JPH07260836A - 閾値測定回路 - Google Patents
閾値測定回路Info
- Publication number
- JPH07260836A JPH07260836A JP6049460A JP4946094A JPH07260836A JP H07260836 A JPH07260836 A JP H07260836A JP 6049460 A JP6049460 A JP 6049460A JP 4946094 A JP4946094 A JP 4946094A JP H07260836 A JPH07260836 A JP H07260836A
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- Japan
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Abstract
(57)【要約】
【目的】測定所要時間を短縮する。
【構成】入力がオフ状態になる直前の電圧を保持する入
力オフ電圧保持回路１２と、被測定デバイス１０に供給
される電圧ＶＡが一端に供給され他端が入力オフ電圧保
持回路１２の入力端に結合され通常状態でオンにされる
スイッチ素子１１と、被測定デバイス１０の出力レベル
が変化したときにスイッチ素子１１をオフにするＲＳフ
リップフロップ１３とを有し、入力オフ電圧保持回路１
２に保持された電圧を閾値Ｖthとして測定する。
力オフ電圧保持回路１２と、被測定デバイス１０に供給
される電圧ＶＡが一端に供給され他端が入力オフ電圧保
持回路１２の入力端に結合され通常状態でオンにされる
スイッチ素子１１と、被測定デバイス１０の出力レベル
が変化したときにスイッチ素子１１をオフにするＲＳフ
リップフロップ１３とを有し、入力オフ電圧保持回路１
２に保持された電圧を閾値Ｖthとして測定する。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、被測定デバイスの閾値
を測定する閾値測定回路に関する。
を測定する閾値測定回路に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来の閾値測定回路では、１／２探索法
により閾値Ｖthを求めていた。すなわち、ＶＬ＜Ｖth、
ＶＨ＞Ｖthであることが確実な電圧ＶＬ及びＶＨに対
し、電圧Ｖ＝（ＶＬ＋ＶＨ）／２を被測定デバイス１０
に供給し、被測定デバイス１０の出力が変化しなければ
ＶＬ＝Ｖとし、変化すればＶＨ＝Ｖとして、範囲ＶＬ〜
ＶＨを狭め、ＶＨ−ＶＬが微小設定値以下になるまでこ
のような処理を繰り返し行うことにより、電圧Ｖを閾値
Ｖthに収束させて閾値Ｖthを求めていた。
により閾値Ｖthを求めていた。すなわち、ＶＬ＜Ｖth、
ＶＨ＞Ｖthであることが確実な電圧ＶＬ及びＶＨに対
し、電圧Ｖ＝（ＶＬ＋ＶＨ）／２を被測定デバイス１０
に供給し、被測定デバイス１０の出力が変化しなければ
ＶＬ＝Ｖとし、変化すればＶＨ＝Ｖとして、範囲ＶＬ〜
ＶＨを狭め、ＶＨ−ＶＬが微小設定値以下になるまでこ
のような処理を繰り返し行うことにより、電圧Ｖを閾値
Ｖthに収束させて閾値Ｖthを求めていた。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、繰り返し処理
を行うので、測定時間が長くなって、試験コストが高く
なる原因となっていた。本発明の目的は、このような問
題点に鑑み、測定所要時間を短縮することが可能な閾値
測定回路を提供することにある。
を行うので、測定時間が長くなって、試験コストが高く
なる原因となっていた。本発明の目的は、このような問
題点に鑑み、測定所要時間を短縮することが可能な閾値
測定回路を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段及びその作用】本発明で
は、例えば図１に示す如く、入力がオン状態からオフ状
態（所定電圧、例えば０Ｖ又は電源配線の電圧ＶＤＤに
急変させた後の状態を含む）になる期間における電圧を
保持する入力オフ電圧保持回路１２と、被測定デバイス
１０に供給される電圧ＶＡが一端に供給され、他端が入
力オフ電圧保持回路１２の入力端に結合され、通常状態
でオンにされるスイッチ素子１１と、被測定デバイス１
０の出力レベルが変化したときにスイッチ素子１１をオ
フにするスイッチオフ手段１３と、を有し、入力オフ電
圧保持回路１２に保持された電圧を、該被測定デバイス
の出力レベルが変化したときの該被測定デバイスの入力
電圧として測定する。
は、例えば図１に示す如く、入力がオン状態からオフ状
態（所定電圧、例えば０Ｖ又は電源配線の電圧ＶＤＤに
急変させた後の状態を含む）になる期間における電圧を
保持する入力オフ電圧保持回路１２と、被測定デバイス
１０に供給される電圧ＶＡが一端に供給され、他端が入
力オフ電圧保持回路１２の入力端に結合され、通常状態
でオンにされるスイッチ素子１１と、被測定デバイス１
０の出力レベルが変化したときにスイッチ素子１１をオ
フにするスイッチオフ手段１３と、を有し、入力オフ電
圧保持回路１２に保持された電圧を、該被測定デバイス
の出力レベルが変化したときの該被測定デバイスの入力
電圧として測定する。
【０００５】本発明によれば、被測定デバイス１０に供
給する電圧ＶＡを１回変化させるだけで閾値Ｖthを測定
することができるので、閾値測定所要時間を短縮するこ
とができ、試験コストが低減される。本発明の第１態様
では、例えば図１に示す如く、スイッチオフ手段は、被
測定デバイス１０の出力レベルが変化したときにセット
され、セット状態でスイッチ素子１１をオフにする記憶
素子１３、例えばＲＳフリップフロップを有する。この
第１態様によれば、入力オフ電圧保持回路１２に保持さ
れた電圧が、保持後の被測定デバイス１０の出力と無関
係になるので、充分な閾値測定時間を確保することがで
きる。
給する電圧ＶＡを１回変化させるだけで閾値Ｖthを測定
することができるので、閾値測定所要時間を短縮するこ
とができ、試験コストが低減される。本発明の第１態様
では、例えば図１に示す如く、スイッチオフ手段は、被
測定デバイス１０の出力レベルが変化したときにセット
され、セット状態でスイッチ素子１１をオフにする記憶
素子１３、例えばＲＳフリップフロップを有する。この
第１態様によれば、入力オフ電圧保持回路１２に保持さ
れた電圧が、保持後の被測定デバイス１０の出力と無関
係になるので、充分な閾値測定時間を確保することがで
きる。
【０００６】本発明の第２態様では、例えば図２に示す
如く、スイッチオフ手段は、被測定デバイス１０の出力
をスイッチ素子１１の入力端に結合する信号線１３Ａで
ある。この第２態様によれば、第１態様よりも構成が簡
単になる。
如く、スイッチオフ手段は、被測定デバイス１０の出力
をスイッチ素子１１の入力端に結合する信号線１３Ａで
ある。この第２態様によれば、第１態様よりも構成が簡
単になる。
【０００７】
【実施例】以下、図面に基づいて本発明の実施例を説明
する。 ［第１実施例］図１は、第１実施例の閾値測定回路を示
す。電圧ＶＡは、一方では、被測定デバイス１０の入力
端に供給され、他方ではスイッチ素子１１を介して入力
オフ電圧保持回路１２の入力端に供給される。スイッチ
素子１１は、制御入力端が低レベルのときオン、高レベ
ルのときオフになる。スイッチ素子１１の制御入力端に
は、ＲＳフリップフロップ１３の出力端子Ｑが接続され
ている。ＲＳフリップフロップ１３のセット端子Ｓ及び
リセット端子Ｒにはそれぞれ、被測定デバイス１０の出
力及び電圧測定器１４からのリセット信号ＲＳＴが供給
される。このリセット信号ＲＳＴは、入力オフ電圧保持
回路１２のリセット入力端にも供給される。入力オフ電
圧保持回路１２の出力電圧ＶＢは、電圧測定器１４で測
定される。
する。 ［第１実施例］図１は、第１実施例の閾値測定回路を示
す。電圧ＶＡは、一方では、被測定デバイス１０の入力
端に供給され、他方ではスイッチ素子１１を介して入力
オフ電圧保持回路１２の入力端に供給される。スイッチ
素子１１は、制御入力端が低レベルのときオン、高レベ
ルのときオフになる。スイッチ素子１１の制御入力端に
は、ＲＳフリップフロップ１３の出力端子Ｑが接続され
ている。ＲＳフリップフロップ１３のセット端子Ｓ及び
リセット端子Ｒにはそれぞれ、被測定デバイス１０の出
力及び電圧測定器１４からのリセット信号ＲＳＴが供給
される。このリセット信号ＲＳＴは、入力オフ電圧保持
回路１２のリセット入力端にも供給される。入力オフ電
圧保持回路１２の出力電圧ＶＢは、電圧測定器１４で測
定される。
【０００８】入力オフ電圧保持回路１２は、例えばサン
プルホールド回路又はピークホールド回路であり、内部
のコンデンサの電圧を入力電圧に等しくし、スイッチ素
子１１がオフになる直前の電圧を該コンデンサで保持す
る。入力オフ電圧保持回路１２がサンプルホールド回路
の場合には、入力オフ電圧保持回路１２に保持された電
圧をリセットする必要はない。
プルホールド回路又はピークホールド回路であり、内部
のコンデンサの電圧を入力電圧に等しくし、スイッチ素
子１１がオフになる直前の電圧を該コンデンサで保持す
る。入力オフ電圧保持回路１２がサンプルホールド回路
の場合には、入力オフ電圧保持回路１２に保持された電
圧をリセットする必要はない。
【０００９】次に、上記の如く構成された第１実施例の
動作を説明する。図２は、この動作を示す波形図であ
る。ＲＳフリップフロップ１３は最初、リセット状態に
なっている。また、被測定デバイス１０の出力は、電圧
ＶＡが低レベルのとき低レベル、電圧ＶＡが高レベルの
とき高レベルになるとする。
動作を説明する。図２は、この動作を示す波形図であ
る。ＲＳフリップフロップ１３は最初、リセット状態に
なっている。また、被測定デバイス１０の出力は、電圧
ＶＡが低レベルのとき低レベル、電圧ＶＡが高レベルの
とき高レベルになるとする。
【００１０】電圧ＶＡを０Ｖから電源電圧ＶＤＤまで上
昇させる。電源電圧ＶＤＤは、例えば５Ｖである。スイ
ッチ素子１１がオフの状態では、ＶＢ＝ＶＡとなる。被
測定デバイス１０の出力電圧が変化してＶＤＤ／２にな
ると、ＲＳフリップフロップ１３の出力端子Ｑが高レベ
ルに遷移し、スイッチ素子１１がオフになる。入力オフ
電圧保持回路１２は、スイッチ素子１１がオフになる直
前の電圧ＶＡをＶＢとして保持する。この電圧ＶＢは、
閾値Ｖthとして電圧測定器１４により測定される。
昇させる。電源電圧ＶＤＤは、例えば５Ｖである。スイ
ッチ素子１１がオフの状態では、ＶＢ＝ＶＡとなる。被
測定デバイス１０の出力電圧が変化してＶＤＤ／２にな
ると、ＲＳフリップフロップ１３の出力端子Ｑが高レベ
ルに遷移し、スイッチ素子１１がオフになる。入力オフ
電圧保持回路１２は、スイッチ素子１１がオフになる直
前の電圧ＶＡをＶＢとして保持する。この電圧ＶＢは、
閾値Ｖthとして電圧測定器１４により測定される。
【００１１】この測定が終了すると、電圧測定器１４か
らリセット信号ＲＳＴが出力され、入力オフ電圧保持回
路１２の保持電圧がリッセトされてＶＢ＝０となる。ま
た、ＲＳフリップフロップ１３がリセットされて出力端
子Ｑが低レベルとなり、スイッチ素子１１がオンになっ
て、次の測定が可能な状態になる。電圧測定器１４によ
る測定のタイミングは、例えば次のいずれかとすること
ができる。
らリセット信号ＲＳＴが出力され、入力オフ電圧保持回
路１２の保持電圧がリッセトされてＶＢ＝０となる。ま
た、ＲＳフリップフロップ１３がリセットされて出力端
子Ｑが低レベルとなり、スイッチ素子１１がオンになっ
て、次の測定が可能な状態になる。電圧測定器１４によ
る測定のタイミングは、例えば次のいずれかとすること
ができる。
【００１２】（１）出力端子Ｑが高レベルに遷移した時 （２）電圧ＶＡが電源電圧ＶＤＤとなった時 （３）電圧ＶＡが０Ｖから上昇を開始した後、一定時間
経過した時 （４）電圧ＶＡを供給する側から測定開始信号が供給さ
れた時 本第１実施例によれば、電圧ＶＡを１回変化させるだけ
で閾値Ｖthを測定することができるので、閾値Ｖthを従
来よりも短時間で測定することができ、試験コストが低
減される。
経過した時 （４）電圧ＶＡを供給する側から測定開始信号が供給さ
れた時 本第１実施例によれば、電圧ＶＡを１回変化させるだけ
で閾値Ｖthを測定することができるので、閾値Ｖthを従
来よりも短時間で測定することができ、試験コストが低
減される。
【００１３】なお、被測定デバイス１０がインバータと
して機能する場合には、電圧ＶＡを電源電圧ＶＤＤから
０Ｖへ変化させることにより、閾値Ｖthを測定すること
ができる。 ［第２実施例］図３は、第２実施例の閾値測定回路を示
す。
して機能する場合には、電圧ＶＡを電源電圧ＶＤＤから
０Ｖへ変化させることにより、閾値Ｖthを測定すること
ができる。 ［第２実施例］図３は、第２実施例の閾値測定回路を示
す。
【００１４】この回路では、被測定デバイス１０の出力
を、信号線１３Ａを介してスイッチ素子１１の制御入力
端に供給しており、電圧ＶＡが上昇して被測定デバイス
１０の出力レベルが反転すると、スイッチ素子１１がオ
フになる。電圧測定器１４は、被測定デバイス１０の出
力レベルが反転した時に、入力オフ電圧保持回路１２の
出力電圧ＶＢを測定する。
を、信号線１３Ａを介してスイッチ素子１１の制御入力
端に供給しており、電圧ＶＡが上昇して被測定デバイス
１０の出力レベルが反転すると、スイッチ素子１１がオ
フになる。電圧測定器１４は、被測定デバイス１０の出
力レベルが反転した時に、入力オフ電圧保持回路１２の
出力電圧ＶＢを測定する。
【００１５】他の点は、上記第１実施例と同一である。
本第２実施例では、第１実施例よりも構成が簡単であ
る。 ［第３実施例］図４は、第１実施例の閾値測定回路を示
す。この回路では、図３の入力オフ電圧保持回路１２の
代わりにサンプルホールド回路１５を用い、図３のスイ
ッチ素子１１をサンプルホールド回路１５内のスイッチ
素子１１で代用している。
本第２実施例では、第１実施例よりも構成が簡単であ
る。 ［第３実施例］図４は、第１実施例の閾値測定回路を示
す。この回路では、図３の入力オフ電圧保持回路１２の
代わりにサンプルホールド回路１５を用い、図３のスイ
ッチ素子１１をサンプルホールド回路１５内のスイッチ
素子１１で代用している。
【００１６】サンプルホールド回路１５は、ボルデージ
ホロア１６の出力端がスイッチ素子１１を介し、コンデ
ンサ１７の一端及びボルデージホロア１８の入力端に接
続されている。コンデンサ１７の他端は、グランド線に
接続されている。ボルデージホロア１６及び１８は、入
力が高インピーダンスで出力が低インピーダンスとなっ
ており、それぞれ入力バッファ及び出力バッファとして
機能する。
ホロア１６の出力端がスイッチ素子１１を介し、コンデ
ンサ１７の一端及びボルデージホロア１８の入力端に接
続されている。コンデンサ１７の他端は、グランド線に
接続されている。ボルデージホロア１６及び１８は、入
力が高インピーダンスで出力が低インピーダンスとなっ
ており、それぞれ入力バッファ及び出力バッファとして
機能する。
【００１７】被測定デバイス１０の出力端とＲＳフリッ
プフロップ１３のセット端子Ｓとの間には、立ち上がり
又は立ち下がりのエッジを検出して検出パルスを出力す
るエッジ検出回路１９が接続されており、被測定デバイ
ス１０がインバータとして機能する場合であっても、電
圧ＶＡを上昇させることにより閾値Ｖthを測定可能とな
っている。ＲＳフリップフロップ１３のリセット端子Ｒ
には、電圧ＶＡを供給する側からリセット信号ＲＳＴが
供給される。
プフロップ１３のセット端子Ｓとの間には、立ち上がり
又は立ち下がりのエッジを検出して検出パルスを出力す
るエッジ検出回路１９が接続されており、被測定デバイ
ス１０がインバータとして機能する場合であっても、電
圧ＶＡを上昇させることにより閾値Ｖthを測定可能とな
っている。ＲＳフリップフロップ１３のリセット端子Ｒ
には、電圧ＶＡを供給する側からリセット信号ＲＳＴが
供給される。
【００１８】電圧ＶＡは、ボルデージホロア１６及びス
イッチ素子１１を介してコンデンサ１７にサンプリング
され、被測定デバイス１０の出力が反転してスイッチ素
子１１がオフになると、この時の電圧ＶＡがＶＢとして
コンデンサ１７に保持される。他の点は、上記第２実施
例と同一である。
イッチ素子１１を介してコンデンサ１７にサンプリング
され、被測定デバイス１０の出力が反転してスイッチ素
子１１がオフになると、この時の電圧ＶＡがＶＢとして
コンデンサ１７に保持される。他の点は、上記第２実施
例と同一である。
【００１９】なお、電圧ＶＡの変化率は、エッジ検出回
路１９及びＲＳフリップフロップ１３による信号遅延が
無視できる程度にする。
路１９及びＲＳフリップフロップ１３による信号遅延が
無視できる程度にする。
【００２０】
【発明の効果】以上説明した如く、本発明に係る閾値測
定回路によれば、被測定デバイスに供給する電圧を１回
変化させるだけで閾値を測定することができるので、閾
値測定所要時間を短縮することができるという効果を奏
し、試験コスト低減に寄与するところが大きい。
定回路によれば、被測定デバイスに供給する電圧を１回
変化させるだけで閾値を測定することができるので、閾
値測定所要時間を短縮することができるという効果を奏
し、試験コスト低減に寄与するところが大きい。
【００２１】本発明の第１態様によれば、入力オフ電圧
保持回路に保持された電圧が、保持後の被測定デバイス
の出力と無関係になるので、充分な閾値測定時間を確保
することができるという効果を奏する。本発明の第２態
様によれば、第１態様よりも構成が簡単になるという効
果を奏する。
保持回路に保持された電圧が、保持後の被測定デバイス
の出力と無関係になるので、充分な閾値測定時間を確保
することができるという効果を奏する。本発明の第２態
様によれば、第１態様よりも構成が簡単になるという効
果を奏する。
【図１】本発明の第１実施例の閾値測定回路図である。
【図２】図１の回路の動作を示す波形図である。
【図３】本発明の第２実施例の閾値測定回路図である。
【図４】本発明の第３実施例の閾値測定回路図である。
１２ 入力オフ電圧保持回路 １１ スイッチ素子 １３ ＲＳフリップフロップ １４ 電圧測定器 １５ サンプルホールド回路 １６、１８ ボルデージホロア １９ エッジ検出回路
Claims (3)
- 【請求項１】 入力がオン状態からオフ状態になる期間
における電圧を保持する入力オフ電圧保持回路（１２）
と、 被測定デバイス（１０）に供給される電圧（ＶＡ）が一
端に供給され、他端が該入力オフ電圧保持回路の入力端
に結合され、通常状態でオンにされるスイッチ素子（１
１）と、 該被測定デバイスの出力レベルが変化したときに該スイ
ッチ素子をオフにするスイッチオフ手段（１３）と、 を有し、該入力オフ電圧保持回路に保持された電圧を、
該被測定デバイスの出力レベルが変化したときの該被測
定デバイスの入力電圧として測定することを特徴とする
閾値測定回路。 - 【請求項２】 前記スイッチオフ手段は、前記被測定デ
バイス（１０）の出力レベルが変化したときにセットさ
れ、セット状態で前記スイッチ素子（１１）をオフにす
る記憶素子（１３）を有することを特徴とする請求項１
記載の閾値測定回路。 - 【請求項３】 前記スイッチオフ手段は、前記被測定デ
バイス（１０）の出力を前記スイッチ素子（１１）の入
力端に結合する信号線（１３Ａ）であることを特徴とす
る請求項１記載の閾値測定回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6049460A JPH07260836A (ja) | 1994-03-18 | 1994-03-18 | 閾値測定回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6049460A JPH07260836A (ja) | 1994-03-18 | 1994-03-18 | 閾値測定回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07260836A true JPH07260836A (ja) | 1995-10-13 |
Family
ID=12831764
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6049460A Withdrawn JPH07260836A (ja) | 1994-03-18 | 1994-03-18 | 閾値測定回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07260836A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN119805288A (zh) * | 2025-02-12 | 2025-04-11 | 广州市力为电子有限公司 | 一种高压输出开关电源自动测试系统及其测试方法 |
-
1994
- 1994-03-18 JP JP6049460A patent/JPH07260836A/ja not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN119805288A (zh) * | 2025-02-12 | 2025-04-11 | 广州市力为电子有限公司 | 一种高压输出开关电源自动测试系统及其测试方法 |
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A300 | Application deemed to be withdrawn because no request for examination was validly filed |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A300 Effective date: 20010605 |