JPH068055B2 - サ−マルヘツドの製造方法 - Google Patents
サ−マルヘツドの製造方法Info
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- JPH068055B2 JPH068055B2 JP20400386A JP20400386A JPH068055B2 JP H068055 B2 JPH068055 B2 JP H068055B2 JP 20400386 A JP20400386 A JP 20400386A JP 20400386 A JP20400386 A JP 20400386A JP H068055 B2 JPH068055 B2 JP H068055B2
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- B41J2/00—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
- B41J2/315—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material
- B41J2/32—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material using thermal heads
- B41J2/35—Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed characterised by selective application of heat to a heat sensitive printing or impression-transfer material using thermal heads providing current or voltage to the thermal head
- B41J2/355—Control circuits for heating-element selection
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- Electronic Switches (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 この発明は厚膜形サーマルヘッドの製造方法、特にその
発熱抵抗体の抵抗値の均一化に関するものである。
発熱抵抗体の抵抗値の均一化に関するものである。
厚膜形のサーマルヘッドは、ペースト状の抵抗材料をス
クリーン印刷法等によって所定のパターンに印刷し、そ
の後焼成することで発熱抵抗体を形成している。そのた
め厚膜形のサーマルヘッドは比較的短い製造工程によっ
て安価に製造できる反面、発熱抵抗体の抵抗値のばらつ
きが大きくなる欠点を持ち合せている。この発熱抵抗体
の抵抗値のばらつきは印字等の質に直接影響を及ぼすも
のであるため、厚膜形のサーマルヘッドの製造において
は発熱抵抗体の抵抗値の均一化は極めて重要なファクタ
である。この発熱抵抗体の抵抗値の均一化としては、発
熱抵抗体形成後、各発熱抵抗体に個別に比較的高圧の電
圧パルスを印加するとその抵抗値が低下するという現象
を利用したトリミング処理がある。
クリーン印刷法等によって所定のパターンに印刷し、そ
の後焼成することで発熱抵抗体を形成している。そのた
め厚膜形のサーマルヘッドは比較的短い製造工程によっ
て安価に製造できる反面、発熱抵抗体の抵抗値のばらつ
きが大きくなる欠点を持ち合せている。この発熱抵抗体
の抵抗値のばらつきは印字等の質に直接影響を及ぼすも
のであるため、厚膜形のサーマルヘッドの製造において
は発熱抵抗体の抵抗値の均一化は極めて重要なファクタ
である。この発熱抵抗体の抵抗値の均一化としては、発
熱抵抗体形成後、各発熱抵抗体に個別に比較的高圧の電
圧パルスを印加するとその抵抗値が低下するという現象
を利用したトリミング処理がある。
第４図は例えば特開昭６１−８３０５３号公報に示され
た従来のサーマルヘッドの製造方法を示すフローチャー
トである。図において、ＳＴ１は初期設定のステップ、
ＳＴ２は前記ステップＳＴ１に続くプローバ及びスイッ
チングのステップ、ＳＴ３は前記スタップＳＴ２に続く
電圧パルス印加のステップ、ＳＴ４は前記ステップＳＴ
３に続く抵抗値測定のステップ、ＳＴ５は前記ステップ
ＳＴ４に続く前回データとの比較のステップ、ＳＴ６は
前記ステップＳＴ５に続く抵抗値減少検出のステップ、
ＳＴ７は前記ステップＳＴ６に続くトリミングの全ドッ
ト終了検出のステップ、ＳＴ８は前記ステップＳＴ５よ
り分岐したリプローブのステップ、ＳＴ９は前記ステッ
プＳＴ６より分岐した電圧パルスの電圧調整のステップ
であり、前記ステップＳＴ７の分岐からはステップＳＴ
２へ、ステップＳＴ８からはステップＳＴ４へ、ステッ
プＳＴ９からはステップＳＴ３へ、それぞれ処理が戻さ
れる。
た従来のサーマルヘッドの製造方法を示すフローチャー
トである。図において、ＳＴ１は初期設定のステップ、
ＳＴ２は前記ステップＳＴ１に続くプローバ及びスイッ
チングのステップ、ＳＴ３は前記スタップＳＴ２に続く
電圧パルス印加のステップ、ＳＴ４は前記ステップＳＴ
３に続く抵抗値測定のステップ、ＳＴ５は前記ステップ
ＳＴ４に続く前回データとの比較のステップ、ＳＴ６は
前記ステップＳＴ５に続く抵抗値減少検出のステップ、
ＳＴ７は前記ステップＳＴ６に続くトリミングの全ドッ
ト終了検出のステップ、ＳＴ８は前記ステップＳＴ５よ
り分岐したリプローブのステップ、ＳＴ９は前記ステッ
プＳＴ６より分岐した電圧パルスの電圧調整のステップ
であり、前記ステップＳＴ７の分岐からはステップＳＴ
２へ、ステップＳＴ８からはステップＳＴ４へ、ステッ
プＳＴ９からはステップＳＴ３へ、それぞれ処理が戻さ
れる。
次に動作について説明する。まず、ステップＳＴ１にお
いて、トリミングする発熱抵抗体に加える電圧パルスの
初期値、トリミングの目標値等の初期条件が設定され
る。次に、ステップＳＴ２において、サーマルヘッドに
プロービングし、トリミングするドットを選択してその
発熱抵抗体を電圧パルス発生手段に接続し、ステップＳ
Ｔ３で前記ステップ１で設定された初期値の電圧パルス
を印加する。次にステップＳＴ４でその発熱抵抗体の抵
抗値を測定し、ステップＳＴ５において抵抗値が減少し
たか否かを識別し、していなければプローブの接触不良
とみなしてステップＳＴ８にてプロービングをやり直
し、ステップＳＴ４に戻つて再度抵抗値の測定を行な
う。抵抗値が減少していればステップＳＴ６にてステッ
プＳＴ１で設定されたトリミングの目標値と比較し、目
標値より小さくなつていなければ、ステップＳＴ９にて
電圧パルスの電圧値をΔＶだけ上昇させてステップＳＴ
３に戻り、電圧パルスの再印加を行なう。この処理はそ
の発熱抵抗体の抵抗値が前記目標値より小さくなるまで
繰返され、目標値より小さくなればそのドットの発熱抵
抗体のトリミングを終了してステップＳＴ７へ移る。ス
テップＳＴ７では全ドットのトリミングが終了したか否
かを識別しており、全ドットのトリミングが終了してい
なければ処理をステップＳＴ２へ戻す。ステップＳＴ２
では新たなドットが選択されてその発熱抵抗体が電圧パ
ルス発生手段に接続され、同様の処理が全ドットのトリ
ミング終了まで繰返される。
いて、トリミングする発熱抵抗体に加える電圧パルスの
初期値、トリミングの目標値等の初期条件が設定され
る。次に、ステップＳＴ２において、サーマルヘッドに
プロービングし、トリミングするドットを選択してその
発熱抵抗体を電圧パルス発生手段に接続し、ステップＳ
Ｔ３で前記ステップ１で設定された初期値の電圧パルス
を印加する。次にステップＳＴ４でその発熱抵抗体の抵
抗値を測定し、ステップＳＴ５において抵抗値が減少し
たか否かを識別し、していなければプローブの接触不良
とみなしてステップＳＴ８にてプロービングをやり直
し、ステップＳＴ４に戻つて再度抵抗値の測定を行な
う。抵抗値が減少していればステップＳＴ６にてステッ
プＳＴ１で設定されたトリミングの目標値と比較し、目
標値より小さくなつていなければ、ステップＳＴ９にて
電圧パルスの電圧値をΔＶだけ上昇させてステップＳＴ
３に戻り、電圧パルスの再印加を行なう。この処理はそ
の発熱抵抗体の抵抗値が前記目標値より小さくなるまで
繰返され、目標値より小さくなればそのドットの発熱抵
抗体のトリミングを終了してステップＳＴ７へ移る。ス
テップＳＴ７では全ドットのトリミングが終了したか否
かを識別しており、全ドットのトリミングが終了してい
なければ処理をステップＳＴ２へ戻す。ステップＳＴ２
では新たなドットが選択されてその発熱抵抗体が電圧パ
ルス発生手段に接続され、同様の処理が全ドットのトリ
ミング終了まで繰返される。
第５図はこの発熱抵抗体の抵抗値の減少を示す線図であ
り、トリミング前にはR1,R2,R3と大きくばらついていた
抵抗値が、目標値R0よりわずかに低い、狭い範囲内に均
一化される。図においてVsは前記電圧パルスの初期値で
あり、電圧パルスの印加によって発熱抵抗体の抵抗値が
減少をはじめる境界電圧が通常２５Ｖ近傍にあるため例
えば２５Ｖに設定されている。また、ΔＶはステップＳ
Ｔ９による電圧パルスの電圧値の増し分であり、発熱抵
抗体の抵抗値が減少し過ぎないように例えば２．５Ｖに
設定して除々に抵抗値を減少させている。
り、トリミング前にはR1,R2,R3と大きくばらついていた
抵抗値が、目標値R0よりわずかに低い、狭い範囲内に均
一化される。図においてVsは前記電圧パルスの初期値で
あり、電圧パルスの印加によって発熱抵抗体の抵抗値が
減少をはじめる境界電圧が通常２５Ｖ近傍にあるため例
えば２５Ｖに設定されている。また、ΔＶはステップＳ
Ｔ９による電圧パルスの電圧値の増し分であり、発熱抵
抗体の抵抗値が減少し過ぎないように例えば２．５Ｖに
設定して除々に抵抗値を減少させている。
従来のサーマルヘッド製造方法は以上のように構成され
ているので、１ドットの発熱抵抗体のトリミングには２
０〜３０回の電圧パルスの印加、及び抵抗値の測定をし
なければならず、発熱抵抗体の抵抗値の均一化には多大
な時間を要するという問題点があつた。
ているので、１ドットの発熱抵抗体のトリミングには２
０〜３０回の電圧パルスの印加、及び抵抗値の測定をし
なければならず、発熱抵抗体の抵抗値の均一化には多大
な時間を要するという問題点があつた。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、発熱抵抗体の抵抗値の均一化に多大の時間を
必要とすることのないサーマルヘッドの製造方法を得る
ことを目的とする。
たもので、発熱抵抗体の抵抗値の均一化に多大の時間を
必要とすることのないサーマルヘッドの製造方法を得る
ことを目的とする。
この発明に係るサーマルヘッドの製造方法は、サーマル
ヘッドの発熱抵抗体の初期の抵抗値の平均及びその標準
偏差を測定するとともに、ドット中よりいくつかのサン
プルを選定してそれに電圧値の異なるいくつかの電圧パ
ルスを低いものから順に印加し、その都度発熱抵抗体の
抵抗変化を測定して抵抗値降下曲線を近似し、各ドット
のトリミングに際しては、まずその発熱抵抗体の抵抗値
を測定して、それが前記平均値と標準偏差とで与えられ
る所定の範囲内にあるか否かを識別し、さらに、必要な
抵抗値の降下量から前記抵抗値降下曲線に基づいて印加
する電圧パルスの電圧値を決定するものである。
ヘッドの発熱抵抗体の初期の抵抗値の平均及びその標準
偏差を測定するとともに、ドット中よりいくつかのサン
プルを選定してそれに電圧値の異なるいくつかの電圧パ
ルスを低いものから順に印加し、その都度発熱抵抗体の
抵抗変化を測定して抵抗値降下曲線を近似し、各ドット
のトリミングに際しては、まずその発熱抵抗体の抵抗値
を測定して、それが前記平均値と標準偏差とで与えられ
る所定の範囲内にあるか否かを識別し、さらに、必要な
抵抗値の降下量から前記抵抗値降下曲線に基づいて印加
する電圧パルスの電圧値を決定するものである。
この発明におけるサーマルヘッドの製造方法は、当該サ
ーマルヘッド内のサンプルドットの測定によって抵抗値
降下曲線を近似し、トリミングに際してこの抵抗値降下
曲線を用いて、測定したそのドットの発熱抵抗体の抵抗
値より印加する電圧パルスの電圧値を決定して、１回の
電圧パルスの印加で発熱抵抗体の抵抗値を目標値に近い
ものとするとともに、当該発熱抵抗体の初期の抵抗値が
所定の範囲内にあるか否かを識別してプローブの接触状
態を判断し、プローブの接触ミス等による誤トリミング
を防止する。
ーマルヘッド内のサンプルドットの測定によって抵抗値
降下曲線を近似し、トリミングに際してこの抵抗値降下
曲線を用いて、測定したそのドットの発熱抵抗体の抵抗
値より印加する電圧パルスの電圧値を決定して、１回の
電圧パルスの印加で発熱抵抗体の抵抗値を目標値に近い
ものとするとともに、当該発熱抵抗体の初期の抵抗値が
所定の範囲内にあるか否かを識別してプローブの接触状
態を判断し、プローブの接触ミス等による誤トリミング
を防止する。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第１
図において、ＳＴ１１は初期設定のステップ、ＳＴ１２
は前記ステップＳＴ１１に続く平均値、標準偏差測定の
ステップ、ＳＴ１３は前記ステップＳＴ１２に続くサン
プルの抵抗変化測定のステップ、ＳＴ１４は前記ステッ
プＳＴ１３に続く抵抗値降下曲線近似のステップ、ＳＴ
１５は前記ステップＳＴ１４に続く抵抗値測定のステッ
プ、ＳＴ１７は前記ステップＳＴ１６に続く印加電圧決
定のステップ、ＳＴ１８は前記ステップＳＴ１７に続く
電圧パルス印加のステップ、ＳＴ１９は前記ステップＳ
Ｔ１８に続くトリミングの全ドット終了検出のステッ
プ、ＳＴ２０は前記ステップＳＴ１６より分岐したプロ
ーブのステップであり、前記ステップＳＴ１９の分岐か
らはステップＳＴ１５へ、ステップＳＴ２０からもステ
ップＳＴ１５へそれぞれ処理が戻される。
図において、ＳＴ１１は初期設定のステップ、ＳＴ１２
は前記ステップＳＴ１１に続く平均値、標準偏差測定の
ステップ、ＳＴ１３は前記ステップＳＴ１２に続くサン
プルの抵抗変化測定のステップ、ＳＴ１４は前記ステッ
プＳＴ１３に続く抵抗値降下曲線近似のステップ、ＳＴ
１５は前記ステップＳＴ１４に続く抵抗値測定のステッ
プ、ＳＴ１７は前記ステップＳＴ１６に続く印加電圧決
定のステップ、ＳＴ１８は前記ステップＳＴ１７に続く
電圧パルス印加のステップ、ＳＴ１９は前記ステップＳ
Ｔ１８に続くトリミングの全ドット終了検出のステッ
プ、ＳＴ２０は前記ステップＳＴ１６より分岐したプロ
ーブのステップであり、前記ステップＳＴ１９の分岐か
らはステップＳＴ１５へ、ステップＳＴ２０からもステ
ップＳＴ１５へそれぞれ処理が戻される。
第２図はこの発明のサーマルヘッドの製造方法を実施す
る装置の一例を示すブロック図であり、図において、１
はトリミング処理が行なわれるサーマルヘッド、２はこ
のサーマルヘッド１の各発熱抵抗体の端子にプローブを
押し当てるプロービング装置、３はプロービング装置２
に接続されて前記発熱抵抗体の選択を行なうリレー網、
４はリレー網３に接続されて電圧パルスの印加と抵抗値
の測定とを切り換えるスイッチ、５はスイッチ４の一方
に接続されて指定された電圧値の電圧パルスを送出する
パルス発生器、６はスイッチ４の他方に接続された抵抗
計、７は入出力部８、中央処理装置（以下、ＣＰＵとい
う）９、メモリ１０、キーボード１１等を備えて、前記
諸装置の制御を行なうとともに所要の演算処理を行なう
制御演算部、１２はこの制御演算部７に接続されたプリ
ンタである。
る装置の一例を示すブロック図であり、図において、１
はトリミング処理が行なわれるサーマルヘッド、２はこ
のサーマルヘッド１の各発熱抵抗体の端子にプローブを
押し当てるプロービング装置、３はプロービング装置２
に接続されて前記発熱抵抗体の選択を行なうリレー網、
４はリレー網３に接続されて電圧パルスの印加と抵抗値
の測定とを切り換えるスイッチ、５はスイッチ４の一方
に接続されて指定された電圧値の電圧パルスを送出する
パルス発生器、６はスイッチ４の他方に接続された抵抗
計、７は入出力部８、中央処理装置（以下、ＣＰＵとい
う）９、メモリ１０、キーボード１１等を備えて、前記
諸装置の制御を行なうとともに所要の演算処理を行なう
制御演算部、１２はこの制御演算部７に接続されたプリ
ンタである。
次に動作について説明する。第３図は前記抵抗値降下曲
線の一例を示す線図であり、図中の実線Ｙがその抵抗値
降下曲線で、縦軸には電圧パルスによる印加電圧値が、
縦軸には電圧パルス印加による発熱抵抗体の抵抗変化率
が目盛られている。実験の結果、第５図の縦軸を抵抗変
化率にして、初期の抵抗値から何％降下したかをプロッ
トすると、第３図に破線で示す如く、初期の抵抗値には
関係なくほぼ一定の曲線Ｙ上をたどり、その曲線Ｙは
(1)式で近似できることがわかった。
線の一例を示す線図であり、図中の実線Ｙがその抵抗値
降下曲線で、縦軸には電圧パルスによる印加電圧値が、
縦軸には電圧パルス印加による発熱抵抗体の抵抗変化率
が目盛られている。実験の結果、第５図の縦軸を抵抗変
化率にして、初期の抵抗値から何％降下したかをプロッ
トすると、第３図に破線で示す如く、初期の抵抗値には
関係なくほぼ一定の曲線Ｙ上をたどり、その曲線Ｙは
(1)式で近似できることがわかった。
なお、(1)式中、R0は発熱抵抗体の初期の抵抗値、V0は
抵抗値に変化が現われはじめる印加電圧の境界値、ΔＶ
は印加電圧の変化ステップ、α，βはサーマルヘッドの
構造、ドット密度等で決まる定数である。
抵抗値に変化が現われはじめる印加電圧の境界値、ΔＶ
は印加電圧の変化ステップ、α，βはサーマルヘッドの
構造、ドット密度等で決まる定数である。
また、別の実験の結果、所定の電圧値の電圧パルスを１
回だけ印加した場合の抵抗減少率は、第３図の如く電圧
値を暫増させながら何回も電圧パルスを印加した場合の
同一電圧値のそれと同等の値を示すこともわかった。こ
の発明はこれらの実験結果に基づくものである。
回だけ印加した場合の抵抗減少率は、第３図の如く電圧
値を暫増させながら何回も電圧パルスを印加した場合の
同一電圧値のそれと同等の値を示すこともわかった。こ
の発明はこれらの実験結果に基づくものである。
この実施例では、まず、ステップ１１で初期設定が行な
われ、次いでステップ１２で平均値と標準偏差σの測
定が行なわれる。即ち、スイッチ４の切り換えによって
リレー網３に抵抗計６が接続され、そのリレー網３の制
御によってサーマルベッド１の各ドットの発熱抵抗体が
逐次抵抗計６に接続されてその初期の抵抗値が計測さ
れ、その計測値が制御演算部７に送られそのメモリ１０
内にストアされる。ＣＰＵ９はこのメモリ１０内にスト
アされた計測値より、(2)式及び(3)式によってその平均
値、及び標準偏差σを算出する。
われ、次いでステップ１２で平均値と標準偏差σの測
定が行なわれる。即ち、スイッチ４の切り換えによって
リレー網３に抵抗計６が接続され、そのリレー網３の制
御によってサーマルベッド１の各ドットの発熱抵抗体が
逐次抵抗計６に接続されてその初期の抵抗値が計測さ
れ、その計測値が制御演算部７に送られそのメモリ１０
内にストアされる。ＣＰＵ９はこのメモリ１０内にスト
アされた計測値より、(2)式及び(3)式によってその平均
値、及び標準偏差σを算出する。
なお、(2)，(3)式中、Ｒｉはｉ番中のドットの発熱抵抗
体の初期の抵抗値、ｎはサーマルヘッド１のドット数で
ある。
体の初期の抵抗値、ｎはサーマルヘッド１のドット数で
ある。
これに引き続き、ステップＳＴ１３にてサンプルの抵抗
変化測定が行なわれる。即ち、リレー網３を制御してサ
ーマルヘッド１のサンプルとして指定されたドットの発
熱抵抗体を選択し、スイッチ４を介してこれを抵抗計６
へ接続して抵抗値を測定し、その測定値を制御演算部７
へ送り、制御演算部７のＣＰＵ９はこれをメモリ１０へ
格納する。次にスイッチ４を切り換えてパルス発生器５
より所定の電圧値の電圧パルスを前記発熱抵抗体に印加
する。ここで、この電圧パルスは例えば幅が２μsecの
パルスが１５個周期５０μsecで連続するパルス列であ
る。次に、再度スイッチ４を切り換えて、この電圧パル
スが印加された発熱抵抗体を抵抗計６に接続して抵抗値
を測定し、制御演算部７へ送る。制御演算部７のＣＰＵ
９はそれを印加した電圧パルスの電圧値とともにメモリ
１０に格納する。以下、同様にして、電圧パルスの電圧
値を適宜上昇させながらこれらの処理を繰返す。この処
理は少くとも３回繰返して実行され、リレー網３を切り
換えていくつかのサンプルについて実行される。
変化測定が行なわれる。即ち、リレー網３を制御してサ
ーマルヘッド１のサンプルとして指定されたドットの発
熱抵抗体を選択し、スイッチ４を介してこれを抵抗計６
へ接続して抵抗値を測定し、その測定値を制御演算部７
へ送り、制御演算部７のＣＰＵ９はこれをメモリ１０へ
格納する。次にスイッチ４を切り換えてパルス発生器５
より所定の電圧値の電圧パルスを前記発熱抵抗体に印加
する。ここで、この電圧パルスは例えば幅が２μsecの
パルスが１５個周期５０μsecで連続するパルス列であ
る。次に、再度スイッチ４を切り換えて、この電圧パル
スが印加された発熱抵抗体を抵抗計６に接続して抵抗値
を測定し、制御演算部７へ送る。制御演算部７のＣＰＵ
９はそれを印加した電圧パルスの電圧値とともにメモリ
１０に格納する。以下、同様にして、電圧パルスの電圧
値を適宜上昇させながらこれらの処理を繰返す。この処
理は少くとも３回繰返して実行され、リレー網３を切り
換えていくつかのサンプルについて実行される。
次に、ステップＳＴ１４において、このようにして測定
された抵抗変化に基づく抵抗値降下曲線の近似が行なわ
れる。即ち、制御演算部７のＣＰＵ９はメモリ１０に格
納しておいた抵抗変化から、電圧パルスによる各印加電
圧における抵抗変化率ΔＲ＝(R-R0/R0を求め、これを前
記(1)式に代入する。これによって各サンプル毎にそれ
ぞれα，β，V0を未知数とする方程式を作成してこれを
解く。ここで、三つの未知数に対して四つ以上の方程式
がある場合にはこれを統計的に処理して解を得る。得ら
れた解はさらに各サンプル間で統計的に処理され、得ら
れた定数α，β、境界電圧値V0が(1)式に代入されて、
抵抗変化率ΔＲと印加電圧Ｖとの関係を示す抵抗値降下
曲線が近似される。
された抵抗変化に基づく抵抗値降下曲線の近似が行なわ
れる。即ち、制御演算部７のＣＰＵ９はメモリ１０に格
納しておいた抵抗変化から、電圧パルスによる各印加電
圧における抵抗変化率ΔＲ＝(R-R0/R0を求め、これを前
記(1)式に代入する。これによって各サンプル毎にそれ
ぞれα，β，V0を未知数とする方程式を作成してこれを
解く。ここで、三つの未知数に対して四つ以上の方程式
がある場合にはこれを統計的に処理して解を得る。得ら
れた解はさらに各サンプル間で統計的に処理され、得ら
れた定数α，β、境界電圧値V0が(1)式に代入されて、
抵抗変化率ΔＲと印加電圧Ｖとの関係を示す抵抗値降下
曲線が近似される。
これで準備段階を終了してステップＳＴ１５よりトリミ
ングの処理に入る。まず、ステップＳＴ１５において、
リレー網３でトリミングを実施するドットを選択し、ス
イッチによってこれを抵抗計６に接続してその抵抗値Ｒ
を測定する。次にステップＳＴ１６においてその抵抗値
Ｒが例えば平均値の±２σの範囲に入っているか否か
を識別して、プロービング装置２によるプローブの接触
状態を判断する。即ち、抵抗値がＲ＋２σの上限値を越
えた場合にはプローブの接触不良と判断し、−２σの
下限値を越えた場合にはプローブによって隣接するパタ
ーン間が短絡されたものと判断し、ステップＳＴ２０に
てプロービングをやり直し、ステップＳＴ１５に戻つて
再度抵抗値Ｒの測定を行なう。抵抗値Ｒが±２σの範
囲に入っていれば処理をステップＳＴ１７に移す。
ングの処理に入る。まず、ステップＳＴ１５において、
リレー網３でトリミングを実施するドットを選択し、ス
イッチによってこれを抵抗計６に接続してその抵抗値Ｒ
を測定する。次にステップＳＴ１６においてその抵抗値
Ｒが例えば平均値の±２σの範囲に入っているか否か
を識別して、プロービング装置２によるプローブの接触
状態を判断する。即ち、抵抗値がＲ＋２σの上限値を越
えた場合にはプローブの接触不良と判断し、−２σの
下限値を越えた場合にはプローブによって隣接するパタ
ーン間が短絡されたものと判断し、ステップＳＴ２０に
てプロービングをやり直し、ステップＳＴ１５に戻つて
再度抵抗値Ｒの測定を行なう。抵抗値Ｒが±２σの範
囲に入っていれば処理をステップＳＴ１７に移す。
ステップＳＴ１７では、当該抵抗値Ｒを目標値まで降下
させる場合の抵抗変化率ΔＲがＣＰＵ９によって算出さ
れ、さらに前述の抵抗値降下曲線Ｙを用いて電圧パルス
の印加電圧Ｖｎを決定される。その様子は第３図に示さ
れ、具体的には前記α，β，V0が代入された関係式に前
記ΔＲｎを代入して印加電圧Ｖｎを算出する。得られた
印加電圧Ｖｎは制御演算部７よりパルス発生器５へ送ら
れる。ステップＳＴ１８でスイッチ４が切り換えられる
と、パルス発生器５からは電圧がＶｎの電圧パルスが送
出され、トリミングを実施するドットの発熱抵抗体に印
加される。これによって当該発熱抵抗体の抵抗値は目標
値に近い値に降下する。以下ステップＳＴ１９が全ドッ
トのトリミングの終了を検出するまで、ステップＳＴ１
５以後の処理が繰返される。
させる場合の抵抗変化率ΔＲがＣＰＵ９によって算出さ
れ、さらに前述の抵抗値降下曲線Ｙを用いて電圧パルス
の印加電圧Ｖｎを決定される。その様子は第３図に示さ
れ、具体的には前記α，β，V0が代入された関係式に前
記ΔＲｎを代入して印加電圧Ｖｎを算出する。得られた
印加電圧Ｖｎは制御演算部７よりパルス発生器５へ送ら
れる。ステップＳＴ１８でスイッチ４が切り換えられる
と、パルス発生器５からは電圧がＶｎの電圧パルスが送
出され、トリミングを実施するドットの発熱抵抗体に印
加される。これによって当該発熱抵抗体の抵抗値は目標
値に近い値に降下する。以下ステップＳＴ１９が全ドッ
トのトリミングの終了を検出するまで、ステップＳＴ１
５以後の処理が繰返される。
なお、上記実施例では平均値Ｒと標準偏差σを得るた
めにサーマルヘッド１の全ドットの発熱抵抗体の抵抗の
初期値を測定するものについて示したが、適宜サンプル
ドットを選定してその初期の抵抗値より平均値及び標
準偏差σを求めるようにしてもよく、この平均値及び
標準偏差σ得るための測定を抵抗値降下曲線を近似する
際の測定と同時に行なっても、また、抵抗値降下曲線の
近似のための測定データをそのままこの平均値Ｒ、標準
偏差σ算出のためのデータとして利用してもよい。
めにサーマルヘッド１の全ドットの発熱抵抗体の抵抗の
初期値を測定するものについて示したが、適宜サンプル
ドットを選定してその初期の抵抗値より平均値及び標
準偏差σを求めるようにしてもよく、この平均値及び
標準偏差σ得るための測定を抵抗値降下曲線を近似する
際の測定と同時に行なっても、また、抵抗値降下曲線の
近似のための測定データをそのままこの平均値Ｒ、標準
偏差σ算出のためのデータとして利用してもよい。
さらに、上記実施例では抵抗降下曲線を近似に、１つの
サンプルに対して３回以上の電圧パルス印加を行なうも
のについて示したが、抵抗値に変化が現われはじめる印
加電圧の境界値V0を２５Ｖとして固定的に与えてしまえ
ば、２回の電圧パルス印加で抵抗値降下曲線を近似する
ことも可能となる。
サンプルに対して３回以上の電圧パルス印加を行なうも
のについて示したが、抵抗値に変化が現われはじめる印
加電圧の境界値V0を２５Ｖとして固定的に与えてしまえ
ば、２回の電圧パルス印加で抵抗値降下曲線を近似する
ことも可能となる。
また、上記実施例では電圧パルスに所定数連続したパル
ス列を用いたが単パルスであってもよく、上記実施例と
同様の効果を奏する。
ス列を用いたが単パルスであってもよく、上記実施例と
同様の効果を奏する。
以上のように、この発明によれば、少ないサンプルの抵
抗変化を測定して抵抗値降下曲線を近似し、トリミング
に際しては、そのドットの発熱抵抗体の抵抗値を測定し
て、前記抵抗値降下曲線を用いて電圧パルスの電圧値を
決定するように構成したので、各ドット毎に１回の電圧
パルスの印加によってトリミングが完了するため、発熱
抵抗体の抵抗値の均一化に要する時間を大幅に削減する
ことができ、さらに、トリミングに際して、発熱抵抗体
の初期の抵抗値が所定の範囲内に入っているか否かを識
別してプローブの接触状態を判断しているため、プロー
ブの接触不良によって初期抵抗の測定値が過大に現われ
た場合の過剰トリミングあるいは発熱抵抗体の破壊、及
びプローブによるパターン間シヨートによつて初期抵抗
の測定値が過小に現われた場合のトリミング不足、ある
いは未トリミングが防止できるなどの効果がある。
抗変化を測定して抵抗値降下曲線を近似し、トリミング
に際しては、そのドットの発熱抵抗体の抵抗値を測定し
て、前記抵抗値降下曲線を用いて電圧パルスの電圧値を
決定するように構成したので、各ドット毎に１回の電圧
パルスの印加によってトリミングが完了するため、発熱
抵抗体の抵抗値の均一化に要する時間を大幅に削減する
ことができ、さらに、トリミングに際して、発熱抵抗体
の初期の抵抗値が所定の範囲内に入っているか否かを識
別してプローブの接触状態を判断しているため、プロー
ブの接触不良によって初期抵抗の測定値が過大に現われ
た場合の過剰トリミングあるいは発熱抵抗体の破壊、及
びプローブによるパターン間シヨートによつて初期抵抗
の測定値が過小に現われた場合のトリミング不足、ある
いは未トリミングが防止できるなどの効果がある。
第１図はこの発明の一実施例によるサーマルヘッドの製
造方法を示すフローチャート、第２図はそれを実施する
ための装置の一例を示すブロック図、第３図はその抵抗
値降下曲線の一例を示す線図、第４図は従来のサーマル
ヘッドの製造方法を示すフローチャート、第５図はその
発熱抵抗体の抵抗値の減少を示す線図である。 １はサーマルヘッド、２はプロービング装置、３はリレ
ー網、４はスイッチ、５はパルス発生器、６は抵抗計、
７は制御演算部。
造方法を示すフローチャート、第２図はそれを実施する
ための装置の一例を示すブロック図、第３図はその抵抗
値降下曲線の一例を示す線図、第４図は従来のサーマル
ヘッドの製造方法を示すフローチャート、第５図はその
発熱抵抗体の抵抗値の減少を示す線図である。 １はサーマルヘッド、２はプロービング装置、３はリレ
ー網、４はスイッチ、５はパルス発生器、６は抵抗計、
７は制御演算部。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 尾崎 裕 兵庫県尼崎市塚口本町８丁目１番１号 三 菱電機株式会社通信機製作所内 (72)発明者 高瀬 弥平 兵庫県尼崎市塚口本町８丁目１番１号 三 菱電機株式会社通信機製作所内 (56)参考文献 特開 昭61−131404（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】複数のドットの発熱抵抗体を備えたサーマ
ルヘッドの前記ドットの発熱抵抗体の各々に電圧パルス
を印加し、そのドットの発熱抵抗体の抵抗値を降下させ
て均一化するサーマルヘッドの製造方法において、前記
ドットの発熱抵抗体の初期の抵抗値の平均値および標準
偏差を測定するとともに、前記ドットの発熱抵抗体中か
らサンプルドットを選び、電圧値の異なる電圧パルスを
低圧のものから順次、前記サンプルドットとして選ばれ
た発熱抵抗体に印加して、印加電圧と抵抗値変化の関係
を示す抵抗値降下曲線を近似し、前記ドットの発熱抵抗
体の各々に前記電圧パルスを印加するに際して、当該ド
ットの発熱抵抗体の初期の抵抗値が前記平均値と標準偏
差とで与えられる所定の範囲に入つていることを識別し
てプローブの接触状態を判断するとともに、当該初期の
抵抗値に基づいて前記抵抗値降下曲線より前記印加する
電圧パルスの電圧値を決定することを特徴とするサーマ
ルヘッドの製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20400386A JPH068055B2 (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | サ−マルヘツドの製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP20400386A JPH068055B2 (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | サ−マルヘツドの製造方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6359550A JPS6359550A (ja) | 1988-03-15 |
| JPH068055B2 true JPH068055B2 (ja) | 1994-02-02 |
Family
ID=16483164
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP20400386A Expired - Lifetime JPH068055B2 (ja) | 1986-08-29 | 1986-08-29 | サ−マルヘツドの製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH068055B2 (ja) |
-
1986
- 1986-08-29 JP JP20400386A patent/JPH068055B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6359550A (ja) | 1988-03-15 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| EXPY | Cancellation because of completion of term |