JPH063368B2 - マーク検査装置 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ この発明は、樹脂封止部の外周にマークを施した電子部
品のマーク検査装置に関し、特にリード部に曲りのある
アキシャルリード型電子部品の直後のマークなし電子部
品を確実に不良品として排除し得るマーク検査装置に関
する。

［従来の技術］ 第３図（ａ）はアキシャルリード型電子部品の従来のマ
ーク検査装置の一部を示す平面図である。

このマーク検査装置は、アキシャルリード型電子部品、
例えばダイオード１の樹脂封止部２の外周に施された極
性表示マーク３の印刷の有無を検査する装置であり、以
下のようにして検査が行なわれる。

まず、長手方向に連続して配置された一対の対向する搬
送ベルト４，５の凹部４ａ，５ａに、前工程で極性表示
マーク３が施されたダイオード１のリード部が差し渡さ
れた状態で連続して供給される。

そして、ダイオード１は搬送ベルト４，５と共に図示の
右方向から左方向に移送されるが、搬送ベルト４，５の
幅方向のほぼ中央の上方位置、すなわちダイオード１の
樹脂封止部２に対向する直上位置には破線で示すマーク
センサ６が設けられている。

このマークセンサ６は光学的なセンサであり、レンズに
よって絞り込まれた光を、このセンサ６の直下を連続的
に通過するダイオード２の封止部２の外周に付された帯
状の極性表示マーク３の位置に投光するように構成され
ている。

なお、ダイオード１の樹脂封止部２は黒色樹脂で形成さ
れ、その黒色樹脂の外周に白色の極性表示マークが施さ
れているため、投光された光は異なる反射光としてマー
クセンサ６の受光部に入射される。

マークセンサ６の受光部に反射光が入射されると、その
内部で電気的信号に変換され、その信号は図示を省略し
た判定回路に送出され、前記のダイオード１に正しく極
性表示マーク３がマーキングされているか否かが自動的
に判定される。

例えば、第３図（ａ）において、連続して搬送されるダ
イオードＤ₁〜Ｄ₆のうち、ダイオードＤ₃に極性表示マ
ーク２が何等かの原因で欠落しているとすると、白色部
分が存在せず樹脂封止部２は全体的に黒色であるため、
その反射光は殆ど無くマークセンサ６の受光部には入射
されない。

このマークセンサ６の信号を判定回路に送出し、不良品
を示す信号としてメモリし、搬送ベルト４，５が所定の
位置に移動して来た時に、上記判定回路からの指令信号
により搬送ベルト４，５外へ当該ダイオードＤ₃を不良
品として排出する。

なお、第３図（ａ）において、搬送ベルト４，５の外側
に設けたガイド板７，８はダイオード１のリード部の両
端を規制し、そのダイオード１の幅方向の位置ずれを防
止し、マークセンサ６で確実に検出できるようにするた
めのものである。

次に、上記の一連の動作タイミングを第３図(b)を参照
して説明する。

まず、マークセンサ６からの出力波形はに示すように
なり、マークセンサ６の直下をダイオードＤ₁が通過し
た時の出力波形がｄ₁、同じくダイオードＤ₂が通過した
ときの出力波形がｄ₂、以下同様にｄ₄、ｄ₅、ｄ₆とな
る。

上記のマークセンサ６の出力波形は、ダイオード１が
マークセンサ６の直下に位置した時に、その反射光が当
該センサ６の受光部に最大の光量で入射されるために、
ほぼ三角形の鋸刃状波形となる。

一方、マークセンサ６の直下にダイオード１が到来して
いない場合には、その樹脂封止部２からの反射光がない
ために、その出力波形は零となる。

次に、具体的に図示のものについて説明すると、ダイオ
ードＤ₃がマークセンサ６の直下を通過した時は、その
樹脂封止部２に極性表示マーク３が欠落しているため
に、黒色部分からの反射光しかなく、マークセンサ６か
らの出力は零となり、そのために、出力波形には前記
のような鋸刃状波形ｄ₁，ｄ₂と同様な波形が存在せず、
平坦な波形ｄ₀となる。

次に、後続するダイオードＤ₄は、その樹脂封止部２に
極性表示マーク３が存在するので、出力波形にも鋸波
状波形ｄ₄が現われる。以下同様にしてダイオードＤ₅，
Ｄ₆に対応して鋸刃状波形ｄ₅，ｄ₆が出力される。

第３図（ｂ）のは、後述の波形処理のタイミングをと
るためのクロックパルスの波形である。

このクロックパルスの発生は、図示を省略したフォトセ
ンサを搬送ベルト４，５の直近に配置し、例えば、その
ベルト４，５の凹部４ａ，４ａ又は５ａ，５ａ間を検出
し、マークセンサ６の出力がない間の所定のパルスを発
生するようにタイミングを合わせたパルス発生回路より
なされる。

すなわち、第３図（ａ）における各ダイオードＤ₁〜Ｄ₆
の間隙にマークセンサ６の位置した時に、クロックパル
スを発生させ、第３図（ｂ）の出力波形とクロックパ
ルスのタイミング関係になるようにあらかじめ設定し
てある。

次に、マークメモリ回路の出力波形は第３図（ｂ）の
のようになる。この出力波形は、マークセンサ６から
の出力波形のレベルがある一定のレベル以上、例えば
Ｌ₁以上の時に“Ｈ”となり、クロックパルスの立ち
下がりの時に零となる。

ところで、マークメモリ回路の出力波形において、ダ
イオードＤ₃に対応する部分は、マークセンサ６の出力
波形のＬ₁レベルに相当する出力波形がないために、
ｄ₁，ｄ₂のような立上がり波形は発生しないことにな
る。

また、マークメモリ回路の出力波形のｄ₄，ｄ₅，ｄ₆
は、出力波形のｄ₄，ｄ₅，ｄ₆に対応して立上がり波
形が発生することになる。

次に、マークメモリ回路からの出力波形が次のメモリ
シフト回路へ出力され、このメモリシフト回路ではクロ
ックパルスが所定時間、出力された後、極性表示マー
ク３のないダイオードＤ₃を不良品として排除するため
の信号をアクチュエータに出力する。

すなわち、第３図（ｂ）のメモリシフト回路出力は、
クロックパルスの立上がり時と、マークメモリ回路の
出力波形が“Ｈ”の状態のときに、“Ｈ”となり、前
記出力波形が“Ｌ”のときに、そのメモリシフト回路
出力も“Ｌ”となるように設定しておく。

これによってダイオードＤ₃に相当するメモリシフト回
路出力は、マークメモリ回路の出力波形が“Ｌ”で
あるから“Ｌ”、すなわち零となり、これを不良品とし
て排除するための信号として所定のアクチュエータに出
力する。

上記の作用を実現するための回路を模式的に第４図に示
す。

この回路はマークセンサ６、マークメモリ回路９及びメ
モリシフト回路１０とから構成されている。そして、ま
ずマークセンサ６から発光した光はダイオード１の極性
表示マーク３に照射され、その反射光を受光した後、電
気的に内部処理をして前記の出力波形に示す鋸刃状波
形の信号を次のマークメモリ回路９に出力する。

一方、このマークメモリ回路９には図示していないクロ
ックパルス発生回路を介してクロックパルスが入力さ
れる。そしてマークメモリ回路９では、第３図（ｂ）に
示すように、マークセンサ６の出力波形がＬ₁レベル
になると、“Ｈ”の状態となり、クロックパルスの立
ち下がを検出して“Ｌ”の状態となる波形を生成し、
この出力をメモリシフト回路１０に送出する。

また、メモリシフト回路１０にはクロックパルスを入
力し、このクロックパルスの立上がりを検出して第３
図（ｂ）のメモリシフト回路１０の出力を図示しない
アクチュエータに出力し、ダイオードＤ₃に相当する部
分の波形ｄ₃が“Ｌ”であるために不良品として排出さ
れることになる。

ところで、第５図（ａ）に示すようにマークなしダイオ
ードＤ₄の直前にリード部１ａに曲りのあるダイオード
Ｄ₃が混在した場合、リード部１ａの曲りのためにダイ
オードＤ₃は搬送ベルト４，５上の次のダイオードＤ₄に
接近する。このような場合、リード部に曲りのあるダイ
オードＤ₃及び極性表示マークのないダイオードＤ₄を共
に不良品として排除しなければならない。特に、ダイオ
ードＤ₄は極性表示マークのないものであるため、不良
品として確実に排除しなければならない。

［発明が解決しようとする課題］ 従来のマーク検査装置は、上記のように構成されている
ので、リード部に曲りのあるダイオードの直後に搬送さ
れる極性表示マークのないダイオードを良品として判別
してしまい被検査製品の信頼性を低下させてしまうとい
う問題点があった。

この現象を詳述すると次のようになる。

すなわち、第５図（ｂ）において、ダイオードＤ₃は本
来、出力波形の（ｄ₃）部分の破線で示す位置でマー
ク検出によりそれに対応した波形を出力する筈である
が、リード部１ａの曲りにより樹脂封止部２が後方にず
れているために、実線で示したｄ₃の位置で出力される
ことになる。その場合、ダイオードＤ₄は極性表示マー
ク３が欠落しているので、マークセンサ６からの出力は
ない。

また、第５図（ｂ）においてクロックパルスは、搬送
ベルト４，５の移動間隔に対応するので、常に同じ時間
間隔で出力される。

上記の場合、マークメモリ回路出力は図示のようにな
り、このマークメモリ回路出力と、クロックパルス
のＣＰ２の立ち下がりでマークメモリ回路出力は
“Ｌ”になるが、（ｄ₃）部分でマークセンサ６の出力
がないので、マークメモリ回路出力におけるｄ₃は、
マークセンサ６の出力のｄ₃部分で立上がり、クロッ
クパルスＣＰ４の立ち下がりで“Ｌ”となる。

続くメモリシフト回路出力は、クロックパルスＣＰ３
の立上がりと、マークメモリ回路出力の“Ｌ”を検出
してメモリシフト回路出力のｄ₃部分は“Ｌ”とな
る。

クロックパルスＣＰ４の立上がり時点では、マークメモ
リ回路出力ｄ₄が“Ｈ”であるからメモリシフト回路出
力は、斜線で示すｄ₄のように“Ｈ”となり、本来は
そのｄ₄は不良品として排除すべく“Ｌ”レベルの信号
をアクチュエータに送出しなければならないところを
“Ｈ”の信号、すなわち良品と判別する信号を送出し、
被検査製品にマークなしのものを混在させてしまい、信
頼性を低下させるという問題点があった。

［発明の目的］ この発明は、上記のような課題を解消するためになされ
たもので、例えリード部に曲りのあるアキシャルリード
型電子部品に後続して極性表示マーク等のマークの欠落
した電子部品が供給されたとしてもそれらを不良品とし
て確実に排除することができるマーク検査装置を提供す
ることを目的とする。

［問題点を解決するための手段］ この発明のマーク検査装置は、クロックメモリ回路の反
転出力とマークメモリ回路の出力との論理積をとるＡＮ
Ｄ回路を有し、このＡＮＤ回路の出力とクロックパルス
発生回路からのクロックパルスを入力するメモリシフト
回路とを備えたものである。

［作用］ この発明のマーク検査装置においては、ＡＮＤ回路によ
るクロックメモリ回路の反転出力とマークメモリ回路の
出力との論理積を取り、このＡＮＤ回路の出力とクロッ
クパルス発生回路からのクロックパルスを入力してメモ
リシフト回路から曲りのあるリード部を持つ電子部品の
直後の搬送ベルト上のマーク不良品も共に排除する信号
を送出する。

［実施例］ 以下に、この発明の実施例を第２図に基づいて説明す
る。

第２図において、まず、従来と同様にダイオード等のア
キシャルリード型電子部品１の表面にマーキングされた
マークに光を照射し、その反射光に応じて所定のパルス
を発生するマークセンサ６を備えている。

また、前記電子部品１を等間隔でマークセンサ６の直下
に移送する搬送ベルト４，５の移動間隔に同期したクロ
ックパルスを発生するクロックパルス発生回路１１を有
し、前記マークセンサ６の出力及び前記クロックパルス
発生回路１１からのクロックパルスを入力し、マークセ
ンサ６からの出力が所定以上の値になった時に“Ｈ”状
態となり、前記クロックパルスの立ち下がりにより
“Ｌ”の状態の信号を出力するマークメモリ回路９と、
前記マークセンサ６の出力と前記クロックパルスを入力
し、クロックパルスの立ち上がり時にマークセンサ６の
出力がない場合には“Ｌ”の状態となり、マークセンサ
６の出力がある場合には“Ｈ”の状態の信号を出力する
クロックメモリ回路１２と、このクロックメモリ回路１
２の出力と前記マークメモリ回路９の出力の論理積を取
るＡＮＤ回路１３と、このＡＮＤ回路１３の出力及び前
記クロックパルス発生回路１１からのクロックパルスを
入力し、搬送ベルト４，５上のマーク不良品を搬送ベル
ト外へ排除する信号を送出するメモリシフト回路１０と
を有する。

また、前記マークメモリ回路９内には、公知のコンパレ
ータ９ａ、リセット回路９ｂ及びクロックパルス発生回
路１１からのクロックパルスを入力とするワンショット
回路９ｃを備えている。

さらに、クロックメモリ回路１２内にはフリップフロッ
プ回路１２ａを有し、その出力側はインバータ回路１４
を介して前記ＡＮＤ回路の入力側に接続されている。

次に、上記のように構成のマーク検査装置の動作を第１
図(a),(b)を参照しつつ説明する。

まず、前述と同様にダイオードＤ₃のリード部１ａに曲
りがあり、次のダイオードＤ₄に近接したままマークセ
ンサ６の直下を通過した時にマークセンサ６の出力波形
は、第１図（ｂ）に示すようにｄ₃のパルスが後方に
ずれることになる。

そしてダイオードＤ₄にはマークがないため、マークセ
ンサ６の出力波形にはｄ₄の波形が出現しない。

クロックパルスは前記と同様に搬送ベルト４，５のあ
らかじめ設定した所定の部分、例えば凹部４ａ，５ａ間
が一定の時間間隔で通過することによりそれに対応して
等間隔のパルスを発生するクロックパルス発生回路１１
によってなされる。

そこで、マークセンサ６の出力波形と、クロックパル
スの立ち下がりをマークメモリ回路９に入力すると、
そのマークメモリ回路９は、マークセンサ６の出力波形
がＬ₁レベルになった時にマークメモリ回路出力の
ｄ₁が“Ｈ”となる。

一方、マークセンサ６の出力波形のレベルがＬ₁以下
になった時に、クロックパルスＣＰ１の立ち下がりによ
ってマークメモリ回路出力のｄ₁は“Ｌ”となる。

以下同様にしてマークメモリ回路出力のｄ₂が生成さ
れる。

次に、クロックパルスＣＰ２の立ち下がりによってマー
クメモリ回路出力は“Ｌ”となり、マークセンサ６の
出力波形のｄ₃によって“Ｈ”となる。すなわち、マ
ークメモリ回路出力のｄ₃（ｄ₄）として現われる。

クロックパルスにおけるＣＰ３の立ち下がりによって
マークメモリ回路出力は、本来であれば“Ｌ”となる
筈であるが、マークセンサ６の出力波形が出力されて
いるために、“Ｈ”の状態のままとなっており、後続す
るクロックパルスのＣＰ４の立ち下がりによって
“Ｌ”となる。

マークメモリ回路出力のｄ₃（ｄ₄）は、第１図（ａ）
に示すようにダイオードＤ₃のリード部１ａの曲りのた
めに後方にずれていて、しかもダイオードｄ₄がマーク
なしであるためにダイオードＤ₃，Ｄ₄に対して１個のパ
ルスｄ₃（ｄ₄）しか発生しない。

次に、クロックメモリ回路１２には、マークセンサ６の
出力波形と、クロックパルスの立上がりが入力され
る。

そこで、クロックパルスＣＰ１が立上がりの時にマーク
センサ６の出力波形が“Ｌ”の場合、クロックメモリ
回路出力のｄ₁に相当する部分は“Ｌ”となる。ま
た、クロックパルスＣＰ２に相当するｄ₂部分も“Ｌ”
を継続する。

次に、ＣＰ３の立上がり時にはマークセンサ６の出力波
形のｄ₃が出力されているため、クロックメモリ回路
出力のｄ₃も“Ｈ”となる。このクロックメモリ回路
出力ｄ₃は、クロックパルスＣＰ４の立上がりによって
“Ｌ”の状態となる。

このクロックメモリ回路出力のｄ₃が“Ｈ”の状態
は、後述するダイオードＤ₃を不良品と判定するパルス
信号となる。

次に、第１図（ａ）に示すダイオードＤ₄を判定するの
に使用するＣＰ４の立上がり時には、マークメモリ回路
出力のｄ₃（ｄ₄）が“Ｈ”の状態のためにクロックメ
モリ回路出力のｄ₄は“Ｌ”となる。

次に、第１図（ｂ）のは、クロックメモリ回路出力
を、前記のインバータ回路１４を介して反転した出力で
あり、は上記インバータ回路出力と、マークメモリ
回路出力とを入力とするＡＮＤ回路１３の出力であ
る。

マークメモリ回路出力のｄ₃（ｄ₄）とインバータ回路
出力はその出力波形の終端において、クロックパルス
ＣＰ４のパルス幅の時間は、マークメモリ回路出力ｄ₃
（ｄ₄）が“Ｈ”、インバータ回路出力のｄ₄が“Ｈ”
であるから、ＡＮＤ回路出力は“Ｈ”となるが、ＡＮ
Ｄ回路１３の出力側に公知の図示を省略したディレイ・
タイム回路を接続し、ＡＮＤ回路出力の破線Ｔで示す
ように所定時間だけ後方にずらす処理を行なう。

次に、メモリシフト回路１０には、ＡＮＤ回路出力
と、クロックパルスの立上がりとを入力し、メモリシ
フト回路出力を得る。この場合、クロックパルスＣＰ
１の立上がり時にＡＮＤ回路出力は、“Ｈ”であるか
らメモリシフト回路出力も“Ｈ”となり、ＣＰ３の立
上がり時にＡＮＤ回路出力は“Ｌ”であるからメモリ
シフト回路出力は“Ｌ”となる。

さらに、クロックパルスＣＰ４の立上がり時も同様に
“Ｌ”となり、次のクロックパルスＣＰ５立上がり時
は、ＡＮＤ回路出力が“Ｈ”であるからメモリシフト
回路出力も“Ｈ”となる。

以上の動作によりメモリシフト回路１０からの出力
ｄ₃，ｄ₄は、ダイオードＤ₃，Ｄ₄を共に不良品として排
出するための信号となって所定のアクチュエータへ送出
される。

なお、ダイオードＤ₄に極性表示マーク３が欠落してお
らず、マークが付された良品である場合にも直前のもの
がリード部に曲りのある不良品のダイオードＤ₃である
場合、共に不良品として良品ダイオードも排出されてし
まうが、このような場合は確率的には僅かであり、むし
ろマークなしのものを確実に排除することの方が被検査
製品の信頼性を向上させる上で重要である。

また、上記の実施例では、リード部に曲りのある電子部
品としてダイオードを例にして説明したが、抵抗等、そ
の他のアキシャルリード型電子部品にも広く適用するこ
とができる。

［発明の効果］ この発明は上記のように構成したので、リード部に曲り
のあるアキシャルリード型電子部品の直後のマークなし
電子部品を確実に排除することができ、被検査製品の信
頼性の向上に大いに寄与し得る等の優れた効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図（ａ）、この発明のマーク検査装置における動作
を説明するための平面図、第１図（ｂ）は、その時の動
作タイミングを示す波形図、第２図は、この発明のマー
ク検査装置の主要部を示すブロツク図、第３図（ａ）
は、アキシャルリード型電子部品の従来のマーク検査装
置の一部を示す平面図、第３図（ｂ）は、上記マーク検
査装置の動作タイミングを示す波形図、第４図は、上記
従来のマーク検査装置の主要部を示すブロツク図、第５
図（ａ）は、上記従来のマーク検査装置における不都合
を説明するための平面図、第５図（ｂ）は、その時の動
作タイミングを示す波形図である。 １・・・ダイオード １ａ・・・リード部 ２・・・樹脂封止部 ３・・・極性表示マーク ４，５・・・搬送ベルト ４ａ，５ａ・・・凹部 ６・・・マークセンサ ９・・・マークメモリ回路 １０・・・メモリシフト回路 １１・・・クロックパルス発生回路 １２・・・クロックメモリ回路 １３・・・ＡＮＤ回路

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】アキシャルリード型電子部品の表面にマー
   キングされたマークに光を照射し、その反射光に応じて
   パルスを発生するマークセンサと、前記電子部品を等間
   隔でマークセンサ直下に移送する搬送ベルトの移動間隔
   に同期したクロックパルスを発生するパルス発生回路
   と、前記マークセンサの出力及び前記パルス発生回路か
   らのクロックパルスを入力し、マークセンサの出力が所
   定以上の値になった時に“Ｈ”状態となり、かつ、前記
   クロックパルスの立ち下がにより“Ｌ”の状態の信号を
   出力するマークメモリ回路と、前記マークセンサの出力
   と前記クロックパルスを入力し、クロックパルスの立ち
   上がり時にマークセンサの出力がない場合には“Ｌ”の
   状態となり、マークセンサの出力がある時は“Ｈ”の状
   態の信号を出力するクロックメモリ回路と、このクロッ
   クメモリ回路の反転出力と前記マークメモリ回路の出力
   との論理積を取るＡＮＤ回路と、このＡＮＤ回路の出力
   及び前記クロックパルスを入力し、曲りのあるリード部
   を持つ前記電子部品の直後の搬送ベルト上のマーク不良
   品も共に排除する信号を送出するメモリシフト回路とを
   有することを特徴とするマーク検査装置。