JPH0645331U - グロー放電分解装置 - Google Patents
グロー放電分解装置Info
- Publication number
- JPH0645331U JPH0645331U JP8046392U JP8046392U JPH0645331U JP H0645331 U JPH0645331 U JP H0645331U JP 8046392 U JP8046392 U JP 8046392U JP 8046392 U JP8046392 U JP 8046392U JP H0645331 U JPH0645331 U JP H0645331U
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Abstract
(57)【要約】
【目的】アモルファスシリコン層の剥離がない。
【構成】成膜用ガスが導入される反応室内部に、外径が
20〜300mmである複数の円筒状基板をその中心軸
が実質上同一になるように積み重ね、グロー放電により
これらの基板の外周面に成膜するグロー放電分解装置で
あって、この基板の外周面に比べて0.2mm以下の間
隙を有するように、且つ基板の外周面の端部を円筒状基
板の中心軸方向にわたって2〜40mmの範囲で覆うよ
うなリング状マスク体を具備するスペーサを、個々の円
筒状基板の間に設置したことを特徴とする。
20〜300mmである複数の円筒状基板をその中心軸
が実質上同一になるように積み重ね、グロー放電により
これらの基板の外周面に成膜するグロー放電分解装置で
あって、この基板の外周面に比べて0.2mm以下の間
隙を有するように、且つ基板の外周面の端部を円筒状基
板の中心軸方向にわたって2〜40mmの範囲で覆うよ
うなリング状マスク体を具備するスペーサを、個々の円
筒状基板の間に設置したことを特徴とする。
Description
【0001】
本考案はアモルファスシリコン層などを生成するグロー放電分解装置に関し、 詳しくは単一の反応室により複数の円筒状基板の個々の外周面の同時に成膜形成 することができるグロー放電分解装置に関するものである。
【0002】
アモルファスシリコン層(以下、アモルファスシリコンをa−Siと略記する )から成る電子写真用感光体が市場にでているが、多数個の感光体を同時に製造 するために、既に実開昭64−53758号公報によりグロー放電分解装置を提 案した。
【0003】 同グロー放電分解装置によれば、成膜用ガスが導入される反応室内部に、複数 の円筒状基板をその中心軸が実質上同一になるように積み重ね、グロー放電によ りこれらの基板の外周面に成膜するに当たって、基板の内周面端部に切欠部を形 成するとともに、個々の基板間にスペーサを介在させるのであるが、このスペー サを基板の内側に置き、その切欠部と勘合させるようにしたものである。
【0004】 しかしながら、上記提案のグロー放電分解装置においては、このスペーサを介 して個々の基板間にわたって放電条件が同じになり、これにより、基板外周の全 面もしくは個々の基板間で均一な成膜ができるようになったが、その反面、基板 温度を約300℃に設定しているので、成膜後に基板温度が室温にまで下がった 場合、a−Si層と基板との熱膨張率の差に起因して、各基板の端部に応力が集 中し、これにより、基板端部が変形したり、あるいはその基板付近に成膜したa −Si層が剥離するという問題点があった。
【0005】
本考案のグロー放電分解装置は、成膜用ガスが導入される反応室内部に、外径 が20〜300mmである複数の円筒状基板をその中心軸が実質上同一になるよ うに積み重ね、グロー放電によりこれらの基板の外周面に成膜する構成であって 、この基板の外周面に比べて0.2mm以下の間隙を有するように、且つ基板の 外周面の端部を円筒状基板の中心軸方向にわたって2〜40mmの範囲で覆うよ うなリング状マスク体を具備するスペーサを、個々の円筒状基板の間に設置した ことを特徴とする。
【0006】
上記構成のグロー放電分解装置によれば、外径が20〜300mmである複数 の円筒状基板の間に、この基板の外周面に比べて0.2mm以下の間隙を有する ように、且つ基板の外周面の端部を円筒状基板の中心軸方向にわたって2〜40 mmの範囲で覆うようなリング状マスク体を具備するスペーサを介在させること により、成膜後に基板温度が室温にまで下がった場合でも、a−Si層と基板と の熱膨張率の差に起因して各基板端部に応力が集中しても、リング状マスク体に より覆われた基板領域には成膜されなくなり、これにより、基板端部が変形した としても、a−Si層の剥離という問題点が解消される。
【0007】
図1は本考案のグロー放電分解装置1の概略図であり、図2はリング状マスク 体を具備するスペーサ2の設置状態を示す断面図である。 図1のグロー放電分解装置1によれば、3は円筒形状の反応容器、3aはその 蓋体、3bはその周壁であり、4は円筒形状のグロー放電用電極板、5は円筒形 状の導電性基板支持体、6a、6bは成膜用円筒状基板である。これら積み重ね られた基板6a、6bは基板支持体5aの鍔部の上に載置されるとともに、電気 的に導通している。また、蓋体3aの上に付設されたモーター7により回転軸8 を介して基板支持体5が回転駆動し、これに伴って基板6a、6bが一体的に回 転する。基板支持体5、回転軸8及び蓋体3aは電気的に導通し、アースしてい る。更に周壁3bとグロー放電用電極板4とは電気的に導通しており、周壁3b に付設された電力入力用端子9は高周波電源10と接続され、このような電力印 加系のもとでグロー放電用電極板4と基板6a、6bとの間でグロー放電が発生 する。尚、11と12は電極板4と基板6a、6bとを電気的に絶縁するリング 体である。 13はガス導入口、14はガス排出口であり、a−Si成膜用ガスがガス導入 口13を介して反応容器3の内部へ導入され、次いでグロー放電用電極板4に貫 設された複数個のガス吹き出し口15を介して基板6a、6bに向けて吹き出さ れる。
【0008】 また、基板6aと基板6bとの間にはリング状マスク体を具備するスペーサ2 が設けられている。このスペーサ2により両基板6a、6b間の電気的な導通や 固定・接合に寄与する。このスペーサ2は図2に示すようにリング状のマスク体 2aとリング状のスペーサ部2bとから構成され、このマスク体2aは両基板6 a、6bの一方の端部を覆うように両翼状の構成である。 更にまた、基板6a、6bは、通常、アルミニウム製であるが、これに対して 、スペーサ2はアルミニウム合金、ステンレスなどの耐熱性を備えた導電性材料 により製作する。
【0009】 本考案は、このような構造のスペーサ2のリング状マスク体2aについて、更 に外径が20〜300mmである円筒状基板6a、6bの外周面に比べて0.2 mm以下の間隙を有するように設定したことが特徴である。このような間隙を設 けることにより、基板温度が約300℃にまで高くなるのに伴って、その間隙が 小さくなって両者間が接触するのがよい。この間隙が0.2mmを越える場合に は、両基板6a、6b間の電気的な導通が不安定になり、しかも、その間隙に成 膜の回り込みが生じ、更に基板端部の変形の防止効果が低減する。尚、成膜中、 基板6a、6bとスペーサ2とが熱膨張するので、この数値限定は非成膜での条 件であり、以下、同様な数値限定はすべて非成膜での条件である。
【0010】 しかも、本考案は、このリング状のマスク体2aについて、長さ寸法が200 〜500mmである基板6a、6bの外周面の端部を円筒状基板6a、6bの中 心軸方向にわたって2〜40mmの範囲で覆うような構造にしたことも特徴であ る。このマスク寸法が2mm未満の場合には基板端部の変形の防止効果が得られ ず、40mmを越える場合には、その基板6a、6bの有効な成膜領域が少なく なって不適当である。
【0011】 また、本考案者等の実験によれば、基板6a、6bの外周面の面積に対するマ スク体2aのリング状内面積の比率を0.2%以上の設定すると、両基板6a、 6bの間で安定的に電気的な導通が得られることも確認した。
【0012】 このようなリング状マスク体2aを備えたスペーサ2と同様な機能を備えるも のとして、両基板6a、6bのそれぞれの他方の端部にもマスク体16、17を 設ける。
【0013】 上記構成のグロー放電分解装置1によりa−Si感光体を製作するには、上記 の電力印加系並びにガス流系の下で両基板6a、6bが回転し、更に基板6a、 6bの内部に設けたヒーター18により基板温度を約300℃にまで高くし、グ ロー放電により基板6a、6bのそれぞれの周面にa−Si層が気相成長される 。そして、この気相成長に伴って生じるガス分解残余ガスがガス排出口14によ り排出される。尚、図中の矢印はガス流を示す。
【0014】 以下、上記のグロー放電分解装置1を用いた実験結果を述べる。 表1に基板6a、6bの寸法、並びにリング状のマスク体2aに関する基板6 a、6bの中心軸方向にわたるマスク寸法(長さ)、厚み及び基板6a、6bの 外周面との間隙(すき間)を示す。
【0015】
【表1】
【0016】 また、成膜条件を表2に示す。同表によれば、a−Si感光体はキャリア注入 層、光導電層、表面層を順次積層した三層構造であり、それぞれのガス流量、電 力、基板温度を示す。
【0017】
【表2】
【0018】 かくして製作したa−Si感光体の表面電位特性を表3に示す測定条件により 測定したところ、図3に示すような結果が得られた。尚、この表面電位特性は、 a−Si感光体を暗中に放置後、回転させ、除電光を当てながら帯電器に一定電 流を流したときの表面電位を暗部表面電位とし、その後、露光した場合の表面電 位の明部表面電位とした。 図3に示す結果より明らかな通り、スペーサ2が設けられた付近において、ま た基板6a、6bの軸方向にわたってほぼ均一な表面電位値であった。
【0019】
【表3】
【0020】 更に成膜終了後の基板端部は図4に示すように非成膜部19ができる。このよ うに成膜された基板6a、6bは、その端部に応力が集中しておらず、そのため に基板端部が変形せず、その端部面のa−Si層の剥離がなかった。
【0021】 また、リング状マスク体2aを備えたスペーサ2を用いないで、その代わりに 既に実開昭64−53758号公報により提案した図5のスペーサ20を設け、 その他のすべての条件を同じにして、比較例のa−Si感光体を製作した。そし て、その感光体の表面電位特性を測定したところ、図6に示すような結果が得ら れた。 同図より明らかなように、スペーサ20により基板6a、6b間の電気的な導 通は高められているが、その基板端部の変形に起因して有効領域の軸方向にわた って暗部表面電位が不均一な特性を示した。
【0022】 また、この比較例のa−Si感光体の端部は図7に示すように変形しており、 そのa−Si層の一部が剥離していた。図8は、その基板端部付近の外径を測定 した結果である。
【0023】 以上のように、本考案により製作したa−Si感光体であれば、両基板6a、 6bの外周面の全体にわたって均一な表面電位となり、しかも、基板端部の変形 やその基板付近に成膜したa−Si層の剥離がなかった。これに対して、比較例 のa−Si感光体は、両基板6a、6bの外周面にわたって表面電位のムラがめ だった。また、基板端部が変形したり、あるいはその基板付近に成膜したa−S i層が剥離した。
【0024】 尚、本考案は上記実施例に限定されるものではなく、本考案の要旨を逸脱しな い範囲内で種々の変更、改良等は何ら差し支えない。例えば、上記実施例におい ては、2個の基板を設けれいるが、3個以上の基板を積み重ね、個々の基板間に スペーサを設置してもよい。
【0025】
以上の通り、本考案のグロー放電分解装置によれば、複数の円筒状基板の間に 、この基板の外周面に比べて0.2mm以下の間隙を有するように、且つ基板の 外周面の端部を円筒状基板の中心軸方向にわたって2〜40mmの範囲で覆うよ うなリング状マスク体を具備するスペーサを介在させることにより、成膜後に基 板温度が室温にまで下がった場合でも、a−Si層と基板との熱膨張率の差に起 因して各基板端部に応力が集中しても、リング状マスク体により覆われた基板領 域には成膜されなくなり、これにより、基板端部が変形したとしても、a−Si 層の剥離という問題点が解消された。
【0026】 また、本考案のグロー放電分解装置によれば、個々の円筒状基板間の電気的な 導通がよいので、その内部抵抗が小さくなり、これにより、電界のムラが小さく なって均一な成膜形成ができ、しかも、電力コストが小さくなって、製造コスト が低減した。
【図1】実施例のグロー放電分解装置の概略図である。
【図2】リング状マスク体を具備するスペーサのグロー
放電分解装置の配設状態を示す図である。
放電分解装置の配設状態を示す図である。
【図3】本考案に係るアモルファスシリコン感光体の表
面電位を表す線図である。
面電位を表す線図である。
【図4】本考案に係るアモルファスシリコン感光体の端
部を示す説明図である。
部を示す説明図である。
【図5】従来のスペーサの外観図である。
【図6】従来のアモルファスシリコン感光体の表面電位
を表す線図である。
を表す線図である。
【図7】従来のアモルファスシリコン感光体の端部を示
す説明図である。
す説明図である。
【図8】アモルファスシリコン感光体の端部の外径変形
量を示す説明図である。
量を示す説明図である。
2 スペーサ 2a マスク体 2b スペーサ部 3 反応容器 4 グロー放電用電極板 5 導電性基板支持体 6a、6b 成膜用円筒状基板
Claims (1)
- 【請求項1】成膜用ガスが導入される反応室内部に、外
径が20〜300mmである複数の円筒状基板をその中
心軸が実質上同一になるように積み重ね、グロー放電に
よりこれらの基板の外周面に成膜するグロー放電分解装
置において、前記基板の外周面に対し0.2mm以下の
間隙で、且つ基板の外周面の端部を円筒状基板の中心軸
方向にわたって2〜40mmの範囲で覆うようなリング
状マスク体を具備するスペーサを、前記複数の円筒状基
板の間に設置したことを特徴とするグロー放電分解装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8046392U JPH0645331U (ja) | 1992-11-20 | 1992-11-20 | グロー放電分解装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP8046392U JPH0645331U (ja) | 1992-11-20 | 1992-11-20 | グロー放電分解装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0645331U true JPH0645331U (ja) | 1994-06-14 |
Family
ID=13718959
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP8046392U Pending JPH0645331U (ja) | 1992-11-20 | 1992-11-20 | グロー放電分解装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0645331U (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012118469A (ja) * | 2010-12-03 | 2012-06-21 | Canon Inc | 電子写真感光体の製造方法および堆積膜形成方法 |
| JP2014162955A (ja) * | 2013-02-25 | 2014-09-08 | Canon Inc | 堆積膜形成方法、電子写真感光体の製造方法および堆積膜形成装置 |
-
1992
- 1992-11-20 JP JP8046392U patent/JPH0645331U/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012118469A (ja) * | 2010-12-03 | 2012-06-21 | Canon Inc | 電子写真感光体の製造方法および堆積膜形成方法 |
| JP2014162955A (ja) * | 2013-02-25 | 2014-09-08 | Canon Inc | 堆積膜形成方法、電子写真感光体の製造方法および堆積膜形成装置 |
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