JPH063703A - 非線形能動素子及びその製造方法 - Google Patents
非線形能動素子及びその製造方法Info
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- JPH063703A JPH063703A JP16602692A JP16602692A JPH063703A JP H063703 A JPH063703 A JP H063703A JP 16602692 A JP16602692 A JP 16602692A JP 16602692 A JP16602692 A JP 16602692A JP H063703 A JPH063703 A JP H063703A
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Landscapes
- Liquid Crystal (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【構成】 金属−絶縁膜−金属からなる非線形能動素子
の構造及び製造方法において、下部電極形成後第1の絶
縁膜を積層し、前記下部電極上面に開孔部を形成した後
第2の絶縁膜を形成し、エッチバックを行って前記第1
の絶縁膜側面に側壁を形成し、前記下部電極の酸化膜を
形成した後上部電極を形成するため、実効的なMIM素
子は前記第1の絶縁膜開孔部の側壁間の面積、すなはち
最小のデザインルールよりも小さい面積部分で形成され
ている。 【効果】 従来よりもMIM素子の容量を低減すること
が出来、それによってMIM素子の低消費電力化やクロ
ストークの低減が可能になった。
の構造及び製造方法において、下部電極形成後第1の絶
縁膜を積層し、前記下部電極上面に開孔部を形成した後
第2の絶縁膜を形成し、エッチバックを行って前記第1
の絶縁膜側面に側壁を形成し、前記下部電極の酸化膜を
形成した後上部電極を形成するため、実効的なMIM素
子は前記第1の絶縁膜開孔部の側壁間の面積、すなはち
最小のデザインルールよりも小さい面積部分で形成され
ている。 【効果】 従来よりもMIM素子の容量を低減すること
が出来、それによってMIM素子の低消費電力化やクロ
ストークの低減が可能になった。
Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、液晶表示装置などに応
用が有効な、非線形能動素子及びその製造方法に関す
る。
用が有効な、非線形能動素子及びその製造方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】近年、画像表示装置として、CRT(C
athode Ray Tube)に代わり、フラット
パネルディスプレイなどの液晶表示装置に対する注目が
高まってきている。この液晶表示装置の素子としては、
3端子の薄膜トランジスタ(Thin Film Tr
ansister:TFT)や、2端子の薄膜ダイオ−
ド(Thin Film Diode:TFD)などが
考えられているが、製造工程の簡便さや、歩留まりの高
さなどからTFDに対する注目が高まっている。TFD
の一つである、金属−絶縁膜−金属(Metal−In
surater−Metal)からなる非線形能動素子
(MIM)に対する研究及び開発は以前から進められて
きた。図2に従来のMIM素子の構造を、製造工程毎の
素子断面図を用いて説明する。まず図2(a)に示すよ
うに、透明絶縁基板201上に金属薄膜をスパッタ法や
蒸着法などを用いて形成し、所望の形状にパターニング
してMIMの下部電極202とした後、前記金属薄膜の
酸化膜203を形成する。前記下部電極202となる金
属薄膜にはタンタルやアルミニウムなどが用いられ、ま
た前記酸化膜203は、陽極酸化法或いは熱酸化法を用
いて形成されることが多い。ついで、更に金属薄膜をや
はりスパッタ法や蒸着法を用いて形成し、所望の形状に
パターニングして上部電極204として図2(b)を得
て、非線形能動素子(MIM)が完成する。前記上部電
極204としては、タンタルやアルミニウム或いはクロ
ミウム等の金属薄膜が用いられる。
athode Ray Tube)に代わり、フラット
パネルディスプレイなどの液晶表示装置に対する注目が
高まってきている。この液晶表示装置の素子としては、
3端子の薄膜トランジスタ(Thin Film Tr
ansister:TFT)や、2端子の薄膜ダイオ−
ド(Thin Film Diode:TFD)などが
考えられているが、製造工程の簡便さや、歩留まりの高
さなどからTFDに対する注目が高まっている。TFD
の一つである、金属−絶縁膜−金属(Metal−In
surater−Metal)からなる非線形能動素子
(MIM)に対する研究及び開発は以前から進められて
きた。図2に従来のMIM素子の構造を、製造工程毎の
素子断面図を用いて説明する。まず図2(a)に示すよ
うに、透明絶縁基板201上に金属薄膜をスパッタ法や
蒸着法などを用いて形成し、所望の形状にパターニング
してMIMの下部電極202とした後、前記金属薄膜の
酸化膜203を形成する。前記下部電極202となる金
属薄膜にはタンタルやアルミニウムなどが用いられ、ま
た前記酸化膜203は、陽極酸化法或いは熱酸化法を用
いて形成されることが多い。ついで、更に金属薄膜をや
はりスパッタ法や蒸着法を用いて形成し、所望の形状に
パターニングして上部電極204として図2(b)を得
て、非線形能動素子(MIM)が完成する。前記上部電
極204としては、タンタルやアルミニウム或いはクロ
ミウム等の金属薄膜が用いられる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、近年の
ように液晶ディスプレイの発達にともなって、MIM素
子にも大容量化及び高画質化が望まれている状況におい
て、前述のようなMIM素子では、その要求を満たすこ
とは困難になってきた。その理由の一つはMIM素子容
量の低下が難しいことである。図3にはMIM素子を用
いた液晶表示装置の等価回路図を示す。301はセグメ
ント電極、302はMIM素子の容量CMIM、303は
MIM素子の非線形抵抗RMIM、304は液晶層の容量
CLC、305は液晶層の抵抗RLC、306はコモン電極
である。図3に示されている通り、印加される外部電圧
はMIMの容量CMINと液晶の容量CLCとの容量の比に
より分割される。ここで、CMINが大きいとMIMにか
かる電圧が小さくなり、従って外部電圧が有効にMIM
に印加されないことが分かる。従って、MIM素子の容
量が大きいと、クロストークの原因にもなり、液晶表示
装置の大容量化、高画質化が困難である。
ように液晶ディスプレイの発達にともなって、MIM素
子にも大容量化及び高画質化が望まれている状況におい
て、前述のようなMIM素子では、その要求を満たすこ
とは困難になってきた。その理由の一つはMIM素子容
量の低下が難しいことである。図3にはMIM素子を用
いた液晶表示装置の等価回路図を示す。301はセグメ
ント電極、302はMIM素子の容量CMIM、303は
MIM素子の非線形抵抗RMIM、304は液晶層の容量
CLC、305は液晶層の抵抗RLC、306はコモン電極
である。図3に示されている通り、印加される外部電圧
はMIMの容量CMINと液晶の容量CLCとの容量の比に
より分割される。ここで、CMINが大きいとMIMにか
かる電圧が小さくなり、従って外部電圧が有効にMIM
に印加されないことが分かる。従って、MIM素子の容
量が大きいと、クロストークの原因にもなり、液晶表示
装置の大容量化、高画質化が困難である。
【0004】MIM素子の容量を低減する方法として、
特開昭60−172028に示されるような構造が考え
られている。この構造を図4に示す。401は透明絶縁
基板、402は下部電極、403は絶縁膜、404は前
記下部電極の酸化膜、405は上部電極である。ここに
示されている構造に依れば、実効的なMIM素子は下部
電極上面の開孔部で形成されているが、この面積は最小
のデザインルールで決定されている。すなはち、この方
法では、これ以上の容量低減は困難である。また、上部
電極の断線を考慮すると、前記絶縁膜開孔部にはテーパ
ーを付ける必要があるが、このテーパーを精度よく加工
する事は難しく、素子特性にもばらつきが出てくるとい
う、問題点がある。
特開昭60−172028に示されるような構造が考え
られている。この構造を図4に示す。401は透明絶縁
基板、402は下部電極、403は絶縁膜、404は前
記下部電極の酸化膜、405は上部電極である。ここに
示されている構造に依れば、実効的なMIM素子は下部
電極上面の開孔部で形成されているが、この面積は最小
のデザインルールで決定されている。すなはち、この方
法では、これ以上の容量低減は困難である。また、上部
電極の断線を考慮すると、前記絶縁膜開孔部にはテーパ
ーを付ける必要があるが、このテーパーを精度よく加工
する事は難しく、素子特性にもばらつきが出てくるとい
う、問題点がある。
【0005】本発明はこの様な従来の技術の問題点を解
決するもので、その目的とするところは、MIM容量が
小さく高画質化が可能で、且つばらつきも小さい非線形
能動素子及びその製造方法を提供することにある。
決するもので、その目的とするところは、MIM容量が
小さく高画質化が可能で、且つばらつきも小さい非線形
能動素子及びその製造方法を提供することにある。
【0006】
【課題を解決するための手段】本発明は、金属−絶縁膜
−金属(MIM)からなる非線形能動素子及びその製造
方法において、下部電極形成後第1の絶縁膜を積層しパ
ターニングした後、第2の絶縁膜を積層エッチバックを
施し、前記第1の絶縁膜側面に側壁(サイドウォール)
を形成し、前記下部電極上面の開孔部の、最小のデザイ
ンルールよりも狭い面積に於いて、実効的なMIM素子
を形成することを特徴とする。
−金属(MIM)からなる非線形能動素子及びその製造
方法において、下部電極形成後第1の絶縁膜を積層しパ
ターニングした後、第2の絶縁膜を積層エッチバックを
施し、前記第1の絶縁膜側面に側壁(サイドウォール)
を形成し、前記下部電極上面の開孔部の、最小のデザイ
ンルールよりも狭い面積に於いて、実効的なMIM素子
を形成することを特徴とする。
【0007】
【作用】本発明の液晶表示装置の構造に依れば、金属−
絶縁膜−金属からなる非線形能動素子は、下部電極上面
の、最小のデザインルールよりも狭い、前記第1の絶縁
膜の側壁間において、実効的なMIM素子をなしてお
り、従来に比べMIM素子の容量を低減することが出
来、大容量化、高画質化が可能になる。
絶縁膜−金属からなる非線形能動素子は、下部電極上面
の、最小のデザインルールよりも狭い、前記第1の絶縁
膜の側壁間において、実効的なMIM素子をなしてお
り、従来に比べMIM素子の容量を低減することが出
来、大容量化、高画質化が可能になる。
【0008】
【実施例】本発明の液晶表示装置の実施例の一例を、図
1に示した製造工程毎の素子断面図に依って詳しく説明
してゆく。まず図1(a)に示すように、透明絶縁基板
101上に金属薄膜を1000Å〜10000Å程度の
厚さで形成し、パターニングを行ってMIM素子の下部
電極102となした後、第1の絶縁薄膜103を200
0Å〜10000Å程度の厚さで積層し、前記下部電極
102上面に開孔部104を形成した後、第2の絶縁膜
105を積層する。前記透明絶縁基板101には石英基
板やアルカリガラスなどが用いられる。また、前記下部
電極102には、タンタルやアルミニウム等がスパッタ
法や蒸着法等により形成される。
1に示した製造工程毎の素子断面図に依って詳しく説明
してゆく。まず図1(a)に示すように、透明絶縁基板
101上に金属薄膜を1000Å〜10000Å程度の
厚さで形成し、パターニングを行ってMIM素子の下部
電極102となした後、第1の絶縁薄膜103を200
0Å〜10000Å程度の厚さで積層し、前記下部電極
102上面に開孔部104を形成した後、第2の絶縁膜
105を積層する。前記透明絶縁基板101には石英基
板やアルカリガラスなどが用いられる。また、前記下部
電極102には、タンタルやアルミニウム等がスパッタ
法や蒸着法等により形成される。
【0009】本実施例においては、タンタル薄膜をスパ
ッタ法により約5000Å程度堆積した後エッチングを
行い、下部電極102とした。また、前記第1の絶縁薄
膜103及び前記第2の絶縁膜105には二酸化硅素膜
や窒化硅素膜等が、常圧CVD法、減圧CVD法、プラ
ズマCVD法、ECRプラズマCVD法、スパッタ法な
どにより形成され、用いられる。本実施例においては、
前記第1の絶縁膜103として、窒化硅素膜をプラズマ
CVD法において約5000Å程度積層して使用した。
また、前記第2の絶縁膜105として二酸化硅素膜を常
圧CVD法により約5000Åの厚さに形成したものを
用いた。また、前記第1の絶縁膜の開孔部104の径は
一辺が2μmの正方形で形成した。その後、エッチバッ
ク法を用いて前記第2の絶縁膜105のエッチングを行
い、前記第1の絶縁膜103側面に側壁(サイドウォー
ル)106を形成した後、前記下部電極102の酸化膜
107を500Å〜2000Å程度の厚さで形成し、図
1(b)を得る。前記酸化膜107の形成には、陽極酸
化法や熱酸化法、プラズマ酸化法と言った方法が用いら
れるが、本実施例においては陽極酸化法を用い、約60
0Å程度の酸化タンタルを得ることが出来た。その後、
図1(c)に示すように、金属薄膜を積層し、所望の形
状にパターニングして上部電極108となし、金属−絶
縁膜−金属からなる非線形能動素子が完成する。
ッタ法により約5000Å程度堆積した後エッチングを
行い、下部電極102とした。また、前記第1の絶縁薄
膜103及び前記第2の絶縁膜105には二酸化硅素膜
や窒化硅素膜等が、常圧CVD法、減圧CVD法、プラ
ズマCVD法、ECRプラズマCVD法、スパッタ法な
どにより形成され、用いられる。本実施例においては、
前記第1の絶縁膜103として、窒化硅素膜をプラズマ
CVD法において約5000Å程度積層して使用した。
また、前記第2の絶縁膜105として二酸化硅素膜を常
圧CVD法により約5000Åの厚さに形成したものを
用いた。また、前記第1の絶縁膜の開孔部104の径は
一辺が2μmの正方形で形成した。その後、エッチバッ
ク法を用いて前記第2の絶縁膜105のエッチングを行
い、前記第1の絶縁膜103側面に側壁(サイドウォー
ル)106を形成した後、前記下部電極102の酸化膜
107を500Å〜2000Å程度の厚さで形成し、図
1(b)を得る。前記酸化膜107の形成には、陽極酸
化法や熱酸化法、プラズマ酸化法と言った方法が用いら
れるが、本実施例においては陽極酸化法を用い、約60
0Å程度の酸化タンタルを得ることが出来た。その後、
図1(c)に示すように、金属薄膜を積層し、所望の形
状にパターニングして上部電極108となし、金属−絶
縁膜−金属からなる非線形能動素子が完成する。
【0010】本実施例において前記第1の絶縁膜の側壁
の長さは約4000Å程度であり、前記第1の絶縁膜の
側壁間の面積が、前記開孔部の面積の約3分の1程度と
狭くなり、従って側壁がない場合に比べて、MIM素子
の容量を2分の1〜3分の1程度に低減することが出来
た。
の長さは約4000Å程度であり、前記第1の絶縁膜の
側壁間の面積が、前記開孔部の面積の約3分の1程度と
狭くなり、従って側壁がない場合に比べて、MIM素子
の容量を2分の1〜3分の1程度に低減することが出来
た。
【0011】
【発明の効果】本発明の非線形能動素子の構造及びその
製造方法に依れば、下部電極上部に最小のデザインルー
ルで開孔した第1の絶縁膜の側面に、第2の絶縁膜をエ
ッチバックして側壁を形成することにより、従来よりも
MIM素子の容量を低減することが出来、それによって
大容量化やクロストークの低減が可能で、高画質化が可
能な非線形能動素子を形成できる。
製造方法に依れば、下部電極上部に最小のデザインルー
ルで開孔した第1の絶縁膜の側面に、第2の絶縁膜をエ
ッチバックして側壁を形成することにより、従来よりも
MIM素子の容量を低減することが出来、それによって
大容量化やクロストークの低減が可能で、高画質化が可
能な非線形能動素子を形成できる。
【図1】 本発明の実施例に示した非線形能動素子の製
造工程ごとの素子断面図。
造工程ごとの素子断面図。
【図2】 従来の技術における非線形能動素子の製造工
程ごとの素子断面図。
程ごとの素子断面図。
【図3】 MIM素子を用いた液晶表示装置の等価回路
図。
図。
【図4】 従来の技術における非線形能動素子の素子断
面図。
面図。
101,201,401・・・透明絶縁基板 102,202,402・・・下部電極 103,105,403・・・絶縁膜 104・・・開孔部 106・・・エッチバック法により形成された側壁 107,203,404・・・下部電極の酸化膜 108,204,405上部電極 301・・・セグメント電極 302・・・MIM素子の容量 303・・・MIM素子の抵抗 304・・・液晶層の容量 305・・・液晶層の抵抗 306・・・コモン電極
Claims (4)
- 【請求項1】 金属−絶縁膜−金属からなる非線形能動
素子において、下部電極上面に、前記下部電極の酸化膜
と異なる絶縁膜による側壁を有し、実効的な非線形能動
素子の面積が、前記側壁間に於いて最小のデザインルー
ルよりも小さく規定されていることを特徴とする非線形
能動素子。 - 【請求項2】 前記請求項1に記載の非線形能動素子に
おいて、前記絶縁膜の膜厚が、前記下部電極の酸化膜よ
りも厚い事を特長とする非線形能動素子。 - 【請求項3】 前記請求項1に記載の非線形能動素子に
おいて、前記絶縁膜の比誘電率が、前記下部電極の酸化
膜の比誘電率よりも小さい事を特長とする非線形能動素
子。 - 【請求項4】 下部金属電極を形成する工程と、前記下
部電極の酸化膜を形成する工程と、上部電極を形成する
工程とを含む、金属−絶縁膜−金属からなる非線形能動
素子の製造方法において、下部電極形成後全面に第1の
絶縁膜を形成する工程と、前記下部電極上面に開孔部を
形成する工程と、第2の絶縁膜を形成する工程と、前記
第2の絶縁膜をエッチバックする工程と、前記下部電極
の酸化膜を形成する工程と、上部電極を形成する工程と
を含むことを特徴とする、非線形能動素子の製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16602692A JPH063703A (ja) | 1992-06-24 | 1992-06-24 | 非線形能動素子及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16602692A JPH063703A (ja) | 1992-06-24 | 1992-06-24 | 非線形能動素子及びその製造方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH063703A true JPH063703A (ja) | 1994-01-14 |
Family
ID=15823565
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16602692A Pending JPH063703A (ja) | 1992-06-24 | 1992-06-24 | 非線形能動素子及びその製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH063703A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100760883B1 (ko) * | 2005-03-07 | 2007-09-21 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 전기광학장치 및 그 제조방법, 그리고 전자기기 |
| US7352005B2 (en) | 2005-04-11 | 2008-04-01 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device, manufacturing method thereof, and electronic apparatus |
| US7636134B2 (en) | 2005-03-25 | 2009-12-22 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device, method of manufacturing the same, and electronic apparatus |
| US7952094B2 (en) | 2005-04-11 | 2011-05-31 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus |
| US9895505B2 (en) | 2004-04-09 | 2018-02-20 | Resmed Limited | Nasal assembly |
-
1992
- 1992-06-24 JP JP16602692A patent/JPH063703A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US9895505B2 (en) | 2004-04-09 | 2018-02-20 | Resmed Limited | Nasal assembly |
| KR100760883B1 (ko) * | 2005-03-07 | 2007-09-21 | 세이코 엡슨 가부시키가이샤 | 전기광학장치 및 그 제조방법, 그리고 전자기기 |
| US7969518B2 (en) | 2005-03-07 | 2011-06-28 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device, method of manufacturing the same, and electronic apparatus |
| US7636134B2 (en) | 2005-03-25 | 2009-12-22 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device, method of manufacturing the same, and electronic apparatus |
| US7352005B2 (en) | 2005-04-11 | 2008-04-01 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device, manufacturing method thereof, and electronic apparatus |
| US7952094B2 (en) | 2005-04-11 | 2011-05-31 | Seiko Epson Corporation | Electro-optical device, method of manufacturing electro-optical device, and electronic apparatus |
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