JPS6237917A - シ−ト状電子部品の検査方法 - Google Patents

シ−ト状電子部品の検査方法

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JPS6237917A
JPS6237917A JP60176921A JP17692185A JPS6237917A JP S6237917 A JPS6237917 A JP S6237917A JP 60176921 A JP60176921 A JP 60176921A JP 17692185 A JP17692185 A JP 17692185A JP S6237917 A JPS6237917 A JP S6237917A
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JP
Japan
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sheet
electronic part
electronic components
electronic
conducting lead
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JP60176921A
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Susumu Miyabe
宮部 進
Ryohei Koyama
亮平 小山
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Asahi Chemical Industry Co Ltd
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  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は、大判シート上にメッキにより形成したシート
状コイルなどの電子部品の検査方法に関する。
[従来の技術] この種シート状電子部品、たとえば、シート状導体コイ
ルを検査するにあたって、従来は、まず、大判シート上
に形成された複数個のシート状電子部品を個々に打ち抜
き、その打ち抜かれた電子部品に対して通電試験などの
検査を行っている。このような従来方法では、大判シー
ト上のすべての電子部品を打ち抜く必要があると共に、
打ち抜かれた電子部品をいったん整列させてから別工程
に移して検査を行うので、検査のための工程が煩雑にな
る。また、不良品も含めて全品を打ち抜く必要があり、
その分だけ余計な作業を強いられることになる。
[発明が解決しようとする問題点] そこで、本発明の目的は、上述の欠点を解決し、工程を
簡略化して検査を行うことのできる検査方法を提供する
ことにある。
[問題点を解決するための手段1 このような目的を達成するために、本発明は、導通線お
よび周辺の導体部分によって互いに電気的に接続されて
いる複数のシート状電子部品からなる大判シートにおい
て、その電子部品の電気特性を検査するにあたり、導通
線を切断する工程と、導通線の切断された電子部品につ
いて電気特性の試験を行う工程と、その試験の結果、所
定の特性をもつ電子部品のみを大判シートから打ち抜く
工程とを具えたことを特徴とする。
[作用] 本発明によれば、電子部品の試験に先立って導通線を切
断するという簡単な工程を付加するのみで、シート−1
−に配列されたままの電子部品に対して電気特性の試験
を行うことができるので、試験の自動化に好適であり、
しかも試験の後に電子部品を打ち抜くのであるから、不
良品についてはそのままシートに放置して打ち抜かなく
てよく、したがって後工程を効率的に進めることができ
る。
[実施例1 以下に、図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明で取り扱う大判シート上に配列された電
子部品の概略を示し、ここで1は導電性の大判シート、
2はその四隅に形成された電気メツキ用の電極接点、3
は互に分離して配置されたシートコイルなどのシート状
電子部品である。
このシート状電子部品3の詳細例を第2図(A)および
(B)に示す。
第2図(A)はかかる電子部品3の表面を示し、第2図
(B)は同じく裏面を示す。ここで、11は絶縁基板で
あり、その基板ll上には電子部品としてのコイル導体
12が電気メッキにより形成されている。13はコイル
導体をメッキにより形成する際に通電を行うための導通
線(メッキリード)である。14および15はこのコイ
ル導体13の接続端子である。16は表面と裏面の両コ
イル導体12を導通させるためのスルーホールである。
4はかかる電子部品3の周辺の導体部分である。
本発明では、まず、第3図に示すように、導通m13の
個所にドリルなどで穴17をあける。この穴17は、た
とえば縦方向や横方向に配列されている穴ごとで一括し
てあけるが好適である。このようにして穴17により導
通線!3の切断された電子部品3は互に電気的に分離さ
れ、コイル導体12は大判シー)1から絶縁されている
ので、端子14と15との間を測定器に接続して、両端
子14と15との間で、当該電子部品3の抵抗やインダ
クタンスなどの電気特性を試験する。この場合には、電
子部品3はシート1上に配置されたままであるから、各
位置が定まっており、電気特性の自動試験を行うのに好
適である。
ついで、第4図(A)、(B)に示すように、破線18
のところで各電子部品3の打抜きを行って最終製品とし
ての電子部品3を得る。
なお、上側では、シート状電子部品としてシート状コイ
ル導体の場合を示したが、本発明はこれに限られず、端
子を含む部分がメッキにより形成される電子部品であれ
ばいかなるものでもよい。
[発明の効果] 以」二に説明したように、本発明によれば、電子部品の
試験に先立って導通線を切断するという簡単な工程を付
加するのみで、シート」−に配列されたままの電子部品
に対して電気特性の試験を行うことができるので、試験
の自動化に好適であり、しかも試験の後に電子部品を打
ち抜くのであるから、不良品についてはそのままシート
に放置して打ち抜かなくてよく、したがって後工程を効
率的に進めることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は電子部品を設けた大判シートの一例を示す平面
図、 第2図(A)および(B)はその電子部品の表面および
裏面をそれぞれ拡大して示す平面図、第3図(A)およ
び(B)はその電子部品の導通線を切断した状態の表面
および裏面をそれぞれ拡大して示す平面図、 第4図(A)および(B)は最終製品としての電子部品
の表面および裏面をそれぞれ拡大して示す平面図である
。 1・・・大判シート、 2・・・電極接点、 3・・・電子部品、 4・・・周辺の導体部分、 11・・・絶縁基板、 12・・・コイル導体、 13・・・導通線、 14.15・・・端子、 18・・・スルーホール、 17・・・切断用穴、 18・・・打ち抜き線。 (A) 電3r音古出/14広八口 第2図 (A) * 4 、#tL t tar# L r=電”l−e
&tpr−[人関第3図 1を名各製品としての電子音P品・ 第4図 ろ蔗人圀

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 導通線および周辺の導体部分によって互いに電気的に接
    続されている複数のシート状電子部品からなる大判シー
    トにおいて、その電子部品の電気特性を検査するにあた
    り、 前記導通線を切断する工程と、 前記導通線の切断された電子部品について電気特性の試
    験を行う工程と、 その試験の結果、所定の特性をもつ電子部品のみを前記
    大判シートから打ち抜く工程と を具えたことを特徴とするシート状電子部品の検査方法
    。
JP60176921A 1985-08-13 1985-08-13 シ−ト状電子部品の検査方法 Expired - Lifetime JPH065651B2 (ja)

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JP60176921A JPH065651B2 (ja) 1985-08-13 1985-08-13 シ−ト状電子部品の検査方法

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JP60176921A JPH065651B2 (ja) 1985-08-13 1985-08-13 シ−ト状電子部品の検査方法

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JPS6237917A true JPS6237917A (ja) 1987-02-18
JPH065651B2 JPH065651B2 (ja) 1994-01-19

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