JPH065651B2 - シ−ト状電子部品の検査方法 - Google Patents
シ−ト状電子部品の検査方法Info
- Publication number
- JPH065651B2 JPH065651B2 JP60176921A JP17692185A JPH065651B2 JP H065651 B2 JPH065651 B2 JP H065651B2 JP 60176921 A JP60176921 A JP 60176921A JP 17692185 A JP17692185 A JP 17692185A JP H065651 B2 JPH065651 B2 JP H065651B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sheet
- electronic component
- electronic components
- test
- inspection method
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Lifetime
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- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Housings And Mounting Of Transformers (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 ［産業上の利用分野］ 本発明は、大判シート上にメッキにより形成したシート
状コイルなどの電子部品の検査方法に関する。
状コイルなどの電子部品の検査方法に関する。
［従来の技術］ この種シート状電子部品、たとえば、シート状導体コイ
ルを検査するにあたって、従来は、まず、大判シート上
に形成された複数個のシート状電子部品を個々に打ち抜
き、その打ち抜かれた電子部品に対して通電試験などの
検査を行っている。このような従来方法では、対判シー
ト上のすべての電子部品を打ち抜く必要があると共に、
打ち抜かれた電子部品をいったん整列させてから別工程
に移して検査を行うので、検査のための工程が煩雑にな
る。また、不良品も含めて全品を打ち抜く必要があり、
その分だけ余計な作業を強いられることになる。
ルを検査するにあたって、従来は、まず、大判シート上
に形成された複数個のシート状電子部品を個々に打ち抜
き、その打ち抜かれた電子部品に対して通電試験などの
検査を行っている。このような従来方法では、対判シー
ト上のすべての電子部品を打ち抜く必要があると共に、
打ち抜かれた電子部品をいったん整列させてから別工程
に移して検査を行うので、検査のための工程が煩雑にな
る。また、不良品も含めて全品を打ち抜く必要があり、
その分だけ余計な作業を強いられることになる。
［発明が解決しようとする問題点］ そこで、本発明の目的は、上述の欠点を解決し、工程を
簡略化して検査を行うことのできる検査方法を提供する
ことにある。
簡略化して検査を行うことのできる検査方法を提供する
ことにある。
［問題点を解決するための手段］ このような目的を達成するために、本発明は、導通線お
よび周辺の導体部分によって互いに電気的に接続されて
いる複数のシート状電子部品からなる大判シートにおい
て、その電子部品の電気特性を検査するにあたり、導通
線を切断する工程と、導通線の切断された電子部品につ
いて電気特性の試験を行う工程と、その試験の結果、所
定の特性をもつ電子部品のみを大判シートから打ち抜く
工程とを具えたことを特徴とする。
よび周辺の導体部分によって互いに電気的に接続されて
いる複数のシート状電子部品からなる大判シートにおい
て、その電子部品の電気特性を検査するにあたり、導通
線を切断する工程と、導通線の切断された電子部品につ
いて電気特性の試験を行う工程と、その試験の結果、所
定の特性をもつ電子部品のみを大判シートから打ち抜く
工程とを具えたことを特徴とする。
［作用］ 本発明によれば、電子部品の試験に先立って導通線を切
断するという簡単な工程を付加するのみで、シート上に
配列されたままの電子部品に対して電気特性の試験を行
うことができるので、試験の自動化に好適であり、しか
も試験の後に電子部品を打ち抜くのであるから、不良品
についてはそのままシートに放置して打ち抜かなくてよ
く、したがって後工程を効率的に進めることができる。
断するという簡単な工程を付加するのみで、シート上に
配列されたままの電子部品に対して電気特性の試験を行
うことができるので、試験の自動化に好適であり、しか
も試験の後に電子部品を打ち抜くのであるから、不良品
についてはそのままシートに放置して打ち抜かなくてよ
く、したがって後工程を効率的に進めることができる。
［実施例］ 以下に、図面を参照して本発明を詳細に説明する。
第１図は本発明で取り扱う大判シート上に配列された電
子部品の概略を示し、ここで１は導電性の大判シート、
２はその四隅に形成された電気メッキ用の電極接点、３
は互に分離して配置されたシートコイルなどのシート状
電子部品である。
子部品の概略を示し、ここで１は導電性の大判シート、
２はその四隅に形成された電気メッキ用の電極接点、３
は互に分離して配置されたシートコイルなどのシート状
電子部品である。
このイート状電子部品３の詳細例を第２図(A)および(B)
に示す。
に示す。
第２図(A)はかかる電子部品３の表面を示し、第２図(B)
は同じく裏面を示す。ここで、11は絶縁基板であり、そ
の基板11上には電子部品としてのコイル導体12が電気メ
ッキにより形成されている。13はコイル導体をメッキに
より形成する際に通電を行うための導通線（メッキリー
ド）である。14および15はこのコイル導体13の接続端子
である。16は表面と裏面の両コイル導体12を導通させる
ためのスルーホールである。４はかかる電子部品３の周
辺の導体部分である。
は同じく裏面を示す。ここで、11は絶縁基板であり、そ
の基板11上には電子部品としてのコイル導体12が電気メ
ッキにより形成されている。13はコイル導体をメッキに
より形成する際に通電を行うための導通線（メッキリー
ド）である。14および15はこのコイル導体13の接続端子
である。16は表面と裏面の両コイル導体12を導通させる
ためのスルーホールである。４はかかる電子部品３の周
辺の導体部分である。
本発明では、まず、第３図に示すように、導通線13の個
所にドリルなどで穴17をあける。この穴17は、たとえば
縦方向や横方向に配列されている穴ごとで一括してあけ
るが好適である。このようにして穴17により導通線13の
切断された電子部品３は互に電気的に分離され、コイル
導体12は大判シート１から絶縁されているので、端子14
と15との間を測定器に接続して、両端子14と15との間
で、当該電子部品３の抵抗やインダクタンスなどの電気
特性を試験する。この場合には、電子部品３はシート１
上に配置されたままであるから、各位置が定まってお
り、電気特性の自動試験を行うのに好適である。
所にドリルなどで穴17をあける。この穴17は、たとえば
縦方向や横方向に配列されている穴ごとで一括してあけ
るが好適である。このようにして穴17により導通線13の
切断された電子部品３は互に電気的に分離され、コイル
導体12は大判シート１から絶縁されているので、端子14
と15との間を測定器に接続して、両端子14と15との間
で、当該電子部品３の抵抗やインダクタンスなどの電気
特性を試験する。この場合には、電子部品３はシート１
上に配置されたままであるから、各位置が定まってお
り、電気特性の自動試験を行うのに好適である。
ついで、第４図(A)，(B)に示すように、破線18のところ
で各電子部品３の打抜きを行って最終製品としての電子
部品３を得る。
で各電子部品３の打抜きを行って最終製品としての電子
部品３を得る。
なお、上例では、シート状電子部品としてシート状コイ
ル導体の場合を示したが、本発明はこれに限られず、端
子を含む部分がメッキにより形成される電子部品であれ
ばいかなるものでもよい。
ル導体の場合を示したが、本発明はこれに限られず、端
子を含む部分がメッキにより形成される電子部品であれ
ばいかなるものでもよい。
［発明の効果］ 以上に説明したように、本発明によれば、電子部品の試
験に先立って導通線を切断するという簡単な工程を付加
するのみで、シート上に配列されたままの電子部品に対
して電気特性の試験を行うことができるので、試験の自
動化に好適であり、しかも試験の後に電子部品を打ち抜
くのであるから、不良品についてはそのままシートに放
置して打ち抜かなくてよく、したがって後工程を効率的
に進めることができる。
験に先立って導通線を切断するという簡単な工程を付加
するのみで、シート上に配列されたままの電子部品に対
して電気特性の試験を行うことができるので、試験の自
動化に好適であり、しかも試験の後に電子部品を打ち抜
くのであるから、不良品についてはそのままシートに放
置して打ち抜かなくてよく、したがって後工程を効率的
に進めることができる。
第１図は電子部品を設けた大判シートの一例を示す平面
図、 第２図(A)および(B)はその電子部品の表面および裏面を
それぞれ拡大して示す平面図、 第３図(A)および(B)はその電子部品の導通線を切断した
状態の表面および裏面をそれぞれ拡大して示す平面図、 第４図(A)および(B)は最終製品としての電子部品の表面
および裏面をそれぞれ拡大して示す平面図である。 １…大判シート、 ２…電極接点、 ３…電子部品、 ４…周辺の導体部分、 11…絶縁基板、 12…コイル導体、 13…導通線、 14，15…端子、 16…スルーホール、 17…切断用穴、 18…打ち抜き線。
図、 第２図(A)および(B)はその電子部品の表面および裏面を
それぞれ拡大して示す平面図、 第３図(A)および(B)はその電子部品の導通線を切断した
状態の表面および裏面をそれぞれ拡大して示す平面図、 第４図(A)および(B)は最終製品としての電子部品の表面
および裏面をそれぞれ拡大して示す平面図である。 １…大判シート、 ２…電極接点、 ３…電子部品、 ４…周辺の導体部分、 11…絶縁基板、 12…コイル導体、 13…導通線、 14，15…端子、 16…スルーホール、 17…切断用穴、 18…打ち抜き線。
Claims (1)
- 【請求項１】導通線および周辺の導体部分によって互い
に電気的に接続されている複数のシート状電子部品から
なる大判シートにおいて、その電子部品の電気特性を検
査するにあたり、 前記導通線を切断する工程と、 前記導通線の切断された電子部品について電気特性の試
験を行う工程と、 その試験の結果、所定の特性をもつ電子部品のみを前記
大判シートから打ち抜く工程と を具えたことを特徴とするシート状電子部品の検査方
法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60176921A JPH065651B2 (ja) | 1985-08-13 | 1985-08-13 | シ−ト状電子部品の検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60176921A JPH065651B2 (ja) | 1985-08-13 | 1985-08-13 | シ−ト状電子部品の検査方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6237917A JPS6237917A (ja) | 1987-02-18 |
| JPH065651B2 true JPH065651B2 (ja) | 1994-01-19 |
Family
ID=16022090
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60176921A Expired - Lifetime JPH065651B2 (ja) | 1985-08-13 | 1985-08-13 | シ−ト状電子部品の検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH065651B2 (ja) |
-
1985
- 1985-08-13 JP JP60176921A patent/JPH065651B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6237917A (ja) | 1987-02-18 |
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