JPH0667635B2 - サーマルヘッドの製造方法 - Google Patents
サーマルヘッドの製造方法Info
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- JPH0667635B2 JPH0667635B2 JP27818787A JP27818787A JPH0667635B2 JP H0667635 B2 JPH0667635 B2 JP H0667635B2 JP 27818787 A JP27818787 A JP 27818787A JP 27818787 A JP27818787 A JP 27818787A JP H0667635 B2 JPH0667635 B2 JP H0667635B2
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Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は厚膜形サーマルンヘッドの製造方法、特にそ
の発熱抵抗体の抵抗値の均一化に関するものである。
の発熱抵抗体の抵抗値の均一化に関するものである。
厚膜形のサーマルヘッドは、ペースト状の抵抗材料をス
クリーン印刷法等によって所定のパターンに印刷し、そ
の後焼成するとで発熱抵抗体を形成している。そのた
め、厚膜形のサーマルヘッドは比較的短い製造工程によ
って安価に製造できる反面、発熱抵抗体の抵抗値のばら
つきが大きくなる欠点がある。
クリーン印刷法等によって所定のパターンに印刷し、そ
の後焼成するとで発熱抵抗体を形成している。そのた
め、厚膜形のサーマルヘッドは比較的短い製造工程によ
って安価に製造できる反面、発熱抵抗体の抵抗値のばら
つきが大きくなる欠点がある。
この発熱抵抗体の抵抗値のばらつきは印字等の質に直接
影響を及ぼすものであるため、厚膜形のサーマルヘッド
の製造においては発熱抵抗体の抵抗値の均一化は極めて
重要なファクタである。
影響を及ぼすものであるため、厚膜形のサーマルヘッド
の製造においては発熱抵抗体の抵抗値の均一化は極めて
重要なファクタである。
この発熱抵抗体の抵抗値の均一化としては、発熱抵抗体
形成後、各発熱抵抗体に個別に比較的高圧の電圧パルス
を印加すると、その抵抗値が低下するという現象を利用
したトリミング処理がある。
形成後、各発熱抵抗体に個別に比較的高圧の電圧パルス
を印加すると、その抵抗値が低下するという現象を利用
したトリミング処理がある。
第４図は例えば特開昭61−83053号公報に示された従来
のサーマルヘッドの製造方法を示すフローチャートであ
る。図において、ST1は初期設定のステップ、ST2は前記
ステップST1に続くプローバ及びスイッチングのステッ
プ、ST3は前記ステップ２に続く電圧パルス印加のステ
ップ、ST4は前記ステップST3に続く抵抗値測定のステッ
プ、ST5は前記ステップST4に続く前回データとの比較の
ステップ、ST6は前記ステップST5に続く抵抗値減少検出
のステップ、ST7は前記ステップST6に続くトリミングの
全ドット終了検出のステップ、ST8は前記ステップST5よ
り分岐したリプローブのステップ、ST9は前記ステップS
T6より分岐した電圧パルスの電圧調整のステップであ
り、前記ステップST7の分岐からはステップST2へ、ステ
ップST8からはステップST4へ、ステップST9からはステ
ップST3へ、それぞれ処理が戻される。
のサーマルヘッドの製造方法を示すフローチャートであ
る。図において、ST1は初期設定のステップ、ST2は前記
ステップST1に続くプローバ及びスイッチングのステッ
プ、ST3は前記ステップ２に続く電圧パルス印加のステ
ップ、ST4は前記ステップST3に続く抵抗値測定のステッ
プ、ST5は前記ステップST4に続く前回データとの比較の
ステップ、ST6は前記ステップST5に続く抵抗値減少検出
のステップ、ST7は前記ステップST6に続くトリミングの
全ドット終了検出のステップ、ST8は前記ステップST5よ
り分岐したリプローブのステップ、ST9は前記ステップS
T6より分岐した電圧パルスの電圧調整のステップであ
り、前記ステップST7の分岐からはステップST2へ、ステ
ップST8からはステップST4へ、ステップST9からはステ
ップST3へ、それぞれ処理が戻される。
次に動作について説明する。まず、ステップST1におい
て、トリミングする発熱抵抗体に加える電圧パルスの初
期値、トリミングの目標値等の初期条件が設定される。
次に、ステップST2において、サーマルヘッドにプロー
ビングし、トリミングするドットを選択してその発熱抵
抗体を電圧パルス発生手段に接続し、ステップST3で前
記ステップ１で設定された初期値の電圧パルスを印加す
る。次にステップST4でその発熱抵抗体の抵抗値を測定
し、ステップST5において抵抗値が減少したか否かを識
別し、していなければプローブの接触不良とみなしてス
テップST8にてプロービングをやり直し、ステップST4に
戻って再度抵抗値の測定を行なう。抵抗値が減少してい
ればステップST6にてステップST1で設定されたトリミン
グの目標値と比較し、目標値より小さくなっていなけれ
ば、ステップST9にて電圧パルスの電圧値をΔＶだけ上
昇させてステップSt3に戻り、電力パルスの再印加を行
なう。この処理はその発熱抵抗体の抵抗値が前記目標値
より小さくなるまで繰返され、目標値より小さくなれば
そのドットの発熱抵抗体のトリミングを終了してステッ
プST7へ移る。ステップST7では全ドットのトリミングが
終了したか否かを識別しており、全ドットのトリミング
が終了していなければ処理をステップST2へ戻す。ステ
ップST2では新たなドットが選択されてその発熱抵抗体
が電圧パルス発生手段に接続され、同様の処理が全ドッ
トのトリミング終了まで繰返される。
て、トリミングする発熱抵抗体に加える電圧パルスの初
期値、トリミングの目標値等の初期条件が設定される。
次に、ステップST2において、サーマルヘッドにプロー
ビングし、トリミングするドットを選択してその発熱抵
抗体を電圧パルス発生手段に接続し、ステップST3で前
記ステップ１で設定された初期値の電圧パルスを印加す
る。次にステップST4でその発熱抵抗体の抵抗値を測定
し、ステップST5において抵抗値が減少したか否かを識
別し、していなければプローブの接触不良とみなしてス
テップST8にてプロービングをやり直し、ステップST4に
戻って再度抵抗値の測定を行なう。抵抗値が減少してい
ればステップST6にてステップST1で設定されたトリミン
グの目標値と比較し、目標値より小さくなっていなけれ
ば、ステップST9にて電圧パルスの電圧値をΔＶだけ上
昇させてステップSt3に戻り、電力パルスの再印加を行
なう。この処理はその発熱抵抗体の抵抗値が前記目標値
より小さくなるまで繰返され、目標値より小さくなれば
そのドットの発熱抵抗体のトリミングを終了してステッ
プST7へ移る。ステップST7では全ドットのトリミングが
終了したか否かを識別しており、全ドットのトリミング
が終了していなければ処理をステップST2へ戻す。ステ
ップST2では新たなドットが選択されてその発熱抵抗体
が電圧パルス発生手段に接続され、同様の処理が全ドッ
トのトリミング終了まで繰返される。
第５図はこの発熱抵抗体の抵抗値の減少を示す線図であ
り、トリミング前にはR1,R2,R3と大きくばらついていた
抵抗値が、目標値R0よりわずかに低い、狭い範囲内に均
一化される。
り、トリミング前にはR1,R2,R3と大きくばらついていた
抵抗値が、目標値R0よりわずかに低い、狭い範囲内に均
一化される。
図において、Vsは前記電圧パルスの初期値であり、電圧
パルスの印加によって発熱抵抗体の抵抗値が減少をはじ
める境界電圧が通常25V近傍にあるため例えば25Vに設定
されている。
パルスの印加によって発熱抵抗体の抵抗値が減少をはじ
める境界電圧が通常25V近傍にあるため例えば25Vに設定
されている。
また、ΔＶはステップST9による電圧パルスの電圧値の
増し分であり、発熱抵抗体の抵抗値が減少し過ぎないよ
うに例えば2.5Vに設定して徐々に抵抗値を減少させてい
る。
増し分であり、発熱抵抗体の抵抗値が減少し過ぎないよ
うに例えば2.5Vに設定して徐々に抵抗値を減少させてい
る。
上記従来のサーマルヘッド製造方法は以上のように構成
されているので、１ドットの発熱抵抗体のトリミングに
は20〜30回の電圧パルスの印加、及び抵抗値の測定をし
なければならず、発熱抵抗体の抵抗値の均一化には多大
な時間を要するという問題点があった。
されているので、１ドットの発熱抵抗体のトリミングに
は20〜30回の電圧パルスの印加、及び抵抗値の測定をし
なければならず、発熱抵抗体の抵抗値の均一化には多大
な時間を要するという問題点があった。
そこで、本出願人は先に発熱抵抗体の抵抗値の均一化に
多大の時間を必要とすることのないサーマルヘッドの製
造方法を提案した。
多大の時間を必要とすることのないサーマルヘッドの製
造方法を提案した。
第６図はこのサーマルヘッドの製造方法を示すフローチ
ャートである。第６図において、ST11は初期設定のステ
ップ、ST12は前記ステップST11に続くサンプルの抵抗変
化測定のステップ、ST13は前記ステップST12に続くトリ
ミング定数α，β算出のステップ、ST14は前記ステップ
ST13に続くトリミング定数α，βの検出のステップ、ST
15は前記ステップST14に続く抵抗値降下曲線近似のステ
ップ、ST16は前記ステップST15に続く抵抗値測定のステ
ップ、ST17は前記ステップST16に続く印加電圧決定のス
テップ、ST18は前記ステップST17に続く電圧パルス印加
のステップ、ST19は前記ステップST18に続くトリミング
の全ドット終了検出のステップ、ST20は前記ステップST
14から分岐した別サンプルの選定のステップであり、前
記ステップST19の分岐からはステップST16へ、ステップ
ST20からはステップST12へ、それぞれ処理が戻される。
ャートである。第６図において、ST11は初期設定のステ
ップ、ST12は前記ステップST11に続くサンプルの抵抗変
化測定のステップ、ST13は前記ステップST12に続くトリ
ミング定数α，β算出のステップ、ST14は前記ステップ
ST13に続くトリミング定数α，βの検出のステップ、ST
15は前記ステップST14に続く抵抗値降下曲線近似のステ
ップ、ST16は前記ステップST15に続く抵抗値測定のステ
ップ、ST17は前記ステップST16に続く印加電圧決定のス
テップ、ST18は前記ステップST17に続く電圧パルス印加
のステップ、ST19は前記ステップST18に続くトリミング
の全ドット終了検出のステップ、ST20は前記ステップST
14から分岐した別サンプルの選定のステップであり、前
記ステップST19の分岐からはステップST16へ、ステップ
ST20からはステップST12へ、それぞれ処理が戻される。
第７図はこのサーマルヘッドの製造方法を実施する装置
の一例を示すブロック図であり、図において、１はトリ
ミング処理が行なわれるサーマルヘッド、２はこのサー
マルヘッド１の各発熱抵抗体の端子にプローブを押し当
てるプロービング装置、３はプロービング装置２に接続
されて前記発熱抵抗体の選択を行なうリレー綱、４はリ
レー綱３に接続されて電圧パルスの印加と抵抗値の測定
とを切り換えるスイッチ、５はスイッチ４の一方に接続
されて指定された電圧値の電圧パルスを送出するパルス
発生器、６はスイッチ４の他方に接続された抵抗計、７
は入出力部８、中央処理装置（以下、CPUという）９、
メモリ10、キーボード11等を備えて、前記諸装置の制御
を行なうとともに所要の演算処理を行なう制御演算部、
12はこの制御演算部７に接続されたプリンタである。
の一例を示すブロック図であり、図において、１はトリ
ミング処理が行なわれるサーマルヘッド、２はこのサー
マルヘッド１の各発熱抵抗体の端子にプローブを押し当
てるプロービング装置、３はプロービング装置２に接続
されて前記発熱抵抗体の選択を行なうリレー綱、４はリ
レー綱３に接続されて電圧パルスの印加と抵抗値の測定
とを切り換えるスイッチ、５はスイッチ４の一方に接続
されて指定された電圧値の電圧パルスを送出するパルス
発生器、６はスイッチ４の他方に接続された抵抗計、７
は入出力部８、中央処理装置（以下、CPUという）９、
メモリ10、キーボード11等を備えて、前記諸装置の制御
を行なうとともに所要の演算処理を行なう制御演算部、
12はこの制御演算部７に接続されたプリンタである。
次に動作について説明する。第８図は前記抵抗値降下曲
線の一例を示す線図であり、図中の実線Ｙがその抵抗値
降下曲線で、横軸には電圧パルスによる印加電圧値Ｖ
が、縦軸には電圧パルス印加による発熱抵抗体の抵抗変
化率ΔＲが目盛られている。
線の一例を示す線図であり、図中の実線Ｙがその抵抗値
降下曲線で、横軸には電圧パルスによる印加電圧値Ｖ
が、縦軸には電圧パルス印加による発熱抵抗体の抵抗変
化率ΔＲが目盛られている。
実験の結果、第５図の縦軸を抵抗変化率にして、初期の
抵抗値から何％降下したかをプロットすると、第８図に
破線で示す如く、初期の抵抗値には関係なくほぼ一定の
曲線Ｙ上をたどり、その曲線Ｙは（１）式で近似できる
ことがかった。
抵抗値から何％降下したかをプロットすると、第８図に
破線で示す如く、初期の抵抗値には関係なくほぼ一定の
曲線Ｙ上をたどり、その曲線Ｙは（１）式で近似できる
ことがかった。
なお、（１）式中、R0は発熱抵抗体の初期の抵抗値、Vo
は抵抗値に変化が現われはじめる印加電圧の境界値、Δ
Ｖは印加電圧の変化ステップ、α，βはサーマルヘッド
の構造、ドット密度等で決まるトリミング定数である。
は抵抗値に変化が現われはじめる印加電圧の境界値、Δ
Ｖは印加電圧の変化ステップ、α，βはサーマルヘッド
の構造、ドット密度等で決まるトリミング定数である。
また、このトリミング定数α，βの相互の関係は、第９
図に示すように、横軸にα、縦軸にβを目盛ってプロッ
トすると、ほぼ一定の曲線Ｚ上をたどり、その曲線Ｚは
（２）式で近似できる双曲線であることがわかった。
図に示すように、横軸にα、縦軸にβを目盛ってプロッ
トすると、ほぼ一定の曲線Ｚ上をたどり、その曲線Ｚは
（２）式で近似できる双曲線であることがわかった。
β＝ｌ・α-m ……（２） なお、（２）式中、l,mはドット密度に関係なく一定の
値をとる定数である。
値をとる定数である。
さらに、別の実験の結果、所定の電圧値の電圧パルスを
１回だけ印加た場合の抵抗減少率は、第８図の如く電圧
値を暫増させなら何回も電圧パルスを印加した場合の同
一電圧値のそれと同等の値を示すこともわかった。
１回だけ印加た場合の抵抗減少率は、第８図の如く電圧
値を暫増させなら何回も電圧パルスを印加した場合の同
一電圧値のそれと同等の値を示すこともわかった。
まず、ステップ11で初期設定が行なわれ、次いでステッ
プ12でサンプルの抵抗変化測定が行なわれる。即ち、リ
レー網３を制御してサーマルヘッド１のサンプルとして
指定されたドットの発熱抵抗体を選択し、スイッチ４を
切り換えて抵抗計６へ接続して抵抗値を測定し、その測
定値を制御演算部７へ送り、制御演算部７のCPU9はこれ
をメモリ10へ格納する。
プ12でサンプルの抵抗変化測定が行なわれる。即ち、リ
レー網３を制御してサーマルヘッド１のサンプルとして
指定されたドットの発熱抵抗体を選択し、スイッチ４を
切り換えて抵抗計６へ接続して抵抗値を測定し、その測
定値を制御演算部７へ送り、制御演算部７のCPU9はこれ
をメモリ10へ格納する。
次にスイッチ４を切り換えてパルス発生器５より所定の
電圧値の電圧パルスを前記抵抗発熱体に印加する。ここ
で、この電圧パルスは例えば幅が２μsecのパルスが15
個周期50μsecで連続するパルス列である。
電圧値の電圧パルスを前記抵抗発熱体に印加する。ここ
で、この電圧パルスは例えば幅が２μsecのパルスが15
個周期50μsecで連続するパルス列である。
次に、再度スイッチ４を切り換えて、この電圧パルスが
印加された発熱抵抗体を抵抗計６に接続して抵抗値を測
定し、制御演算部７へ送る。制御演算部７のCPU9はそれ
を印加した電圧パルスの電圧値とともにメモリ10に格納
する。
印加された発熱抵抗体を抵抗計６に接続して抵抗値を測
定し、制御演算部７へ送る。制御演算部７のCPU9はそれ
を印加した電圧パルスの電圧値とともにメモリ10に格納
する。
以下、同様にして、電圧パルスの電圧値を適宜上昇させ
ながらこれらの処理を繰返す。この処理は少くとも３回
繰返して実行され、リレー網３を切り換えていくつかの
サンプルについて実行される。
ながらこれらの処理を繰返す。この処理は少くとも３回
繰返して実行され、リレー網３を切り換えていくつかの
サンプルについて実行される。
次に、ステップST13において、このようにして測定され
た抵抗変化に基づいて抵抗値降下曲線の近似のためのト
リミング定数α，βの算出が行なわれる。即ち、制御演
算部７のCPU9はメモリ10に格納しておいた抵抗変化か
ら、電圧パルスによる各印加電圧における抵抗変化率Δ
Ｒ＝（Ｒ−R0）／R0を止め、これを前記（１）式に代入
する。これによって各サンプル毎にそれぞれα，β,V0
を未知数とする方程式を作成してこれを解く。ここで、
三つの未知数に対して四つ以上の方程式がある場合には
これを統計的に処理して解を得る。得られた解はさらに
各サンプル間で統計的に処理されて、印加電圧の境界値
V0とともに所望のトリミング定数をα，βが得られる。
た抵抗変化に基づいて抵抗値降下曲線の近似のためのト
リミング定数α，βの算出が行なわれる。即ち、制御演
算部７のCPU9はメモリ10に格納しておいた抵抗変化か
ら、電圧パルスによる各印加電圧における抵抗変化率Δ
Ｒ＝（Ｒ−R0）／R0を止め、これを前記（１）式に代入
する。これによって各サンプル毎にそれぞれα，β,V0
を未知数とする方程式を作成してこれを解く。ここで、
三つの未知数に対して四つ以上の方程式がある場合には
これを統計的に処理して解を得る。得られた解はさらに
各サンプル間で統計的に処理されて、印加電圧の境界値
V0とともに所望のトリミング定数をα，βが得られる。
このようにして得られたトリミング定数α，βは、次に
ステップST14において、（２）式の関係からのずれが検
出される。即ち、第９図に点Ａで示す如く、ずれが一定
の範囲、例えば同図にハッチングを施した±５％の領域
をはずれた場合には誤測定とみなして、ステップST12に
よる抵抗値変化の測定をやり直す。その場合、ステップ
ST20によって以前に電圧パルスが印加されたことのない
ドットが新しいサンプルとして選択される。
ステップST14において、（２）式の関係からのずれが検
出される。即ち、第９図に点Ａで示す如く、ずれが一定
の範囲、例えば同図にハッチングを施した±５％の領域
をはずれた場合には誤測定とみなして、ステップST12に
よる抵抗値変化の測定をやり直す。その場合、ステップ
ST20によって以前に電圧パルスが印加されたことのない
ドットが新しいサンプルとして選択される。
第９図に点Ｂで示す如く、ずれが一定の範囲内である場
合には、当該トリミング定数α，βはステップST15にて
印加電圧の境界値V0とともに（１）式に代入されて、抵
抗変化率ΔＲと印加電圧Ｖとの関係を示す抵抗値降下曲
線が近似される。
合には、当該トリミング定数α，βはステップST15にて
印加電圧の境界値V0とともに（１）式に代入されて、抵
抗変化率ΔＲと印加電圧Ｖとの関係を示す抵抗値降下曲
線が近似される。
これで準備段階を終了してステップST16よりトリミング
の処理に入る。まず、ステップST16において、リレー網
３でトリミングを実施するドットを選択し、スイッチに
よってこれを抵抗計６に接続してその抵抗値を測定す
る。
の処理に入る。まず、ステップST16において、リレー網
３でトリミングを実施するドットを選択し、スイッチに
よってこれを抵抗計６に接続してその抵抗値を測定す
る。
次に、ステップST17ではCPU9によって、得られた抵抗値
を目標値まで降下させるための抵抗変化率ΔRnが算出さ
れ、さらに前述の抵抗値降下曲線Ｙを用いて電圧パルス
の印加電圧Vnを決定する。
を目標値まで降下させるための抵抗変化率ΔRnが算出さ
れ、さらに前述の抵抗値降下曲線Ｙを用いて電圧パルス
の印加電圧Vnを決定する。
その様子は第８図に示され、具体的には前記α，β,V0
が代入された関係式に前記抵抗変化率ΔRnを代入して印
加電圧Vnを算出する。得られた印加電圧Vnは制御演算部
７よりパルス発生器５へ送られる。
が代入された関係式に前記抵抗変化率ΔRnを代入して印
加電圧Vnを算出する。得られた印加電圧Vnは制御演算部
７よりパルス発生器５へ送られる。
ステップST18でスイッチ４が切り換えられると、パルス
発生器５からは電圧Vnの電圧パルスが送出され、トリミ
ングを実施するドットの発熱抵抗体に印加される。これ
によって当該発熱抵抗体の抵抗値は目標値に近い値に降
下する。以下ステップST19が全ドットのトリミングの終
了を検出するまで、ステップST16以後の処理が繰返され
る。
発生器５からは電圧Vnの電圧パルスが送出され、トリミ
ングを実施するドットの発熱抵抗体に印加される。これ
によって当該発熱抵抗体の抵抗値は目標値に近い値に降
下する。以下ステップST19が全ドットのトリミングの終
了を検出するまで、ステップST16以後の処理が繰返され
る。
従来のサーマルヘッド製造方法は以上のように行なわれ
ているので、抵抗体の物理的な違いによって、前記
（１）式で決定された電圧値の電圧パルス印加によって
降下する抵抗値が目標値とずれるという場合が起こって
いた。
ているので、抵抗体の物理的な違いによって、前記
（１）式で決定された電圧値の電圧パルス印加によって
降下する抵抗値が目標値とずれるという場合が起こって
いた。
また、１台のサーマルヘッド内でも抵抗体の場所によっ
て降下曲線に差がみられる場合があり、１台中も場所に
よって得られた抵抗値が目標とずれるという問題点があ
った。
て降下曲線に差がみられる場合があり、１台中も場所に
よって得られた抵抗値が目標とずれるという問題点があ
った。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、抵抗体の物性等による違いに左右されること
なく、発熱抵抗体の抵抗値を高速かつ正確に目標値にト
リミングし、均一化するサーマルヘッドの製造方法を得
ることを目的とする。
たもので、抵抗体の物性等による違いに左右されること
なく、発熱抵抗体の抵抗値を高速かつ正確に目標値にト
リミングし、均一化するサーマルヘッドの製造方法を得
ることを目的とする。
この発明に係るサーマルヘッドの製造方法は、サンプル
の抵抗変化測定により求めた抵抗値降下曲線の近似式を
用いて、実際に適当な数の発熱抵抗体に電圧パルスを印
加し、この電圧パルスの印加による発熱抵抗体の抵抗値
降下が規定領域から外れているときは、その降下した抵
抗値によって前記抵抗値降下曲線の近似式を補正する
か、あるいは別のサンプルで検定を繰り返すことにより
更新するようにしたものである。
の抵抗変化測定により求めた抵抗値降下曲線の近似式を
用いて、実際に適当な数の発熱抵抗体に電圧パルスを印
加し、この電圧パルスの印加による発熱抵抗体の抵抗値
降下が規定領域から外れているときは、その降下した抵
抗値によって前記抵抗値降下曲線の近似式を補正する
か、あるいは別のサンプルで検定を繰り返すことにより
更新するようにしたものである。
この発明におけるサーマルヘッドの製造方法は、サンプ
ルの抵抗変化測定により求めた抵抗値降下曲線の近似式
を、実際のトリミング結果により適時補正し更新してい
くことにより、１回ずつのパルス印加で全ドットの抵抗
値を目標値近傍に正確に降下させることを可能とする。
ルの抵抗変化測定により求めた抵抗値降下曲線の近似式
を、実際のトリミング結果により適時補正し更新してい
くことにより、１回ずつのパルス印加で全ドットの抵抗
値を目標値近傍に正確に降下させることを可能とする。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。前記
第６図と同一部分に同一符合を付した第１図において、
ST21はステップST12に続く抵抗値降下曲線近似のステッ
プ、ST22はステップST21に続く近似式を用いて実際に数
ドットのテストトリミングを行なうテストパルス印加の
ステップ、ST23はステップST22に続く近似式検定のステ
ップ、ST24はステップST23に続く近似式補正のステップ
であり、このステップST24からはステップST16へ、ステ
ップST19からはステップST16へ、それぞれ処理が移行す
る。
第６図と同一部分に同一符合を付した第１図において、
ST21はステップST12に続く抵抗値降下曲線近似のステッ
プ、ST22はステップST21に続く近似式を用いて実際に数
ドットのテストトリミングを行なうテストパルス印加の
ステップ、ST23はステップST22に続く近似式検定のステ
ップ、ST24はステップST23に続く近似式補正のステップ
であり、このステップST24からはステップST16へ、ステ
ップST19からはステップST16へ、それぞれ処理が移行す
る。
次の動作について説明する。まず、ステップST11で初期
設定が行なわれ、次いでステップST12でサンプルの抵抗
変化測定が行なわれる。これにより、低い電圧から順に
適当なΔＶずつ電圧を上げて印加していき、ステップST
21で第８図のような抵抗値の降下曲線を得る。そして、
前記（１）式のα，βを算出し、近似式を求める。これ
が前記第８図におけるＹで示した曲線である。
設定が行なわれ、次いでステップST12でサンプルの抵抗
変化測定が行なわれる。これにより、低い電圧から順に
適当なΔＶずつ電圧を上げて印加していき、ステップST
21で第８図のような抵抗値の降下曲線を得る。そして、
前記（１）式のα，βを算出し、近似式を求める。これ
が前記第８図におけるＹで示した曲線である。
次にステップST22で数ドットの抵抗体に対してテスト的
にトリミングを行なう。つまり、各ドットの初期抵抗値
を測定し、これにより近似式を用いて、抵抗値を目標値
に降下させるのに適した印加電圧値を算出し、この算出
された電圧値のパルスを１回だけ印加し、そのパルス印
加後の抵抗値を測定する。
にトリミングを行なう。つまり、各ドットの初期抵抗値
を測定し、これにより近似式を用いて、抵抗値を目標値
に降下させるのに適した印加電圧値を算出し、この算出
された電圧値のパルスを１回だけ印加し、そのパルス印
加後の抵抗値を測定する。
次にステップST23ではステップST22で得られた抵抗値か
ら近似式（１）の検定を行なう。第８図に示すように近
似式に対して適当な許容範囲を定め（製品スペック等か
ら決定する。ここでは±10％とする）、その領域Ａに入
っていれば近似式は適切であると判断し、ステップST16
へ移り、移行従来例同様全ドットのトリミングを行なっ
ていく。
ら近似式（１）の検定を行なう。第８図に示すように近
似式に対して適当な許容範囲を定め（製品スペック等か
ら決定する。ここでは±10％とする）、その領域Ａに入
っていれば近似式は適切であると判断し、ステップST16
へ移り、移行従来例同様全ドットのトリミングを行なっ
ていく。
もし、ステップST22で得られたデータが領域Ａに入って
いなければ、近似式と実際の１回のパルス印加でトリミ
ングする場合とではずれがあると判断し、ステップST24
へ移り近似式の補正を行なう。
いなければ、近似式と実際の１回のパルス印加でトリミ
ングする場合とではずれがあると判断し、ステップST24
へ移り近似式の補正を行なう。
以下に補正の一例について述べる。まず、ステップST22
で得られたトリミング後の抵抗値の平均を求める（平
均の信頼性が得られるように、テストトリミングのドッ
ト数を決定する）。
で得られたトリミング後の抵抗値の平均を求める（平
均の信頼性が得られるように、テストトリミングのドッ
ト数を決定する）。
近似式が適切でないということは、抵抗値の平均と目
標値R0に誤差が生じているということである。つまり、
各ドットのトリミング後の抵抗値が−R0分だけ更に低
く（高く）なればよいわけであり、これは、目標値を
−R0だけ低く（高く）することと等価である。
標値R0に誤差が生じているということである。つまり、
各ドットのトリミング後の抵抗値が−R0分だけ更に低
く（高く）なればよいわけであり、これは、目標値を
−R0だけ低く（高く）することと等価である。
つまりR0−（−R0）＝2R0−を目標値と考えること
により、実際の抵抗値の平均をR0近傍に補正すること
が可能である。
により、実際の抵抗値の平均をR0近傍に補正すること
が可能である。
従って、前記近似式（１）は以下のように補正できる。
この補正を行なった後、ステップST16へ移り以降前述同
様全ドットのトリミングを行なう。この補正は近似的な
補正であるが、もともと各ドットのトリミングのバラツ
キ等もあり実用上問題なく、また、演算処理も簡単であ
る。
様全ドットのトリミングを行なう。この補正は近似的な
補正であるが、もともと各ドットのトリミングのバラツ
キ等もあり実用上問題なく、また、演算処理も簡単であ
る。
なお、上記実施例では近似式の補正を実際の全ドットの
トリミングを行なう前に行なったものを示したが、第２
図は最良モードとしてこの補正を適時行なう場合のこの
発明の第２実施例を示す。例えばサーマルヘッド１台の
全ドットを適当な数のブロックに分け、ステップST25で
各ブロックの終了毎に抵抗値の平均を求め、初期の抵
抗値R0とずれがあるなら、ステップST26で前記近似式
（１）の補正を行ない、常に目標値との誤差を補正す
る。
トリミングを行なう前に行なったものを示したが、第２
図は最良モードとしてこの補正を適時行なう場合のこの
発明の第２実施例を示す。例えばサーマルヘッド１台の
全ドットを適当な数のブロックに分け、ステップST25で
各ブロックの終了毎に抵抗値の平均を求め、初期の抵
抗値R0とずれがあるなら、ステップST26で前記近似式
（１）の補正を行ない、常に目標値との誤差を補正す
る。
また、第３図はこの発明の第３の実施例を示すフローチ
ャートであり、この実施例ではステップST22で近似式の
検定を行ない、近似式が適切でないと判断されたら、ス
テップST20で補正ではなく別のサンプルを選択し、再度
ステップST12へ戻り、ステップST12からの動作を繰り返
してサンプルの抵抗変化測定を行ない、新たに近似式を
求める。適切な近似式が来るまでこの処理を繰り返す。
ャートであり、この実施例ではステップST22で近似式の
検定を行ない、近似式が適切でないと判断されたら、ス
テップST20で補正ではなく別のサンプルを選択し、再度
ステップST12へ戻り、ステップST12からの動作を繰り返
してサンプルの抵抗変化測定を行ない、新たに近似式を
求める。適切な近似式が来るまでこの処理を繰り返す。
以上のように、この発明によれば、発熱抵抗体の抵抗値
を目標値に降下させるために印加すべき電圧を決定する
近似式をテスト的なトリミングで検定し補正するように
したので、発熱抵抗体の物性的なバラツキ等に影響され
ず、該発熱抵抗体の抵抗値を高速かつ正確に目標値にト
リミングすることができる。また、１台中の場所によっ
て発熱抵抗体の特性が違っていても、この発熱抵抗体の
抵抗値を正確かつ均一に目標値にトリミングすることが
できるという効果がある。
を目標値に降下させるために印加すべき電圧を決定する
近似式をテスト的なトリミングで検定し補正するように
したので、発熱抵抗体の物性的なバラツキ等に影響され
ず、該発熱抵抗体の抵抗値を高速かつ正確に目標値にト
リミングすることができる。また、１台中の場所によっ
て発熱抵抗体の特性が違っていても、この発熱抵抗体の
抵抗値を正確かつ均一に目標値にトリミングすることが
できるという効果がある。
第１図はこの発明の一実施例によるサーマルヘッドの製
造方法を示すフローチャート、第２図はこの発明の第２
の実施例（最良モード）を示すフローチャート、第３図
はこの発明の第３の実施例を示すフローチャート、第４
図は従来のサーマルヘッドの製造方法を示すフローチャ
ート、第５図はその発熱抵抗体の抵抗値の減少を示す説
明図、第６図は本出願人が先に提案したサーマルヘッド
の製造方法を示すフローチャート、第７図はその製造方
法を実施するための装置の一例を示すブロック図、第８
図は抵抗値降下曲線の一例を示す説明図、第９図はトリ
ミング定数αとβの相互の関係を示す説明図である。 １はサーマルヘッド、２はプロービング装置、３はリレ
ー網、４はスイッチ、５はパルス発生器、６は抵抗計、
７は制御演算部。 なお、図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。
造方法を示すフローチャート、第２図はこの発明の第２
の実施例（最良モード）を示すフローチャート、第３図
はこの発明の第３の実施例を示すフローチャート、第４
図は従来のサーマルヘッドの製造方法を示すフローチャ
ート、第５図はその発熱抵抗体の抵抗値の減少を示す説
明図、第６図は本出願人が先に提案したサーマルヘッド
の製造方法を示すフローチャート、第７図はその製造方
法を実施するための装置の一例を示すブロック図、第８
図は抵抗値降下曲線の一例を示す説明図、第９図はトリ
ミング定数αとβの相互の関係を示す説明図である。 １はサーマルヘッド、２はプロービング装置、３はリレ
ー網、４はスイッチ、５はパルス発生器、６は抵抗計、
７は制御演算部。 なお、図中、同一符号は同一又は相当部分を示す。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.5 識別記号 庁内整理番号 ＦＩ 技術表示箇所 Ｂ４１Ｊ 3/20 １１４ Ｇ 8906−2Ｃ １１３ Ａ
Claims (2)
- 【請求項１】複数の発熱抵抗体を備えたサーマルヘッド
の前記発熱抵抗体の各々に電圧パルスを印加し、その抵
抗値を降下させて均一化するサーマルヘッドの製造方法
において、前記発熱抵抗体中からサンプルを選び、電圧
値の異なる電圧パルスを低圧のものから順次、前記サン
プルとして選ばれた発熱抵抗体に印加して、印加電圧と
抵抗変化の関係を示す抵抗値降下曲線の近似式を求め、
この近似式により前記各発熱抵抗体へ印加するテストパ
ルスの電圧値を当該発熱抵抗体の初期の抵抗値に基づい
て決定し、この決定された電圧値のテストパルスを前記
発熱抵抗体に印加し、このテストパルスの印加により降
下した前記発熱抵抗体の抵抗値で前記近似式の良否を検
定し、この近似式が良であれば該近似式で前記発熱抵抗
体に印加すべき電圧パルスの電圧値を決定し、前記近似
式が否であれば前記テストパルス印加で降下した抵抗値
で該近似式を補正するか若しくは前記発熱抵抗体中から
別のサンプルを選択して前記検定を繰返すことを特徴と
するサーマルヘッドの製造方法。 - 【請求項２】サーマルヘッドの全ての発熱抵抗体を適当
な数のブロックに分け、その各ブロックごとに近似式の
補正を行なうことを特徴とする特許請求の範囲第（１）
項記載のサーマルヘッドの製造方法
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27818787A JPH0667635B2 (ja) | 1987-11-05 | 1987-11-05 | サーマルヘッドの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP27818787A JPH0667635B2 (ja) | 1987-11-05 | 1987-11-05 | サーマルヘッドの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01120363A JPH01120363A (ja) | 1989-05-12 |
| JPH0667635B2 true JPH0667635B2 (ja) | 1994-08-31 |
Family
ID=17593802
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP27818787A Expired - Lifetime JPH0667635B2 (ja) | 1987-11-05 | 1987-11-05 | サーマルヘッドの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0667635B2 (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2818489B2 (ja) * | 1990-12-29 | 1998-10-30 | 京セラ株式会社 | 薄膜サーマルヘッドの抵抗体トリミング方法 |
| JPH06191079A (ja) * | 1993-05-01 | 1994-07-12 | Sato:Kk | サーマル印字ヘッドの発熱回路不良検出装置 |
-
1987
- 1987-11-05 JP JP27818787A patent/JPH0667635B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH01120363A (ja) | 1989-05-12 |
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Legal Events
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