JPH0714363U - 穀粒の品質判定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【目的】 穀粒の透過光量で穀粒の品質を判別する穀粒
の品質判別装置において、透過光量データの読み込み時
間を限定することで比較的処理能力の低い演算処理装置
でも処理できるようにする。 【構成】 穀粒を受ける凹溝２を周縁に形成した円盤１
に目印４を設け、この目印４を感知する目印センサ５の
目印４の通過を感知した感知信号の出力でタイマー手段
８を作動して設定時間毎に穀粒の透過光量に相当する測
定データのみを中央演算装置６に入力して処理する。

Description

【考案の詳細な説明】

【０００１】

【産業上の利用分野】

本考案は、穀粒を透過する透過光量によって穀粒が整粒であるか被害粒あるい は死米であるか等の判別を行う穀粒の品質判定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】

穀粒の品質判定装置は、例えば実開平２−８３４５５号公報に記載されている ように、回転円板の外周縁部に試料採取孔を設けると共にこれに対応して内側に タイミング孔を設けて、タイミング孔の通過を検出すると測定データが穀粒のも のであると判断して演算処理している。

【０００３】

【考案が解決しようとする課題】

従来の穀粒の品質判定装置では、測定データを全て取り込んで演算処理してい る。このため、処理容量の多い演算装置が必要となり演算処理装置が大型化する 。 そこで、本考案では、穀粒の測定データのみを取り込んで演算処理すべく次の 如く構成した。

【０００４】

【課題を解決するための手段】

円盤１の外周縁に穀粒受け用凹溝２を所定間隔で設け、この凹溝２が透過光量 測定器３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄの測定位置を通過すべく円盤１を回転させた穀粒 の品質判定装置において、透過光量測定器３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄで測定する測 定データの内、穀粒の測定データのみを中央演算装置６に取り込むべく、前記円 盤１に目印４を設けると共にこの目印の通過を感知する目印センサ５を設け、設 定時間毎にデータの取り込み作動をするタイマー手段８を目印センサ５の感知信 号により作動するよう設けた。

【０００５】

【考案の作用及び効果】 円盤１は所定の回転数で回転させているので、透過光量測定器３ａ，３ｂ，３ ｃ，３ｄの位置を穀粒受け凹溝２が通過するタイミングは決まっている。従って 、目印センサ５で目印４を検出した後、穀粒受け凹溝２が透過光量測定器３ａ， ３ｂ，３ｃ，３ｄの位置を通過する際の測定データをタイマー手段８で透過光量 データとして中央演算装置６に取り込み処理することで穀粒の品質を判定して表 示あるいは穀粒品質データとして記憶する。 このように穀粒の透過光量データのみを中央演算装置６に取り込んでいるので 、不要のデータ処理を無くし、迅速なデータ処理となり、比較的処理性能の低い 演算処理装置で品質判定装置の制御を構成できコストダウンとなる。

【０００６】

【実施例】

図１と図２に示す穀粒の品質判定装置で本考案の実施例を説明する。 直方体状のケース１０を四本の支脚１１で支持し、ケース１０の上面にはサン プル穀粒を供給するホッパー１２を設け、ケース１０の下面には側方へ向けて判 定済の穀粒を排出する取出シュート１３を設けている。 ケース１０の内部中央には、モータ１４で水平回転するように円盤１を設けて いる。この円盤１は透明で、外周縁に穀粒の長手方向を放射方向へ向けるようＶ 字状の凹溝２を所定間隔で全周にわたって設けている。また、円盤６の周縁には 、凹溝２を上下から挾み込むように４個の透過光量測定器３ａ，３ｂ，３ｃ，３ ｄを設けている。

【０００７】 透過光量測定器３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄは、図３と図４に示すように、下側に 発光体１５を設け、この発光体１５から出た光がスリット１６を通り円盤１の凹 溝２を上方へ透過するようにし、凹溝２内の穀粒を通過した透過光量を上側に設 けた受光量検出センサ１７で測定するようにしている。 各透過光量測定器３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄは、スリット１６と受光量検出セン サ１７の位置を円盤１の回転方向に向って順次凹溝２の内側、外側、中央、中央 にして穀粒の位置が凹溝２の中央から外側あるいは内側にずれた場合にも、どれ かの透過光量検出センサ１７が穀粒の中央部の透過光量を測定できるようにして いる。

【０００８】 円盤１外周の凹溝２位置の１つには、受光量検出センサ１７の汚れを受光面に 摺接して取り除くスポンジ１８を取り付け、さらに凹溝２の汚れ程度を検出する 判定基準マーク７を取り付けている。 さらに凹溝２の内側に位置して目印４を設け、この目印４の通過を検出する目 印センサ５をケース１０側に取り付けている。

【０００９】 円盤１の凹溝上方位置にはサンプル粒の供給ホッパー３の供給口１９が開口し 、穀粒を凹溝２内へ一粒ずつ供給するようにしている。また、取出シュート１３ の受口２０が送り円盤１の外周下方に開口し、この上方で凹溝２内を外方へ掃く ように回転させるブラシ２１で凹溝２内の穀粒を取出シュート１３の受口２０内 へ落下させて外部へ排出するようにしている。

【００１０】 ケース１０の側面には、サンプル穀粒の品質判定結果が整粒率と等級で表示さ れるよう表示部２４を設けている。 透過光量測定器３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄの受光量検出センサ１７が受光する光 量は同じ整粒を測定していても、円盤１の汚れや変色によって出力が低下するの で、判定基準マーク７の出力に応じて例えば初期の基準マーク７の透過光量変換 電圧が１．１０Ｖの場合には、次の如く出力を補正する。

【００１１】

【数１】

【００１２】 次に、透過光量データの処理状態を図５のブロック図で説明する。 目印センサ５から目印４の通過を感知してその感知信号がタイマー手段８へ入 力する。タイマー手段８へは透過光量測定器３ａ，３ｂ，３ｃ，３ｄから常時測 定する透過光量データが入力されているが、凹溝２の位置での測定データのみが 前記感知信号の入力時からの経過時間によって所定間隔毎にタイマー手段８から 中央演算装置６へ入力される。 中央演算装置６には、電源スイッチ２５のＯＮ・ＯＦＦ信号が入り、タイマー 手段８を介して入力する透過光量データを前記のデータ修正を行って、記憶装置 ＲＯＭ２３に記憶された判別データと等級データに比較され、その判別結果が別 の記憶装置２２に記憶されると共に、表示部２４に表示される。

【図面の簡単な説明】

【図１】本考案装置の平断面図である。

【図２】本考案装置の正面図である。

【図３】一部の拡大側断面図である。

【図４】一部の平断面図である。

【図５】データ処理制御部のブロック図である。

【符号の説明】

１ 円盤 ２ 穀粒受け凹溝 ３ 透過光量検出センサ ４ 目印 ５ センサ ６ 中央演算装置 ７ 判定基準マーク

Claims (2)

【実用新案登録請求の範囲】
1. 【請求項１】 円盤（１）の外周縁に穀粒受け用凹溝
   （２）を所定間隔で設け、この凹溝（２）が透過光量測
   定器（３ａ），（３ｂ），（３ｃ），（３ｄ）の測定位
   置を通過すべく円盤（１）を回転させた穀粒の品質判定
   装置において、透過光量測定器（３ａ），（３ｂ），
   （３ｃ），（３ｄ）で測定する測定データの内、穀粒の
   測定データのみを中央演算装置（６）に取り込むべく、
   前記円盤（１）に目印（４）を設けると共にこの目印
   （４）の通過を感知する目印センサ（５）を設け、設定
   時間毎にデータの取り込み作動をするタイマー手段
   （８）を目印センサ（５）の目印（４）を感知する感知
   信号により作動するよう設けてなる穀粒の品質測定装
   置。
2. 【請求項２】 穀粒受け用凹溝２の１つに判定基準マー
   ク（７）を設け、この判定基準マーク（７）の透過光量
   変化に応じて穀粒の透過光量値を補正すべくしてなる請
   求項１に記載の穀粒の品質判定装置。