JPH0712946Y2 - Ｉｃ試験装置 - Google Patents

Description

【考案の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この考案はIC素子を傾斜したレールに供給して、そのIC
素子の自重落下によりIC素子を搬送させ、その傾斜レー
ルの途中においてIC素子の通路上にストッパが出入自在
に設けられ、必要に応じてそのストッパを突出させてIC
素子の搬送を一時停止させることができるIC試験装置に
関する。

「従来の技術」 IC試験装置におけるIC素子の流れを簡略に示すと第４図
のようになる。すなわち供給用マガジン11内から供給さ
れたIC素子（図示せず）は傾斜レール12上をIC素子の自
重落下により搬送されて恒温槽13内に入り、試験温度に
IC素子がなった状態で測定部14に自重で送られてそのIC
素子に対する各種測定（試験）が行われ、測定が終了し
たIC素子は自重で恒温槽13を出て、方向転換部15で移動
方向が変えられてバッファ用傾斜レール16に送られ、こ
の傾斜レール16を自重落下により通ってソータ17に達
し、ソータ17は測定結果に応じて各別の収納マガジン18
内にIC素子を分配供給する。ソータ17は複数の収納マガ
ジン18の配列方向に移動するため、IC素子をソータ17に
供給する際にそのIC素子があるバッファ用傾斜レール16
とソータ17とが一致するまでIC素子をバッファ用傾斜レ
ール16で一時停止させておく必要がある。

このため第５図に示すようにバッファ用傾斜レール16の
底面から、ストッパ19をストッパ用シリンダ21の制御に
より突出させ、IC素子22をストッパ19で受け止めて一時
停止させ、傾斜レール16にソータ17を一致させた状態で
ストッパ19を引込め、IC素子22をその自重でソータ17に
落下移動させている。

このようにIC素子22をストッパ19により一時停止させる
と、ストッパ19を引込めても、IC素子22の種類によって
は自重落下しない場合がある。また恒温槽13内を低温と
した低温環境試験では恒温槽13から出たIC素子22が急に
あたためられ、IC素子22に水滴が付き、IC素子22が傾斜
レールを円滑に流れなくなることがある。このため空気
ノズル23から空気をIC素子22に吹き付けて、一時停止し
たIC素子22を移動させたり、IC素子22に付いた水滴を除
去したりしていた。

「考案が解決しようとする課題」 IC素子22の自重落下による搬送時に、IC素子22が傾斜レ
ールから飛び出さないように、傾斜レール16の滑走面と
対向したルーフ24を設け、傾斜レール16とルーフ24とに
より上下からIC素子22が案内されるようにされている。
IC素子22の種類によりパッケージやピンの形状が異なる
ため、IC素子22の種類により傾斜レール16及びルーフ24
を取替えている。例えば第６図ＡはZIPパッケージのIC
素子22に対する傾斜レール16とルーフ24とを示し、第６
図ＢはDIPパッケージのIC素子22に対する傾斜レール16
とルーフ24とを示す。このように測定するIC素子22の種
類に適した傾斜レール16及びルーフ24を取替え使用する
ため、空気ノズル23はルーフ24の横の交換の必要がない
固定部に取付け、かつレール16やルーフ24の交換に邪魔
とならないように配置していた。このため空気ノズル23
の空気を斜め上からIC素子22に吹き付けることになり、
つまりIC素子22のパッケージのレールに沿う中心線にそ
の一端側から空気を吹き付けることができず、効率的な
空気の吹き付けを行うことができなかった。また空気ノ
ズル23が固定されているため、IC素子22のパッケージ形
状や大きさにより空気吹き付け効率が非常に悪くなる場
合もあった。

「課題を解決するための手段」 この考案によれば傾斜レールの途中に出入自在とされた
ストッパの突出端部に、傾斜レールに沿った方向に空気
を吹出すことができる吹出し口が形成され、この吹出し
口と連結されてチューブの一端がストッパに取付けら
れ、そのチューブの他端は空気源に連結され、またチュ
ーブの途中に制御信号により開閉制御される弁が挿入さ
れている。

このようになっているから、ストッパの吹出し口から空
気を吹出すことにより空気がIC素子のパッケージのレー
ルに沿う中心線の一端側に吹き付けられ、IC素子の種類
にかかわらず効率的に空気をIC素子に吹き付けることが
できる。

「実施例」 第１図にこの考案の実施例の要部を示し、この例はIC試
験装置中のソータ前段のバッファ用傾斜レール部分に適
用した場合で、第５図と対応する部分に同一符号を付け
てある。この例ではストッパ19の上流側に同様のストッ
パ25が傾斜レール16の底面からIC素子通路上に出入自在
に設けられ、ストッパ25はストッパ用シリンダ26により
出入制御される。このストッパ25は第２図に示すよう
に、ストッパ用シリンダ26は軸27に取付けられるが、こ
の軸27はシリンダ26の制御により軸方向には上下動する
が、図に示してないが、回転はなされないように回り止
めが施されている。ストッパ25の突出端部に傾斜レール
16に沿う方向に空気を吹出すことができる吹出し口28が
形成されている。吹出し口28の内端はストッパ25の軸心
位置に形成した空気通路29の上端と連結されている。空
気通路29の下端部は横孔31と連結され、更に横孔31と連
結されて空気継手32がストッパ25に取付けられる。空気
継手32にチューブ33の一端が連結される。チューブ33の
他端は第１図に示すように空気ポンプなどの空気源34に
連結される。チューブ33の途中に電磁弁35が挿入され
る。この例では吹出し口28は傾斜レール16と平行し、か
つその下流方向に向いている。

この構成においてストッパ19により停止されているIC素
子22を、ソータ（図示せず）へ供給する時は、ストッパ
19を引込めると共に電磁弁35を制御信号により開く、よ
って空気源34から空気がチューブ33を通り、更にストッ
パ25内を通ってその吹出し口28から空気がIC素子22にそ
の後方から吹き付けられ、IC素子22は円滑に滑走し、ソ
ータへ送られる。またIC素子22に付いた水滴を除去する
場合は、ストッパ19により停止されているIC素子22に対
して、空気源34の空気を吹出し口28から吹き付ければよ
い。このように水滴を除去する場合は、吹出し口28を上
流側に向け、IC素子を一時停止させているストッパから
そのIC素子に空気を吹き付ける構成としてもよい。

上述ではストッパをレールの底面から突出させたが、側
面から突出させる場合にもこの考案を適用できる。吹出
し口28から吹出す空気はあたためたものや乾燥させたも
のでもよい。

「考案の効果」 以上述べたようにこの考案によればストッパの端部に傾
斜レールに沿う方向に空気を吹出す吹出し口28を設けて
いるため、例えば第３図A,Bに示すようにIC素子22の種
類によらず、常にIC素子22のパッケージの傾斜レール16
に沿う方向の中心線の一端附近に空気を吹き付けるこが
でき、レールに引掛かったIC素子を移動させる場合も、
IC素子22の水滴を除去する場合も、吹き付けた空気が効
率的に作用する。なおストッパ25にチューブ33が取付け
られるが、ストッパ25の出入長は5mm程度に過ぎず、チ
ューブ33にわずかのたるみをもたせておけばよい。

【図面の簡単な説明】 第１図はこの考案の実施例の要部を示す側面図、第２図
はそのストッパ25の断面図、第３図A,Bはそれぞれ一時
停止中のIC素子とストッパの吹出し口28との関係例を示
す図、第４図はIC試験装置の概略を示す図、第５図は従
来の装置におけるバッファ用傾斜レール16附近を示す側
面図、第６図A,Bは従来の装置における一時停止中のIC
素子と空気ノズル23との関係を示す図である。

Claims (1)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】IC素子を傾斜したレールに供給して、その
   IC素子の自重落下によりIC素子を搬送させ、上記傾斜レ
   ールの途中においてIC素子の通路上にストッパが出入自
   在に設けられ、必要に応じてそのストッパを突出させて
   IC素子の搬送を一時停止させることができるIC試験装置
   において、 上記ストッパの突出端部に、上記傾斜レールに沿った方
   向に空気を吹出すことができる吹出し口が形成され、 その吹出し口と連結されてチューブの一端が上記ストッ
   パに取付けられ、 上記チューブの他端は空気源に連結され、 上記チューブに、制御信号により開閉制御される弁が挿
   入されているIC試験装置。