JPH07280593A - 波形測定装置 - Google Patents
波形測定装置Info
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- JPH07280593A JPH07280593A JP6835894A JP6835894A JPH07280593A JP H07280593 A JPH07280593 A JP H07280593A JP 6835894 A JP6835894 A JP 6835894A JP 6835894 A JP6835894 A JP 6835894A JP H07280593 A JPH07280593 A JP H07280593A
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Abstract
(57)【要約】
【目的】基準波形データに基づく判定領域データをリア
ルタイムで生成することにより急峻な波形に対しても高
速でリアルタイムの波形判定が行える波形測定装置を実
現することにある。 【構成】測定波形を第１のクロックに従ってサンプリン
グしデジタル波形データに変換する測定部と、この測定
部から変換出力される所望の測定波形のデジタル波形デ
ータを基準波形データとして格納する波形メモリと、判
定対象測定波形のサンプリングに同期して第１のクロッ
クに比べて十分高い周波数を有する第２のクロックに従
って前記波形メモリから読みだされる波形データに対し
て予め設定された上限値と下限値の加減算を行い判定領
域データを生成する演算器と、この演算器から出力され
る判定領域データと前記測定部から変換出力される判定
対象測定波形の波形データとを逐次比較するコンパレー
タ、を設けたことを特徴とするもの。
ルタイムで生成することにより急峻な波形に対しても高
速でリアルタイムの波形判定が行える波形測定装置を実
現することにある。 【構成】測定波形を第１のクロックに従ってサンプリン
グしデジタル波形データに変換する測定部と、この測定
部から変換出力される所望の測定波形のデジタル波形デ
ータを基準波形データとして格納する波形メモリと、判
定対象測定波形のサンプリングに同期して第１のクロッ
クに比べて十分高い周波数を有する第２のクロックに従
って前記波形メモリから読みだされる波形データに対し
て予め設定された上限値と下限値の加減算を行い判定領
域データを生成する演算器と、この演算器から出力され
る判定領域データと前記測定部から変換出力される判定
対象測定波形の波形データとを逐次比較するコンパレー
タ、を設けたことを特徴とするもの。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は波形測定装置に関し、詳
しくは、波形の判定に関するものである。
しくは、波形の判定に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】波形測定装置の機能の一つに、波形の判
定機能がある。これは、波形が予め設定された判定領域
に入っているかいないかを判定してその結果を出力する
ものであり、製品の良否の判定などに用いられている。
このような波形判定方法として、例えば特公平５−３９
４９０号が提案されている。これは、波形記憶装置など
に入力されるＸ−Ｙ波形について、Ｘ軸，Ｙ軸両方向の
判定を同時に可能にすることを目的とするものである。
具体的には、まずＸ−Ｙ座標軸に対応して配列された記
憶素子に基準とする波形データをＸ−Ｙ座標に従って記
憶させ、次に設定された判定基準に従って上記の波形デ
ータを起点としてＸ−Ｙ座標軸上に判定基準範囲を作成
して記憶させる。ここで、判定基準範囲の各データは、
Ｘ−Ｙ座標に従って記憶された基準波形のデータ毎に各
データを起点として上下左右の方向に設定されたマージ
ンを判定基準とする処理プログラムに従って演算を行う
ことにより、Ｘ−Ｙ座標軸上のデータとして作成し記憶
させている。そして、被測定波形データを入力し、判定
基準範囲とのデータ比較を行うことにより被測定波形の
良（例えばＧＯ）否（例えばＮＯＧＯ）を判定する。
定機能がある。これは、波形が予め設定された判定領域
に入っているかいないかを判定してその結果を出力する
ものであり、製品の良否の判定などに用いられている。
このような波形判定方法として、例えば特公平５−３９
４９０号が提案されている。これは、波形記憶装置など
に入力されるＸ−Ｙ波形について、Ｘ軸，Ｙ軸両方向の
判定を同時に可能にすることを目的とするものである。
具体的には、まずＸ−Ｙ座標軸に対応して配列された記
憶素子に基準とする波形データをＸ−Ｙ座標に従って記
憶させ、次に設定された判定基準に従って上記の波形デ
ータを起点としてＸ−Ｙ座標軸上に判定基準範囲を作成
して記憶させる。ここで、判定基準範囲の各データは、
Ｘ−Ｙ座標に従って記憶された基準波形のデータ毎に各
データを起点として上下左右の方向に設定されたマージ
ンを判定基準とする処理プログラムに従って演算を行う
ことにより、Ｘ−Ｙ座標軸上のデータとして作成し記憶
させている。そして、被測定波形データを入力し、判定
基準範囲とのデータ比較を行うことにより被測定波形の
良（例えばＧＯ）否（例えばＮＯＧＯ）を判定する。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかし、このような従
来の方法によれば、判定基準範囲の各データをＸ−Ｙ座
標軸上のデータとして演算作成して記憶させているの
で、これらの処理にかなりの時間が必要になり、直前の
波形を基準波形にしてそれに続く波形の判定を行うとい
うような高速リアルタイムの波形判定は困難である。
来の方法によれば、判定基準範囲の各データをＸ−Ｙ座
標軸上のデータとして演算作成して記憶させているの
で、これらの処理にかなりの時間が必要になり、直前の
波形を基準波形にしてそれに続く波形の判定を行うとい
うような高速リアルタイムの波形判定は困難である。
【０００４】本発明は、このような従来の問題点を解決
するものであって、その第１の目的は、基準波形データ
に基づく判定領域データをリアルタイムで生成すること
により高速でリアルタイムの波形判定が行える波形測定
装置を実現することにある。また、第２の目的は、矩形
波などの急峻な波形についても高精度の波形判定が行え
るようにすることにある。
するものであって、その第１の目的は、基準波形データ
に基づく判定領域データをリアルタイムで生成すること
により高速でリアルタイムの波形判定が行える波形測定
装置を実現することにある。また、第２の目的は、矩形
波などの急峻な波形についても高精度の波形判定が行え
るようにすることにある。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明の波形測定装置
は、測定波形を第１のクロックに従ってサンプリングし
デジタル波形データに変換する測定部と、この測定部か
ら変換出力される所望の測定波形のデジタル波形データ
を基準波形データとして格納する波形メモリと、判定対
象測定波形のサンプリングに同期して第１のクロックに
比べて十分高い周波数を有する第２のクロックに従って
前記波形メモリから読みだされる波形データに対して予
め設定された上限値と下限値の加減算を行い判定領域デ
ータを生成する演算器と、この演算器から出力される判
定領域データと前記測定部から変換出力される判定対象
測定波形の波形データとを逐次比較するコンパレータ、
を設けたことを特徴とする。
は、測定波形を第１のクロックに従ってサンプリングし
デジタル波形データに変換する測定部と、この測定部か
ら変換出力される所望の測定波形のデジタル波形データ
を基準波形データとして格納する波形メモリと、判定対
象測定波形のサンプリングに同期して第１のクロックに
比べて十分高い周波数を有する第２のクロックに従って
前記波形メモリから読みだされる波形データに対して予
め設定された上限値と下限値の加減算を行い判定領域デ
ータを生成する演算器と、この演算器から出力される判
定領域データと前記測定部から変換出力される判定対象
測定波形の波形データとを逐次比較するコンパレータ、
を設けたことを特徴とする。
【０００６】
【作用】判定領域データは、波形メモリから読みだされ
る基準波形データに対して予め設定された上限値と下限
値の加減算を行うことによって自動生成される。これに
より、直前の波形を基準波形にしてそれに続く波形の判
定を行うというような高速リアルタイムの波形判定が可
能になる。
る基準波形データに対して予め設定された上限値と下限
値の加減算を行うことによって自動生成される。これに
より、直前の波形を基準波形にしてそれに続く波形の判
定を行うというような高速リアルタイムの波形判定が可
能になる。
【０００７】また、波形メモリから前後２個ずつの基準
波形データを読みだしてそれぞれに予め設定された上限
値と下限値の加減算を行うことにより、矩形波などの急
峻な波形についても高精度の波形判定が行える。
波形データを読みだしてそれぞれに予め設定された上限
値と下限値の加減算を行うことにより、矩形波などの急
峻な波形についても高精度の波形判定が行える。
【０００８】
【実施例】以下、図面を用いて本発明の実施例を説明す
る。図１は本発明の一実施例を示すブロック図である。
図において、１は測定波形信号の入力端子であり、測定
部２およびトリガ発生器３に接続されている。測定部２
は測定波形を比較的低速（例えば１００ｋＨｚ）の第１
のクロックＣＬＫ１で駆動されるＡ／Ｄ変換器によりデ
ジタル化された波形データに変換する。トリガ発生器３
から出力されるトリガはアドレス発生器４に加えられて
いる。アドレス発生器４はメモリ５，６の書込みアドレ
スと読みだしアドレスを出力する。ここで、書込みアド
レスは第１のＣＬＫ１に同期して出力され、読みだしア
ドレスは第１のＣＬＫ１に同期した比較的高速（例えば
１０ＭＨｚ）の第２のクロックＣＬＫ２に同期して出力
される。測定部２から変換出力される波形データは書込
みアドレスに従ってメモリ５または６に格納されるとと
もに、コンパレータ７の一方の入力端子にも加えられ
る。８は演算器であり、読みだしアドレスに従ってメモ
リ５または６から読みだされる波形データが加えられ
る。なお、メモリ５または６から読みだされる波形デー
タは図示しない表示器やプリンタなどの出力処理系統に
も加えられる。演算器８はメモリ５または６から加えら
れる波形データに対して予め設定された上限値と下限値
の加減算を行うことにより判定領域データを自動生成
し、コンパレータ７の他方の入力端子に加えている。コ
ンパレータ７はこの演算器８から出力される判定領域デ
ータと測定部２から変換出力される判定対象測定波形の
波形データとを逐次比較し、比較結果を波形判定結果と
して図示しないＣＰＵなどに出力する。９はクロック発
生器であり、前述のように互いに同期した第１のクロッ
クＣＬＫ１と第２のクロックＣＬＫ２を各部にそれぞれ
出力する。
る。図１は本発明の一実施例を示すブロック図である。
図において、１は測定波形信号の入力端子であり、測定
部２およびトリガ発生器３に接続されている。測定部２
は測定波形を比較的低速（例えば１００ｋＨｚ）の第１
のクロックＣＬＫ１で駆動されるＡ／Ｄ変換器によりデ
ジタル化された波形データに変換する。トリガ発生器３
から出力されるトリガはアドレス発生器４に加えられて
いる。アドレス発生器４はメモリ５，６の書込みアドレ
スと読みだしアドレスを出力する。ここで、書込みアド
レスは第１のＣＬＫ１に同期して出力され、読みだしア
ドレスは第１のＣＬＫ１に同期した比較的高速（例えば
１０ＭＨｚ）の第２のクロックＣＬＫ２に同期して出力
される。測定部２から変換出力される波形データは書込
みアドレスに従ってメモリ５または６に格納されるとと
もに、コンパレータ７の一方の入力端子にも加えられ
る。８は演算器であり、読みだしアドレスに従ってメモ
リ５または６から読みだされる波形データが加えられ
る。なお、メモリ５または６から読みだされる波形デー
タは図示しない表示器やプリンタなどの出力処理系統に
も加えられる。演算器８はメモリ５または６から加えら
れる波形データに対して予め設定された上限値と下限値
の加減算を行うことにより判定領域データを自動生成
し、コンパレータ７の他方の入力端子に加えている。コ
ンパレータ７はこの演算器８から出力される判定領域デ
ータと測定部２から変換出力される判定対象測定波形の
波形データとを逐次比較し、比較結果を波形判定結果と
して図示しないＣＰＵなどに出力する。９はクロック発
生器であり、前述のように互いに同期した第１のクロッ
クＣＬＫ１と第２のクロックＣＬＫ２を各部にそれぞれ
出力する。
【０００９】図１の動作の流れの概略を説明する。 測定部２から変換出力される基準になる波形データを
アドレス発生器４から出力される書込みアドレスに従っ
て順次メモリ５に取り込む。このとき、アドレス発生器
４から出力される書込みアドレスはトリガ発生器３から
トリガが加えられることによって初期設定され、その後
順次更新されるアドレスを出力する。このような書込み
アドレスの出力には例えばリングカウンタを用いる。図
２はこのようにして格納される基準波形の具体例図であ
り、トリガが発生した時点のアドレスを０とした立ち上
がりエッジの例を示している。
アドレス発生器４から出力される書込みアドレスに従っ
て順次メモリ５に取り込む。このとき、アドレス発生器
４から出力される書込みアドレスはトリガ発生器３から
トリガが加えられることによって初期設定され、その後
順次更新されるアドレスを出力する。このような書込み
アドレスの出力には例えばリングカウンタを用いる。図
２はこのようにして格納される基準波形の具体例図であ
り、トリガが発生した時点のアドレスを０とした立ち上
がりエッジの例を示している。
【００１０】測定部２から変換出力される判定対象の
波形データをの基準波形データの取り込みと同じトリ
ガ条件でアドレス発生器４から出力される書込みアドレ
スに従ってアドレス０から順次メモリ６に取り込むとと
もに、メモリ６への書込みアドレスに同期した高速の読
みだしアドレスに従って図３に示すようにメモリ５のア
ドレス０から基準波形データを順次読みだしていく。演
算器８はメモリ５から加えられる図４（Ａ）に示すよう
な基準波形データに対して予め設定された上限値と下限
値の加減算を行って図４（Ｂ）に示すような上限値と下
限値の幅を有する判定領域データを自動生成し、コンパ
レータ７に逐次出力する。なお、判定領域データを自動
生成するためのアルゴリズムについては後で詳しく説明
する。
波形データをの基準波形データの取り込みと同じトリ
ガ条件でアドレス発生器４から出力される書込みアドレ
スに従ってアドレス０から順次メモリ６に取り込むとと
もに、メモリ６への書込みアドレスに同期した高速の読
みだしアドレスに従って図３に示すようにメモリ５のア
ドレス０から基準波形データを順次読みだしていく。演
算器８はメモリ５から加えられる図４（Ａ）に示すよう
な基準波形データに対して予め設定された上限値と下限
値の加減算を行って図４（Ｂ）に示すような上限値と下
限値の幅を有する判定領域データを自動生成し、コンパ
レータ７に逐次出力する。なお、判定領域データを自動
生成するためのアルゴリズムについては後で詳しく説明
する。
【００１１】コンパレータ７は、図４（Ｃ），（Ｄ）
に示すように測定部２における判定対象波形のデータサ
ンプリングに同期して、サンプリングされた波形データ
が上限値と下限値で表される判定領域の間に入っている
か（ＧＯ）いないか（ＮＯＧＯ）を判定する。図５は高
調波が重畳している判定対象の波形データ例を示してい
る。ここで、判定対象の波形データも判定領域データも
Ａ／Ｄ変換後のデジタルデータであり、デジタルコンパ
レータで簡単に判定できる。
に示すように測定部２における判定対象波形のデータサ
ンプリングに同期して、サンプリングされた波形データ
が上限値と下限値で表される判定領域の間に入っている
か（ＧＯ）いないか（ＮＯＧＯ）を判定する。図５は高
調波が重畳している判定対象の波形データ例を示してい
る。ここで、判定対象の波形データも判定領域データも
Ａ／Ｄ変換後のデジタルデータであり、デジタルコンパ
レータで簡単に判定できる。
【００１２】このように構成することにより、２個のメ
モリ５，６を用いて交互に基準波形データを書き替える
ことができ、直前の波形を基準波形にしてそれに続く波
形の判定が行える。次に、判定領域データを自動生成す
るためのアルゴリズムについて詳しく説明する。
モリ５，６を用いて交互に基準波形データを書き替える
ことができ、直前の波形を基準波形にしてそれに続く波
形の判定が行える。次に、判定領域データを自動生成す
るためのアルゴリズムについて詳しく説明する。
【００１３】基準波形データが図６のように単調増加し
ているものとする。サンプリング番号が（ｋ−２）から
（ｋ＋２）までのデータをｘk-2〜ｘk+2とすると、判定
領域の上限値ｘkmaxと下限値ｘkminは以下の式で表され
る。 ｘkmax＝ｘk＋ｄk+2,k＋Ｄ／２ ｘkmin＝ｘk−ｄk,k-2−Ｄ／２ ここで、ｄk+2,kはｘkとｘk+2の差で、ｄk,k-2はｘkと
ｘk-2との差である。Ｄは予め任意に設定しておく値で
あり、実際の判定領域幅にあたるものである。例えば、
ｘk＝２Ｖ，ｘk-2＝１．８Ｖ，ｘk+2＝２．４Ｖとし、
Ｄ＝０．５Ｖと設定しておくと、 ｘkmax＝２＋０．４＋０．２５＝２．６５Ｖ ｘkmin＝２−０．２−０．２５＝１．５５Ｖ となる。
ているものとする。サンプリング番号が（ｋ−２）から
（ｋ＋２）までのデータをｘk-2〜ｘk+2とすると、判定
領域の上限値ｘkmaxと下限値ｘkminは以下の式で表され
る。 ｘkmax＝ｘk＋ｄk+2,k＋Ｄ／２ ｘkmin＝ｘk−ｄk,k-2−Ｄ／２ ここで、ｄk+2,kはｘkとｘk+2の差で、ｄk,k-2はｘkと
ｘk-2との差である。Ｄは予め任意に設定しておく値で
あり、実際の判定領域幅にあたるものである。例えば、
ｘk＝２Ｖ，ｘk-2＝１．８Ｖ，ｘk+2＝２．４Ｖとし、
Ｄ＝０．５Ｖと設定しておくと、 ｘkmax＝２＋０．４＋０．２５＝２．６５Ｖ ｘkmin＝２−０．２−０．２５＝１．５５Ｖ となる。
【００１４】次に、基準波形データの前後２個ずつのデ
ータを用いて上限値および下限値を生成する場合につい
て説明する。Ａ／Ｄ変換器でデジタルサンプリングを行
った場合、図７の波形ａ〜ｃに示すようにトリガレベル
に対して±１サンプリングのずれが必ず生じる。従っ
て、基準波形の取り込み段階ではａ〜ｃの状態は判断で
きず、仮にａ波形の状態が基準波形データとして取り込
まれると、判定すべきデータとしては最大サンプリング
誤差としてｃ波形まで判定可能でなければならない。信
号波形が例えば矩形波の立ち上がりや立ち下がりのよう
に急峻なときには正常な波形であってもこのサンプリン
グ誤差のみで判定領域幅を越えてしまい、誤った判定を
してしまうおそれがある。そこで、このような不具合を
回避するために基準波形データの前後２個ずつのデータ
の差分値を判定領域幅に加えるようにする。
ータを用いて上限値および下限値を生成する場合につい
て説明する。Ａ／Ｄ変換器でデジタルサンプリングを行
った場合、図７の波形ａ〜ｃに示すようにトリガレベル
に対して±１サンプリングのずれが必ず生じる。従っ
て、基準波形の取り込み段階ではａ〜ｃの状態は判断で
きず、仮にａ波形の状態が基準波形データとして取り込
まれると、判定すべきデータとしては最大サンプリング
誤差としてｃ波形まで判定可能でなければならない。信
号波形が例えば矩形波の立ち上がりや立ち下がりのよう
に急峻なときには正常な波形であってもこのサンプリン
グ誤差のみで判定領域幅を越えてしまい、誤った判定を
してしまうおそれがある。そこで、このような不具合を
回避するために基準波形データの前後２個ずつのデータ
の差分値を判定領域幅に加えるようにする。
【００１５】仮に基準波形データが図８のように値が一
定した直流信号であれば、判定領域は±Ｄ／２になる。
実際には、基準波形データは単調増加のみではなく減少
曲線や変曲点を持っているので、判定領域の上限値ｘ
kmaxと下限値ｘkminは以下の式に従って生成される。 ｘkmax＝ｘk＋｛［ｘk-2，ｘk-1，ｘk，ｘk+1，ｘk+2］max−ｘk｝＋Ｄ／２ ｘkmin＝ｘk−｛ｘk−［ｘk-2，ｘk-1，ｘk，ｘk+1，ｘk+2］min｝−Ｄ／２ ［ ］maxは［ ］内の最大値 ［ ］minは［ ］内の最小値 図９はこのように基準波形データの前後２個ずつのデー
タの差分値を判定領域幅に加えて判定領域データを生成
する例の説明図である。これらの演算はデジタルシグナ
ルプロセッサ（ＤＳＰ）やハードウェアロジックにより
高速処理が可能である。すなわち、メモリからの波形デ
ータの読みだしを含めても数μｓ程度で演算処理するこ
とができ、１００ｋＨＺ程度のクロックによるデータサ
ンプリングと同期してリアルタイム処理が実現できる。
定した直流信号であれば、判定領域は±Ｄ／２になる。
実際には、基準波形データは単調増加のみではなく減少
曲線や変曲点を持っているので、判定領域の上限値ｘ
kmaxと下限値ｘkminは以下の式に従って生成される。 ｘkmax＝ｘk＋｛［ｘk-2，ｘk-1，ｘk，ｘk+1，ｘk+2］max−ｘk｝＋Ｄ／２ ｘkmin＝ｘk−｛ｘk−［ｘk-2，ｘk-1，ｘk，ｘk+1，ｘk+2］min｝−Ｄ／２ ［ ］maxは［ ］内の最大値 ［ ］minは［ ］内の最小値 図９はこのように基準波形データの前後２個ずつのデー
タの差分値を判定領域幅に加えて判定領域データを生成
する例の説明図である。これらの演算はデジタルシグナ
ルプロセッサ（ＤＳＰ）やハードウェアロジックにより
高速処理が可能である。すなわち、メモリからの波形デ
ータの読みだしを含めても数μｓ程度で演算処理するこ
とができ、１００ｋＨＺ程度のクロックによるデータサ
ンプリングと同期してリアルタイム処理が実現できる。
【００１６】なお、判定結果出力の用途については種々
考えられる。例えばデータサンプリングと同時に波形デ
ータを常時メモリに格納しておき、ＮＯＧＯの時のみ表
示器に波形を表示させてもよい。また、基準波形データ
をトリガが検出される毎に更新することにより、常に最
新の波形を基準波形データとして判定することもでき
る。
考えられる。例えばデータサンプリングと同時に波形デ
ータを常時メモリに格納しておき、ＮＯＧＯの時のみ表
示器に波形を表示させてもよい。また、基準波形データ
をトリガが検出される毎に更新することにより、常に最
新の波形を基準波形データとして判定することもでき
る。
【００１７】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
基準波形データに基づく判定領域データをリアルタイム
で生成できるので、急峻な波形に対しても高速でリアル
タイムの波形判定が行える波形測定装置を実現できる。
基準波形データに基づく判定領域データをリアルタイム
で生成できるので、急峻な波形に対しても高速でリアル
タイムの波形判定が行える波形測定装置を実現できる。
【図１】本発明の一実施例を示すブロック図である。
【図２】図１でメモリに格納される基準波形の具体例図
である。
である。
【図３】図１のメモリからの基準波形データの読みだし
例図である。
例図である。
【図４】図１の全体の動作の概略説明図である。
【図５】波形判定の具体例図である。
【図６】単調増加する基準波形データの具体例図であ
る。
る。
【図７】Ａ／Ｄ変換器における±１サンプリングのずれ
の説明図である。
の説明図である。
【図８】基準波形データが直流信号の場合の説明図であ
る。
る。
【図９】基準波形データの前後２個ずつのデータの差分
値を判定領域幅に加えて判定領域データを生成する例の
説明図である。
値を判定領域幅に加えて判定領域データを生成する例の
説明図である。
１ 入力端子 ２ 測定部 ３ トリガ発生器 ４ アドレス発生器 ５，６ 波形メモリ ７ コンパレータ ８ 演算器 ９ クロック発生器
Claims (1)
- 【請求項１】測定波形を第１のクロックに従ってサンプ
リングしデジタル波形データに変換する測定部と、 この測定部から変換出力される所望の測定波形のデジタ
ル波形データを基準波形データとして格納する波形メモ
リと、 判定対象測定波形のサンプリングに同期して第１のクロ
ックに比べて十分高い周波数を有する第２のクロックに
従って前記波形メモリから読みだされる波形データに対
して予め設定された上限値と下限値の加減算を行い判定
領域データを生成する演算器と、 この演算器から出力される判定領域データと前記測定部
から変換出力される判定対象測定波形の波形データとを
逐次比較するコンパレータ、を設けたことを特徴とする
波形測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6835894A JPH07280593A (ja) | 1994-04-06 | 1994-04-06 | 波形測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6835894A JPH07280593A (ja) | 1994-04-06 | 1994-04-06 | 波形測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07280593A true JPH07280593A (ja) | 1995-10-27 |
Family
ID=13371509
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6835894A Pending JPH07280593A (ja) | 1994-04-06 | 1994-04-06 | 波形測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07280593A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102010044766A1 (de) * | 2010-09-08 | 2012-03-08 | Hottinger Baldwin Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Messung und Bewertung verschiedener physikalischer Größen |
-
1994
- 1994-04-06 JP JP6835894A patent/JPH07280593A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE102010044766A1 (de) * | 2010-09-08 | 2012-03-08 | Hottinger Baldwin Messtechnik Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Messung und Bewertung verschiedener physikalischer Größen |
| WO2012031738A3 (de) * | 2010-09-08 | 2012-12-13 | Hottinger Baldwin Messtechnik Gmbh | Verfahren und vorrichtung zur messung und bewertung verschiedener physikalischer grössen |
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