JPH01318943A - 籾・玄米割合検出装置 - Google Patents
籾・玄米割合検出装置Info
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- JPH01318943A JPH01318943A JP15272388A JP15272388A JPH01318943A JP H01318943 A JPH01318943 A JP H01318943A JP 15272388 A JP15272388 A JP 15272388A JP 15272388 A JP15272388 A JP 15272388A JP H01318943 A JPH01318943 A JP H01318943A
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- grains
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Landscapes
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Adjustment And Processing Of Grains (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、籾・玄米割合検出装置に関し、脱稈ロール
の間隙制御等に利用しうる。
の間隙制御等に利用しうる。
〔従来技術及び発明が解決しようとする課題〕混合米の
籾・玄米割合を求めて、所謂脱fl率制御を行なう形態
は公知である。従来、サンプル粒を一粒毎に発光部と受
光部とを対設する光学的センサを用いてその透過光量差
で籾か玄米かを判定し、籾・玄米割合を算出しうる構成
としている。
籾・玄米割合を求めて、所謂脱fl率制御を行なう形態
は公知である。従来、サンプル粒を一粒毎に発光部と受
光部とを対設する光学的センサを用いてその透過光量差
で籾か玄米かを判定し、籾・玄米割合を算出しうる構成
としている。
従って、サンプル粒が受光面一部を通過する等して正確
な玄米検出レベルを得られない場合にあっては、総粒数
にも差異を生じて脱稈率算出に狂いを生じる。
な玄米検出レベルを得られない場合にあっては、総粒数
にも差異を生じて脱稈率算出に狂いを生じる。
この発明は、上記の欠点を解消しようとし、次の技術的
手段を講じた。
手段を講じた。
即ち、混合米のサンプル粒通過部に、発光部と受光部と
を対向させ透過光量差にて一粒毎に少なくとも籾(又は
玄米)判定しうる光学センサを設けると共に、通過サン
プル粒数を検出しつる圧電素子型センサを設け、検出粒
数及び籾(又は玄米)粒数とから籾玄米割合を算出する
算出手段を設けてなる籾・玄米割合検出装置の構成とす
る。
を対向させ透過光量差にて一粒毎に少なくとも籾(又は
玄米)判定しうる光学センサを設けると共に、通過サン
プル粒数を検出しつる圧電素子型センサを設け、検出粒
数及び籾(又は玄米)粒数とから籾玄米割合を算出する
算出手段を設けてなる籾・玄米割合検出装置の構成とす
る。
又、籾・玄米割合を光学センサの検出結果に基づいて算
出しながら、圧電素子型センサによる検出粒数と光学セ
ンサによる検出籾数乃至玄米数の合計数とを比較する比
較手段を設け、当該粒数と合計数とが一致しない場合に
はサンプル粒の合計を粒数検出センサの検出結果に基づ
いて算出すべく補正する補正手段を設けてなる籾・玄米
割合検出装置の構成とする。
出しながら、圧電素子型センサによる検出粒数と光学セ
ンサによる検出籾数乃至玄米数の合計数とを比較する比
較手段を設け、当該粒数と合計数とが一致しない場合に
はサンプル粒の合計を粒数検出センサの検出結果に基づ
いて算出すべく補正する補正手段を設けてなる籾・玄米
割合検出装置の構成とする。
サンプル粒は光学センサと圧電素子型センサの両方で信
号処理される。前者では主に籾判別に用いられ、後者で
は通過サンプルの全粒数をカウントするために用いられ
る。このように検出内容を分担させ、両検出結果から玄
米粒数を減算して求めるものである。
号処理される。前者では主に籾判別に用いられ、後者で
は通過サンプルの全粒数をカウントするために用いられ
る。このように検出内容を分担させ、両検出結果から玄
米粒数を減算して求めるものである。
従って、光学センサを単一に設けて透過光量の差により
籾・玄米の夫々に区別する形態よりも、本発明の光学セ
ンサは籾条件に適応した発光、受光状態を得ることがで
き、検出精度が向上する。
籾・玄米の夫々に区別する形態よりも、本発明の光学セ
ンサは籾条件に適応した発光、受光状態を得ることがで
き、検出精度が向上する。
又、光学センサをもって、籾・玄米判別を行なわせる構
成とし、このセンサによる籾・玄米各粒数の合計と、圧
電素子型センサによる粒数とを比較し、それらに差異が
あり、又は所定以上にかけ離れた場合には、光学センサ
による検出結果を補正して総粒数を圧電素子型センサの
検出結果によらせることもできる。当該補正においても
玄米検出精度をそれほど高く要求されず、切側検出に重
点をおくことができる。
成とし、このセンサによる籾・玄米各粒数の合計と、圧
電素子型センサによる粒数とを比較し、それらに差異が
あり、又は所定以上にかけ離れた場合には、光学センサ
による検出結果を補正して総粒数を圧電素子型センサの
検出結果によらせることもできる。当該補正においても
玄米検出精度をそれほど高く要求されず、切側検出に重
点をおくことができる。
この発明の一実施例を図面に基づき説明する。
1は説得部で、上部に供給漏斗2を有し、この供給漏斗
2部からの籾を説得処理する対の脱!lロール3,4等
からなる。
2部からの籾を説得処理する対の脱!lロール3,4等
からなる。
これら説得ロール3.4の一方は、説得部1フレーム5
に直接支持される回転軸6に軸支される。
に直接支持される回転軸6に軸支される。
又、他方は、該フレーム5に支軸7を介して揺動自在に
設ける揺動部材8に支持する移動軸9をもって軸支され
ている。上記固定軸6は駆動力を入力する構成であり、
該固定軸6上のギア10から中間ギア11.12を介−
して移動軸9上のギア13に異なる回転数及び方向の回
転が伝達される構成である。
設ける揺動部材8に支持する移動軸9をもって軸支され
ている。上記固定軸6は駆動力を入力する構成であり、
該固定軸6上のギア10から中間ギア11.12を介−
して移動軸9上のギア13に異なる回転数及び方向の回
転が伝達される構成である。
上記説得フレーム5の一側部には筒状部14を形成し、
この筒状部14に設定ダイヤル15と一体回転可能の筒
状部材16を嵌入位置させ、先端螺子部17が前記揺動
部材8に螺合する連動アーム18の基部を回転連動可能
に支持している。即ち、設定ダイヤル15の正逆回転は
そのまま筒状部材16.係止突条19.係止ピン20等
をもって連動アーム18に伝えられ、揺動部材8を支軸
7回りに左右揺動自在に構成する。
この筒状部14に設定ダイヤル15と一体回転可能の筒
状部材16を嵌入位置させ、先端螺子部17が前記揺動
部材8に螺合する連動アーム18の基部を回転連動可能
に支持している。即ち、設定ダイヤル15の正逆回転は
そのまま筒状部材16.係止突条19.係止ピン20等
をもって連動アーム18に伝えられ、揺動部材8を支軸
7回りに左右揺動自在に構成する。
21は制御モータで、正逆転しうる構成であり、上記設
定ダイヤル15に一体的に設けるギア22と該制御モー
タ21の出力軸に設けるモータギア23とを噛合させて
、当該制御モータ21の正転により対の説得ロール3,
4間隙を縮小し、逆回転すれば該間隔を拡大する構成で
ある(ロール間隙調節機構)。
定ダイヤル15に一体的に設けるギア22と該制御モー
タ21の出力軸に設けるモータギア23とを噛合させて
、当該制御モータ21の正転により対の説得ロール3,
4間隙を縮小し、逆回転すれば該間隔を拡大する構成で
ある(ロール間隙調節機構)。
上記供給漏斗2下方開口部には支軸回りに回動自在にシ
ャッタ25を設け、図外の調節レバーによってその供給
口開度を調節設定可能となすと共に、ソレノイド26の
励磁によって閉じ位置から全開位置に回動じつる構成と
している。
ャッタ25を設け、図外の調節レバーによってその供給
口開度を調節設定可能となすと共に、ソレノイド26の
励磁によって閉じ位置から全開位置に回動じつる構成と
している。
前記説得ロール3,4の下部には選別風路27が形成さ
れ、該説得ロール3,4間を通過した摺り出し米中の籾
殻・塵埃や糧は吸引ファン28の作用で分離され該籾殻
・塵埃は排塵胴29を経て機外に排出され、枡は選別風
路27途中から下方に集積される。
れ、該説得ロール3,4間を通過した摺り出し米中の籾
殻・塵埃や糧は吸引ファン28の作用で分離され該籾殻
・塵埃は排塵胴29を経て機外に排出され、枡は選別風
路27途中から下方に集積される。
風選処理された摺り出し米、即ち籾と玄米との混合米は
受樋30、移送螺旋31、及び揚穀スロワ−32を経て
回転選別部33に至る構成である。
受樋30、移送螺旋31、及び揚穀スロワ−32を経て
回転選別部33に至る構成である。
上記回転選別部33は、選別筒34、混合米移送樋35
、仕上米樋36等からなる。選別筒34は、その内周面
に多数の壷穴37,37が形成され、略水平軸心で、か
つ回転連動可能に設けられる。これら混合米移送樋35
、仕上米樋36の夫々には、移送螺旋38.39を備え
、混合米移送樋35は混合米案内筒40から選別筒34
の始端部に混合米を供給すべく構成する。また、仕上米
樋36は、上記壷穴で掬われて高位置に持ち上げられる
玄米を受けて移送する構成である。尚、低位置で壷穴か
ら脱落する穀粒一部は、上記混合米移送樋35で受けら
れて再度始端側に戻されるよう、受入口は、移送始端側
を除く略全長にわたり。
、仕上米樋36等からなる。選別筒34は、その内周面
に多数の壷穴37,37が形成され、略水平軸心で、か
つ回転連動可能に設けられる。これら混合米移送樋35
、仕上米樋36の夫々には、移送螺旋38.39を備え
、混合米移送樋35は混合米案内筒40から選別筒34
の始端部に混合米を供給すべく構成する。また、仕上米
樋36は、上記壷穴で掬われて高位置に持ち上げられる
玄米を受けて移送する構成である。尚、低位置で壷穴か
ら脱落する穀粒一部は、上記混合米移送樋35で受けら
れて再度始端側に戻されるよう、受入口は、移送始端側
を除く略全長にわたり。
上部拡開すべく断面逆ハ字型に形成されている。
41は、仕上米樋36の混合米掻き上げ側に設けられる
仕上弁で、機外の任意調節レバー(図示せず)操作で角
度調節自在に構成している。
仕上弁で、機外の任意調節レバー(図示せず)操作で角
度調節自在に構成している。
上記仕上米樋36の終端部は玄米流下筒42にのぞませ
、該流下玄米は受樋43を経て玄米樋44に至り、移送
螺旋45を介して揚穀機46に向けて移送され該揚穀機
46出口から機外に取り出される構成としている。
、該流下玄米は受樋43を経て玄米樋44に至り、移送
螺旋45を介して揚穀機46に向けて移送され該揚穀機
46出口から機外に取り出される構成としている。
選別筒34の終端側内周面には、揚穀羽根47゜47を
配設し、選別筒34の終端部に至る一部玄米を含んだ籾
を、受4iff!48.還元通路49を経て供給漏斗2
に還元する構成としている。50は繰込ロールである。
配設し、選別筒34の終端部に至る一部玄米を含んだ籾
を、受4iff!48.還元通路49を経て供給漏斗2
に還元する構成としている。50は繰込ロールである。
51はサンプル検出ケースで、振動するシュート52終
端部には、上方の発光素子53と下方の受光素子54と
からなる光学センサ55を、この光学センサ55の下手
側において、圧電素子型のセンサ56を設けである。こ
のうち、光学センサ55は、前記混合米揚穀スロワ32
途中部からサンプリングi65を介して供給される混合
米を受けて一粒毎に透過光量を検出して後記の演算制御
部においてサンプル粒が少なくとも籾であることを判別
しうるちのとしている。即ち、籾と玄米とでは光学セン
サ55による検出出力(例えば出力電圧)に差を生じ、
透過光量の少ない切側か高く出力される回路構成として
おき、一定の出力レベル(しきい値)を越えるものが籾
であると判定しながら籾の検出粒数を把握しろる構成で
ある。−方、圧電素子型センサ56は、籾か玄米かに拘
らずその検出面に衝突する穀粒毎に検出出力を生じ、そ
れらを波形処理して全粒数を算出できる。即ち、穀粒の
衝突による検出出力は、増幅処理、半波整流処理、波形
立上り変化検出処理等がなされ、−粒毎に矩形波とされ
、基11!電圧を超えるものが粒信号として後記演算制
御部に取り込まれる。これをカウントすることによって
粒数を算出できる。
端部には、上方の発光素子53と下方の受光素子54と
からなる光学センサ55を、この光学センサ55の下手
側において、圧電素子型のセンサ56を設けである。こ
のうち、光学センサ55は、前記混合米揚穀スロワ32
途中部からサンプリングi65を介して供給される混合
米を受けて一粒毎に透過光量を検出して後記の演算制御
部においてサンプル粒が少なくとも籾であることを判別
しうるちのとしている。即ち、籾と玄米とでは光学セン
サ55による検出出力(例えば出力電圧)に差を生じ、
透過光量の少ない切側か高く出力される回路構成として
おき、一定の出力レベル(しきい値)を越えるものが籾
であると判定しながら籾の検出粒数を把握しろる構成で
ある。−方、圧電素子型センサ56は、籾か玄米かに拘
らずその検出面に衝突する穀粒毎に検出出力を生じ、そ
れらを波形処理して全粒数を算出できる。即ち、穀粒の
衝突による検出出力は、増幅処理、半波整流処理、波形
立上り変化検出処理等がなされ、−粒毎に矩形波とされ
、基11!電圧を超えるものが粒信号として後記演算制
御部に取り込まれる。これをカウントすることによって
粒数を算出できる。
57は駆動モータで、前記説得部1の固定側ロール3を
支持する回転軸6をベルト等を介して回転連動し、且つ
適宜減速機構を介して選別選別部33を回転連動する構
成である。
支持する回転軸6をベルト等を介して回転連動し、且つ
適宜減速機構を介して選別選別部33を回転連動する構
成である。
第4図はブロック図で、58は制御プログラムやデータ
等を格納するメモリを有するマイクロコンピュータの演
算制御部(CP U)であって、算術論理演算及び比較
演算を行なう。入力情報としては、前記サンプル検出ケ
ース51内の光学センサ55及び圧電素子型センサ56
からの検出出力、駆動モータ57の負荷電流検出器(C
,T)59からの検出出力等があり、一方、出力情報と
しては前記制御モータ21の正転乃至逆転出力、前記シ
ャッタ25を全開に連動するソレノイド26の励磁出力
等がある。図において、60は上記正転出力を受けて制
御モータ21を正転する正転駆動回路、61は逆転出力
を受けるモータ21逆転駆動回路、62はシャッタ25
のソレノイド励磁回路である。尚、CPU58の主な機
能は次のとおりである。■操作盤面に配設する起動スイ
ッチ63の投入信号を受けて駆動モータ57に駆動指令
信号を出力する。■当該スイッチ63の信号によって制
御モータ21に逆転信号を間歇的に出力し、C,T59
の負荷電流情報が変化しないと判断すると、制御モータ
21に回転停止信号を出力する。
等を格納するメモリを有するマイクロコンピュータの演
算制御部(CP U)であって、算術論理演算及び比較
演算を行なう。入力情報としては、前記サンプル検出ケ
ース51内の光学センサ55及び圧電素子型センサ56
からの検出出力、駆動モータ57の負荷電流検出器(C
,T)59からの検出出力等があり、一方、出力情報と
しては前記制御モータ21の正転乃至逆転出力、前記シ
ャッタ25を全開に連動するソレノイド26の励磁出力
等がある。図において、60は上記正転出力を受けて制
御モータ21を正転する正転駆動回路、61は逆転出力
を受けるモータ21逆転駆動回路、62はシャッタ25
のソレノイド励磁回路である。尚、CPU58の主な機
能は次のとおりである。■操作盤面に配設する起動スイ
ッチ63の投入信号を受けて駆動モータ57に駆動指令
信号を出力する。■当該スイッチ63の信号によって制
御モータ21に逆転信号を間歇的に出力し、C,T59
の負荷電流情報が変化しないと判断すると、制御モータ
21に回転停止信号を出力する。
■当該停止時の負荷電流を記憶し、続いて制御モータ2
1正転信号を出力し、負荷電流変化が生ずると(脱稈ロ
ール3,4微接触状態)、回転停止信号を出力する。■
制御モータ21に逆転指令信号を所定時間、例えば脱珪
ロール間隙が0.8mに見合うだけの時間継続出力する
(脱稈ロール間隙初期設定手段)。■■の完了後乃至そ
の途中。
1正転信号を出力し、負荷電流変化が生ずると(脱稈ロ
ール3,4微接触状態)、回転停止信号を出力する。■
制御モータ21に逆転指令信号を所定時間、例えば脱珪
ロール間隙が0.8mに見合うだけの時間継続出力する
(脱稈ロール間隙初期設定手段)。■■の完了後乃至そ
の途中。
シャツタ25ソレノイド26励磁信号を出力する。
■脱桴ロール間隙初期設定動作完了後、所定時間tこの
間隙を維持継続すべくタイマ機構を動作せしめ、当該時
間を内にサンプル検出ケース51通過のサンプル穀粒に
ついて光学センサ55による検出電圧V情報を読み込み
、出現頻度の高いサンプル粒の平均値を求めて夫々籾基
準電圧Vm、玄米粒基準電圧Vgとし、これらの中間電
圧を籾・米判別電圧V、即ちしきい値として演算算出す
る。
間隙を維持継続すべくタイマ機構を動作せしめ、当該時
間を内にサンプル検出ケース51通過のサンプル穀粒に
ついて光学センサ55による検出電圧V情報を読み込み
、出現頻度の高いサンプル粒の平均値を求めて夫々籾基
準電圧Vm、玄米粒基準電圧Vgとし、これらの中間電
圧を籾・米判別電圧V、即ちしきい値として演算算出す
る。
■■の判別電圧を基準にこれを越えるものを籾と判定し
、それらの粒数をカウントする(Xm)。
、それらの粒数をカウントする(Xm)。
■圧電素子型センサ56の検出出力を取り込み、それら
をカウントしてサンプル粒数を検出する(Xt)。当該
検出粒数Xtが予め設定する所定粒数(例えば500粒
)に達する毎に、[(Xt−Xm)/Xtl X100
・・・%をもって脱桴率を算出する。
をカウントしてサンプル粒数を検出する(Xt)。当該
検出粒数Xtが予め設定する所定粒数(例えば500粒
)に達する毎に、[(Xt−Xm)/Xtl X100
・・・%をもって脱桴率を算出する。
■上記設定時間を経過後は、■の検出脱桴率と予め設定
する設定脱桴率とを比較しつつ、制御モータ21に正・
逆転信号を上記検出粒数Xtにて設定されるタイミング
毎に出力する(脱fl率制御手段)。[相]停止スイッ
チ64の入力信号を受けて駆動モータ57停止信号を出
力する。等である。
する設定脱桴率とを比較しつつ、制御モータ21に正・
逆転信号を上記検出粒数Xtにて設定されるタイミング
毎に出力する(脱fl率制御手段)。[相]停止スイッ
チ64の入力信号を受けて駆動モータ57停止信号を出
力する。等である。
第7図はサンプル検出ケース51の別実施例を示し、振
動シュート52の始端側に、混合米のサンプリング筒6
5に加えて選別部から脱桴部への穀粒還元通路の途中か
らサンプル粒を取り出すサンプリングn66をのぞませ
、サンプル混合米とサンプル還元米とを交互乃至所定タ
イミング毎に、籾・玄米割合やサンプル粒数が検出でき
る構成としている。
動シュート52の始端側に、混合米のサンプリング筒6
5に加えて選別部から脱桴部への穀粒還元通路の途中か
らサンプル粒を取り出すサンプリングn66をのぞませ
、サンプル混合米とサンプル還元米とを交互乃至所定タ
イミング毎に、籾・玄米割合やサンプル粒数が検出でき
る構成としている。
上側の作用について説明する。
予め希望の脱桴率を設定し起動スイッチ63をONする
。駆動モータ57は起動し、脱f・1ロール3.4間隙
初期設定動作が行なわれ、これが完了しまたはその途中
、ソレノイド26は励磁してシャッタ25を開く。
。駆動モータ57は起動し、脱f・1ロール3.4間隙
初期設定動作が行なわれ、これが完了しまたはその途中
、ソレノイド26は励磁してシャッタ25を開く。
供給漏斗2からの籾は、間隙設定された脱170−ル3
,4間を通過するうち脱flされ、風選処理された混合
米は混合米案内筒18.混合米移送樋33等を経て選別
筒32内に供給される。
,4間を通過するうち脱flされ、風選処理された混合
米は混合米案内筒18.混合米移送樋33等を経て選別
筒32内に供給される。
上記の混合米はサンプル検出ケース51に一部供給され
る。そして光学センサ55にて籾の数がカウントされ、
一方、総粒数は圧電素子型センサ56をもって検出され
る。これらセンサ55,56の検出粒数を元に脱fL率
が算出され、所謂脱桴率制御に移行する。この検出脱桴
率が前記設定脱桴率との比較において適正範囲内にある
ときは脱桴ロール間隙はそのまま維持され、この設定脱
桴率よりも低いときは制御モータ21正転出力によって
可動ロール4は固定ロール3に接近し、ロール間隙は縮
小し脱fl率を高める。又、検出脱桴率が高過ぎるとき
は逆に制御モータ21逆転出力によって移動ロール4は
離反しロール間隙を拡開する。籾摺選別作業中は定期的
に脱桴率を検出して上記のような制御を繰り返す。゛ 選別部33においては、選別筒34は回転しなから壷穴
37,37で混合米を掬い上げ、玄米は仕上弁23を越
えて仕上米樋36に回収され、長粒の籾は重心が高く比
較的低位置で壷穴から脱落し混合米層に戻される。選別
筒34始端側から終端側に亘り上記選別を繰り返し籾と
玄米に分難する。尚、玄米は受樋43.玄米樋44.揚
穀機46等を経て機外に取り出される。
る。そして光学センサ55にて籾の数がカウントされ、
一方、総粒数は圧電素子型センサ56をもって検出され
る。これらセンサ55,56の検出粒数を元に脱fL率
が算出され、所謂脱桴率制御に移行する。この検出脱桴
率が前記設定脱桴率との比較において適正範囲内にある
ときは脱桴ロール間隙はそのまま維持され、この設定脱
桴率よりも低いときは制御モータ21正転出力によって
可動ロール4は固定ロール3に接近し、ロール間隙は縮
小し脱fl率を高める。又、検出脱桴率が高過ぎるとき
は逆に制御モータ21逆転出力によって移動ロール4は
離反しロール間隙を拡開する。籾摺選別作業中は定期的
に脱桴率を検出して上記のような制御を繰り返す。゛ 選別部33においては、選別筒34は回転しなから壷穴
37,37で混合米を掬い上げ、玄米は仕上弁23を越
えて仕上米樋36に回収され、長粒の籾は重心が高く比
較的低位置で壷穴から脱落し混合米層に戻される。選別
筒34始端側から終端側に亘り上記選別を繰り返し籾と
玄米に分難する。尚、玄米は受樋43.玄米樋44.揚
穀機46等を経て機外に取り出される。
上記実施例において、脱桴率の算出にあたっては、光学
センサ55の検出結果のみに基づいて籾・玄米判別を行
なわせるものでなく、当該光学センサ55には主に籾の
粒数検出を行なわせ、総粒数把握には各別の圧電素子型
センサ56を用いるから、光学センサ55において籾検
出の条件に最適となるよう発光部や受光部を設定できる
利点がある。
センサ55の検出結果のみに基づいて籾・玄米判別を行
なわせるものでなく、当該光学センサ55には主に籾の
粒数検出を行なわせ、総粒数把握には各別の圧電素子型
センサ56を用いるから、光学センサ55において籾検
出の条件に最適となるよう発光部や受光部を設定できる
利点がある。
尚、上記実施例においては、籾の検出レベルを自動設定
しうる形態としたが、籾と玄米との検出レベルの分布が
、第5図(イ)のようになり、籾・玄米出力が明確であ
るときは差し支えないが、同図(ロ)のようにそれらの
境界が明確でない場合には、しきい値を任意に移動でき
る形態とすれば、現実の作業条件に最適の説得率算出を
行なえて便利である。具体的には、前記演算制御部58
への入力側に補正ダイアル67を設定して、自動設定さ
れる籾検出レベル(しきい値)を高低に補正できる構成
とする。
しうる形態としたが、籾と玄米との検出レベルの分布が
、第5図(イ)のようになり、籾・玄米出力が明確であ
るときは差し支えないが、同図(ロ)のようにそれらの
境界が明確でない場合には、しきい値を任意に移動でき
る形態とすれば、現実の作業条件に最適の説得率算出を
行なえて便利である。具体的には、前記演算制御部58
への入力側に補正ダイアル67を設定して、自動設定さ
れる籾検出レベル(しきい値)を高低に補正できる構成
とする。
尚、上記実施例では、光学センサ55をもって籾の粒数
検出専用としたが、従来のように、当該センサ55をも
って籾・玄米判別を行なわせ、両者のトータル粒数と圧
電素子型センサの検出粒数とが一致するか否か比較しつ
つ、総粒数を圧電素子型センサ56検出値に補正して脱
!1率等を算出する形態としてもよく、この場合には光
学センサ55自体の汚損状態確認の目安として利用でき
る。
検出専用としたが、従来のように、当該センサ55をも
って籾・玄米判別を行なわせ、両者のトータル粒数と圧
電素子型センサの検出粒数とが一致するか否か比較しつ
つ、総粒数を圧電素子型センサ56検出値に補正して脱
!1率等を算出する形態としてもよく、この場合には光
学センサ55自体の汚損状態確認の目安として利用でき
る。
即ち、光学センサ55による総検出粒数と、圧電素子型
センサ56による検出粒数との差が徐々に拡大し、適正
範囲から外れる頻度が高くなると上記汚損が進行したも
のと判断される。又、上記差が確認されるときは、砕米
粒や小粒玄米が多く存在するものであると推察される。
センサ56による検出粒数との差が徐々に拡大し、適正
範囲から外れる頻度が高くなると上記汚損が進行したも
のと判断される。又、上記差が確認されるときは、砕米
粒や小粒玄米が多く存在するものであると推察される。
本実施例では、光学センサ55をもって主として籾の判
定を行なわせる形態としたが、出力電圧を逆特性として
玄米側が高く出力しうる回路構成をとれば、玄米の判定
を主として行なわせることも容易である。
定を行なわせる形態としたが、出力電圧を逆特性として
玄米側が高く出力しうる回路構成をとれば、玄米の判定
を主として行なわせることも容易である。
図はこの発明の一実施例を示すもので、第1図は全体側
断面図、第2図はその背断面図、第3図は要部の断面図
、第4図は制御ブロック図、第5図(イ)(ロ)は光学
センサ出力電圧−出現頻度一例をあられすグラフ、第6
図はサンプル検出ケースの断面図、第7図はサンプル検
出ケースの別実施例を示す断面図である。 図中、3,4は説得ロール、21は制御モータ、51は
サンプル検出ケース、55は光学センサ。 56は圧電素子型センサ、58は演算制御部を示す。
断面図、第2図はその背断面図、第3図は要部の断面図
、第4図は制御ブロック図、第5図(イ)(ロ)は光学
センサ出力電圧−出現頻度一例をあられすグラフ、第6
図はサンプル検出ケースの断面図、第7図はサンプル検
出ケースの別実施例を示す断面図である。 図中、3,4は説得ロール、21は制御モータ、51は
サンプル検出ケース、55は光学センサ。 56は圧電素子型センサ、58は演算制御部を示す。
Claims (2)
- (1)混合米のサンプル粒通過部に、発光部と受光部と
を対向させ透過光量差にて一粒毎に少なくとも籾(又は
玄米)判定しうる光学センサを設けると共に、通過サン
プル粒数を検出しうる圧電素子型センサを設け、検出粒
数及び籾(又は玄米)粒数とから籾玄米割合を算出する
算出手段を設けてなる籾・玄米割合検出装置。 - (2)混合米のサンプル粒通過部に、発光部と受光部と
を対向させ一粒毎に透過光量差にて籾乃至玄米に判定し
うる光学センサを設けると共に、サンプル粒通過粒数を
検出しうる圧電素子型センサを設け、上記光学センサの
検出結果に基づいて籾・玄米割合を算出する算出手段を
設け、上記圧電素子型センサによる検出粒数と光学セン
サによる検出籾数乃至玄米数の合計数とを比較する比較
手段を設け、当該粒数と合計数とが一致しない場合には
サンプル粒の合計を粒数検出センサの検出結果に基づい
て算出すべく補正する補正手段を設けてなる籾・玄米割
合検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15272388A JPH01318943A (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | 籾・玄米割合検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15272388A JPH01318943A (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | 籾・玄米割合検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH01318943A true JPH01318943A (ja) | 1989-12-25 |
Family
ID=15546744
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15272388A Pending JPH01318943A (ja) | 1988-06-20 | 1988-06-20 | 籾・玄米割合検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH01318943A (ja) |
-
1988
- 1988-06-20 JP JP15272388A patent/JPH01318943A/ja active Pending
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