JPH0680700B2 - 半導体装置の製造方法 - Google Patents
半導体装置の製造方法Info
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- JPH0680700B2 JPH0680700B2 JP26819592A JP26819592A JPH0680700B2 JP H0680700 B2 JPH0680700 B2 JP H0680700B2 JP 26819592 A JP26819592 A JP 26819592A JP 26819592 A JP26819592 A JP 26819592A JP H0680700 B2 JPH0680700 B2 JP H0680700B2
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Description
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、IC,LSIなどの半
導体素子と接続する導体を多数個フィルム上に担持,配
列して半導体装置を製造する方法に関するものである。
導体素子と接続する導体を多数個フィルム上に担持,配
列して半導体装置を製造する方法に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来より半導体素子を樹脂モールドで一
体化して多数のピンを突設した半導体装置の組立には、
金属製のリードフレームが用いられている。そして従来
のリードフレームは、薄い金属板をプレスで打ち抜いた
り、エッチングなどで形成していた。
体化して多数のピンを突設した半導体装置の組立には、
金属製のリードフレームが用いられている。そして従来
のリードフレームは、薄い金属板をプレスで打ち抜いた
り、エッチングなどで形成していた。
【0003】ところで、リードフレームには極めて細い
タブリード,フィンガやそれの先端のバンプなどの導体
が形成されているが、最近では多数ピンの半導体装置が
要求されることにより、タブリードやフィンガなどの幅
はますます細く、バンプは小さなものとならざるを得な
い。そのため、単なる薄板の打抜きプレス加工では限度
があり、精度の高いリードフレームを得ることは難し
い。
タブリード,フィンガやそれの先端のバンプなどの導体
が形成されているが、最近では多数ピンの半導体装置が
要求されることにより、タブリードやフィンガなどの幅
はますます細く、バンプは小さなものとならざるを得な
い。そのため、単なる薄板の打抜きプレス加工では限度
があり、精度の高いリードフレームを得ることは難し
い。
【0004】そこで、エッチング加工を用いて微細なフ
ィンガなどを有するリードフレームを製造することが行
われているが、この方法は製造工程が複雑でコスト高と
なる欠点を有している。
ィンガなどを有するリードフレームを製造することが行
われているが、この方法は製造工程が複雑でコスト高と
なる欠点を有している。
【0005】これらの欠点を解消し、製造が容易で、微
細な部分が形成できる方法として、最近、電鋳技術を用
いたリードフレームの開発がなされている。そして生産
性の向上を図るため、リードを多数個基材上に担持,配
列する方法が各種検討されている。
細な部分が形成できる方法として、最近、電鋳技術を用
いたリードフレームの開発がなされている。そして生産
性の向上を図るため、リードを多数個基材上に担持,配
列する方法が各種検討されている。
【0006】図12は従来の導体担持基材としてのリー
ドキャリアフィルムの製造工程を説明するための断面
図、図7はそのリードキャリアフィルムの巻回体の側面
図である。従来のリードキャリアフィルムは、まず図1
2(a)に示すようなアルミニウム板やステンレス板な
どの金属板、あるいはポリエステルフィルムやピリイミ
ドフィルムなどの合成樹脂フィルムの表面に金属の蒸着
や無電解メッキなどで導電性を付与せしめたフィルムな
どの基材51上に、合成樹脂からなる電気絶縁性のレジ
スト層52が印刷によって所望のパターンに形成され
る。この場合、レジスト層52が形成されていない非レ
ジスト部53が製造しようとしているリードやフィン
ガ,バンプのような導体形状と同じパターンになってい
る。
ドキャリアフィルムの製造工程を説明するための断面
図、図7はそのリードキャリアフィルムの巻回体の側面
図である。従来のリードキャリアフィルムは、まず図1
2(a)に示すようなアルミニウム板やステンレス板な
どの金属板、あるいはポリエステルフィルムやピリイミ
ドフィルムなどの合成樹脂フィルムの表面に金属の蒸着
や無電解メッキなどで導電性を付与せしめたフィルムな
どの基材51上に、合成樹脂からなる電気絶縁性のレジ
スト層52が印刷によって所望のパターンに形成され
る。この場合、レジスト層52が形成されていない非レ
ジスト部53が製造しようとしているリードやフィン
ガ,バンプのような導体形状と同じパターンになってい
る。
【0007】次にこの基材51上を亜セレン酸等により
剥離処理したのち、電鋳により銅,ニッケル,金,スズ
などの金属を付着して導電金属層からなる導体54を所
定の形状に作る(同図(b)参照)。しかるのち基材5
1上のレジスト層52を除去し(同図(c)参照)、片
面に接着剤を塗布したキャリアフィルム55を導体54
上に押しつけ、次にそれを剥がすことにより、導体54
は基材51から離れて同図(d)に示すように基材55
上に担持される。
剥離処理したのち、電鋳により銅,ニッケル,金,スズ
などの金属を付着して導電金属層からなる導体54を所
定の形状に作る(同図(b)参照)。しかるのち基材5
1上のレジスト層52を除去し(同図(c)参照)、片
面に接着剤を塗布したキャリアフィルム55を導体54
上に押しつけ、次にそれを剥がすことにより、導体54
は基材51から離れて同図(d)に示すように基材55
上に担持される。
【0008】このようにして多数の導体54を担持,配
列した基材55は、図13に示すように巻き取られて、
半導体装置の製造ラインに搬送,供給される。
列した基材55は、図13に示すように巻き取られて、
半導体装置の製造ラインに搬送,供給される。
【0009】
【発明が解決しようとする課題】ところで従来のリード
キャリアフィルムなどの基材は、図12(d)に示すよ
うに導体54の成長出張り部54bが基材55上に付着
され、電鋳基部54aが外側を向いた配置状態になって
いる。前記成長出張り部54bは導体54の電鋳成形時
に形成されるもので、その表面には微細な凹凸があり、
しかも図に示すように周囲に丸味があり、基材55に対
する接着性が良くない。
キャリアフィルムなどの基材は、図12(d)に示すよ
うに導体54の成長出張り部54bが基材55上に付着
され、電鋳基部54aが外側を向いた配置状態になって
いる。前記成長出張り部54bは導体54の電鋳成形時
に形成されるもので、その表面には微細な凹凸があり、
しかも図に示すように周囲に丸味があり、基材55に対
する接着性が良くない。
【0010】そのためこの導体54を担持した基材55
を巻き取ったり、あるいはその基材巻回体を順次繰り出
して半導体装置の製造ラインに供給するときなどに、導
体54が基材55から脱落し易く、歩留りが悪く、生産
性の低下をきたすなどの欠点を有している。
を巻き取ったり、あるいはその基材巻回体を順次繰り出
して半導体装置の製造ラインに供給するときなどに、導
体54が基材55から脱落し易く、歩留りが悪く、生産
性の低下をきたすなどの欠点を有している。
【0011】
【課題を解決するための手段】本発明の目的は、このよ
うな従来技術の欠点を解消し、導体の担持が確実で、取
扱い性の良い導体担持基材を提供するにある。前述の目
的を達成するため、本発明は、半導体素子と接続される
導体6aを第1の基材1上に形成し、該導体6aを粘着
剤8付着の第2の基材9に転写し、第3の基材4上に前
記粘着剤8より接着強度の高い接着剤11を塗着すると
ともに、前記第2の基材9を、前記導体6aが第3の基
材4上の接着剤11側と対向する向きに重ねて加圧し、
その後前記第2の基材9を剥離して前記導体6aを第3
の基材4に転写し、該導体6aと半導体素子とを接続し
てなることを特徴とするものである。
うな従来技術の欠点を解消し、導体の担持が確実で、取
扱い性の良い導体担持基材を提供するにある。前述の目
的を達成するため、本発明は、半導体素子と接続される
導体6aを第1の基材1上に形成し、該導体6aを粘着
剤8付着の第2の基材9に転写し、第3の基材4上に前
記粘着剤8より接着強度の高い接着剤11を塗着すると
ともに、前記第2の基材9を、前記導体6aが第3の基
材4上の接着剤11側と対向する向きに重ねて加圧し、
その後前記第2の基材9を剥離して前記導体6aを第3
の基材4に転写し、該導体6aと半導体素子とを接続し
てなることを特徴とするものである。
【0012】
【実施例】次に本発明の実施例を図とともに説明する。
図1ないし図7は、本発明の実施例に係る導体担持基材
の製造工程を説明するための断面図である。図1に示す
ように、第1の基材1の表面に所望のパターンを有する
レジスト層2が形成されている。第1の基材1として
は、アルミニウム板,ステンレス板あるいは銅板などの
金属板、またはポリエステルフィルムやポリイミドフィ
ルムなどの合成樹脂フィルム上に、銅などの金属を蒸着
や無電解メッキして導電性を付与したものが用いられ
る。レジスト層2は合成樹脂などからなる電気絶縁性の
もので、例えば、スクリーン印刷や通常の露光硬化など
によって形成される。
図1ないし図7は、本発明の実施例に係る導体担持基材
の製造工程を説明するための断面図である。図1に示す
ように、第1の基材1の表面に所望のパターンを有する
レジスト層2が形成されている。第1の基材1として
は、アルミニウム板,ステンレス板あるいは銅板などの
金属板、またはポリエステルフィルムやポリイミドフィ
ルムなどの合成樹脂フィルム上に、銅などの金属を蒸着
や無電解メッキして導電性を付与したものが用いられ
る。レジスト層2は合成樹脂などからなる電気絶縁性の
もので、例えば、スクリーン印刷や通常の露光硬化など
によって形成される。
【0013】第1の基材1は例えば同図の紙面に向かっ
て垂直方向に長尽になったテープ状のもので、レジスト
層2が形成されていない中央の非レジスト部3aは製造
すべきリードやフィンガ,バンプのような導体の形状と
同じパターンを有しており、この中央非レジスト部3a
の両側に位置決め突部形成用の非レジスト部3bが形成
される。この非レジスト部3bは第1の基材1の長手方
向に沿って等ピッチに形成され、図10に示す例えばキ
ャリアフィルムのような第3の基材4の両側端に設けら
れているスプロケット穴5のピッチと同じである。
て垂直方向に長尽になったテープ状のもので、レジスト
層2が形成されていない中央の非レジスト部3aは製造
すべきリードやフィンガ,バンプのような導体の形状と
同じパターンを有しており、この中央非レジスト部3a
の両側に位置決め突部形成用の非レジスト部3bが形成
される。この非レジスト部3bは第1の基材1の長手方
向に沿って等ピッチに形成され、図10に示す例えばキ
ャリアフィルムのような第3の基材4の両側端に設けら
れているスプロケット穴5のピッチと同じである。
【0014】次にこの第1の基材1上を亜セレン酸等に
より剥離処理して、第1の基材1の非レジスト部3a,
3bに相当する表面を活性化したのち、電鋳を施し前記
非レジスト部3a,3b上に電鋳金属層6をレジスト層
2より若干厚い目に形成する。図8は電鋳金属層6の一
例を示す図で、ニッケルとコバルトの合金からなる金属
層本体6−1の上にスズとコバルトの合金からなる被膜
6−2が形成されている。また他の例として、銅からな
る金属層本体6−1の上に金や銀の被膜6−2を形成す
ることもできる。この電鋳金属層6はレジスト層2より
若干厚い目に形成されるため、レジスト層2の上部端縁
に若干掛かった成長出張り部7が形成される(図2参
照)。
より剥離処理して、第1の基材1の非レジスト部3a,
3bに相当する表面を活性化したのち、電鋳を施し前記
非レジスト部3a,3b上に電鋳金属層6をレジスト層
2より若干厚い目に形成する。図8は電鋳金属層6の一
例を示す図で、ニッケルとコバルトの合金からなる金属
層本体6−1の上にスズとコバルトの合金からなる被膜
6−2が形成されている。また他の例として、銅からな
る金属層本体6−1の上に金や銀の被膜6−2を形成す
ることもできる。この電鋳金属層6はレジスト層2より
若干厚い目に形成されるため、レジスト層2の上部端縁
に若干掛かった成長出張り部7が形成される(図2参
照)。
【0015】図9は電鋳の状態を示す一部斜視図で、前
記中央非レジスト部3a上に形成された電鋳金属層6a
は導体の形状をしている。また、両側非レジスト部3b
上に形成された電鋳金属層6bは同図に示すように小さ
な枠形をしており、後述の位置決め突部となる。
記中央非レジスト部3a上に形成された電鋳金属層6a
は導体の形状をしている。また、両側非レジスト部3b
上に形成された電鋳金属層6bは同図に示すように小さ
な枠形をしており、後述の位置決め突部となる。
【0016】次に図3に示すように、下面に粘着剤8を
形成した、第1の基材1とほぼ同じ幅を有する転写テー
プのような第2の基材9を電鋳金属層6の上に圧着し、
第2の基材9を各電鋳金属層6に貼りつける。そして次
に図4に示すように第2の基材9を第1の基材1から剥
がすと、レジスト層2は第1の基材1に残り、各電鋳金
属層6a,6bは粘着剤8に付着した状態で第1の基材
1から離れる。これは前述のように予め非レジスト部3
a,3bの表面に亜セレン酸等による剥離処理が施され
ているためである。
形成した、第1の基材1とほぼ同じ幅を有する転写テー
プのような第2の基材9を電鋳金属層6の上に圧着し、
第2の基材9を各電鋳金属層6に貼りつける。そして次
に図4に示すように第2の基材9を第1の基材1から剥
がすと、レジスト層2は第1の基材1に残り、各電鋳金
属層6a,6bは粘着剤8に付着した状態で第1の基材
1から離れる。これは前述のように予め非レジスト部3
a,3bの表面に亜セレン酸等による剥離処理が施され
ているためである。
【0017】この転写工程により、各電鋳金属層6a,
6bは電鋳によって形成されたときの相互の位置関係を
保持したまま第2の基材9に転写される。なお、電鋳金
属層6は図4,図5に示すように、それの成長出張り部
7が第2の基材9の粘着剤8に付着し、第1の基材1と
接していた電鋳金属層6の電鋳基部10は第2の基材9
の外側を向いている。この場合粘着剤8は柔らかいの
で、導体の上部に丸味があっても接着され易い。
6bは電鋳によって形成されたときの相互の位置関係を
保持したまま第2の基材9に転写される。なお、電鋳金
属層6は図4,図5に示すように、それの成長出張り部
7が第2の基材9の粘着剤8に付着し、第1の基材1と
接していた電鋳金属層6の電鋳基部10は第2の基材9
の外側を向いている。この場合粘着剤8は柔らかいの
で、導体の上部に丸味があっても接着され易い。
【0018】次に第2の基材9は、図5に示すように電
鋳金属層6を下にした状態でキャリアフィルムのような
第3の基材4の上方に供給される。第3の基材4として
キャリアフィルムを用いるときは図10に示すように第
2の基材9とほぼ同じ幅を有するテープ状のものを用
い、例えばポリイミドフィルムやポリエステルフィルム
からなり、それの両側端部には等ピッチにスプロケット
穴5が列設されている。また第3の基材4の中央部に
は、熱圧着型のような前記粘着剤8より接着強度の高い
接着剤11が予め塗着形成されている。
鋳金属層6を下にした状態でキャリアフィルムのような
第3の基材4の上方に供給される。第3の基材4として
キャリアフィルムを用いるときは図10に示すように第
2の基材9とほぼ同じ幅を有するテープ状のものを用
い、例えばポリイミドフィルムやポリエステルフィルム
からなり、それの両側端部には等ピッチにスプロケット
穴5が列設されている。また第3の基材4の中央部に
は、熱圧着型のような前記粘着剤8より接着強度の高い
接着剤11が予め塗着形成されている。
【0019】図6に示すように第3の基材4上に前記第
2の基材9の導体が対向する向きに前記第2の基材9を
重ね、その両側端を軽く押圧部材12で押し下げると、
第2の基材9はそれの可撓性により若干下方に変形し、
両側の電鋳金属層6bの電鋳基部10が第3の基材4の
スプロケット穴5に挿入される。枠形をした電鋳金属層
6bにスプロケット穴5とほぼ同寸に設計されているか
ら、電鋳金属層6bをスプロケット穴5に挿入すること
により、第3の基材4上での電鋳金属層6aの位置決め
がなされ、電鋳金属層6aの位置決めがなされ、電鋳金
属層6bが位置決め突部として機能する。特に電鋳金属
層6bの電鋳基部10側は、レジスト層2の側面に規制
されて形成されるから、高い寸法精度を有している。そ
のため位置決め精度が良好である。なおこの位置決め時
には熱圧着型接着剤11に熱が加えられていないから粘
着性がいまだ高くなく、従って電鋳金属層6aの位置決
めには支障をきたさない。
2の基材9の導体が対向する向きに前記第2の基材9を
重ね、その両側端を軽く押圧部材12で押し下げると、
第2の基材9はそれの可撓性により若干下方に変形し、
両側の電鋳金属層6bの電鋳基部10が第3の基材4の
スプロケット穴5に挿入される。枠形をした電鋳金属層
6bにスプロケット穴5とほぼ同寸に設計されているか
ら、電鋳金属層6bをスプロケット穴5に挿入すること
により、第3の基材4上での電鋳金属層6aの位置決め
がなされ、電鋳金属層6aの位置決めがなされ、電鋳金
属層6bが位置決め突部として機能する。特に電鋳金属
層6bの電鋳基部10側は、レジスト層2の側面に規制
されて形成されるから、高い寸法精度を有している。そ
のため位置決め精度が良好である。なおこの位置決め時
には熱圧着型接着剤11に熱が加えられていないから粘
着性がいまだ高くなく、従って電鋳金属層6aの位置決
めには支障をきたさない。
【0020】このように第3の基材4上において第2の
基材9の位置決めがなされた後、第2の基材9の中央上
部が第3の基材4側に向けて加熱圧着される。これによ
って接着剤11が軟化,溶融し、その後に冷却すること
により、導体となる電鋳金属層6aが接着剤11に接着
される。次に図7に示すように、第2の基材9を第3の
基材4から剥離する。このとき前記熱圧着型接着剤11
の方が粘着剤8よりも接着強度が強いことと、導体に相
当する電鋳金属層6の電鋳基部10側の方が成長出張り
部7側よりも平坦であることから、電鋳金属層6aは第
3の基材4上に接着,支持され、第2の基材9には位置
決め突部として機能した電鋳金属層6bのみ残る。
基材9の位置決めがなされた後、第2の基材9の中央上
部が第3の基材4側に向けて加熱圧着される。これによ
って接着剤11が軟化,溶融し、その後に冷却すること
により、導体となる電鋳金属層6aが接着剤11に接着
される。次に図7に示すように、第2の基材9を第3の
基材4から剥離する。このとき前記熱圧着型接着剤11
の方が粘着剤8よりも接着強度が強いことと、導体に相
当する電鋳金属層6の電鋳基部10側の方が成長出張り
部7側よりも平坦であることから、電鋳金属層6aは第
3の基材4上に接着,支持され、第2の基材9には位置
決め突部として機能した電鋳金属層6bのみ残る。
【0021】このようにして得られた導体担持基材は、
図11に示すように巻き取られて、半導体装置の製造ラ
インに搬送,供給され、第3の基材4のスプロケット穴
5は今度は導体に相当す電鋳金属層6aを半導体素子上
に転移接続する際の位置決め穴として役立つ。
図11に示すように巻き取られて、半導体装置の製造ラ
インに搬送,供給され、第3の基材4のスプロケット穴
5は今度は導体に相当す電鋳金属層6aを半導体素子上
に転移接続する際の位置決め穴として役立つ。
【0022】前記実施例では導体となる電鋳金属層6a
と、位置決め突部として機能する電鋳金属層6bとを所
定の位置関係をもつ第1の基板1上に電鋳形成し、前記
電鋳金属層6aと電鋳金属層6bとをそのまま一旦第2
の基材9に転写せしめ、その後、表面精度の高い電鋳金
属層6bの電鋳基部10と第3の基材4のスプロケット
穴5とを利用して、電鋳金属層6aのみを第3の基材4
上に転移する方法を採用した。この方法によれば、第1
の基板1上に形成された電鋳金属層6aと電鋳金属層6
bとの位置関係を、第3の基材4上のスプロケット穴5
と電鋳金属層6bとの位置関係として再現することがで
き、導体となる電鋳金属層6aを第3の基材4上の所定
位置に正確にかつ生産性良く担持せしめることができ
る。
と、位置決め突部として機能する電鋳金属層6bとを所
定の位置関係をもつ第1の基板1上に電鋳形成し、前記
電鋳金属層6aと電鋳金属層6bとをそのまま一旦第2
の基材9に転写せしめ、その後、表面精度の高い電鋳金
属層6bの電鋳基部10と第3の基材4のスプロケット
穴5とを利用して、電鋳金属層6aのみを第3の基材4
上に転移する方法を採用した。この方法によれば、第1
の基板1上に形成された電鋳金属層6aと電鋳金属層6
bとの位置関係を、第3の基材4上のスプロケット穴5
と電鋳金属層6bとの位置関係として再現することがで
き、導体となる電鋳金属層6aを第3の基材4上の所定
位置に正確にかつ生産性良く担持せしめることができ
る。
【0023】前記実施例では、第3の基材4と電鋳金属
層6aの接着に熱圧着型接着剤層11を用いたが、第2
の基材1の粘着剤8よりも接着強度が高ければ、他の接
着剤あるいは粘着剤を使用することもできる。本発明で
はこれらを総称して接着剤と表現した。
層6aの接着に熱圧着型接着剤層11を用いたが、第2
の基材1の粘着剤8よりも接着強度が高ければ、他の接
着剤あるいは粘着剤を使用することもできる。本発明で
はこれらを総称して接着剤と表現した。
【0024】
【発明の効果】本発明は前述のように、半導体素子と接
続される導体6aを第1の基材1上に形成し、該導体6
aを粘着剤8付着の第2の基材9に転写し、第3の基材
4上に前記粘着剤8より接着強度の高い接着剤11を塗
着するとともに、前記第2の基材9を、前記導体6aが
第3の基材4上の接着剤11側と対向する向きに重ねて
加圧し、その後前記第2の基材9を剥離して前記導体6
aを第3の基材4に転写し、該導体6aと半導体素子と
を接続してなることを特徴とするものである。
続される導体6aを第1の基材1上に形成し、該導体6
aを粘着剤8付着の第2の基材9に転写し、第3の基材
4上に前記粘着剤8より接着強度の高い接着剤11を塗
着するとともに、前記第2の基材9を、前記導体6aが
第3の基材4上の接着剤11側と対向する向きに重ねて
加圧し、その後前記第2の基材9を剥離して前記導体6
aを第3の基材4に転写し、該導体6aと半導体素子と
を接続してなることを特徴とするものである。
【0025】したがって本発明によれば、第2の基材9
からなるいわゆる中間転写体を用いるため、第3の基材
4を電鋳工程による汚れ等の存在する第1の基材1と直
接接触させることがなく、また第3の基材4を第1の基
材1と対向させるように反転下向きにする必要がなく、
合理的に転写作業が行える。
からなるいわゆる中間転写体を用いるため、第3の基材
4を電鋳工程による汚れ等の存在する第1の基材1と直
接接触させることがなく、また第3の基材4を第1の基
材1と対向させるように反転下向きにする必要がなく、
合理的に転写作業が行える。
【0026】しかも粘着剤8と接着剤11との接着力の
差により確実に転写を行うことができ、そのため第3の
基材4の取り扱い時、特に第3の基材4がフィルム状の
ものであれば巻き取り時や繰り出し時に、導体6aが第
3の基材4から脱落することがなく、生産性ならびに歩
留りの向上が図れる。
差により確実に転写を行うことができ、そのため第3の
基材4の取り扱い時、特に第3の基材4がフィルム状の
ものであれば巻き取り時や繰り出し時に、導体6aが第
3の基材4から脱落することがなく、生産性ならびに歩
留りの向上が図れる。
【図1】本発明の実施例に係る導体担持基材を説明する
ためのもので、製造工程の断面図でレジスト層形成工程
を示す。
ためのもので、製造工程の断面図でレジスト層形成工程
を示す。
【図2】本発明の実施例に係る導体担持基材を説明する
ためのもので、製造工程の断面図で電鋳工程を示す。
ためのもので、製造工程の断面図で電鋳工程を示す。
【図3】本発明の実施例に係る導体担持基材を説明する
ためのもので、製造工程の断面図で転写工程を示す。
ためのもので、製造工程の断面図で転写工程を示す。
【図4】本発明の実施例に係る導体担持基材を説明する
ためのもので、製造工程の断面図で剥離工程を示す。
ためのもので、製造工程の断面図で剥離工程を示す。
【図5】本発明の実施例に係る導体担持基材を説明する
ためのもので、製造工程の断面図で再転写工程を示す。
ためのもので、製造工程の断面図で再転写工程を示す。
【図6】本発明の実施例に係る導体担持基材を説明する
ためのもので、製造工程の断面図で圧着工程を示す。
ためのもので、製造工程の断面図で圧着工程を示す。
【図7】本発明の実施例に係る導体担持基材を説明する
ためのもので、製造工程の断面図で剥離工程を示す。
ためのもので、製造工程の断面図で剥離工程を示す。
【図8】電鋳金属層の拡大断面図である。
【図9】電鋳の状態を示す一部斜視図である。
【図10】第3の基材の平面図である。
【図11】本発明の実施例に係る導体担持基材を説明す
るためのもので、導体担持基材の巻回体の側面図であ
る。
るためのもので、導体担持基材の巻回体の側面図であ
る。
【図12】従来の導体担持基材の製造工程を示す断面図
である。
である。
【図13】この導体担持基材の巻回体の側面図である。
1 第1の基材 4 第3の基材 6a 導体(電鋳金属層) 6b 電鋳金属層 8 粘着剤 9 第2の基材 11 接着剤
Claims (1)
- 【請求項1】 半導体素子と接続される導体6aを第1
の基材1上に形成し、 該導体6aを粘着剤8付着の第2の基材9に転写し、 第3の基材4上に前記粘着剤8より接着強度の高い接着
剤11を塗着するとともに、前記第2の基材9を、前記
導体6aが第3の基材4上の接着剤11側と対向する向
きに重ねて加圧し、 その後前記第2の基材9を剥離して前記導体6aを第3
の基材4に転写し、 該導体6aと半導体素子とを接続してなる半導体装置の
製造方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26819592A JPH0680700B2 (ja) | 1992-09-09 | 1992-09-09 | 半導体装置の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP26819592A JPH0680700B2 (ja) | 1992-09-09 | 1992-09-09 | 半導体装置の製造方法 |
Related Parent Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19773785A Division JPH069216B2 (ja) | 1985-09-09 | 1985-09-09 | リ−ドキヤリアフイルム |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH05218132A JPH05218132A (ja) | 1993-08-27 |
| JPH0680700B2 true JPH0680700B2 (ja) | 1994-10-12 |
Family
ID=17455245
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP26819592A Expired - Lifetime JPH0680700B2 (ja) | 1992-09-09 | 1992-09-09 | 半導体装置の製造方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0680700B2 (ja) |
-
1992
- 1992-09-09 JP JP26819592A patent/JPH0680700B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH05218132A (ja) | 1993-08-27 |
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