JPH067267U - 印刷配線板 - Google Patents
印刷配線板Info
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- JPH067267U JPH067267U JP4391092U JP4391092U JPH067267U JP H067267 U JPH067267 U JP H067267U JP 4391092 U JP4391092 U JP 4391092U JP 4391092 U JP4391092 U JP 4391092U JP H067267 U JPH067267 U JP H067267U
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Landscapes
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Printing Elements For Providing Electric Connections Between Printed Circuits (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【目的】 印刷配線板上の表裏導通用スルーホール及び
取付用孔の孔位置及び位置ずれ量を電気的に検査する。 【構成】 表裏導通用スルーホール５ａ及び取付孔５ｂ
の孔加工時に、これらに対応して設けられるべき検査用
表裏導通用スルーホール４ａ及び取付孔４ｂの中心に対
して一定の間隙を有した複数の検査用配線回路３を形成
してある。検査用配線回路３は、配線回路２の形成時及
び孔加工時に検査用表裏導通用スルーホール４ａ及び取
付孔４ｂの位置ずれに対応して断線されることとなり、
印刷配線板１上の表裏導通用スルーホール５ａ及び取付
孔５ｂの孔位置及び孔位置ずれ量を電気的に検査する。
取付用孔の孔位置及び位置ずれ量を電気的に検査する。 【構成】 表裏導通用スルーホール５ａ及び取付孔５ｂ
の孔加工時に、これらに対応して設けられるべき検査用
表裏導通用スルーホール４ａ及び取付孔４ｂの中心に対
して一定の間隙を有した複数の検査用配線回路３を形成
してある。検査用配線回路３は、配線回路２の形成時及
び孔加工時に検査用表裏導通用スルーホール４ａ及び取
付孔４ｂの位置ずれに対応して断線されることとなり、
印刷配線板１上の表裏導通用スルーホール５ａ及び取付
孔５ｂの孔位置及び孔位置ずれ量を電気的に検査する。
Description
【０００１】
本考案は、印刷配線板に関し、特に表裏導通用スルーホール及び取付用孔の孔 位置及び孔位置ずれ量を検査する検査用配線回路を有する印刷配線板に関する。
【０００２】
従来の孔位置ずれ検査方法を、図４〜図６を用いて説明する。図４に示す印刷 配線板を製造するには、表裏導通用スルーホール５ａを孔加工し、印刷配線板１ の全面及びスルーホール５ａを銅めっき加工し、所望の配線回路２とランド８及 び検査用孔マーク７を形成し、次いで取付孔５ｂを孔加工していた。
【０００３】 前記印刷配線板については、表裏導通用スルーホール５ａ及び取付孔５ｂに対 し孔位置ずれの検査が行われていた。
【０００４】 従来の孔位置ずれ検査方法を、図５，図６を用いて説明する。従来、表裏導通 用スルーホール５ａの孔位置ずれ検査は、図５のランド８のランド残り幅９を拡 大顕微鏡あるいは画像処理検査等で測定し、良否を判定していた。また、取付孔 ５ｂの孔位置ずれ検査は、内周側の取付孔５ｂと外周側の検査用孔マーク７との 間隙を拡大顕微鏡あるいは画像処理検査等で測定し、良否を判定していた。
【０００５】
上述した従来の検査方法では、以下のような課題があった。 表裏導通用スルーホール５ａに対する孔位置検査時間及び検査工数がかかる 。取付孔５ｂの孔位置の検査を電気的に行うことができない。 表裏導通用スルーホール５ａ及び取付孔５ｂに位置ずれが発生した場合、正 確な孔位置ずれ量の検査ができない等の問題があった。
【０００６】 本考案の目的は、印刷配線板上の表裏導通用スルーホール及び取付孔の孔位置 及び孔位置ずれ量を電気的に検査可能とした印刷配線板を提供することにある。
【０００７】
前記目的を達成するため、本考案に係る印刷配線板は、検査用配線回路を有し 、板上に検査用表裏導通用スルーホール及び取付孔が孔加工される印刷配線板で あって、 検査用配線回路は、正規の位置に孔加工されるべき検査用表裏導通用スルーホ ール及び取付孔の中心に対して同芯円状又は平行に設けられ、検査用表裏導通用 スルーホール及び取付孔の位置ずれに対応して電気的に断線されるものであり、 検査用表裏導通用スルーホール及び取付孔は、印刷配線板の回路部を避けた領 域に、前記回路部に設けられるべき表裏導通用スルーホール及び取付孔の孔位置 に対応して孔加工されるものである。
【０００８】
印刷配線板に正規の位置で設けられるべき孔の中心に対して同芯円上に異径の リング状検査用配線回路が設けられ、或いは孔を横切って直線状検査用配線回路 が設けられている。
【０００９】 孔加工時に孔位置がずれると、そのずれ量に対応して検査用配線回路が電気的 に断線される。
【００１０】 したがって、検査用配線回路の断線状態に基づいて、孔位置及び孔位置ずれ量 を電気的に検査できることとなる。
【００１１】
以下、本考案の実施例を図により説明する。
【００１２】 （実施例１）図１は、本考案の実施例１を示す正面図、図２は孔位置及び孔位 置ずれ量の検査を行うための構造を示す図である。
【００１３】 図において、印刷配線板１は、配線回路２を形成した回路部１ａと、検査用配 線回路３を形成した基板部１ｂとからなる。基板部１ｂは、孔位置及び孔位置ず れを検査した後に回路部１ａから切り取り線１ｃに沿って切り離され、回路部１ ａのみが使用に供される。
【００１４】 回路部１ａには、印刷配線板１を取付けるための取付孔５ｂが設けられている とともに、配線回路２の端部に表裏導通用スルーホール５ａが設けられている。
【００１５】 この種の印刷配線板１においては、スルーホール５ａ及び取付孔５ｂが設けら れた孔位置及び孔位置ずれに対して検査が行われる。
【００１６】 本実施例では、基板部１ｂ上に、検査用表裏導通用スルーホール４ａと、検査 用取付孔４ｂとが設けられる。スルーホール４ａと取付孔４ｂとは、回路部１ａ 上に表裏導通用スルーホール５ａと取付孔５ｂとが設けられる際に一体に設けら れるものであり、回路部１ａ上でのスルーホール５ａと取付孔５ｂの孔位置及び 孔位置ずれ量に対応して孔位置及び孔位置ずれ量をもって基板部１ｂ上に孔加工 される。具体的には、例えば、スルーホール５ａと取付孔５ｂとを孔加工するド リルと、スルーホール４ａと取付孔４ｂとを孔加工するドリルとを同一のボール 盤上に装着し、ボール盤の移動によりそれぞれのドリルが１対１の位置関係を保 って移動し、また孔加工を行うようにすればよい。
【００１７】 さらに、基板部１ｂに正規の位置で設けられるべきスルーホール４ａ及び取付 孔４ｂの中心６に対して同芯円上に異径のリング状検査用配線回路３が設けてあ る。
【００１８】 リング状検査用配線回路３は、開回路として形成され、その両端に検査用配線 回路始点３ａと検査用配線回路終点３ｂとが設けられ、始点３ａと終点３ｂとが 孔の周囲に形成されたリング状の接続部を介して導通している。
【００１９】 また、相対的に内外のリング状検査用配線回路３，３間の間隙として、０．０ ５〜０．３０ｍｍであることが最適である。また、各リング状検査用配線回路３ の回路幅として、０．０５〜０．３０ｍｍであることが最適である。
【００２０】 実施例において、回路部１ａに表裏導通用スルーホール５ａ及び取付孔５ｂを 孔加工すると、その孔位置及び孔位置ずれ量をもつ検査用表裏導通用スルーホー ル４ａ及び検査用取付孔４ｂが基板部１ｂに孔加工される。
【００２１】 この場合、スルーホール５ａ及び取付孔５ｂの孔位置が正規の孔位置からずれ ているときには、これに対応して検査用のスルーホール４ａ及び取付孔４ｂの孔 位置がずれ、スルーホール４ａ及び取付孔４ｂの孔加工時にリング状検査用配線 回路３がずれ量に応じて電気的に断線されることとなる。
【００２２】 各リング状検査用配線回路３に通電を行い、断線，導通の判定を行うことによ り、正規の位置に設けられるべきスルーホール５ａ及び取付孔５ｂの中心６に対 する孔位置及び孔位置ずれ量の検査を行う。
【００２３】 （実施例２）図３は、本考案の実施例２を示す検査用配線回路の概要図である 。
【００２４】 本実施例では図に示すように、正規の位置に設けられるべき、検査用表裏導通 用スルーホール４ａ及び取付孔４ｂの中心６に対して複数の平行な検査用配線回 路３及び前記検査用配線回路３を９０°回転させた検査用配線回路３を各々等間 隔に配置し、各回路の両端に検査用配線回路始点３ａ及び終点３ｂを配置したも のである。
【００２５】 実施例１と同様に各回路の検査用配線回路始点３ａ及び終点３ｂの導通，断線 を判定することによって、検査用表裏導通用スルーホール４ａ及び取付孔４ｂの 孔位置及び孔位置ずれ量の検査ができる。
【００２６】 検査用配線回路３の回路幅としては、０．０５〜０．３０ｍｍ、回路間隙とし ては０．０５〜０．３０ｍｍが最適である。
【００２７】
以上説明したように本考案によれば、表裏導通用スルーホール孔位置に対する 検査時間及び検査工数の低減を図ることができ、しかも孔位置検査の電気的検査 を行うことができる。さらに、表裏導通用スルーホール及び取付孔に位置ずれが 発生した場合でも、正確な孔位置ずれ量の検査ができる。
【図１】本考案の実施例１に係る孔位置ずれ検査用配線
回路を有する印刷配線板を示す正面図である。
回路を有する印刷配線板を示す正面図である。
【図２】本考案の実施例１に係る孔位置ずれ検査用配線
回路を示す図である。
回路を示す図である。
【図３】本考案の実施例２に係る孔位置ずれ検査用配線
回路を示す図である。
回路を示す図である。
【図４】従来の孔位置ずれ検査用孔マークを有する印刷
配線板を示す正面図である。
配線板を示す正面図である。
【図５】従来の孔位置ずれ検査方法を示す図である。
【図６】従来の孔位置ずれ検査方法を示す図である。
１ 印刷配線板 ２ 配線回路 ３ 検査用配線回路 ３ａ 検査用配線回路始点 ３ｂ 検査用配線回路終点 ４ａ 検査用表裏導通用スルーホール ４ｂ 検査用取付孔 ５ａ 表裏導通用スルーホール ５ｂ 取付孔 ６ 検査用表裏導通用スルーホール及び取付孔の中心
Claims (1)
- 【請求項１】 検査用配線回路を有し、板上に検査用表
裏導通用スルーホール及び取付孔が孔加工される印刷配
線板であって、 検査用配線回路は、正規の位置に孔加工されるべき検査
用表裏導通用スルーホール及び取付孔の中心に対して同
芯円状又は平行に設けられ、検査用表裏導通用スルーホ
ール及び取付孔の位置ずれに対応して電気的に断線され
るものであり、 検査用表裏導通用スルーホール及び取付孔は、印刷配線
板の回路部を避けた領域に、前記回路部に設けられるべ
き表裏導通用スルーホール及び取付孔の孔位置に対応し
て孔加工されるものであることを特徴とする印刷配線
板。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4391092U JPH067267U (ja) | 1992-06-24 | 1992-06-24 | 印刷配線板 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP4391092U JPH067267U (ja) | 1992-06-24 | 1992-06-24 | 印刷配線板 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH067267U true JPH067267U (ja) | 1994-01-28 |
Family
ID=12676875
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP4391092U Pending JPH067267U (ja) | 1992-06-24 | 1992-06-24 | 印刷配線板 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH067267U (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10242716B2 (en) | 2016-09-29 | 2019-03-26 | Toshiba Memory Corporation | Semiconductor device having a slit for aligning a connector and a hole for determining positional accuracy of the slit |
-
1992
- 1992-06-24 JP JP4391092U patent/JPH067267U/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US10242716B2 (en) | 2016-09-29 | 2019-03-26 | Toshiba Memory Corporation | Semiconductor device having a slit for aligning a connector and a hole for determining positional accuracy of the slit |
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