッター22′は、第1のプリズム22aと第2のプリ
ズム22bとからなり、その境界面は反射機能を有す
る。
【0038】図8において、レーザー20からの光束
は、コリメーターレンズ21により平行光束となり、ビ
ームスプリッター22′の反射面で反射される。この入
射光束は完全な直線偏光であり、第1のプリズム22a
を構成する光学媒質がガラス等の等方性のものでも、水
晶等の複屈折性のものでも、効果に差は生じない。光磁
気媒体24より反射された光束は、再びビームスプリッ
ター22′を透過するが、このとき第2のプリズム22
bが適当な方向に結晶軸を有する一軸性結晶で作られて
いると、この光束は二つの直線偏光に分離されてセンサ
ーレンズ27′によってセンサー28に入射し、差動検
出が行なわれる。このときの結晶軸は、図中上下方向の
軸と45°をなし、かつ、紙面内に対して約45°回転
した方向であれば良い。
は、コリメーターレンズ21により平行光束となり、ビ
ームスプリッター22′の反射面で反射される。この入
射光束は完全な直線偏光であり、第1のプリズム22a
を構成する光学媒質がガラス等の等方性のものでも、水
晶等の複屈折性のものでも、効果に差は生じない。光磁
気媒体24より反射された光束は、再びビームスプリッ
ター22′を透過するが、このとき第2のプリズム22
bが適当な方向に結晶軸を有する一軸性結晶で作られて
いると、この光束は二つの直線偏光に分離されてセンサ
ーレンズ27′によってセンサー28に入射し、差動検
出が行なわれる。このときの結晶軸は、図中上下方向の
軸と45°をなし、かつ、紙面内に対して約45°回転
した方向であれば良い。
【0039】以上、入射光束の偏光状態の差により光束
を分離する手段として、ウォラストンプリズムや、単一
プリズムを用いた例を示したが、この分離手段はこれに
限られるものではなく、ロッションプリズム、セナルモ
ンプリズム等種々のものが使用可能である。また、偏光
状態の差に応じて収束、発散の光束を作り出す手段とし
て、結晶の平行平板や凸レンズを用いた例を示したが、
これも凸,凹のテレタイプレンズの組合せ等、種々の手
段が使用可能なことは明らかである。
を分離する手段として、ウォラストンプリズムや、単一
プリズムを用いた例を示したが、この分離手段はこれに
限られるものではなく、ロッションプリズム、セナルモ
ンプリズム等種々のものが使用可能である。また、偏光
状態の差に応じて収束、発散の光束を作り出す手段とし
て、結晶の平行平板や凸レンズを用いた例を示したが、
これも凸,凹のテレタイプレンズの組合せ等、種々の手
段が使用可能なことは明らかである。
【0040】尚、図8の実施例に示した一軸性結晶及び
レンズ21を、図5乃至図7に示した光学部材で置換す
ることが可能であることはいうまでもない。
レンズ21を、図5乃至図7に示した光学部材で置換す
ることが可能であることはいうまでもない。
【0041】
【発明の効果】以上、説明したように、本発明の構成に
よれば、小型、低コストでなおかつS/Nが良い差動検
出型の光ピックアップ装置を提供できる。
よれば、小型、低コストでなおかつS/Nが良い差動検
出型の光ピックアップ装置を提供できる。
【0042】この光ピックアップ装置によれば、上記の
利点のほか、部品点数が少なくできることや、各部品を
一体化できるため軸合せが簡単で使用中の軸ズレにも強
いこと、また光センサー内に差動アンプ回路を内蔵でき
るためノイズにも強いこと等のメリットがある。
利点のほか、部品点数が少なくできることや、各部品を
一体化できるため軸合せが簡単で使用中の軸ズレにも強
いこと、また光センサー内に差動アンプ回路を内蔵でき
るためノイズにも強いこと等のメリットがある。
【図1】本発明の光ピックアップ装置の参考例を示す概
略図及び光検出器の拡大図である。
略図及び光検出器の拡大図である。
【図2】光束の信号振幅成分を示した模式図である。
【図3】本発明の他の参考例を示す概略図である。
【図4】フォーカスエラー信号を示す図である。
【図5】本発明の他の参考例を示す概略図である。
【図6】本発明の他の参考例を示す概略図である。
【図7】本発明の他の参考例を示す概略図である。
【図8】本発明の実施例を示す概略図である。
【図9】従来の光ピックアップ装置の概略図である。
【図10】差動検出法の説明をするための図である。
【図11】差動検出法の説明をするための図である。
【図12】ウォラストンプリズムを用いた光ピックアッ
プ装置を示す概略図である。
プ装置を示す概略図である。
20 レーザー 21 コリメーターレンズ 22’ ビームスプリッター 22a 第1のプリズム 22b 第2のプリズム 23 対物レンズ 24 記録媒体面 27’ センサーレンズ 28 光検出器
Claims (1)
- 【請求項1】 所定の方向に偏光した光束を発する光源
と、該光源から発せられた光束を記録媒体上に集光する
対物レンズと、前記光源から前記記録媒体に至る光路中
に配された第1及び第2のプリズムからなるビームスプ
リッターと、情報に応じて偏光状態に変調を受けた前記
記録媒体からの反射光束を検出する検出手段とを有し、
前記光源からの光束を前記第1のプリズムを介して反射
させ前記記録媒体に導くとともに、該記録媒体からの反
射光束を前記第1及び第2のプリズムを透過させること
によって前記記録媒体に照射される光束から前記反射光
束を分離する光ピックアップ装置において、 前記第2のプリズムは前記反射光束を互いに偏光方向が
直交する第1及び第2の光束に分割する一軸性結晶から
なり、前記検出手段は前記第1及び第2の光束を各々検
出する第1及び第2の検出器を有し、前記第1及び第2
の検出器の検出出力を差分して情報信号を得る手段を有
することを特徴とする光ピックアップ装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5284928A JPH06295465A (ja) | 1993-11-15 | 1993-11-15 | 光ピックアップ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP5284928A JPH06295465A (ja) | 1993-11-15 | 1993-11-15 | 光ピックアップ装置 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60072733A Division JPH0731837B2 (ja) | 1985-02-28 | 1985-04-08 | 光ピツクアツプ装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH06295465A true JPH06295465A (ja) | 1994-10-21 |
Family
ID=17684879
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP5284928A Pending JPH06295465A (ja) | 1993-11-15 | 1993-11-15 | 光ピックアップ装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH06295465A (ja) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58128037A (ja) * | 1982-01-22 | 1983-07-30 | Sharp Corp | 磁気光学ヘツド |
| JPS5977649A (ja) * | 1982-10-26 | 1984-05-04 | Sanyo Electric Co Ltd | 光磁気デイスク再生装置 |
| JPS59191156A (ja) * | 1983-04-13 | 1984-10-30 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 旋光子を設けた磁気光学再生装置 |
-
1993
- 1993-11-15 JP JP5284928A patent/JPH06295465A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS58128037A (ja) * | 1982-01-22 | 1983-07-30 | Sharp Corp | 磁気光学ヘツド |
| JPS5977649A (ja) * | 1982-10-26 | 1984-05-04 | Sanyo Electric Co Ltd | 光磁気デイスク再生装置 |
| JPS59191156A (ja) * | 1983-04-13 | 1984-10-30 | Nippon Kogaku Kk <Nikon> | 旋光子を設けた磁気光学再生装置 |
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